3的TD03引脚，所述GND904引脚即为 复用调试接口 10 3的GND4引脚，所述TCK90 5引脚即为复用调试接口 10 3的TCK5引脚，所述 GND906引脚即为复用调试接口 103的GND6引脚，所述Not used907引脚即为复用调试接口 103的Not used7引脚，所述Not used908引脚即为复用调试接口 103的Not usedS引脚，所述 Reset909引脚即为复用调试接口 103的Resetg引脚，所述TMS910引脚即为复用调试接口 103 的TMSlO引脚;所述VCC911引脚与VCC806引脚复用为复用调试接口 103的VCCll引脚，所述 GND912引脚与Not used805引脚复用为复用调试接口 103的GND12引脚，所述Not used913引 脚与Reset804引脚复用为复用调试接口 103的Resetl3引脚，所述JC0MP914引脚与Not used803引脚复用为复用调试接口 103的JC0MP14引脚;所述GND802引脚即为复用调试接口 103的GND15引脚，所述BKGD801引脚即为复用调试接口 10 3的服GD 16引脚;所述复用调试接 口 103的十六个引脚等分为左、右两列对齐排布，十六针复用调试接口 103的左侧一列八个 引脚从前到后依次为TDIl引脚、TD03引脚、TCK巧侧、Not used7引脚、Resetg引脚、VCCll引 脚、Resetl3引脚和GND15引脚，十六针复用调试接口 103的右侧一列的八个引脚从前到后依 次为GND2引脚、GND4引脚、GND6引脚、Not usedS引脚、TMSlO引脚、GND12引脚、JC0MP14引脚、 BKGD16引脚;所述JTAG仿真器插头301分别与TD11引脚、GND巧I脚、TD03引脚、GND4引脚、 TCK5引脚、GND6引脚、Not used7引脚、Not usedS引脚、Resetg引脚、TMSlO引脚、VCCll引脚、 GND12引脚、Resetl3引脚和JC0MP14引脚插入配合;所述抓M仿真器插头401分别与VCCll引 脚、GND12引脚、Resetl3引脚、JC0MP14引脚、GND15引脚和BKGD16引脚插入配合。
[00对一种JTAG和抓M集成调试接口的使用方法，在需要用JTAG仿真器30 2调试MCU1时， 将JTAG仿真器插头301的各接口按功能标注对准复用调试接口 103上的TDI1引脚和JCOMPl 4 引脚，然后将JTAG仿真器插头301插入TDI1引脚至JC0MP14引脚，最后利用JTAG仿真器302对 MCUl进行调试，调试完成后拔出JTAG仿真器插头301;在需要用抓M仿真器402调试MCU2时， 将抓M仿真器插头401的各接口按功能标注对准复用调试接口 103上的服GD16引脚和VCCll 引脚，然后将抓M仿真器插头401插入BKGD16引脚至VCCl 1引脚，最后利用抓M仿真器402对 MCU2进行调试，调试完成后拔出BDM仿真器插头401。
【主权项】
1. 一种JTAG和BDM集成调试接口，包括JTAG接口（ 101)和BDM接口（ 102)，其特征在于： 所述JTAG接口（ 101)和BDM接口（ 102)组成复用调试接口（ 103)，所述复用调试接口 (103)为两列对称排列的排针接口，所述复用调试接口（103)分别与JTAG仿真器插头(301)、 BDM仿真器插头(401)插入配合。2. 根据权利要求1所述的一种JTAG和BDM集成调试接口，其特征在于： 所述JTAG接口（101)的引脚个数与BDM接口（102)的引脚个数的和大于等于复用调试接 口（103)的引脚个数。3. 根据权利要求2所述的一种JTAG和BDM集成调试接口，其特征在于： 所述JTAG接口（ 101)的十四个引脚等分为左、右两列对齐排布，JTAG接口（ 101)的左侧 一列七个引脚从前到后依次为TDI901引脚、TD0903引脚、TCK905引脚、Not used907引脚、 Reset909引脚、VCC911引脚和Not used913引脚，JTAG接口（101)的右侧一列七个引脚从前 到后依次为GND902引脚、GND904引脚、GND906引脚、Not used908引脚、TMS910引脚、GND912 引脚和JC0MP914引脚； 所述BDM接口（ 102 )的六个引脚等分为左、右两列对齐排布，BDM接口（ 102 )的左侧一列 三个引脚从前到后依次为BKGD801引脚、Not used803引脚和Not used805引脚，BDM接口 (102)的右侧一列三个引脚从前到后依次为GND802引脚、Reset804引脚和VCC806引脚； 所述TDI901引脚即为复用调试接口（103)的TDI1引脚，所述GND902引脚即为复用调试 接口（ 103 )的GND2引脚，所述TD0903引脚即为复用调试接口（ 103 )的TD03引脚，所述GND904 引脚即为复用调试接口（ 103)的GND4引脚，所述TCK905引脚即为复用调试接口（ 103 )的TCK5 引脚，所述GND906引脚即为复用调试接口（103)的GND6引脚，所述Not used907引脚即为复 用调试接口（103)的Not used7引脚，所述Not used908引脚即为复用调试接口（103)的Not used8引脚，所述Reset909引脚即为复用调试接口（103)的Reset9引脚，所述TMS910引脚即 为复用调试接口（103)的TMS910引脚； 所述VCC911引脚与VCC806引脚复用为复用调试接口（103)的VCC11引脚，所述GND912弓| 脚与Not used805引脚复用为复用调试接口（103)的GND12引脚，所述Not used913引脚与 Reset804引脚复用为复用调试接口（103)的1^86七13引脚，所述兀01〇3914引脚与~〇七 used803引脚复用为复用调试接口（ 103)的JC0MP14引脚； 所述GND802引脚即为复用调试接口（ 103 )的GND815引脚，所述BK⑶801引脚即为复用调 试接口（103)的BKGD16引脚。4. 根据权利要求2或3所述的一种JTAG和BDM集成调试接口，其特征在于： 所述复用调试接口（103)的十六个引脚等分为左、右两列对齐排布，十六针复用调试接 口（103)的左侧一列八个引脚从前到后依次为TDI1引脚、TD03引脚、TCK5引脚、Not used7引 脚、Reset9引脚、VCC11引脚、Resetl3引脚和GND15引脚，十六针复用调试接口（103)的右侧 一列的八个引脚从前到后依次为GND2引脚、GND4引脚、GND6引脚、Not used8引脚、TMS10引 脚、GND12 引脚、JC0MP14 引脚、BKGD16 引脚； 所述JTAG仿真器插头（301)分别与TDI1引脚、GND2引脚、TD03引脚、GND4引脚、TCK5弓| 脚、GND6引脚、Not used7引脚、Not used8引脚、Reset9引脚、TMS10引脚、VCC11 引脚、GND12 引脚、Res e 113引脚和JC0MP14引脚插入配合； 所述BDM仿真器插头(401)分别与VCC11引脚、GND12引脚、Resetl3引脚、JC0MP14引脚、 GND15引脚和BKGD16引脚插入配合。5. -种根据权利要求3或4所述的JTAG和BDM集成调试接口的使用方法，其特征在于： 在需要用JTAG仿真器(302)调试MCU1时，将JTAG仿真器插头（301)的各接口按功能标注 对准复用调试接口（103)上的TDI1引脚和JC0MP14引脚，然后将JTAG仿真器插头(301)插入 TDI1引脚至J⑶MP14引脚，最后利用JTAG仿真器（302)对MCU1进行调试，调试完成后拔出 JTAG仿真器插头(301); 在需要用BDM仿真器(402 )调试MCU2时，将BDM仿真器插头(401)的各接口按功能标注对 准复用调试接口（103)上的BKGD16引脚和VCC11引脚，然后将BDM仿真器插头（401)插入 BK⑶16引脚至VCC11引脚，最后利用BDM仿真器(402)对MCU2进行调试，调试完成后拔出BDM 仿真器插头(401)。
【专利摘要】一种JTAG和BDM集成调试接口及其使用方法，包括JTAG接口和BDM接口，所述JTAG接口和BDM接口组成复用调试接口，所述复用调试接口为两列对称排列的排针接口，所述复用调试接口分别与JTAG仿真器插头、BDM仿真器插头插入配合。在使用时，直接对准正确的引脚插入即可正常使用。本设计不仅实现了JTAG接口和BDM接口的复用，而且减小了电路板面积，节约了物料成本。
【IPC分类】G06F11/267
【公开号】CN105528270
【申请号】CN201511021670
【发明人】张志明
【申请人】东风商用车有限公司
【公开日】2016年4月27日
【申请日】2015年12月30日