本发明涉及芯片验证领域，特别是涉及一种芯片原型验证方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。
背景技术：
1、在芯片流片之前，进行芯片原型验证一方面可以验证芯片功能，尽可能的确保功能模块的可靠性和稳定性，另一方面还可以缩短芯片上市的时间，降低芯片验证成本。
2、可以使用fpga（field programmable gate array，现场可编程门阵列）基于原型验证平台对芯片进行验证，原型平台的开发流程包括编译、分割、综合、实现、生成配置文件。其中，分割根据约束文件进行，分割结果对后续的步骤有着中要的意义，一个相对好的分割结果，可以加快后续流程，比如缩短综合用时，加快实现阶段的时序收敛。目前在分割阶段，当分割结果中的参数不满足要求时，需要操作人员手动修改约束文件（分割每片fpga的资源使用量），重新进行分割，直至分割结果满足要求。操作人员手动进行操作，费时费力，并且分割可能需要进行很多次，影响芯片原型验证的效率。
3、因此，如何解决上述技术问题应是本领域技术人员重点关注的。
技术实现思路
1、本发明的目的是提供一种芯片原型验证方法、装置、电子设备和可读存储介质，以节省人力，同时减少分割的次数，提升芯片原型验证测试效率。
2、为解决上述技术问题，本发明提供一种芯片原型验证方法，包括：
3、当分割次数达到预设次数阈值，且分割结果中的目标检查信息不满足要求时，确定与所述目标检查信息相关联的目标模块单元；其中，所述目标检查信息包括时钟交叉数量和未布线数量；
4、确定所述目标模块单元在验证所用芯片中占用的目标资源的使用量；
5、当所述目标资源的使用量小于单片验证所用芯片中对应的资源的使用限制值时，将所述目标模块单元强制约束至所述验证所用芯片中，以使新的目标检查信息满足要求。
6、作为一种可实施方式，当分割次数达到预设次数阈值，且分割结果中的目标检查信息不满足要求时，确定与所述目标检查信息相关联的目标模块单元之前，还包括：
7、根据预设分割参数和验证所用芯片之间的互联关系，生成首次分割约束条件；其中，所述首次分割约束条件包括分割每片验证所用芯片的资源使用量的约束和验证所用芯片之间的目标互联关系；
8、利用所述首次分割约束条件进行首次分割。
9、作为一种可实施方式，当生成验证所用芯片之间的目标互联关系时，确定所述验证所用芯片上在物理位置关系上聚集的接口作为验证所用芯片之间的互联接口。
10、作为一种可实施方式，利用所述首次分割约束条件进行首次分割之后，还包括：
11、步骤s11、当首次分割的分割结果不满足预设要求时，调整所述首次分割约束条件形成新的分割约束条件；
12、步骤s12、利用所述新的分割约束条件再次进行分割；
13、步骤s13、生成新的分割结果报告；
14、步骤s14、解析所述新的分割结果报告，获得新的检查信息；所述新的检查信息包括验证所用芯片的资源利用率、互联线上的时间分割比率、所述时钟交叉数量和所述未布线数量；
15、步骤s15、判断所述新的检查信息是否满足预设要求；
16、步骤s16、当所述新的检查信息不满足所述预设要求，根据不满足要求的检查信息与预设阈值的大小关系调整分割约束条件，重新形成新的分割约束条件，并进入步骤s12；
17、步骤s17、记录进行分割的分割次数，并在所述分割次数达到所述预设次数阈值，且分割结果中的目标检查信息不满足要求时，执行确定与所述目标检查信息相关联的目标模块单元的步骤。
18、作为一种可实施方式，根据不满足要求的检查信息与预设阈值的大小关系调整分割约束条件，重新形成新的分割约束条件包括：
19、当两片所述验证所用芯片间的所述时钟交叉数量和所述未布线数量不小于第一预设阈值时，则将两片所述验证所用芯片间的互联线的数量加1；
20、当两片所述验证所用芯片间的所述时钟交叉数量和所述未布线数量小于所述第一预设阈值时，则调整所述验证所用芯片的资源使用量的约束；
21、当两片所述验证所用芯片间所述互联线上的时间分割比率大于第二预设阈值时，则将两片所述验证所用芯片间的互联线的数量加1；
22、当两片所述验证所用芯片间所述互联线上的时间分割比率不大于所述第二预设阈值时，则调整所述验证所用芯片的资源使用量的约束。
23、作为一种可实施方式，当首次分割的分割结果不满足预设要求时，调整所述首次分割约束条件形成新的分割约束条件之前，还包括：
24、生成首次分割的分割结果报告；
25、解析首次分割的分割结果报告，获得检查信息；
26、判断所述检查信息是否满足预设要求；
27、当所述检查信息不满足所述预设要求，则执行调整所述首次分割约束条件形成新的分割约束条件的步骤。
28、作为一种可实施方式，所述目标资源包括查找表、数据触发器和块随机存取存储器。
29、本发明还提供一种芯片原型验证装置，包括：
30、第一确定模块，用于当分割次数达到预设次数阈值，且分割结果中的目标检查信息不满足要求时，确定与所述目标检查信息相关联的目标模块单元；其中，所述目标检查信息包括时钟交叉数量和未布线数量；
31、第二确定模块，用于确定所述目标模块单元在验证所用芯片中占用的目标资源的使用量；
32、强制约束模块，用于当所述目标资源的使用量小于单片验证所用芯片中对应的资源的使用限制值时，将所述目标模块单元强制约束至所述验证所用芯片中，以使新的目标检查信息满足要求。
33、本发明还提供一种电子设备，包括：
34、存储器，用于存储计算机程序；
35、处理器，用于执行所述计算机程序时实现上述任一种所述芯片原型验证方法的步骤。
36、本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种所述芯片原型验证方法的步骤。
37、本发明还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，该计算机程序/指令被处理器执行时实现上述任一种所述芯片原型验证方法的步骤。
38、本发明所提供的一种芯片原型验证方法，包括：当分割次数达到预设次数阈值，且分割结果中的目标检查信息不满足要求时，确定与所述目标检查信息相关联的目标模块单元；其中，所述目标检查信息包括时钟交叉数量和未布线数量；确定所述目标模块单元在验证所用芯片中占用的目标资源的使用量；当所述目标资源的使用量小于单片验证所用芯片中对应的资源的使用限制值时，将所述目标模块单元强制约束至所述验证所用芯片中，以使新的目标检查信息满足要求。
39、可见，本发明中的芯片原型验证方法在分割次数达到预设次数阈值，并且分割结果中的目标检查信息仍不满足要求时，确定出与目标检查信息关联的目标模块单元，进而确定出目标模块单元所占目标资源的大小情况，当占用的目标资源的大小小于单片的验证所用芯片中对应的资源的使用限制值时，便将目标模块单元强制约束到验证所用芯片中，从而消除分割存在的目标检查信息不满足要求的情况，减少分割的次数，节省分割消耗的时间，提升芯片原型验证平台的工作速度，加快芯片原型验证测试效率。并且，本发明中的芯片原型验证方法是自动进行的，无需人工手动操作，节省人力，同时提升芯片原型验证速度。
40、此外，本发明还提供一种具有上述优点的装置、电子设备和计算机可读存储介质。