识别图像中渣状杂质的方法及装置与流程

文档序号:37428266发布日期:2024-03-25 19:18阅读:16来源:国知局
识别图像中渣状杂质的方法及装置与流程

本发明实施例涉及通信领域,具体而言,涉及一种识别图像中渣状杂质的方法及装置。


背景技术:

1、在废钢质检流程中,杂质含量是质检的重要标准之一。其中杂质包含金属杂质如铁锈、含油件等,非金属杂质如渣土、石块、塑料等。针对杂质的检测,目前常采用的检测技术对于边沿特征明显的杂质如石块、塑料瓶等检出效果很好,但对于没有固定边缘信息且边缘特征不明显的渣状杂质检出效果很差。

2、针对上述问题,目前尚未存在有效的解决方案。


技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种识别图像中渣状杂质的方法及装置,以至少解决相关技术中图像中渣状杂质的识别准确率较低的问题。

2、根据本发明的一个实施例,提供了一种识别图像中渣状杂质的方法,包括:对待检测图像中的渣状杂质进行识别,得到渣状杂质掩膜图;根据所述渣状杂质掩膜图的大小创建访问矩阵,其中,所述访问矩阵的大小与所述渣状杂质掩膜图的大小相同;通过所述渣状杂质掩膜图和所述访问矩阵得到所述待检测图像中的渣状杂质片。

3、在一个示例性实施例中,通过所述渣状杂质掩膜图和所述访问矩阵得到所述待检测图像中的渣状杂质片,包括:在所述渣状杂质掩膜图确定满足预设条件的像素点为第一目标像素点;通过所述第一目标像素点,以及所述渣状杂质掩膜图中与所述第一目标像素点相邻的像素点得到所述渣状杂质片,其中,所述渣状杂质片中的像素点满足所述预设条件。

4、在一个示例性实施例中,在所述渣状杂质掩膜图确定满足预设条件的像素点为第一目标像素点,包括:将所述渣状杂质掩膜图中像素值为第一数值的像素点所在的位置为第一目标位置;在所述访问矩阵中所述第一目标位置上的值为第二数值的情况下,将所述像素值为第一数值的像素点确定为所述第一目标像素点。

5、在一个示例性实施例中,在所述访问矩阵中所述第一目标位置上的值为第二数值的情况下,将所述像素值为第一数值的像素点确定为所述第一目标像素点之后,所述方法还包括:将所述访问矩阵中所述第一目标位置上的值修改为第三数值。

6、在一个示例性实施例中,所述方法还包括:在所述待检测图像中包括多个所述渣状杂质片的情况下,通过每个所述渣状杂质片中像素点的数量确定目标渣状杂质片。

7、在一个示例性实施例中,通过每个所述渣状杂质片中像素点的数量确定目标渣状杂质片,包括:将所述多个所述渣状杂质片中像素点的数量大于或等于第一预设值的渣状杂质片确定为所述目标渣状杂质片。

8、在一个示例性实施例中,所述方法还包括:在所述待检测图像中包括多个所述目标渣状杂质片的情况下,且多个所述目标渣状杂质片存在重叠的情况下,根据多个所述目标渣状杂质片之间的重叠度,对多个所述目标渣状杂质片进行过滤。

9、在一个示例性实施例中,根据多个所述目标渣状杂质片之间的重叠度,对多个所述目标渣状杂质片进行过滤,包括:在多个所述目标渣状杂质片中的第一目标渣状杂质片和第二目标渣状杂质片存在重叠的情况下,确定所述第一目标渣状杂质片和第二目标渣状杂质片之间的重叠面积;将所述第一目标渣状杂质片和第二目标渣状杂质片中最小的面积确定为目标面积;通过所述重叠面积和所述目标面积对多个所述目标渣状杂质片进行过滤。

10、在一个示例性实施例中,所述通过所述重叠面积和所述目标面积对多个所述目标渣状杂质片进行过滤,包括:将所述重叠面积和所述目标面积的比值确定为目标值;在所述目标值大于或等于第二预设值的情况下,去除所述第一目标渣状杂质片或第二目标渣状杂质片。

11、根据本发明的另一个实施例,提供了一种识别图像中渣状杂质的装置,包括:识别模块,用于对待检测图像中的渣状杂质进行识别,得到渣状杂质掩膜图;创建模块,用于根据所述渣状杂质掩膜图的大小创建访问矩阵,其中,所述访问矩阵的大小与所述渣状杂质掩膜图的大小相同;处理模块,用于通过所述渣状杂质掩膜图和所述访问矩阵得到所述待检测图像中的渣状杂质片。

12、根据本发明的又一个实施例,还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序,其中,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项中所述的方法的步骤。

13、根据本发明的又一个实施例,还提供了一种电子装置,包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

14、通过本发明,通过对待检测图像中的渣状杂质进行识别,得到渣状杂质掩膜图;根据渣状杂质掩膜图的大小创建访问矩阵,访问矩阵的大小与所述渣状杂质掩膜图的大小相同;通过渣状杂质掩膜图和访问矩阵得到待检测图像中的渣状杂质片。因此,可以解决相关技术中图像中渣状杂质的识别准确率较低的问题,达到提高图像中渣状杂质的识别准确率的效果。



技术特征:

1.一种识别图像中渣状杂质的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过所述渣状杂质掩膜图和所述访问矩阵得到所述待检测图像中的渣状杂质片,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述渣状杂质掩膜图确定满足预设条件的像素点为第一目标像素点,包括:

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,根据多个所述目标渣状杂质片之间的重叠度,对多个所述目标渣状杂质片进行过滤,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述通过所述重叠面积和所述目标面积对多个所述目标渣状杂质片进行过滤,包括:

8.一种识别图像中渣状杂质的装置,其特征在于,包括:

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序,其中,所述计算机程序被处理器执行时实现所述权利要求1至7任一项中所述的方法的步骤。

10.一种电子装置,包括存储器和处理器,其特征在于,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行所述权利要求1至7任一项中所述的方法。


技术总结
本发明实施例提供了一种识别图像中渣状杂质的方法及装置,包括:对待检测图像中的渣状杂质进行识别,得到渣状杂质掩膜图;根据渣状杂质掩膜图的大小创建访问矩阵,访问矩阵的大小与渣状杂质掩膜图的大小相同;通过渣状杂质掩膜图和访问矩阵得到待检测图像中的渣状杂质片。通过本发明,解决了相关技术中图像中渣状杂质的识别准确率较低的问题。

技术研发人员:惠强,熊剑平,徐兰叶,王枫,任馨怡,梅少杰
受保护的技术使用者:浙江大华技术股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/3/24
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