一种asic芯片中功能代码的设计方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及ASIC技术领域，特别涉及一种ASIC设计方法及装置。
【背景技术】
[0002] 随着计算机技术的不断发展，专用集成电路（ASIC, Australian Securities and Investment Commission)芯片的设计规模也在不断增长。
[0003]目前，ASIC芯片中可以包括多项设定功能，用户可以利用汇编语言、C语言等一些 计算机语言，在ASIC芯片中对每一项设定功能进行编码。由于在对ASIC芯片的各项设定功 能进行编码时，每一项设定功能可能就需要编写数十页的功能代码，因此，目前对ASIC芯 片的功能代码进行设计时，效率低，且错误率高。
【发明内容】
[0004] 本发明提供一种ASIC芯片中功能代码的设计方法及装置，以解决目前对ASIC芯 片的功能代码进行设计时，效率低，且错误率高的问题。
[0005] 本发明提供了一种ASIC芯片中功能代码的设计方法，设置模块库，其中，设置的 所述模块库中包括一个以上的功能模块，包括：
[0006] 确定ASIC芯片中的设定功能；
[0007] 根据确定的设定功能，从所述模块库中获取完成设定功能所需的一个以上的功能 模块；
[0008] 对获取的每一个功能模块进行参数赋值，生成所述设定功能的功能代码。
[0009] 优选地，所述设定功能中包括所述模块库中的功能模块无法实现的功能；
[0010] 在所述生成所述设定功能的功能代码之前，进一步包括：对所述无法实现的功能 进行编码；
[0011] 所述生成所述设定功能的功能代码，包括：利用参数赋值后的功能模块以及所完 成的编码，生成所述设定功能的功能代码。
[0012] 优选地，在所述对所述无法实现的功能进行编码之后，进一步包括：
[0013] 将所完成的编码集成为功能模块，并将集成的功能模块保存至所述模块库中。
[0014] 本发明还提供了一种ASIC芯片中功能代码的验证方法，包括：上述任一所述的 ASIC芯片中功能代码的设计方法、以及对生成的所述设定功能的功能代码进行验证；
[0015] 所述设定功能包括：同步先入先出模块；
[0016] 所述对生成的所述设定功能的功能代码进行验证，包括：对所述同步先入先出模 块的功能代码中的数据宽度和地址宽度进行重新赋值，以使重新赋值后的所述同步先入先 出模块的状态单元数小于所述生成所述设定功能的功能代码中参数赋值后的状态单元数； 运行重新赋值后的所述同步先入先出模块的功能代码，该运行过程包括：逐个读取所述同 步先入先出模块中写入的每一个数据，其中，将所述同步先入先出模块写满数据后，写入数 据的个数为重新赋值后的状态单元数，状态单元数=数据宽度值若在运行过程 中，读取所述同步先入先出模块中最后一个地址的对应数据之后，继续向该最后一个地址 的下一个地址进行读取，则验证ASIC芯片中所述同步先入先出模块的功能代码错误，否 贝U，验证ASIC芯片中所述同步先入先出模块的功能代码正确。
[0017] 本发明还提供了一种ASIC芯片中功能代码的设计装置，包括：
[0018] 存储单元，用于保存模块库，其中，保存的所述模块库中包括一个以上的功能模 块；
[0019] 确定单元，用于确定ASIC芯片中的设定功能；
[0020] 获取单元，用于根据确定的设定功能，从所述模块库中获取完成设定功能所需的 一个以上的功能模块；
[0021] 赋值生成单元，用于对获取的每一个功能模块进行参数赋值生成所述设定功能的 功能代码。
[0022] 优选地，其特征在于，所述设定功能中包括所述模块库中的功能模块无法实现的 功能；进一步包括：
[0023] 编码单元，用于对所述无法实现的功能进行编码；
[0024] 所述赋值生成单元，用于利用参数赋值后的功能模块以及所完成的编码，生成所 述设定功能的功能代码。
[0025] 优选地，所述存储单元，用于将所完成的编码集成为功能模块，并将集成的功能模 块保存至所述模块库中。
[0026] 本发明还提供了一种ASIC芯片中功能代码的验证装置，包括：上述任一所述的 ASIC芯片中功能代码的设计装置，以及验证单元；
[0027] 所述验证单元，用于对生成的所述设定功能的功能代码进行验证；
[0028] 所述设定功能包括同步先入先出模块时，所述验证单元，用于对所述同步先入先 出模块的功能代码中的数据宽度和地址宽度进行重新赋值，以使重新赋值后的所述同步先 入先出模块的状态单元数小于所述生成所述设定功能的功能代码中参数赋值后的状态单 元数；运行重新赋值后的所述同步先入先出模块的功能代码，该运行过程包括：逐个读取 所述同步先入先出模块中写入的每一个数据，其中，将所述同步先入先出模块写满数据后， 写入数据的个数为重新赋值后的状态单元数，状态单元数=数据宽度值、若在运行 过程中，读取所述同步先入先出模块中最后一个地址的对应数据之后，继续向该最后一个 地址的下一个地址进行读取，则验证ASIC芯片中所述同步先入先出模块的功能代码错误， 否则，验证ASIC芯片中所述同步先入先出模块的功能代码正确。
[0029] 本发明实施例提供了一种ASIC芯片中功能代码的设计方法及装置，由于不同的 ASIC芯片中设定功能可以相同，可能对于设定功能的功能代码中参数的赋值不同，因此预 先将完成设定功能的功能代码，集成为功能模块存储至模块库中，当需要对ASIC芯片的设 定功能进行设计时，可以从模块库中获取完成该设定功能所需的功能模块，并根据自身需 要设计的ASIC芯片，对获取的功能模块的功能代码中的参数进行赋值，相对于现有技术， 提高了手动编码的效率，且获取的功能模块在实现过程中错误率较低。
[0030] 进一步的，本发明实施例还提供了一种ASIC芯片中功能代码的验证方法及装置， 通过对设定功能的功能代码中的参数进行重新赋值，以使重新赋值后的参数小于生成设定 功能的功能代码中参数赋值后的参数值，即当本实施例中的设定功能包括同步先入先出模 块，通过对同步先入先出模块的功能代码中的数据宽度和地址宽度进行重新赋值，以使重 新赋值后的同步先入先出模块的状态单元数小于生成设定功能的功能代码中参数赋值后 的状态单元数，从而使得验证过程中，不但对设定功能的验证没有影响，而且需要读取的数 据个数减小为重新赋值后的状态单元数个数，从而提高了验证效率。
【附图说明】
[0031] 图1是本发明实施例提供的方法流程图；
[0032] 图2是本发明另一实施例提供的方法流程图；
[0033] 图3是本发明实施例提供装置所在设备的硬件架构图；
[0034] 图4是本发明实施例提供的装置结构示意图；
[0035] 图5是本发明另一实施例提供的装置结构示意图；
[0036] 图6是本发明又一实施例提供的装置所在设备的硬件架构图；
[0037] 图7是本发明再一实施例提供的装置结构示意图。
【具体实施方式】
[0038] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述。显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本 发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实 施例，都属于本发明保护的范围。
[0039] 如图1所示，本发明实施例提供了一种ASIC芯片中功能代码的设计方法，设置模 块库，其中，设置的所述模块库中包括一个以上的功能模块，该方法可以包括以下步骤：
[0040] 步骤101 :确定ASIC芯片中的设定功能。
[0041] 步骤102 :根据确定的设定功能，从所述模块库中获取完成设定功能所需的一个 以上的功能模块。
[0042] 步骤103 :对获取的每一个功能模块进行参数赋值，生成所述设定功能的功能代 码。
[0043] 根据上述方案，由于不同的ASIC芯片中设定功能可以相同，可能对于设定功能的 功能代码中参数的赋值不同，因此预先将完成设定功能的功能代码，集成为功能模块存储 至模块库中，当需要对ASIC芯片的设定功能进行设计时，可以从模块库中获取完成该设定 功能所需的功能模块，并根据自身需要设计的ASIC芯片，对获取的功能模块的功能代码中 的参数进行赋值，相对于现有技术，提高了手动编码的效率，且获取的功能模块在实现过程 中错误率较低。
[0044] 为了保证上述实施例中设计的ASIC芯片中功能代码的准确性，本发明实施例提 供了一种ASIC芯片中功能代码的验证方法，该方法可以包括上述实施例的ASIC芯片中功 能代码的设计方法，以及对生成的所述设定功能的功能代码进行验证；
[0045] 在所述设定功能包括：同步先入先出模块时，所述对生成的所述设定功能的功能 代码进行验证，包括：对所述同步先入先出模块的功能代码中的数据宽度和地址宽度进行 重新赋值，以使重新赋值后的所述同步先入先出模块的状态单元数小于所述生成所述设定 功能的功能代码中参数赋值后的状态单元数；运行重新赋值后的所述同步先入先出模块的