一种测试bmc日志记录功能的方法及装置的制造方法

一种测试bmc日志记录功能的方法及装置的制造方法
【专利摘要】本发明提供了一种测试BMC日志记录功能的方法及装置，该方法包括：针对于与基板管理控制器BMC相连的每一个BMC传感器，获取所述BMC传感器对应的至少一个标准阈值；获取所述BMC传感器检测到的当前值；对所述至少一个标准阈值进行重置，形成对应的测试阈值，使所述当前值超过所述测试阈值，以触发所述BMC对超限事件进行记录；获取所述BMC根据所述触发形成的记录日志，并根据所述记录日志的完整性判断所述BMC的日志记录功能是否正常。该装置包括：第一获取单元、第二获取单元、触发单元及判断单元。本方案能够提高对BMC日志记录功能进行测试的效率。
【专利说明】
-种测试BMC日志巧录功能的方法及装置
技术领域
[0001] 本发明设及计算机技术领域，特别设及一种测试BMC日志记录功能的方法及装置。
【背景技术】
[0002] BMC(Baset)Oard Management Controller,基板管理控制器）作为一个专口的服务 器处理机，用于对计算机进行监控，通过传感器测量计算机内部的溫度、湿度、电源电压、风 扇转速等，当计算机内部的溫度、湿度、电源电压或风扇转速超过预设的阔值后，BMC会将计 算机的异常状态通过记录系统事件日志的方式进行记录，计算机管理员根据系统事件日志 可W获悉计算机的状态，进而对出现故障的计算机进行修护。
[0003] 为了保证BMC能够正常的通过日志记录的方式对计算机出现的异常情况进行记 录，在BM村受计完成后，需要对BMC的日志记录功能进行测试。
[0004] 目前，在对BMC日志记录功能进行测试时，通过人工手动更改BMC传感器阔值的方 式，触发BMC进行日志记录。
[0005] 针对于现有技术测试BMC日志记录功能的方法，由于同一个BMC对应有多个BMC传 感器，每个BMC传感器具有多个阔值，通过人工手动更改BMC传感器阔值W对BMC进行测试的 方法，需要耗费大量的时间对各个BMC传感器的各个阔值进行更改，W触发BMC进行日志记 录，造成测试BMC日志记录功能的效率较低。

【发明内容】

[0006] 本发明实施例提供了一种测试BM日志记录功能的方法及装置，能够提高对BMC日 志记录功能进行测试的效率。
[0007] 本发明实施例提供了一种测试BM巧志记录功能的方法，包括：
[000引针对于与基板管理控制器BMC相连的每一个BMC传感器，获取所述BMC传感器对应 的至少一个标准阔值.
[0009] 获取所述BMC传感器检测到的当前值；
[0010] 对所述至少一个标准阔值进行重置，形成对应的测试阔值，使所述当前值超过所 述测试阔值，W触发所述BMC对超限事件进行记录；
[0011] 获取所述BMC根据所述触发形成的记录日志，并根据所述记录日志的完整性判断 所述BMC的日志记录功能是否正常。
[0012] 优选地，所述对所述至少一个标准阔值进行重置，形成对应的测试阔值，使所述当 前值超过所述测试阔值包括：
[0013] 根据所述标准阔值的大小顺序，依次对所述至少一个标准阔值进行重置，形成每 一个所述标准阔值对应的测试阔值，使所述当前值依次超过各个所述测试阔值，其中所述 标准阔值的大小顺序与对应测试阔值的大小顺序相同。
[0014] 优选地，在所述使所述当前值依次超过各个所述测试阔值之后进一步包括：
[0015] 将各个所述测试阔值还原为对应的标准阔值。
[0016] 优选地，所述对所述至少一个标准阔值进行重置，形成对应的测试阔值，使所述当 前值超过所述测试阔值包括：
[0017] 当所述BMC传感器对应至少两个标准阔值时，对所述至少两个标准阔值进行重置， 形成每一个所述标准阔值对应的测试阔值，使所述当前值超过至少两个测试阔值；
[0018] 根据各个所述测试阔值的大小顺序，依次将所述至少两个测试阔值还原为对应的 标准阔值，其中所述标准阔值的大小顺序与对应测试阔值的大小顺序相同。
[0019]优选地，所述根据所述记录日志的完整性判断所述BMC的日志记录功能是否正常 包括：
[0020] 针对于每一个所述BMC传感器对应的记录日志，检测所述记录日志中各条日志是 否与相应地标准阔值重置过程相对应，如果各个记录日志中的各条日志均与相应地标准阔 值重置过程相对应，判断所述BMC的日志记录功能正常，否则判断所述BMC的日志记录功能 不正常。
[0021 ]优选地，所述BMC传感器包括:溫度传感器、电压传感器、转速传感器及湿度传感器 中的任意一个或多个。
[0022] 优选地，所述标准阔值包括:不可逆低阔值、严重低阔值、非严重低阔值、非严重高 阔值、严重高阔值及不可逆高阔值中的任意一个或多个，其中从所述不可逆低阔值至所述 不可逆高阔值，各个阔值对应的数值依次增大，且所述非严重低阔值至所述非严重高阔值 之间为正常范围。
[0023] 本发明实施例还提供了一种测试BMC日志记录功能的装置，包括:第一获取单元、 第二获取单元、触发单元及判断单元；
[0024] 所述第一获取单元，用于针对于与基板管理控制器BM讨目连的每一个BMC传感器， 获取所述BMC传感器对应的至少一个标准阔值；
[0025] 所述第二获取单元，用于获取所述BMC传感器检测到的当前值；
[0026] 所述触发单元，用于对所述第一获取单元获取到的至少一个标准阔值进行重置， 形成对应的测试阔值，使所述第二获取单元获取到的当前值超过所述测试阔值，W触发所 述BMC对超限事件进行记录；
[0027] 所述判断单元，用于获取所述BMC根据所述触发单元的触发形成的记录日志，并根 据所述记录日志的完整性判断所述BMC的日志记录功能是否正常。
[002引优选地，
[0029] 所述触发单元，用于根据所述标准阔值的大小顺序，依次对所述至少一个标准阔 值进行重置，形成每一个所述标准阔值对应的测试阔值，使所述当前值依次超过各个所述 测试阔值，其中所述标准阔值的大小顺序与对应测试阔值的大小顺序相同。
[0030] 优选地，
[0031 ] 所述触发单元，用于当所述BMC传感器对应至少两个标准阔值时，对所述至少两个 标准阔值进行重置，形成每一个所述标准阔值对应的测试阔值，使所述当前值超过至少两 个测试阔值，并根据各个所述测试阔值的大小顺序，依次将所述至少两个测试阔值还原为 对应的标准阔值，其中所述标准阔值的大小顺序与对应测试阔值的大小顺序相同。
[00创优选地，
[0033] 所述判断单元，用于针对于每一个所述BMC传感器对应的记录日志，检测所述记录 日志中各条日志是否与相应地标准阔值重置过程相对应，如果各个记录日志中的各条日志 均与相应地标准阔值重置过程相对应，判断所述BMC的日志记录功能正常，否则判断所述 BMC的日志记录功能不正常。
[0034] 本发明实施例提供了一种测试BMC日志记录功能的方法及装置，针对于与BMC相连 的各个BMC传感器，获取各个BMC传感器对应的至少一个标准阔值，并获取各个BMC传感器检 测到的当前值，对标准阔值进行重置，使当前值超过标准阔值重置后形成的测试阔值，触发 BMC对当前值超过测试阔值的超限事件进行记录，根据BMC形成的记录日志的完整性判断 BMC的日志记录功能是否正常。运样，测试过程通过相应的应用程序自动完成，无需通过人 工手动操作的方式对各个BMC传感器对应的各个标准阔值进行重置，减少了测试BMC日志记 录功能所需的时间，提高了对BMC日志功能进行测试的效率。
【附图说明】
[0035] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明 的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可W根据 运些附图获得其他的附图。
[0036] 图1是本发明一个实施例提供的一种测试BMC日志记录功能的方法流程图；
[0037] 图2是本发明另一个实施例提供的一种测试BMC日志记录功能的方法流程图；
[0038] 图3是本发明一个实施例提供的一种测试BMC日志记录功能的装置所在设备的示 意图；
[0039] 图4是本发明一个实施例提供的一种测试BMC日志记录功能的装置示意图。
【具体实施方式】
[0040] 为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例 中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是 本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员 在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0041] 如图1所示，本发明实施例提供了一种测试BMC日志记录功能的方法，该方法可W 包括W下步骤：
[0042] 步骤101:针对于与基板管理器BM讨目连的每一个BMC传感器，获取所述BMC传感器 对应的至少一个标准阔值；
[0043] 步骤102:获取所述BMC传感器检测到的当前值；
[0044] 步骤103:对所述至少一个标准阔值进行重置，形成对应的测试阔值，使所述当前 值超过所述测试阔值，W触发所述BMC对超限事件进行记录；
[0045] 步骤104:获取所述BMC根据所述触发形成的记录日志，并根据所述记录日志判断 所述BMC的日志记录功能是否正常。
[0046] 本发明实施例提供了一种测试BM巧志记录功能的方法，针对于与BMC相连的各个 BMC传感器，获取各个BMC传感器对应的至少一个标准阔值，并获取各个BMC传感器检测到的 当前值，对标准阔值进行重置，使当前值超过标准阔值重置后形成的测试阔值，触发BMC对 当前值超过测试阔值的超限事件进行记录，根据BMC形成的记录日志的完整性判断BMC的日 志记录功能是否正常。运样，测试过程通过相应的应用程序自动完成，无需通过人工手动操 作的方式对各个BMC传感器对应的各个标准阔值进行重置，减少了测试BMC日志记录功能所 需的时间，提高了对BMC日志功能进行测试的效率。
[0047] 在本发明一个实施例中，在对标准阔值进行重置时，可W根据标准阔值的大小顺 序，依次将各个标准阔值进行重置，形成每一个标准阔值对应的测试阔值，其中标准阔值的 大小顺序与对应测试阔值的大小顺序相同。运样，每对一个标准阔值进行重置，使当前值超 过一个标准阔值重置后形成的测试阔值，对BMC进行一次触发，从而实现每一次对标准阔值 进行重置时触发不同的标准阔值，提高了对BMC日志记录功能进行测试的全面性。
[0048] 在本发明一个实施例中，在根据标准阔值的大小顺序依次对各个标准阔值进行重 置形成对应的测试阔值后，将各个测试阔值还原为对应的标准阔值。运样，保证对BMC日志 记录功能进行测试完成后BMC能够正常进行对计算机的监控，形成有效的记录日志。
[0049] 在本发明一个实施例中，当一个BMC传感器对应有至少两个标准阔值时，在对标准 阔值进行重置时，可W同时对至少两个标准阔值进行重置形成对应的测试阔值，通过一次 重置使当前值超过至少两个测试阔值，其中标准阔值的大小顺序与对应测试阔值的大小顺 序相同；对至少两个标准阔值重置后，根据测试阔值的大小顺序，依次将至少两个测试阔值 还原为对应的标准阔值。运样，对至少两个标准阔值进行重置时使当前值超过一个标准阔 值对应的测试阔值，每还原一个测试阔值使当前值超过不同的标准阔值对应的测试阔值， 可W通过不同的标准阔值对BMC日志记录功能进行检测，提高对BMC日志记录功能进行检测 的全面性。
[0050] 在本发明一个实施例中，在根据BMC形成的记录日志判断BMC的日志记录功能是否 正常时，针对于每一个BMC传感器对应的记录日志，如果每一个记录日志中每一条日志均与 相应地标准阔值重置过程相对应，判断BMC的日志记录功能正常，否则判断BMC的日志记录 功能不正常。如果BMC日志记录功能正常，每一次对标准阔值进行重置使当前值超过对应的 测试值后，都会触发BMC对超限事件进行记录，形成对应的一条日志，通过记录日志的完整 性对BMC的日志记录功能进行判断，保证判断结果的准确性。
[0051] 在本发明一个实施例中，BMC传感器可W包括溫度传感器、电压传感器、转速传感 器及湿度传感器中的一个或多个，相应地标准阔值及测试阔值即为对应的溫度、电压、转速 或湿度。运样，该BMC日志记录功能的测试方法支持对多种BMC传感器的触发进行测试，提高 了该测试BMC日志记录功能的方法的适用性。
[0052] 在本发明一个实施例中，标准阔值包括不可逆低阔值、严重低阔值、非严重低阔 值、非严重高阔值、严重高阔值及不可逆高阔值中的任意一个或多个，从不可逆低阔值至不 可逆高阔值各个阔值对应的数值依次增大，其中非严重低阔值至非严重高阔值之间为正常 范围。运样，一个BMC传感器对应有多个标准阔值，从各个标准阔值中确定一个或多个进行 重置，通过确定不同数量的标准阔值，可W控制第BMC进行触发的次数，从而对BMC的日志记 录功能进行不同程度的测试，在实际业务实现过程中可W根据需求灵活确定标准阔值的个 数，从而实现对BMC日志记录功能进行完全测试或抽检，进一步提高了该测试BMC日志记录 功能的方法的适用性。
[0053] 为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图及具体实施例对本 发明作进一步地详细描述。
[0054] 如图2所示，本发明实施例提供了一种测试BMC日志记录功能的方法，该方法可W 包括W下步骤：
[0055] 步骤201:获取BMC的用户名及登录密码。
[0056] 在本发明一个实施例中，需要对BMC的日志记录功能进行测试时，首先获取BMC的 用户名及登录密码，通过用户名及登录密码可W对BMC进行访问和控制。
[0057] 例如，通过获取脚本获取BMC的用户名及登录密码，在执行获取脚本之前，需要通 过检测脚本对获取脚本进行检测，W判断获取脚本的使用是否正确，如果不正确给出相应 的提示。具体的检测脚本及获取脚本如下，其中开头的行为注释内容：
[0化引
[0059] 划却本使用错误时，做出使用方法提醒，并返回错误的值:1。
[0060] expo;rt i
[0061 ] US邸=$ {2:-a 血 in}
[0062] PW=${3:-a 血 in}
[0063] #获取BMC的用户名密码，默认都为a血in。
[0064] 步骤202:获取与BMC相连的各个BMC传感器对应的各个标准阔值。
[0065] 在本发明一个实施例中，在BMC设计完成之后，一个BMC连接有多个BMC传感器，运 些BMC传感器包括有溫度传感器、电压传感器、湿度传感器W及转速传感器等，溫度传感器 用于检测CPU、进风口、出风口等的溫度，电压传感器用于检测主板线路电压，湿度传感器用 于检测计算机机箱内的湿度，转速传感器用于检测风扇的转速。每一个BMC传感器都设置有 至少一个标准阔值，BMC传感器检测到的当前值超过不同的标准阔值后，触发BMC对超限事 件进行相应的记录，形成对应的记录日志。通过相应的脚本获取与BMC相连的各个BMC传感 器对应的各个标准阔值。
[0066] 例如，一个BMC连接有3个溫度传感器和2个电压传感器，分别获取各个溫度传感器 和各个电压传感器对应的标准阔值，其中，每个溫度传感器对应有3个标准阔值，分别为非 严重高阔值(UNC)、严重高阔值化CR)及不可逆高阔值(UNR)，其中当溫度传感器检测到的当 前值小于UN別寸为正常值，不会触发BMC形成记录日志；每个电压传感器对应有6个标准阔 值，分别为不可逆低阔值化NR)、严重低阔值化CR)、非严重低阔值化NC)、非严重高阔值 (UNC)、严重高阔值(UCR)及不可逆高阔值(UNR)，其中当电压传感器检测到的当前值位于 LNC与UNC之间时为正常是，不会触发BMC形成记录日志。
[0067] 在本发明实施例中，获取各个BMC传感器对应的标准阔值的过程可W通过相应的 脚本实现，其中一种可W实现的脚本如下，其中w#开头的行为注释内容：
[0068] IPMI = -test-z$l&&echo"ipmitool"I Iecho"ipmitool-I lanplus-H$l-U$U沈R-P 化W"-
[0069] ^Eipmitool命令通用部分赋值给变量IPMI
[0070] $IPMI sensor>/tmp/bmcLog_sensor 2>/dev/null||usage [0071 ]圳尋通过ipmitool获取到的sensor信息存到文档中
[0072] TS-N=-cat/tmp/bmcLog-SensorIgrep-i degree|wc_l'
[0073] VS-N=-cat/tmp/bmcLog-SensorIgrep-i volts|wc_l'
[0074] declare-a TS TSN TSunc TSucr VS VSN VSlcr VSlnc VSunc VSucr
[0075] TS= ('cat/tmp/bmcLog_sensor I awk-F' |'Vdegree/{print$l}'')
[0076] TSN= ('cat/tmp/bmcLog_sensor | awk-F' |'Vdegree/{print$2}'')
[0077] VS= ('cat/tmp/bmcLog_sensor I awk-F' |'VVolts/{print$l}'')
[007引 VSN= (- cat/tmp/bmcLog-Sensor I awk-F' |"/V0lts/{p;rint$2} ' -）
[0079] TSunc = (- cat/tmp/bmcLog-Sensor I awk-F' |''/degree/{print$8} '')
[0080] TSucr = (- cat/tmp/bmcLog-Sensor I awk-F' |''/degree/{print$9} '')
[0081 ] TSunr = (- cat/tmp/bmcLog-Sensor I awk-F' |''/degree/{print$10} '')
[0082] VSlnr = ('cat/tmp/bmcLog_sensor | awk-F' |'VVolts/{print$5}'')
[0083] VSlcr = ('cat/tmp/bmcLog_sensor | awk-F' |'VVolts/{print$6}'')
[0084] VSlnc = ('cat/tmp/bmcLog_sensor | awk-F' |'VVolts/{print$7}'')
[00化]VSunc = (- cat/tmp/bmcLog-Sensor I awk-F' |"/V〇lts/{p;rint$8}，-）
[0086] VSucr = ('cat/tmp/bmcLog_sensor | awk-F' |'VVolts/{print$9}'')
[0087] VSunr = ('cat/tmp/bmcLog_sensor | awk-F' |'VVolts/{print$10}'')
[008引圳尋BMC_SENS0R中的各种信息赋值给数组。
[0089] 步骤203:获取各个BMC传感器检测到的当前值。
[0090] 在本发明一个实施例中，在获取到各个BMC传感器对应的各个标准阔值后，分别获 取每一个BMC传感器对相应物理量进行检测的当前值，获取溫度传感器检测到的当前溫度 作为溫度传感器的当前值，获取电压传感器检测到的当前溫度作为电压传感器的当前值， 获取湿度传感器检测到的当前湿度作为湿度传感器的当前值，获取转速传感器检测到的当 前转速作为转速传感器的当前值。
[0091 ]例如，3个溫度传感器分别为溫度传感器1、溫度传感器2及溫度传感器3，溫度传感 器1用于检测进风口溫度，溫度传感器2用于检测CPU溫度，溫度传感器3用于检测出风口溫 度，将进风口的当前溫度作为溫度传感器1的当前值，将CPU的当前溫度作为溫度传感器2的 当前值，将出风口的当前溫度作为溫度传感器3的当前值;2个电压传感器分别为电压传感 器1和电压传感器2,电压传感器1用于检测输入线路的电压，电压传感器2用于检测输出线 路的电压，将输入线路的当前电压作为电压传感器1的当前值，将输出线路的当前电压作为 电压传感器2的当前值。
[0092] 步骤204:对标准阔值进行重置，形成对应的测试阔值，使测试阔值超过当前值。
[0093] 在本发明一个实施例中，对标准阔值进行重置时，可W通过W下的方式1和方式2 进行，其中，
[0094]方式I:根据标准阔值的大小顺序，依次将各个标准阔值进行重置，每次重置一个 标准阔值，每一次对标准阔值进行重置使当前值超过该标准阔值对应的测试阔值，其中形 成的测试阔值的大小顺序与对应的标准阔值的大小顺序相同，从而实现对不同标准阔值进 行重置时使当前值触发不同的测试阔值，W对各个标准阔值的是否能够正常工作进行检 测。对同一个BMC传感器对应的各个标准阔值均重置后，将重置形成的各个测试阔值还原为 对应的标准阔值。
[00M] 方式2:针对于任意一个BMC传感器，将该BMC传感器对应的正常范围同一侧的至少 两个标准阔值进行重置，分别形成对应的测试阔值，其中该BMC传感器的当前值超过形成的 各个测试阔值，而且形成的各个测试阔值的大小顺序与对应的标准阔值的大小顺序相同； 然后根据测试阔值的大小顺序，依次将各个测试阔值还原为对应的标准阔值，每次还原一 个标准阔值。将正常范围同一侧的各个标准阔值重置后，当前值触发距离正常范围最远的 一个测试阔值，按距离正常范围由远及近的顺序依次对各个测试阔值进行还原，每还原一 个测试阔值，与该测试阔值相邻的另一个测试阔值被触发。
[0096] 例如，针对于方式1，首先对溫度传感器1的非严重高阔值化NC)进行重置，形成对 应的测试阔值1，使测试阔值1小于溫度传感器1的当前值，此时由于溫度传感器1的当前值 大于测试阔值1，触发测试阔值1;然后对溫度传感器1的严重高阔值化CR)进行重置，形成对 应的测试阔值2,其中测试阔值2位于测试阔值1与当前值之间，此时由于溫度传感器1的当 前值大于测试阔值2,触发测试阔值2;最后对溫度传感器1的不可逆高阔值(UNR)进行重置， 形成对应的测试阔值3,其中测试阔值3位于测试阔值2与当前值之间，此时由于溫度传感器 1的当前值大于测试阔值3,触发测试阔值3。3个标准阔值均重置后，将3个测试阔值还原为 对应的标准阔值。
[0100] 圳尋溫度传感器的标准阔值thdn设置在当前值的index倍大小处。
[0097] 针对于方式1可W通过脚本实现，具体脚本如下，其中开头的行为注释内容： [009引
[0099]
[0101]
[0102] 圳尋溫度传感器的测试阔值thdn还原到正常值。
[0103] 针对于方式2:将电压传感器1的不可逆低阔值化NR)、严重低阔值化CR)及非严重 低阔值(LNC)同时进行重置，将LNR重置形成测试阔值4,将LCR重置形成测试阔值5,将LNC重 置形成测试阔值6,其中测试阔值4小于测试阔值5,测试阔值5小于测试阔值6,此时电压传 感器1的当前值小于测试阔值4,触发测试阔值4;首先将测试阔值4还原为对应的不可逆低 阔值化NR)，此时电压传感器1的当前值小于测试阔值5,触发测试阔值5;然后将测试阔值5 还原为对应的严重低阔值化CR),此时电压传感器1的当前值小于测试阔值6,触发测试阔值 6,最后将测试阔值6还原为对应的非严重低阔值(LNC);
[0104] 与上述对不可逆低阔值化NR)、严重低阔值化CR)及非严重低阔值化NC)的重置过 程相似，同时对电压传感器1的非严重高阔值（UNC)、严重高阔值（UCR)及不可逆高阔值 (UNR)，分别完成对非严重高阔值(UNC)、严重高阔值化CR)及不可逆高阔值(UNR)的触发。
[0105] 针对于方式2可W通过脚本实现，具体脚本如下，其中开头的行为注释内容，
[0106] 对电压传感器的LNC、LCR、LNR进行重置的脚本可W为：
[0109] #按照顺序重置电压传感器的1肥、10?、1顺。在重置结束后回显字符^示结束。
[0107]
[010 引
[0110]
[0111] #还原电压传感器的LNC、LCR、LNR，并回显字符W示结束。
[0112] 对电压传感器的UNC、UCR、UNR进行重置的脚本可W为：
[0113；
[0114] #按照顺序重置电压传感器的11肥、1]〇?、1]顺。在设置结束后回显字符^示结束。
[or
[0116] #还原电压传感器的UNC、UCR、UNR，并回显字符W示结束。
[0117] 需要说明的是，对溫度传感器的标准阔值进行重置的过程也可W通过方式2实现， 具体的脚本如下，其中开头的行为注释内容：
[011 引
[0119] #按照顺序重置溫度传感器的UNC、UCR、UNR。在设置结束后回显字符W示结束。
[0120]
[0121
[0122] #还原UNC。在设置结束后回显字符W示结束。
[0123] 步骤205:触发BMC形成对应的记录日志。
[0124] 在本发明一个实施例中，由于将BMC传感器的标准阔值进行重置，使BMC传感器的 当前值超过形成的测试阔值，对标准阔值进行重置后BMC传感器的当前值不处于正常范围 内，触发相邻的测试阔值，BMC根据被触发的测试阔值，对当前值的超限事件进行记录，形成 对应的记录日志，其中每一个BMC传感器对应一个记录日志。
[0125] 例如，将溫度传感器1的非严重高阔值(UNC)重置形成测试阔值1后，由于溫度传感 器1的当前值超过测试阔值1，BMC确认溫度传感器1的当前值已经超过非严重高阔值(UNC)， BMC形成包括"溫度传感器1-非严重变高一触发"的一条日志，记录在溫度传感器1对应的 记录日志中；将电压传感器1的不可逆低阔值化NR)、严重低阔值（LCR)及非严重低阔值 (LNC)同时重置后，电压传感器1的当前值小于不可逆低阔值(LNR)对应的测试阔值4，BMC确 定电压传感器1的当前值已经超过不可逆低阔值(LNR)，形成包括"电压传感器1-不可逆变 低一触发"的一条日志，记录在电压传感器1对应的日志中。
[01%] 步骤206:根据记录日志判断BMC的日志记录功能是否正常。
[0127] 在本发明一个实施例中，在对各个BMC传感器对应的各个标准阔值重置后，获取 BMC根据各个BMC传感器被触发而形成的记录日志，针对于每一个BMC传感器对应的记录日 志，将该记录日志中的各条日志与对该BMC传感器进行的标准阔值重置过程进行比对，判断 每一次标准阔值重置过程是否在对应的记录日志中都有日志条目相对应，如果各个BMC传 感器对应的记录日志中的各条日志均有相应的标准阔值重置过程相对应，则判断BMC的日 志记录功能正常，否则判断BMC的日志记录功能不正常。
[0128] 例如，如果3个溫度传感器各自对应的3次标准阔值重置过程，在各自对应的记录 日志中均具有相应的日志条目，而且2个电压传感器各自对应的I次重置和5次还原过程，在 各自对应的记录日志中也均具有相应的日志条目，则判断BMC的日志记录功能正常；如果对 3个溫度传感器及2个电压传感器中任一次标准阔值重置过程在对应的记录日志中没有相 应的日志条目，则判断BMC的日志记录功能不正常。
[0129] 需要说明的是，对溫度传感器的标准阔值进行重置时，形成的测试阔值除UNCXUCR <UM限制外，在测试阔值0.4倍当前值至1倍当前值之间随意调整;对电压传感器的标准阔 值进行重置时，形成的测试阔值除LNR<LCR<LNC<UNC<UCR<UM限制外，各个测试阔值在LNC 至UNC之间随意调整。另外，由于在每种标准阔值重置完成后都会Sle邱1秒为BMC提供时间 生成日志，所W要求BMC判断异常的时间要求小于Is。
[0130] 如图3、图4所示，本发明实施例提供了一种测试BMC日志记录功能的装置。装置实 施例可W通过软件实现，也可W通过硬件或者软硬件结合的方式实现。从硬件层面而言，如 图3所示，为本发明实施例提供的测试BMC日志记录功能的装置所在设备的一种硬件结构 图，除了图3所示的处理器、内存、网络接口、W及非易失性存储器之外，实施例中装置所在 的设备通常还可W包括其他硬件，如负责处理报文的转发忍片等等。W软件实现为例，如图 4所示，作为一个逻辑意义上的装置，是通过其所在设备的CP闲尋非易失性存储器中对应的 计算机程序指令读取到内存中运行形成的。本实施例提供的测试BM巧志记录功能的装置， 包括:第一获取单元401、第二获取单元402、触发单元403及判断单元404;
[0131] 第一获取单元401，用于针对于与基板管理器BMC相连的每一个BMC传感器，获取 BMC传感器对应的至少一个标准阔值；
[0132] 第二获取单元402，用于获取BMC传感器检测到的当前值；
[0133] 触发单元403,用于对第一获取单元401获取到的至少一个标准阔值进行重置，形 成对应的测试阔值，使第二获取单元402获取到的当前值超过测试阔值，W触发BMC对超限 事件进行记录；
[0134] 判断单元404,用于获取BMC根据触发单元403的触发形成的记录日志，并根据记录 日志的完整性判断BMC的日志记录功能是否正常。
[0135] 在本发明一个实施例中，触发单元403,用于根据标准阔值的大小顺序，依次对至 少一个标准阔值进行重置，形成每一个标准阔值对应的测试阔值，使当前值依次超过各个 测试阔值，其中标准阔值的大小顺序与对应测试阔值的大小顺序相同。
[0136] 在本发明一个实施例中，触发单元403,用于当BMC传感器对应至少两个标准阔值 时，对至少两个标准阔值进行重置，形成每一个标准阔值对应的测试阔值，使当前值超过至 少两个测试阔值，并根据各个测试阔值的大小顺序，依次将至少两个测试阔值还原为对应 的标准阔值，其中标准阔值的大小顺序与对应测试阔值的大小顺序相同。
[0137] 在本发明一个实施例中，判断单元404，用于针对于每一个BMC传感器对应的记录 日志，检测记录日志中各条日志是否与相应地标准阔值重置过程相对应，如果各个记录日 志中的各条日志均与相应地标准阔值重置过程相对应，判断BMC的日志记录功能正常，否则 判断BMC的日志记录功能不正常。
[0138] 上述装置内的各单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本发明方法实施 例基于同一构思，具体内容可参见本发明方法实施例中的叙述，此处不再寶述。
[0139] 本发明提供的各个实施例，至少具有如下有益效果：
[0140] 1、本发明实施例中，针对于与BMC相连的各个BMC传感器，获取各个BMC传感器对应 的至少一个标准阔值，并获取各个BMC传感器检测到的当前值，对标准阔值进行重置，使当 前值超过标准阔值重置后形成的测试阔值，触发BMC对当前值超过测试阔值的超限事件进 行记录，根据BMC形成的记录日志的完整性判断BMC的日志记录功能是否正常。运样，现聯过 程通过相应的应用程序自动完成，无需通过人工手动操作的方式对各个BMC传感器对应的 各个标准阔值进行重置，减少了测试BMC日志记录功能所需的时间，提高了对BMC日志功能 进行测试的效率。
[0141] 2、本发明实施例中，针对于同一个BMC传感器对应的各个标准阔值，可W根据标准 阔值的大小顺序，依次对各个标准阔值进行重置，每重置一次触发一个标准阔值，也可W同 时将多个标准阔值进行重置，根据标准阔值的大小顺序依次将重置形成的测试阔值还原为 对应的标准阔值，每还原一次触发一个标准阔值。运样，可W根据实际需求灵活选择对BMC 日志记录功能进行触发的方法，提高该测试BMC日志记录功能的方法及装置的适用性。
[0142] 3、本发明实施例中，在将标准阔值重置形成对应的测试阔值后，将各个测试阔值 还原为对应的标准阔值，保证对BMC日志记录功能进行测试完成后BMC能够正常进行对计算 机的监控，形成有效的记录日志。
[0143] 4、本发明实施例中，BMC传感器可W为溫度传感器、电压传感器、转速传感器及湿 度传感器中的任意一个或多个，相应地标准阔值及测试阔值即为对应的溫度、电压、转速或 湿度。运样，该BMC日志记录功能的测试方法支持对多种BMC传感器的触发进行测试，提高了 该测试BMC日志记录功能的方法的适用性。
[0144] 需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体 或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示运些实体或操作之间存在 任何运种实际的关系或者顺序。而且，术语"包括"、"包含"或者其任何其他变体意在涵盖非 排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素， 而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为运种过程、方法、物品或者设备所固 有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句"包括一个……"限定的要素，并不排除在包括 所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同因素。
[0145] 本领域普通技术人员可W理解:实现上述方法实施例的全部或部分步骤可W通过 程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可W存储在计算机可读取的存储介质中，该程序 在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:R〇M、RAM、磁碟或者光 盘等各种可W存储程序代码的介质中。
[0146] 最后需要说明的是：W上所述仅为本发明的较佳实施例，仅用于说明本发明的技 术方案，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改、 等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。
【主权项】
1. 一种测试BMC日志记录功能的方法，其特征在于，包括： 针对于与基板管理控制器BMC相连的每一个BMC传感器，获取所述BMC传感器对应的至 少一个标准阈值； 获取所述BMC传感器检测到的当前值； 对所述至少一个标准阈值进行重置，形成对应的测试阈值，使所述当前值超过所述测 试阈值，以触发所述BMC对超限事件进行记录； 获取所述BMC根据所述触发形成的记录日志，并根据所述记录日志的完整性判断所述 BMC的日志记录功能是否正常。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于， 所述对所述至少一个标准阈值进行重置，形成对应的测试阈值，使所述当前值超过所 述测试阈值包括： 根据所述标准阈值的大小顺序，依次对所述至少一个标准阈值进行重置，形成每一个 所述标准阈值对应的测试阈值，使所述当前值依次超过各个所述测试阈值，其中所述标准 阈值的大小顺序与对应测试阈值的大小顺序相同。3. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于， 在所述使所述当前值依次超过各个所述测试阈值之后进一步包括： 将各个所述测试阈值还原为对应的标准阈值。4. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于， 所述对所述至少一个标准阈值进行重置，形成对应的测试阈值，使所述当前值超过所 述测试阈值包括： 当所述BMC传感器对应至少两个标准阈值时，对所述至少两个标准阈值进行重置，形成 每一个所述标准阈值对应的测试阈值，使所述当前值超过至少两个测试阈值； 根据各个所述测试阈值的大小顺序，依次将所述至少两个测试阈值还原为对应的标准 阈值，其中所述标准阈值的大小顺序与对应测试阈值的大小顺序相同。5. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于， 所述根据所述记录日志的完整性判断所述BMC的日志记录功能是否正常包括： 针对于每一个所述BMC传感器对应的记录日志，检测所述记录日志中各条日志是否与 相应地标准阈值重置过程相对应，如果各个记录日志中的各条日志均与相应地标准阈值重 置过程相对应，判断所述BMC的日志记录功能正常，否则判断所述BMC的日志记录功能不正 常。6. 根据权利要求1至5中任一所述的方法，其特征在于， 所述BMC传感器包括:温度传感器、电压传感器、转速传感器及湿度传感器中的任意一 个或多个； 和/或， 所述标准阈值包括:不可逆低阈值、严重低阈值、非严重低阈值、非严重高阈值、严重高 阈值及不可逆高阈值中的任意一个或多个，其中从所述不可逆低阈值至所述不可逆高阈 值，各个阈值对应的数值依次增大，且所述非严重低阈值至所述非严重高阈值之间为正常 范围。7. -种测试BMC日志记录功能的装置，其特征在于，包括：第一获取单元、第二获取单 元、触发单元及判断单元； 所述第一获取单元，用于针对于与基板管理控制器BMC相连的每一个BMC传感器，获取 所述BMC传感器对应的至少一个标准阈值； 所述第二获取单元，用于获取所述BMC传感器检测到的当前值； 所述触发单元，用于对所述第一获取单元获取到的至少一个标准阈值进行重置，形成 对应的测试阈值，使所述第二获取单元获取到的当前值超过所述测试阈值，以触发所述BMC 对超限事件进行记录； 所述判断单元，用于获取所述BMC根据所述触发单元的触发形成的记录日志，并根据所 述记录日志的完整性判断所述BMC的日志记录功能是否正常。8. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于， 所述触发单元，用于根据所述标准阈值的大小顺序，依次对所述至少一个标准阈值进 行重置，形成每一个所述标准阈值对应的测试阈值，使所述当前值依次超过各个所述测试 阈值，其中所述标准阈值的大小顺序与对应测试阈值的大小顺序相同。9. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于， 所述触发单元，用于当所述BMC传感器对应至少两个标准阈值时，对所述至少两个标准 阈值进行重置，形成每一个所述标准阈值对应的测试阈值，使所述当前值超过至少两个测 试阈值，并根据各个所述测试阈值的大小顺序，依次将所述至少两个测试阈值还原为对应 的标准阈值，其中所述标准阈值的大小顺序与对应测试阈值的大小顺序相同。10. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于， 所述判断单元，用于针对于每一个所述BMC传感器对应的记录日志，检测所述记录日志 中各条日志是否与相应地标准阈值重置过程相对应，如果各个记录日志中的各条日志均与 相应地标准阈值重置过程相对应，判断所述BMC的日志记录功能正常，否则判断所述BMC的 日志记录功能不正常。
【文档编号】G06F11/24GK105955858SQ201610308075
【公开日】2016年9月21日
【申请日】2016年5月10日
【发明人】于永杰
【申请人】浪潮电子信息产业股份有限公司