专利名称：缺陷光盘的读取方法
技术领域：
本发明是关于一种缺陷光盘的读取方法。
(2)背景技术当前，如果想要提高由划痕(scratch)或者斑点(block dot)引起缺陷的光盘的读取能力，对小缺陷的读取能力就变得低下，相反的，如果想要提高对小缺陷的读取能力的话，对大缺陷的读取能力就变得低下，参照图1详细说明如下图1为当通过光盘上缺陷区域时，光拾取器内物镜的相对运动示意图。如果在读取光盘的过程中，物镜位于缺陷区域A点时，伺服控制器就会执行跟踪伺服终止操作。因此上述物镜就会从A点移动到B点，也就是脱离了轨道。此时，上述物镜就会沿切线方向运动。
如图1所示，从缺陷区域结束的B点开始重新将上述物镜移动到数据轨道上来，上述伺服控制器才可以重新执行跟踪伺服操作。此时，缺陷区域越大那么物镜脱离数据轨道的程度也就越大，因此为了能使上述伺服控制器将上述物镜由B点稳定移动到数据轨道C点，就要将高频增益幅度设得大一些。
但是，如上所述将上述伺服控制器的高频增益幅度越大，对小缺陷的敏感度就越高，因此也就存在过度设置缺陷读取能力时，对小缺陷的读取能力就会降低的问题。
(3)发明内容因此，本发明正是基于要解决上述问题而进行的。首先检测出光盘上缺陷的大小，然后，据此设定最佳读取能力，从而，可以实现本发明对缺陷光盘进行正常读取的目的。
为了实现上述目的，本发明缺陷光盘的读取方法，其特点是包括以下几个阶段第一阶段，随着光盘的读取，根据检测出的读取信号的特性判断上述光盘上的当前位置是否为缺陷区域；第二阶段，根据上述判断的结果，若上述当前位置为缺陷区域时，检测上述缺陷区域的大小；第三阶段，根据缺陷区域的大小设定读取能力。
为进一步说明本发明的上述目的、结构特点和效果，以下将结合附图对本发明进行详细的描述。
(4)
图1为光盘上的数据轨道和数据轨道上的缺陷区间，以及通过缺陷区间时物镜的相对运动示图。
图2为使用本发明缺陷光盘的读取方法的光盘装置中有关伺服操作的构成图。
图3为本发明缺陷光盘的读取方法的实施例流程图。
图4为本发明根据对缺陷区间的跟踪伺服操作的控制和高频读取信号(RF信号)的级别判定缺陷区间的实施例。
图5为本发明的缺陷区间大小检测实施例。
(5)具体实施方式
图2为使用本发明缺陷光盘的读取方法的有关光盘装置伺服操作的构成图。光盘装置包括光拾取器20，用于读取光盘10上的记录信号；射频信号处理器(R/F)30，用于将上述光拾取器20检测出的射频信号进行余波定型处理；时钟50，用于控制时间；伺服控制器40，根据上述射频信号处理器30输出的射频信号(或者从上述射频信号处理部测出的PI信号)判断关盘10的当前位置是否为缺陷区域，如果是缺陷区域，通过上述时钟50计算得出的时间确定缺陷区域的大小，然后据此设定增益控制器41增益值。
图3是本发明缺陷光盘的读取方法一个理想实施例的流程图。下面参照图2的构成来详细说明本发明图3的读取方法。
首先，将光盘10插入到播放装置并驱动其旋转S10，上述伺服控制器40，如图4所示，进行跟踪伺服操作，执行正常的信息读取，此时，如图4所示，可以正常输出跟踪错误信号(tracking error信号TE信号)。
另外，上述伺服控制器40随上述光盘10的旋转，根据由上述光拾取器20检测出并由射频信号处理器30进行余波整型处理输出的射频信号(或者从上述射频信号处理器测出的PI信号)，判断上述光盘10的当前位置是否为缺陷区域S11。如果上述光拾取器20内的物镜位于上述光盘10的缺陷区域，如图4所示，上述射频信号(PI信号)的幅值(LEVEL)会明显下降，因此，上述伺服控制器40就可以检测出上述射频信号(PI信号)的幅值。如果上述检测出的幅值小于已经设定的幅值，那么就可以判定上述光盘的当前位置为缺陷区域S20，从而可以停止跟踪伺服操作，同时，上述伺服控制器40控制时钟从当前时间开始计算S21。
在上述跟踪伺服操作停止状态下，上述伺服控制器40根据上述射频信号处理器30输出的RF信号(或者PI信号)的幅值，判断上述物镜是否仍然停留在光盘10的缺陷区域S22，如果上述RF信号的幅值高于设定幅值的话，上述伺服控制器40则判定上述物镜已经离开了上述光盘10的缺陷区域S30。
如上所述如果已经脱离了上述光盘10的缺陷区域，那么上述伺服控制器就会控制上述时钟50使其中断计时，并重新开始跟踪伺服操作S31。
另外，物镜离开缺陷区域以后，应该将上述物镜重新移到数据轨道C点，此时，如图1所示，B-C之间会产生超程(overshoot)，在上述光盘10的缺陷区域(A-B)比较大的情况下，如果设定较小的增益值的话，那么这个超程(overshoot)就会更大，从而使得上述物镜不能够准确移动到原来读取的数据轨道上而是落在下一个数据轨道上。相反，如果上述缺陷区域比较小而设定的增益值却比较大的话，上述物镜即使能够稍微脱离数据轨道，但是大的增益值会使得上述物镜发生位移，从而使得物镜错过原来读取的数据轨道，回落到上一个数据轨道上。
上述不考虑缺陷区域的大小就设定增益值的话，上述物镜就不能够准确移动到原来读取的数据轨道上，从而造成读取数据的缺失。
因此，上述伺服控制器40根据时钟50计时得到的上述物镜脱离上述光盘10的缺陷区间所用的时间，检测上述缺陷区间的大小。如果上述检测得到的缺陷区域小于如图5中①处所示的设定值时，判定为小缺陷；如果上述检测得到的缺陷区域大于如图5中②处所示的设定值时，判定为大缺陷。
接着，上述伺服控制器40根据判断结果设定增益控制器41的最佳增益值，也就是说如果上述检测得到的缺陷区域小于如图5中①处所示的设定值，在增益控制器41设定小的增益值，如果上述检测得到的缺陷区域大于如图5中②处所示的设定值，在增益控制器41设定大的增益值S32，从而使得上述物镜可以从B点准确移动到原来读取数据轨道的C点，而与上述缺陷区域的大小无关。
上述实施例当中，用于上述伺服控制器判断当前位置是否为缺陷区域的已设定的幅值和用于检测上述缺陷区域大小的设定的大小值，以及根据上述检测出的缺陷区域的大小来设定在上述增益控制器的增益值，都是为了本发明的实现通过实验得出的最佳值。
如上所述的本发明缺陷光盘的读取方法是当插入的光盘为存在缺陷区域的光盘时，首先检测出缺陷区域的大小，然后据此设置最佳的读取能力，从而可以实现正常读取存在缺陷区域的光盘。
虽然本发明已参照当前的具体实施例来描述，但是本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本发明，应理解其中可作各种变化和修改而在广义上没有脱离本发明，所以并非作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围内，对以上所述实施例的变化、变形都将落在本发明权利要求书的范围内。
权利要求
1.一种缺陷光盘的读取方法，其特征在于包括以下几个阶段第一阶段，根据光盘读取信号的特性来判断光盘当前位置是否为缺陷区域；第二阶段，根据上述判断结果，当上述光盘当前位置为缺陷区域时，检测缺陷区域的大小；第三阶段，根据检测得到的缺陷区域的大小来设定读取能力。
2.如权利要求1所述的缺陷光盘的读取方法，其特征在于上述读取信号的特性是指高频读取信号的幅值。
3.如权利要求1所述的缺陷光盘的读取方法，其特征在于上述读取能力的设定是指与上述检测得到的缺陷区域的大小成正比设定的伺服增益值。
4.如权利要求3所述的缺陷光盘的读取方法，其特征在于上述设定的伺服增益值是指光拾取器内的物镜因上述缺陷区域而脱离上述光盘上的数据轨道，使此物镜重新移动到原来读取数据轨道的最佳值。
全文摘要
本发明是关于存在缺陷区域光盘的读取方法的。此读取方法包括以下几个阶段第一阶段，根据光盘读取信号的特性来判断光盘当前位置是否为存在缺陷区域；第二阶段，根据上述判断结果，当上述光盘当前位置为缺陷区域时，检测缺陷区域的大小；第三阶段，根据检测得到的缺陷区域的大小来设定读取能力。当插入光盘为存在缺陷区域的光盘时，首先检测出缺陷区域的大小，然后据此设置最佳的读取能力，从而可以实现正常读取存在缺陷区域的光盘。
文档编号G11B7/005GK1571029SQ0314169
公开日2005年1月26日 申请日期2003年7月18日 优先权日2003年7月18日
发明者金东植 申请人:上海乐金广电电子有限公司