基于串口通信工具的计算芯片SLT测试系统、方法、介质及设备与流程

本申请涉及芯片测试，特别是涉及基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统、方法、介质及设备。

背景技术：

1、芯片slt(system-level test)测试是在整个系统级别对芯片进行测试的过程，旨在验证芯片在实际应用场景中的功能、性能和可靠性，并确保芯片正常工作。通常而言，芯片slt测试的操作过程是将封装好的芯片放在测试板上，使用配套的slt测试软件或者常规的系统软件等，记录测试结果。

2、对于计算芯片而言，slt测试是专门针对高性能计算芯片所作出的一种系统级别的测试软件，用于对计算芯片进行良率筛选。但目前对计算芯片进行的slt测试，仍存在灵活性不足、测试时间偏长、时间成本偏高的技术问题。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本申请的目的在于提供基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统、方法、介质及设备，用于解决目前对计算芯片进行的slt测试，仍存在灵活性不足、测试时间偏长、时间成本偏高的技术问题。

2、为实现上述目的及其他相关目的，本申请的第一方面提供一种基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统，包括：第一开发板，其上设有主控芯片及串口接口；第二开发板，其与所述第一开发板电性连接；所述第二开发板上设有待测计算芯片；计算机设备，其设有串口通信工具；所述串口通信工具与所述第一开发板上的串口接口电性连接以建立串口通信；其中，所述计算机设备响应于用户操作而生成对应的芯片测试指令，并通过所述串口通信工具将所述芯片测试指令传送至所述第一开发板上的主控芯片；所述主控芯片所在的第一开发板的操作系统上加载有当前待测计算芯片所对应的slt测试软件，并在接收到所述芯片测试指令后对所述第二开发板上的待测计算芯片进行芯片测试。

3、于本申请的第一方面的一些实施例中，所述主控芯片根据芯片性能的不同将待测计算芯片分为若干等级，并将待测计算芯片的芯片测试结果存储于第一开发板的操作系统的文件系统上，供导出至配套的测试管理软件对芯片测试结果进行分析。

4、于本申请的第一方面的一些实施例中，所述主控芯片根据芯片性能的不同将待测计算芯片分为若干等级，其等级划分方式包括如下：主控芯片获取各个待测计算芯片的准确率及工作电流；判断测试得到的工作电流是否符合标准并按照准确率对各个待测计算芯片进行等级划分。

5、于本申请的第一方面的一些实施例中，所述计算机设备通过使用串口通信工具，使用指令行的方式对待测计算芯片进行测试，并根据不同需求更改对应测试指令。

6、于本申请的第一方面的一些实施例中，计算机设备的linux系统根据当前待测计算芯片生成对应的slt测试软件，基于scp远程传送指令将生成得到的slt测试软件远程传送至主控芯片所在的开发板上的操作系统。

7、于本申请的第一方面的一些实施例中，计算机设备根据当前待测计算芯片的性能，通过向主控芯片发送指令行的方式更改计算芯片可跑的频点以及频点所对应的电压范围。

8、于本申请的第一方面的一些实施例中，计算机设备对同一待测计算芯片设置多组频点及电压数据，每组频点及电压数据包含相应的频点及该频点所对应的多个不同电压点的数据；使用所述多组频点及电压数据对待测计算芯片进行反复测试，以形成频率与电压的矩阵测试点。

9、于本申请的第一方面的一些实施例中，在当前待测计算芯片完成芯片测试后，运行于主控芯片所在的第一开发板的操作系统上的slt测试软件从测试状态切换至等待状态；待当前待测计算芯片被取出并替换为下一待测计算芯片后，slt测试软件从等待状态切换至测试状态。

10、于本申请的第一方面的一些实施例中，所述串口通信工具包括如下任一种：minicom工具、putty工具、kermit工具、picocom工具及cutecom工具。

11、为实现上述目的及其他相关目的，本申请的第二方面提供一种基于串口通信工具的计算芯片slt测试方法，应用于所述计算芯片slt测试系统中的计算机设备；所述方法包括：响应于用户操作而生成对应的芯片测试指令；通过计算机设备上设置的串口通信工具将所述芯片测试指令传送至第一开发板上的主控芯片，以供加载有当前待测计算芯片所对应的slt测试软件的所述第一开发板的操作系统对第二开发板上的当前待测计算芯片进行测试。

12、为实现上述目的及其他相关目的，本申请的第三方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述基于串口通信工具的计算芯片slt测试方法。

13、为实现上述目的及其他相关目的，本申请的第四方面提供一种计算机设备，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述终端执行所述基于串口通信工具的计算芯片slt测试方法。

14、如上所述，本申请的基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统、方法、介质及设备，具有以下有益效果：本申请通过使用串口通信工具，使用指令行的方式对计算芯片进行slt软件测试，可以做到根据需求不同而快速、直观且便捷地更改测试指令，并根据芯片功能进行全面筛选，分析大批芯片的良率问题，并根据芯片的性能差别分门别类，待后续使用。因此，本申请有效解决了目前对计算芯片进行的slt测试，仍存在灵活性不足、测试时间偏长、时间成本偏高的技术问题。

技术特征：

1.一种基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统，其特征在于，所述主控芯片根据芯片性能的不同将待测计算芯片分为若干等级，并将待测计算芯片的芯片测试结果存储于第一开发板的操作系统的文件系统上，供导出至配套的测试管理软件对芯片测试结果进行分析。

3.根据权利要求2所述的基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统，其特征在于，所述主控芯片根据芯片性能的不同将待测计算芯片分为若干等级，其等级划分方式包括如下：主控芯片获取各个待测计算芯片的准确率及工作电流；判断测试得到的工作电流是否符合标准并按照准确率对各个待测计算芯片进行等级划分。

4.根据权利要求1所述的基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统，其特征在于，所述计算机设备通过使用串口通信工具，使用指令行的方式对待测计算芯片进行测试，并根据不同需求更改对应测试指令。

5.根据权利要求1所述的基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统，其特征在于，计算机设备的linux系统根据当前待测计算芯片生成对应的slt测试软件，基于scp远程传送指令将生成得到的slt测试软件远程传送至主控芯片所在的开发板上的操作系统。

6.根据权利要求1所述的基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统，其特征在于，计算机设备根据当前待测计算芯片的性能，通过向主控芯片发送指令行的方式更改计算芯片可跑的频点以及频点所对应的电压范围。

7.根据权利要求6所述的基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统，其特征在于，计算机设备对同一待测计算芯片设置多组频点及电压数据，每组频点及电压数据包含相应的频点及该频点所对应的多个不同电压点的数据；使用所述多组频点及电压数据对待测计算芯片进行反复测试，以形成频率与电压的矩阵测试点。

8.根据权利要求7所述的基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统，其特征在于，在当前待测计算芯片完成芯片测试后，运行于主控芯片所在的第一开发板的操作系统上的slt测试软件从测试状态切换至等待状态；待当前待测计算芯片被取出并替换为下一待测计算芯片后，slt测试软件从等待状态切换至测试状态。

9.根据权利要求1所述的基于串口通信工具的计算芯片slt测试系统，其特征在于，所述串口通信工具包括如下任一种：minicom工具、putty工具、kermit工具、picocom工具及cutecom工具。

10.一种基于串口通信工具的计算芯片slt测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1～9中任一项所述的计算芯片slt测试系统中的计算机设备；所述方法包括：

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求10所述基于串口通信工具的计算芯片slt测试方法。

12.一种计算机设备，其特征在于，包括：处理器及存储器；

技术总结
本申请提供基于串口通信工具的计算芯片SLT测试系统、方法、介质及设备，包括：第一开发板，其上设有主控芯片及串口接口；第二开发板，其与第一开发板电性连接；第二开发板上设有待测计算芯片；计算机设备，其设有串口通信工具；串口通信工具与第一开发板上的串口接口电性连接以建立串口通信；计算机设备响应于用户操作而生成对应的芯片测试指令，并通过串口通信工具将芯片测试指令传送至第一开发板上的主控芯片；第一开发板的操作系统上加载有当前待测计算芯片所对应的SLT测试软件，并在接收到芯片测试指令后对第二开发板上的待测计算芯片进行芯片测试。本申请解决了目前对计算芯片进行SLT测试，存在灵活性不足、测试时间长、时间成本高的技术问题。

技术研发人员：王静
受保护的技术使用者：上海芯百为智能科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/11