。由于顺着 行与列的方向才能穿过最少的晶体，因此这两个方向被定义为变换域图像上的中心十字架 方向，上述两个方向在变换域图像上也肯定存在两个晶体行。具体地，如图6所示，为了便 于区分，光子事件位置变换域图像中亮度增加的两晶体行，即为所述两个方向在变换域图 像中对应的两晶体行，也是光子事件位置图像的中心行列。如图7所示的呈十字架型的光 子事件位置直方图的中心，该中心定位十字架有多个晶体的中心组成。以中心定位十字架 为初始化位置，并参照光子事件位置直方图中各晶体的位置，采用由内而外递推的方法，分 别递推出中心十字架上、下、左、右位置的晶体中心位置，从而得到行列化晶体中心位置图。
[0055] 需要说明的是，本发明晶体像素查找表生成的方法中根据光子事件位置直方图， 获取晶体中心位置图的初始化位置还可采用现有图形作为模板。首先选定一个目标模板， 该目标模板可以为任意形状，比如中心十字架形状。然后对光子事件位置直方图作霍夫变 换得到霍夫空间图，其中霍夫空间图中每个点的值表示该点是处于中心的概率。该点的值 越大说明这个点在中心位置的概率就越大。因此，我们在霍夫空间图中选取数值最大的点 所在的位置作为目标模板在光子事件位置直方图中的位置。目标模板在光子事件位置直方 图中的位置即确定为晶体中心位置图的初始化位置。
[0056] 以上述确定的初始化位置为中心，采用最近邻递推的方法，递推光子事件位置直 方图中其他晶体中心位置的行列，得到如8a和图8b所示的行列化晶体中心位置图。然而 上述递推出的行列化晶体中心位置图由于受到伪影的影响，可能会出现错检现象，从而导 致递推得到的行或者列的数目大于实际晶体的行或者列的数目。因此，需要判断行列化晶 体中心位置图是否有伪影存在。判断的具体过程为：分别比较行列化晶体中心位置图中晶 体的行数与实际晶体行数以及行列化晶体中心位置图中晶体的列数与实际晶体列数的关 系，如果行列化晶体中心位置图中晶体的行数大于实际晶体行数，则说明递推行中有伪影 存在；如果行列化晶体中心位置图中晶体的列数大于实际晶体列数，则说明递推列中有伪 影存在；若行列化晶体中心位置图中晶体的行数小于等于实际晶体行数且行列化晶体中心 位置图中晶体的列数小于等于实际晶体列数则行列化晶体中心位置图没有伪影存在。
[0057] 伪影是晶体映射时的一个主要错误源，判断单个晶体是否为伪影比较困难，因为 伪影有时候无论从能量上还是形状上都酷似真实的晶体。本发明采用能量加权整行或者整 列的去除伪影。如果行列化晶体中心位置图中晶体的列数大于实际晶体列数，则对行列化 晶体中心位置图中晶体列去伪影：al、记递行列化晶体中心位置图中第i行，第j列的晶体 点的图像亮度值为1 (^，记行列化晶体中心位置图中第i行，第j列的晶体点所在的位置为 P(i, P，记行列化晶体中心位置图的中心位置为P。，第i行，第j列的晶体点的权重为Gd(P(i, j>，P。)，其中，Gd为自变量为距离的高斯函数；a2、记行列化晶体中心位置图中第j列中所有
【主权项】
1. 一种晶体像素查找表生成的方法，其特征在于，包括如下步骤： ① 对入射光子事件位置信息进行二维统计，获取光子事件位置直方图； ② 对光子事件位置直方图进行晶体位置检测，得到晶体中心位置图； ③ 根据所述光子事件位置直方图，获取所述晶体中心位置图的初始化位置，根据所述 初始化位置递推所述光子事件位置直方图中其他晶体中心位置的行列，得到行列化晶体中 心位置图； ④ 根据所述行列化晶体中心位置图建立网格模板，利用所述网格模板校正所述晶体中 心位置图，得到校正的晶体中心位置图； ⑤ 根据所述校正的晶体中心位置图划分各相邻晶体的分界线，生成晶体像素查找表。
2. 根据权利要求1所述晶体像素查找表生成的方法，其特征在于，所述步骤③中根据 所述光子事件位置直方图，获取所述晶体中心位置图的初始化位置的具体步骤为： ③-1、令所述晶体中心位置图中位置居中的任一点在所述光子事件位置直方图中的对 应位置为坐标原点，对所述光子事件位置直方图进行极坐标变换得到光子事件位置变换域 图像； ③-2、对所述光子事件位置变换域图像在水平方向上作投影得到光子事件位置 变换域图像投影图，其中，横坐标为光子事件位置变换域图像在极坐标内的弧度值0， 0 <J1，纵坐标为光子事件位置变换域图像在对应弧度上的投影强度； ③-3、根据所述光子事件位置变换域图像投影图定位所述光子事件位置直方图的中心 行列； ③-4、根据所述光子事件位置直方图的中心行列获取所述晶体中心位置图的初始化位 置。
3. 根据权利要求2所述晶体像素查找表生成的方法，其特征在于，所述步骤③-3的具 体过程为：确定所述光子事件位置变换域图像投影图上纵坐标最小的两个点的弧度值在所 述光子事件位置变换域图像上所对应的晶体行为所述光子事件位置变换域图像的中心位 置，将所述对应的晶体行的晶体中心位置映射到所述光子事件位置直方图，得到所述光子 事件位置直方图的中心行列。
4. 根据权利要求1所述晶体像素查找表生成的方法，其特征在于，所述步骤③中根据 所述光子事件位置直方图，获取所述晶体中心位置图的初始化位置的具体步骤为： ③-1、选择中心相交的行列或其他任一几何形态作为目标模板，对所述光子事件位置 直方图作霍夫变换得到霍夫空间图，其中霍夫空间图中每个点的值表示所述目标模板上的 点在中心位置的概率； ③-2、在所述霍夫空间图中选取数值最大的点所在的位置作为所述目标模板在所述光 子事件位置直方图中的位置； ③-3、令所述目标模板在所述光子事件位置直方图中的位置为所述晶体中心位置图的 初始化位置。
5. 根据权利要求1至4中任一项所述晶体像素查找表生成的方法，其特征在于，所述步 骤③还包括，判断行列化晶体中心位置图是否有伪影存在，如果行列化晶体中心位置图有 伪影存在，则对行列化晶体中心位置图作去伪影处理。
6. 根据权利要求5所述晶体像素查找表生成的方法，其特征在于，所述判断行列化晶 体中心位置图是否有伪影存在的具体步骤为：分别比较行列化晶体中心位置图中晶体的行 数与实际晶体行数以及行列化晶体中心位置图中晶体的列数与实际晶体列数的关系，如果 行列化晶体中心位置图中晶体的行数大于实际晶体行数或者行列化晶体中心位置图中晶 体的列数大于实际晶体列数，则行列化晶体中心位置图有伪影存在；否则，则判定行列化晶 体中心位置图没有伪影存在。
7. 根据权利要求1所述晶体像素查找表生成的方法，其特征在于，所述步骤④的具体 步骤为：利用样条串连行列化晶体中心位置图生成网格模板，然后对网格模板进行规整化， 并根据规整化后的网格模板校正所述晶体中心位置图的行列值，依次迭代处理，直到生成 规整的网格模板为止，再根据规整的网格模板得到校正的行列化晶体中心位置图。
8. 根据权利要求7所述晶体像素查找表生成的方法，其特征在于，还包括对于校正的 行列化晶体中心位置图进行修正。
9. 根据权利要求1所述晶体像素查找表生成的方法，其特征在于，根据所述校正的行 列化晶体中心位置图采用动态规划方法划分各相邻晶体的分界线。
10. 根据权利要求1所述晶体像素查找表生成的方法，其特征在于，所述步骤①还包括 对获得的光子事件位置直方图进行预处理。
【专利摘要】本发明公开了一种晶体像素查找表生成的方法，其首先对入射光子事件位置信息进行二维统计，获得光子事件位置直方图，然后对晶体位置检测获取晶体中心位置图，获取晶体中心位置图的初始化位置，接着根据初始化位置递推出行列化晶体中心位置图，采用样条法通过串连行列化晶体中心位置图建立网格模板，最后完成晶体像素查找表的生成。本发明能够有效降低晶体行列不规则形变的影响，稳定性好；可排除伪影和粘连点影响，生成的晶体像素查找表正确率高。
【IPC分类】G06T5-00, G06T7-00
【公开号】CN104700366
【申请号】CN201510093724
【发明人】周鑫, 宋燕丽, 李强, 吕新宇, 安少辉
【申请人】上海联影医疗科技有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2015年3月3日