老化测试器的制造方法
【专利摘要】一种老化测试器，包括主控板、指示灯、按键、主控芯片、主控芯片串口、晶振和测试板，所述指示灯包括电源指示灯、按键设置状态灯、模块状态灯、通讯指示灯和故障灯，每个模块对应两个模块状态灯，其中一个模块状态灯安装在所述主控板上，另一个模块状态灯安装在所述测试板上对应模块位置；所述按键、主控芯片、主控芯片串口和晶振设置在所述主控板上，所述主控板和测试板相连，所述测试板上设置多个安装模块的位置。上述老化测试器，通过主控板上的主控芯片接口可与多个安装模块的位置上的模块进行通讯，可实现同时带多套载波模块进行测试，提高了测试效率，主控芯片与测试板上的模块进行数据传输通讯测试，不需配合电表即可实现模块测试。
【专利说明】老化测试器
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电网测试设备，特别是涉及一种老化测试器。
【背景技术】
[0002]目前供给电力行业抄表的国网规定的模块，在生产过程中，要么没有老化步骤，要么只是老化元器件，无法一边老化一边通讯，要么和电表一起老化，占有非常大的空间，无法同时老化很多个，且功耗较高。
实用新型内容
[0003]基于此，有必要针对抄表生产中只能老化元器件或需要配合电表使用而占有空间位置的问题，提供一种不需配合电表而进行通讯测试的老化测试器。
[0004]一种老化测试器，包括主控板、指示灯、按键、主控芯片、主控芯片串口、晶振和测试板，所述指示灯包括电源指示灯、按键设置状态灯、模块状态灯、通讯指示灯和故障灯，所述电源指示灯、按键设置状态灯、通讯指示灯、故障灯安装在所述主控板上，每个模块对应两个模块状态灯，其中一个模块状态灯安装在所述主控板上，另一个模块状态灯安装在所述测试板上对应模块位置；所述按键、主控芯片、主控芯片串口和晶振设置在所述主控板上，所述主控板和测试板相连，所述测试板上设置多个安装模块的位置，所述主控芯片串口包括四个串口，第一个串口与多个模块中一部分进行通讯，第二个串口与多个模块中剩余部分进行通讯，第三个串口与载波模块接口通讯，第四个串口与无线模块接口通讯。
[0005]在其中一个实施例中，所述按键包括主控板设置按键、模块设置按键和工作状态按键。
[0006]在其中一个实施例中，所述老化测试器还包括电源，所述电源安装在主控板上。
[0007]在其中一个实施例中，所述多个安装模块的位置为30个。
[0008]上述老化测试器，通过主控板上的主控芯片接口可与多个安装模块的位置上的模块进行通讯，可实现同时带多套载波模块进行测试，提高了测试效率，主控芯片与测试板上的模块进行数据传输通讯测试，不需配合电表即可实现模块测试。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1为一个实施例中老化测试器的结构示意图。
【具体实施方式】
[0010]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0011]如图1所示，为一个实施例中老化测试器的结构示意图。该老化测试器100，包括主控板120、指示灯(图未示)、按键(图未示)、主控芯片122、主控芯片串口 124、晶振和测试板 140。
[0012]该指示灯包括电源指示灯、按键设置状态灯、模块状态灯、通讯指示灯和故障灯，该电源指示灯、按键设置状态灯、通讯指示灯、故障灯安装在该主控板120上，每个模块对应两个模块状态灯，其中一个模块状态灯安装在该主控板上，另一个模块状态灯安装在该测试板上对应模块位置。
[0013]本实施例中，电源指示灯可为I个，用于指示电源是否供电。
[0014]按键设置状态灯为3个，在主控芯片122进入设置状态时亮，设置完成时熄灭。主控芯片122对所带模块设置时，设置时常亮，设置完后熄灭，若某个模块设置不成功，则对应的模块状态灯亮。
[0015]模块状态灯用于指示通讯状态及故障，串口通讯成功，常亮，不成功灯不亮，数据错误故障快速闪烁。
[0016]通讯指示灯包括4组，每组2个，分别与主控芯片串口相连。
[0017]故障灯为I个，用于主控芯片122自身状态报错，比如存储器错误等。
[0018]该按键、主控芯片122、主控芯片串口 124和晶振设置在该主控板上，该主控板120和测试板140相连。
[0019]该按键包括主控板设置按键、模块设置按键和工作状态按键各一个。主控板设置按键用于对主控板进行设置，如主控板标识，无线频率和模块状态读取等。模块设置按键用于主控板对所管模块进行设置。工作状态按键用于主控板120进入每个模块通讯循环测试记录状态。其中，所有按键都是按下生效某项功能，再次按下结束；在某种功能按键被按下后，不允许被其它功能按键结束或中断；三个按键同时按下3秒，清除存储器记录；掉电时工作状态需要保存，再次上电可继续工作。
[0020]晶振的频率为14.7456MHz，也可为其他，根据实际情况选取，以保证串口通讯波特率的精确度。
[0021]该测试板140上设置多个安装模块的位置。本实施例中，多个安装模块的位置为30个，编号为I至30。
[0022]该主控芯片串口 124包括四个串口，即为串口 0至串口 3。第一个串口(即串口 0)转换成RS485接口，与多个模块中一部分(如模块I至15号)进行通讯；第二个串口(即串口 I)转换成RS485接口，与多个模块中剩余部分(如模块16至30号)进行通讯；第三个串口(即串口 2)与载波模块接口通讯；第四个串口(即串口 3)与无线模块接口通讯。
[0023]该老化测试器100还包括电源160，该电源160安装在主控板120上。电源160能够输出5V/2A (伏特/安培)和12V/2A。
[0024]上述老化测试器100的工作流程分为两部分，一部分是设置流程；一部分是自动抄表老化流程。
[0025]设置流程1:
[0026](al)按下主控板120设置按键，进入主控板设置状态，对应指示灯亮；
[0027](a2) PC (个人计算机)系统通过任意一通讯口设置主控板120的ID和频率；
[0028]设置完毕，再次按下主控板设置按键，退出主控板设置状态，对应指示灯熄灭。
[0029]设置流程2:
[0030](bl)将各个模块插入测试板140，确保每个模块均完好的与测试板140接触；[0031](b2)按下模块设置按键，进入设置模块状态，对应设置指示灯亮；
[0032](b3)主控芯片依次通过串口 O或者串口 I对模块进行模块号和通讯频率设置，设
置管脚；
[0033](b4)如果设置成功，点亮相应模块状态指示灯，如果设置失败，模块对应状态指示灯熄灭；
[0034](b5)如果所有模块设置完毕，对应设置指示灯闪烁；
[0035](b6)再次按下模块设置按键，退出设置模块状态，对应设置指示灯熄灭。
[0036]自动检测流程:
[0037](Cl)工作状态按键，对应工作状态指示灯点亮；
[0038](c2)主控芯片122通过串口 0(串口 I)向某模块发送数据
[0039](c3)模块收到数据后识别是否是自身数据，是则往另外一端口转发数据，不是丢弃；
[0040](c4)主控芯片122则通过自身的无线模块(串口 3)或者载波模块(串口 2)进行数据的接收；
[0041](c5)当主控芯片122收到数据后，再逆向通讯一次，把数据发往自身的载波或者无线模块；
[0042](c6)相应的模块会收到数据通过串口发往主控芯片122 ；
[0043](c7)当主控芯片122能够完全的收到所有数据，点亮模块状态灯，熄灭模块状态灯；
[0044](c8)并将与该模块的通讯结果记录到存储器中；
[0045]( c9 )整个过程不停循环通讯。
[0046]当再次按下工作状态按键，对应工作状态指示灯闪烁；同时计算每个模块通讯成功率；当通讯成功率在98%以上点亮模块状态灯，否则熄灭模块状态灯。
[0047]再按下工作状态键，退出工作状态，工作状态指示灯熄灭，所有模块状态指示灯熄灭。
[0048]老化前先执行设置流程I和设置流程2，先保证所有的待测试模块均是完好的，且通讯基本正常。老化时只需要按下工作状态按键即可正常自动工作；老化后可以通过指示灯状况，直接检验出好坏模块。
[0049]上述老化测试器100，通过主控板上的主控芯片接口可与多个安装模块的位置上的模块进行通讯，可实现同时带多套载波模块进行测试，提高了测试效率，主控芯片与测试板上的模块进行数据传输通讯测试，不需配合电表即可实现模块测试。
[0050]以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【权利要求】
1.一种老化测试器，其特征在于，包括主控板、指示灯、按键、主控芯片、主控芯片串口、晶振和测试板，所述指示灯包括电源指示灯、按键设置状态灯、模块状态灯、通讯指示灯和故障灯，所述电源指示灯、按键设置状态灯、通讯指示灯、故障灯安装在所述主控板上，每个模块对应两个模块状态灯，其中一个模块状态灯安装在所述主控板上，另一个模块状态灯安装在所述测试板上对应模块位置；所述按键、主控芯片、主控芯片串口和晶振设置在所述主控板上，所述主控板和测试板相连，所述测试板上设置多个安装模块的位置，所述主控芯片串口包括四个串口，第一个串口与多个模块中一部分进行通讯，第二个串口与多个模块中剩余部分进行通讯，第三个串口与载波模块接口通讯，第四个串口与无线模块接口通讯。
2.根据权利要求1所述的老化测试器，其特征在于，所述按键包括主控板设置按键、模块设置按键和工作状态按键。
3.根据权利要求1所述的老化测试器，其特征在于，所述老化测试器还包括电源，所述电源安装在主控板上。
4.根据权利要求1所述的老化测试器，其特征在于，所述多个安装模块的位置为30个。
【文档编号】G08C25/00GK203465844SQ201320555527
【公开日】2014年3月5日 申请日期:2013年9月6日 优先权日:2013年9月6日
【发明者】王东林, 李中南 申请人:深圳市北川电子有限公司