太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法和装置

本发明涉及材料测量技术，尤其涉及一种太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法和装置。

背景技术：

1、精确测量材料在太赫兹波段的电磁参数，是合理开发与利用太赫兹波的基本技术之一。

2、相关技术中，测量得到的太赫兹波段材料(如石英样品)的介电参数中包含有噪声，导致测量得到的太赫兹波段材料的介电参数的准确性较低。因此，如何去除介电参数中的噪声，从而提升介电参数的准确性，是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

技术实现思路

1、针对现有技术中的问题，本发明实施例提供一种太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法和装置。

2、具体地，本发明实施例提供了以下技术方案：

3、第一方面，本发明实施例提供了一种太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法，包括：

4、获取太赫兹波垂直射入到太赫兹波段材料样本后的透射信号和反射信号；

5、根据所述透射信号和反射信号，确定所述太赫兹波段材料样本的初始介电参数；

6、确定所述初始介电参数中包括的多种类型的噪声，去除所述多种类型的噪声，得到目标介电参数。

7、进一步地，所述确定所述初始介电参数中包括的多种类型的噪声，包括：

8、确定所述初始介电参数中的第一类型的噪声；所述第一类型的噪声包括以下至少一项：高频噪声和直流噪声；

9、确定所述初始介电参数中的第二类型的噪声；所述第二类型的噪声包括尖峰噪声；所述尖峰噪声是由于回波谐振生成的。

10、进一步地，所述去除所述多种类型的噪声，得到目标介电参数，包括：

11、基于小波去噪的方式去除所述初始介电参数中的第一类型的噪声，得到第一介电参数；

12、去除所述第一介电参数中的第二类型的噪声，得到所述目标介电参数。

13、进一步地，所述去除所述第一介电参数中的第二类型的噪声，得到所述目标介电参数，包括：

14、基于变分模态分解方式去除所述第一介电参数中的第二类型的噪声，得到所述目标介电参数。

15、进一步地，所述基于变分模态分解方式去除所述第一介电参数中的第二类型的噪声，得到所述目标介电参数之后，还包括：

16、基于扩频逆傅里叶变换的方式去除所述目标介电参数中的卷边效应。

17、进一步地，所述根据所述透射信号和反射信号，确定所述太赫兹波段材料样本的初始介电参数，包括：

18、根据所述透射信号、反射信号和nrw(nicolson–ross–weir)算法，确定所述太赫兹波段材料样本的初始介电参数。

19、第二方面，本发明实施例还提供了一种太赫兹波段材料参数测量中尖峰噪声的去除装置，包括：

20、获取模块，用于获取太赫兹波垂直射入到太赫兹波段材料样本后的透射信号和反射信号；

21、确定模块，用于根据所述透射信号和反射信号，确定所述太赫兹波段材料样本的初始介电参数；

22、去噪模块，用于确定所述初始介电参数中包括的多种类型的噪声，去除所述多种类型的噪声，得到目标介电参数。

23、第三方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如第一方面所述太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法。

24、第四方面，本发明实施例还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法。

25、第五方面，本发明实施例还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法。

26、本发明实施例提供的太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法和装置，在确定太赫兹波段材料样本的初始介电参数，也就是测量出包含噪声的介电参数之后，为了更加准确有效地去除介电参数中的噪声，本申请实施例中确定出介电参数中存在的多种类型的噪声，如高频噪声和直流噪声，进而对介电参数中存在的多种类型的噪声进行针对性的去除，也就可以有效地提升介电参数中噪声去除的针对性和准确性，提升介电参数中噪声去除的效率和准确性，达到提升介电参数准确性的效果。

技术特征：

1.一种太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法，其特征在于，所述确定所述初始介电参数中包括的多种类型的噪声，包括：

3.根据权利要求2所述的太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法，其特征在于，所述去除所述多种类型的噪声，得到目标介电参数，包括：

4.根据权利要求3所述的太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法，其特征在于，所述去除所述第一介电参数中的第二类型的噪声，得到所述目标介电参数，包括：

5.根据权利要求4所述的太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法，其特征在于，所述基于变分模态分解方式去除所述第一介电参数中的第二类型的噪声，得到所述目标介电参数之后，还包括：

6.根据权利要求1-5任一项所述的太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法，其特征在于，所述根据所述透射信号和反射信号，确定所述太赫兹波段材料样本的初始介电参数，包括：

7.一种太赫兹波段材料参数测量中尖峰噪声的去除装置，其特征在于，包括：

8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6任一项所述太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法。

9.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法。

10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法。

技术总结
本发明提供一种太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法和装置，该方法包括：获取太赫兹波垂直射入到太赫兹波段材料样本后的透射信号和反射信号；根据透射信号和反射信号，确定太赫兹波段材料样本的初始介电参数；确定初始介电参数中包括的多种类型的噪声，去除多种类型的噪声，得到目标介电参数。本发明的方法对介电参数中存在的多种类型的噪声进行针对性的去除，也就可以有效地提升介电参数中噪声去除的针对性和准确性，提升介电参数中噪声去除的效率和准确性，达到提升介电参数准确性的效果。

技术研发人员：张振伟,居裔然,何舒洁,韩思怡,关昊,李金玲,罗熙博,程韶雷,张存林
受保护的技术使用者：首都师范大学
技术研发日：
技术公布日：2024/3/24