基于PEM电解槽的缺陷检测方法、系统、终端设备及介质与流程

本申请涉及图像处理的，具体而言，涉及一种基于pem电解槽的缺陷检测方法、系统、终端设备及介质。

背景技术：

1、由于pem电解槽可以在非常低的电压条件下有效地实现水的分解，制备出高纯度的氢气，pem电解槽得到了更加广泛的应用。因为pem电解槽中的金属双极板需要一直处于强酸和高度氧化的环境中，所以即使金属双极板采用钛作为主要材料且在金属双极板的表面涂覆有贵金属涂层，金属双极板在长时间的使用中依然会被高度腐蚀，影响pem电解槽的安全运行。

2、为了研发和开发出使用寿命更长的pem电解槽，通常会对预估内部已经高度腐蚀的pem电解槽进行拆解处理，然后对每片双极板的质量缺陷进行全面的研究和分析。

3、目前，在研发人员分析双极板的质量缺陷之前，通常需要人工对每片双极板的腐蚀区域进行标记，由于双极板的数量较多且人工标记耗时较长，存在处理效率较低的问题，有待进一步改进。

技术实现思路

1、基于此，本申请实施例提供了一种基于pem电解槽的缺陷检测方法、系统、终端设备及介质，以解决现有技术中处理效率较低的问题。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种基于pem电解槽的缺陷检测方法，应用于pem电解槽，所述pem电解槽包括多个待检测双极板，所述方法包括：

3、获取所述待检测双极板的初始工况图，并基于预设的相机，获取所述待检测双极板的待检测缺陷图；

4、根据所述初始工况图和预设的轮廓提取法，确定所述待检测双极板的初始参数集信息，并根据所述待检测缺陷图和所述轮廓提取法，确定所述待检测双极板的缺陷参数集信息，其中，所述初始参数集信息包括初始色泽信息和初始工件轮廓线信息，所述缺陷参数集信息包括实时色泽信息、实时工件轮廓线信息和腐蚀区域轮廓线信息；

5、根据所述初始参数集信息、所述缺陷参数集信息、预设的灰度偏差阈值和预设的面积阈值，确定所述待检测双极板的缺陷区域信息。

6、与现有技术相比存在的有益效果是：本申请实施例提供的基于pem电解槽的缺陷检测方法，终端设备可以先获取待检测双极片的初始工况图，并获取待检测双极片的待检测缺陷图，然后根据初始工况图，确定待检测双极片的初始参数集信息，并根据待检测缺陷图，确定待检测双极片的缺陷参数集信息，再根据初始参数集信息和缺陷参数集信息，确定出待检测双极片的缺陷区域信息，精准地确定待检测双极片的腐蚀区域，在需要分析数量较多的双极板的时候，能够明显地提高处理效率，在一定程度上解决了当前处理效率较低的问题。

7、第二方面，本申请实施例提供了一种基于pem电解槽的缺陷检测系统，应用于pem电解槽，所述pem电解槽包括多个待检测双极板，所述系统包括：

8、待检测缺陷图获取模块：用于获取所述待检测双极板的初始工况图，并基于预设的相机，获取所述待检测双极板的待检测缺陷图；

9、缺陷参数集信息确定模块：用于根据所述初始工况图和预设的轮廓提取法，确定所述待检测双极板的初始参数集信息，并根据所述待检测缺陷图和所述轮廓提取法，确定所述待检测双极板的缺陷参数集信息，其中，所述初始参数集信息包括初始色泽信息和初始工件轮廓线信息，所述缺陷参数集信息包括实时色泽信息、实时工件轮廓线信息和腐蚀区域轮廓线信息；

10、缺陷区域信息确定模块：用于根据所述初始参数集信息、所述缺陷参数集信息、预设的灰度偏差阈值和预设的面积阈值，确定所述待检测双极板的缺陷区域信息。

11、第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面的方法的步骤。

12、第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面的方法的步骤。

13、可以理解的是，上述第二方面至第四方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。

技术特征：

1.一种基于pem电解槽的缺陷检测方法，应用于pem电解槽，所述pem电解槽包括多个待检测双极板，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述初始工况图和预设的轮廓提取法，确定所述待检测双极板的初始参数集信息，并根据所述待检测缺陷图和所述轮廓提取法，确定所述待检测双极板的缺陷参数集信息之前，所述方法还包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述实时工件轮廓线信息包括所述待检测双极板的外边缘轮廓信息；所述根据所述初始参数集信息、所述缺陷参数集信息、预设的灰度偏差阈值和预设的面积阈值，确定所述待检测双极板的缺陷区域信息，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述待检测缺陷灰度图存在所述第一均匀腐蚀区域、所述第二均匀腐蚀区域和所述点腐蚀区域的时候，在所述基于所述缺陷区域信息，对所述待检测缺陷图中的目标区域进行高亮标注处理，生成缺陷高亮标注图之后，所述方法还包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述界域面积信息、所述第二预估腐蚀区域的区域面积信息和预设的腐蚀程度计算函数，确定所述待检测双极板的腐蚀程度信息，包括：

6.一种基于pem电解槽的缺陷检测系统，应用于pem电解槽，所述pem电解槽包括多个待检测双极板，其特征在于，所述系统包括：

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

8.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述方法的步骤。

技术总结
本申请适用于图像处理的技术领域，提供了一种基于PEM电解槽的缺陷检测方法、系统、终端设备及介质，其方法包括获取待检测双极板的初始工况图，并基于预设的相机，获取待检测双极板的待检测缺陷图；根据初始工况图，确定待检测双极板的初始参数集信息，并根据待检测缺陷图，确定待检测双极板的缺陷参数集信息，其中，初始参数集信息包括初始色泽信息和初始工件轮廓线信息，缺陷参数集信息包括实时色泽信息、实时工件轮廓线信息和腐蚀区域轮廓线信息；根据初始参数集信息和缺陷参数集信息，确定待检测双极板的缺陷区域信息。本申请能够高效辅助研发人员分析双极板的质量缺陷，大幅度提高处理效率。

技术研发人员：蔡沛,郭启,彭智勇,于孟林
受保护的技术使用者：湖南隆深氢能科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16