一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统的制作方法

本发明涉及芯片，尤其涉及应用于存储器芯片的抗辐照检测系统。

背景技术：

1、随着航天事业飞速发展，存储器芯片已广泛应用于卫星、航天等辐照环境的领域。因此，对存储器芯片的抗辐照性能评估和辐照下的可靠稳定性考核就尤为关键。传统的存储器抗辐照检测是指对存储器芯片在辐射环境下的稳定性和可靠性进行测试和评估的过程。辐射可能来自宇宙射线、放射性物质或其他辐射源。在辐射环境下，存储器芯片可能会受到辐射引起的位翻转、故障或损坏，导致数据丢失或存储器功能失效。

2、传统的存储器抗辐照检测方案，通常是在辐射环境下对存储器芯片进行测试，测试条件包括根据实际需求选择适当的辐射源以模拟不同辐射环境，如x射线、质子束、中子源等，以及设置实验参数：确定辐射剂量、辐射能量、辐射时间等实验参数，以控制辐射的强度和持续时间。待辐照结束后将存储器芯片取出，读出存储器芯片中存储的测试数据，并根据原始存储数据评估其在辐射环境下的抗辐照性能。

3、现有的存储器芯片抗辐照检测技术主要存在以下问题：只能等待辐照结束后才能取出存储器芯片、读出存储器芯片中的测试数据，造成检测效率较低、短时间内测试数据回传量大等问题。

4、因此亟需一种新的方案来实现高效的存储器芯片抗辐照检测。

技术实现思路

1、为克服相关技术中存在的问题，本发明的实施例提供一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统。技术方案如下：

2、根据本发明的实施例的第一方面，提供一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统，包括：

3、辐照测试模块，用于容纳存储器芯片并对存储器芯片进行辐照测试；

4、无线通信模块，包括无线输出单元、无线接收单元和控制单元；其中，所述无线输出单元设置于辐照测试模块中并与存储器芯片相连，用于实时获取存储器芯片的测试数据并发送到所述无线接收单元；所述无线接收单元设置在所述辐照测试模块之外，用于接收所述无线输出单元发送的测试数据；其中，所述无线通信模块包括以下多种传输模式，所述控制单元用于根据实时传输情况切换无线通信模块的传输模式：

5、单发单收模式：一个无线输出单元和一个无线接收单元组成一组收发单元，传输一个存储器芯片的测试数据；

6、单发多收模式：一个无线输出单元和多个无线接收单元组成一组收发单元，传输一个存储器芯片的测试数据；多个无线接收单元分时段接收或重复接收所述一个无线输出单元输出的测试数据；

7、多发多收模式：多个无线输出单元和多个无线接收单元组成一组收发单元，传输一个存储器芯片的测试数据；多个无线接收单元分时段接收或重复接收所述多个无线输出单元输出的测试数据；

8、中断模式：在存储器芯片存在损坏风险的情况下，无线发送单元中止发送测试数据而发送特定数据帧；

9、数据分析模块，用于对所有无线接收单元接收的测试数据进行分析，以确定存储器芯片的抗辐照性能。

10、在本申请一实施例中，所述控制单元用于：

11、获取实时数据传输速率，以及根据信道建模参考信号实时分析接收数据的质量；

12、基于实时的数据传输速率以及接收数据的质量，切换传输模式。

13、在本申请一实施例中，所述接收数据的质量包括数据翻转率；所述控制单元用于：

14、当数据翻转率低于第一阈值，控制无线通信模块采用单发单收传输模式；

15、当数据翻转率高于第一阈值：当数据传输速率低于第一速率值时，控制无线通信模块采用单发单收传输模式，当数据传输速率高于第一速率值时，控制无线通信模块采用多发多收传输模式。

16、当数据翻转率高于第二阈值，所述第二阈值大于所述第一阈值，控制无线通信模块进入中断模式，经过预设时长，控制无线通信模块恢复中断前的传输模式。

17、在本申请一实施例中，所述单发多收模式和多发多收模式中，多个无线接收单元重复接收测试数据时，选取无线接收单元中性能指标最优的无线接收单元接收的测试数据。

18、在本申请一实施例中，所述无线输出单元用于：

19、实时获取存储器芯片的测试数据，测试数据包括存储器芯片的性能指标数据、辐射效应数据；

20、将获取到的测试数据进行编码；

21、采用多载波聚合方式将编码后的数据调制到不同的载波上；

22、将调制后的无线信号进行发送。

23、在本申请一实施例中，所述无线接收单元用于：

24、将接收到的无线信号解码重组为原始的测试数据；

25、对接收到的测试数据进行预处理，所述预处理包括以下一种或多种：滤波、插值、统计翻转率、备份。

26、在本申请一实施例中，所述数据分析模块用于对所有无线接收单元接收的测试数据以及处理结果进行整合并分析，以确定存储器芯片的抗辐照性能。

27、本发明的实施例提供的技术方案，可以实时读取存储器芯片的测试数据并外发，并且在外发测试数据时，根据实时传输情况切换传输模式，提高了测试数据的发送效率和可靠性，无需等待辐照测试完毕后才读取存储器芯片的测试数据，使得对于存储器芯片的抗辐照检测更加高效。

28、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

技术特征：

1.一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制单元用于：

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述控制单元用于：

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述单发多收模式和多发多收模式中，多个无线接收单元重复接收测试数据时，选取无线接收单元中性能指标最优的无线接收单元接收的测试数据；所述性能指标最优包括数据翻转率最低。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述无线输出单元用于：

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述无线接收单元用于：

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，

技术总结
本发明是关于应用于存储器芯片的抗辐照检测系统，该系统包括：辐照测试模块，用于容纳存储器芯片并对存储器芯片进行辐照测试；无线通信模块，包括无线输出单元、无线接收单元和控制单元；无线输出单元设置于辐照测试模块中并与存储器芯片相连，用于实时获取存储器芯片的测试数据并发送；无线接收单元设置在辐照测试模块之外，用于接收测试数据；无线通信模块包括多种传输模式，控制单元根据实时传输情况切换无线通信模块的传输模式；数据分析模块，用于对所有无线接收单元接收的测试数据进行分析，以确定存储器芯片的抗辐照性能。本申请实时读取存储器芯片的测试数据并外发，并提出多种优化传输方式，使得对于存储器芯片的抗辐照检测更加高效。

技术研发人员：杨威
受保护的技术使用者：北京怀美科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/24