专利名称：光盘写入功率校正时决定试写结果参数的方法及相关装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种在光驱写入功率校正时根据读取结果计算试写结果参数(beta-parameter)的方法及相关装置，特别是涉及一种在读取结果中检测具有特定内容的部份并仅根据该部份来计算试写结果参数的方法及相关装置。
背景技术：
在现代的信息社会中，体积轻薄、成本低廉又能储存大量数据的光盘片，已经成为最普及的非易失性储存介质之一。尤其是可写入(烧录)式光盘的发展，能让使用者将个人化的数据写入至光盘片上，更是大大增加了光盘片作为数据储存介质的价值。由于光盘数据写入(烧录)需要高精密度、高正确性的技术，为了确保数据能被顺利地写入至光盘片上，各种相关的控制程序及装置，也就成为现代信息厂商研发的重点。
一般来说，要将数据写入至光盘片，是以具有烧录功能的光驱，将特定功率的激光入射至光盘片上，以便引发特定的物理或化学反应，在光盘片上形成等效于凹陷(pit)及突起(land)的部份。等到要以光驱读取写入至光盘片上的数据时，由于光盘片上凹陷及突起的部份有不同的反射系数，只要以适当功率的激光入射至光盘片上，光驱就能由反射的激光的大小强弱解读出原本以凹陷、突起的形式写入至光盘片上的数据。不过，由于各个光盘片制造厂制造研发出来的光盘片会具有不同的物理/化学特性，而不同厂牌、型号的光驱所使用的激光、进行数据写入时光盘片的转速等等机制也各有差异，所以，要以何种功率才能在光盘片上形成适当的凹陷、突起，也就成为是否能将数据正确写入至光盘片的关键之一。
为了选择较佳的数据写入功率，光驱在正式将使用者指定的数据写入至光盘片之前，会先进行光盘写入功率校正。在进行写入功率校正时，光驱会选择数种不同大小的写入功率，在每一种写入功率下，以该写入功率将预设的试写数据写入至光盘片上，再由光盘片上读取这些被写入的试写数据，以评估在该写入功率下进行光盘片数据写入的成果，并判断该写入功率是不是适当的写入功率。关于写入功率校正的情形，请参考图1。图1为一试写数据10及两种可能的对应读取结果12A、12B波形时序的示意图；其中各数据、波形的横轴为时间，读取结果12A、12B的纵轴为波形大小。其中，当试写数据10是以较佳、较适当的理想写入功率写入至光盘片时，其对应的读取结果就如读取结果12A所示；相对地，若试写数据10是以较差、较不适当的写入功率被写入至光盘片时，其对应的读取结果可能就会类似于读取结果12B呈现的情形。
如本领域技术人员所知，当数字数据要被写入至光盘片上时，会先经过适当地编码，编码后的数据才是真正被写入至光盘片上的数据。一般来说，在现行的可烧录式光盘规格(像是CD-R/RW，Compact Disk Recordable/ReWriteable)或是可烧录式多功能光盘规格(DVD-R/RW、DVD+R/RW，DigitalVersatile Disk R/RW)中，编码后的数据中常会出现有多个相同内容的位连串聚集在一起的情形，在编码后的数据中形成特定的数据串。举例来说，在可烧录光盘(CD-R/RW)规格中，编码后的数据中最多会有11个相同的位形成的数据序列，最短的数据串也会有3个相同的位。在可烧录的多功能光盘(DVD)规格中，最长的数据串中可能会有14个相同的位。既然要实际写入至光盘片上的数据会在编码后包括有长短不同的数据串，在进行光盘写入功率校正时，试写数据中也会包括有长短不同的数据串，以仿真不同写入功率在真正进行数据写入时所产生的效应。
如图1所示，图1中的试写数据10中就包括有许多长短不同的数据串；举例来说，在时点ta0、ta1间的数据串14A可以是由3个连续的数字「0」形成的数据串，其延续的时段Ta就是三个位的周期(也就是所谓的3T，T代表一位数据延续的时间)；时点ta1、ta2间同样延续3T时段Ta的数据串14B，则是由3个相连的数字「1」形成的。同理，在时点ta5、ta6之间的数据串16A则可以是由14个相连的数字「0」形成的数据串，其延续的时段Tb也就是14T；时点ta4、ta5之间同样延续时段Tb的数据串16B，则是由14个数字「1」形成的。
由于记录在光盘片上的数据是以凹陷、突起处对激光不同的反射率来代表数字「0」、「1」的数据，当光驱要由读取结果中解读出对应的数字数据时，就可根据读取结果的讯号大小与一零电平比较的结果，来判断读取结果中各部份分别对应于哪些数字数据。当写入功率是较佳的理想值时，读取讯号应该像是读取结果12A一样；举例来说，试写数据10在时点ta1、ta2、ta3、ta4、ta5、ta6、ta7时都会发生数据转态(即数据内容由数字「0」转换为数字「1」，或由数字「1」转换为数字「0」)，而读取结果12A也在对应的时点发生零越(zero-crossing，即讯号电平由大于零电平L0转变为小于零电平L0，或是由小于零电平L0转变为大于零电平L0)，让读取结果12A在时点ta2至ta3、ta4至ta5、ta6至ta7之间大于零电平L0的部份能分别被正确地解读为延续时段Ta、Tb、Ta的数字「1」数据串，而读取结果12B在时段ta1至ta2、ta3至ta4、ta5至ta6之间小于零电平L0的讯号，也能分别被正确地解读为延续时段Ta、Ta、Tb的数字「0」数据串。
相对地，若写入功率偏离理想值，就不能在光盘片上形成适当长度的突起、凹陷，在此种情形下，读取讯号可能就会呈现类似图1中读取结果12B的现象。当要由读取结果的零越情形来解读数字数据时，这样的读取结果12B也就不能反应出原先的数字数据。举例来说，在读取结果12B中，其波形大小穿越零电平L0的零越处在时点tb1、tb2、tb3、tb4、tb5、tb6及tb7，就无法和试写数据10在时点ta1至ta7发生的数据转态有良好的对应关系；像在时点tb1至tb2间，读取结果12B小于零电平L0的时段显然就比时点tb2至tb3间大于零电平L0的时段来得短，但其实读取结果12B在这两时段应该分别对应于等长度的数据串14A、14B；换句话说，在写入功率偏离理想值的时候，读取结果12B就无法反映试写数据10中对应的数据串14A、14B应该为同长度的数据串。
另外，由图1中也可看出，读取结果的讯号大小除了代表对应数字数据的内容外，数据串的长短也会直接影响读取结果中对应部分的讯号大小。举例来说，若一光驱在将数字「0」的数据串写入至光盘片时，是以较大功率的激光在光盘片上形成凹陷(pit)来代表数字「0」的数据；那么，当该光驱要将较长的数字「0」数据串写入至光盘片时，由于数据串较长，激光维持于较大功率的时间也较长，连带地其所形成的凹陷也会更明显(等效上可视其为更深的凹陷)；相较之下，在写入较短的数字「0」数据串时，激光维持功率的时间较短，凹陷的部分就会较不明显(等效上也就是较浅)。由于深浅不同的凹陷会对激光有不同的反射率，等到要读取这些长短不同的数字「0」数据串时，虽然凹陷处同样用来代表数字「0」，但在读取结果中各个对应于长短不同数字「0」数据串的部分，也会有不同的讯号大小。
举例来说，如图1所示，在读取结果12A的讯号波形中，由于时点ta5、ta6之间的数字「0」数据串16A比时点ta1、ta2间的数字「0」数据串14A更长，数据串16A较深的凹陷也会使反射的激光更弱，即使数据串14A、16A代表的都是数字「0」，读取结果12A在时点ta5、ta6之间的读取讯号也会比时点ta1、ta2之间的读取讯号具有更低的讯号电平。像是在图1中，读取结果12A在时点ta5、ta6之间与时点ta1、ta2之间波形最低的电平分别为电平Ln1、Ln0，而电平Ln1就低于电平Ln0。根据类似的原理，对于数字「1」的数据串14B及16B来说，读取结果12A在时点ta4、ta5间对应较长数据串16B的读取讯号最高可达电平Lp1，而时点ta1、ta2间对应较短数据串14B的读取讯号，就只能达到较低的电平Lp0。
写入功率是否偏离理想值，也会反映在读取结果的波形大小中。在理想的写入功率下，具有相同长度的数字「0」及数字「1」数据串，其对应的读取讯号也会有对称于零电平L0的振幅。举例来说，在理想的读取结果12A中，时点ta1与ta2之间读取讯号的最小电平Ln0就会和时点ta2、ta3间读取讯号的最高电平Lp0具有相同的绝对值，代表写入数据10在时点ta1、ta2间的数据串14A和时点ta2、ta3之间的数据串14B具有相同的长度(即相同的位数)。同理，读取结果12A在时点ta4、ta5之间的极大电平Lp1和时点ta5、ta6之间的极小电平Ln1，也会具有相同的绝对值，代表数据串16B、16A为同长度的数据串。
相对地，对应于写入功率较不理想的读取结果12B，其讯号波形在正负之间的振幅就不会那么对称。像在读取结果12B中，时点tb1、tb2间对应于数据串14A的部分具有最低电平Ln3，而时点tb2、tb3间对应于数据串14B的部分最高可达电平Lp3，明显大于电平Ln3的绝对值，无法反映出数据串14A其实和数据串14B一样具有同样的长度。而读取结果12B中时点tb4、tb5间对应数据串16B的部分具有最高值Lp2；时点tb5、tb6间对应数据串16A的部分具有最低值Ln2，两者的绝对值也不相等。
总结来说，在以较为理想的写入功率将试写数据写入光盘片后再予以读取，其读取结果中对应于等长数据串的各个部份，就应该维持等长的零越时段(在零越时点间的时段)，且具有相等的振幅。相对地，若写入功率偏离理想值，就不能以正确长度的凹陷、突起来代表不同长度、不同内容的数据串；在其对应的读取结果中，即使对应于等长数据串的读取讯号，也无法维持等长的零越时段，且振幅也不会相等。换句话说，根据读取结果零越时机、振幅等等的讯号特性，就能判断对应的试写数据是否是以较佳的写入功率写入至光盘片上的。而在现行的可烧录光盘的规格中，一般都订有一试写结果参数(或称beta-parameter)，用来定量地代表读取结果的讯号特性。在光盘写入功率校正的过程中，就是使用数种不同的写入功率，在每一种写入功率下计算其对应读取结果的试写结果参数，再比较各写入功率的试写结果参数；这样就能在这些写入功率中选出较接近理想值的写入功率，达到写入功率校正的目的。
请参考图2。图2为一已知光驱20中进行写入功率校正的相关功能方块的配置示意图。光驱20中设有一马达22、一读取头24、一存取电路28及一控制模块30；为进行写入功率校正，已知光驱20中还设有一峰值保持(peak hold)电路32A、一底值保持电路(bottom hold)电路32B及一模拟至数字的转换器34。马达22用来带动一光盘片26转动，读取头24则能发出激光入射光盘片26，并接收反射的激光，以进行数据存取。控制模块30用来控制光驱20的运作，存取电路28则能在控制模块30的控制下，驱动读取头24将编码数据写入至光盘片26；读取头24接收光盘片反射的激光后，也会将对应的讯号经由存取电路28传输至控制模块30。峰值保持电路32A在接收一输入讯号后，能产生一对应的输出讯号，并使输出讯号维持对输入讯号峰值的跟踪(tracking)；而底值保持电路32B则能维持对其输入讯号底值的跟踪。转换电路34可在控制模块30的触发下，对模拟讯号进行取样，再将取样值转换为数字讯号。
在光驱20进行写入功率校正时，存取电路28即会将试写数据传输至读取头24，由读取头24以一特定的预设写入功率将该试写数据写入至光盘片26。然后，读取头24会读取写入至光盘片26上的写入数据，将读取结果回传至存取电路28，由存取电路28将读取结果36传输至峰值及底值保持电路32A、32B。峰值保持电路32A会跟踪读取结果36的峰值，并产生对应的讯号38A；底值保持电路32B则会跟踪读取结果36的底值，产生对应的讯号38B。而转换电路34会交替地在峰值、底值的跟踪讯号38A、38B中取样，形成数字讯号输出；根据对讯号38A、38B取样的数字讯号，控制模块30就能计算出对应于该特定写入功率的试写结果参数。关于上述程序进行的情形，请进一步参考图3(并一并参考图2)。图3即为图2光驱20在进行写入功率校正时，各相关讯号波形时序的示意图；图3的横轴为时间，纵轴则为讯号的大小。如图3所示，峰值保持电路32A输出的讯号38A会跟踪读取结果36(图3中以虚线绘示)的峰值，底值保持电路32B输出的讯号38B则会跟踪读取结果36的底值；转换电路34在时点tc1取样讯号38A的电平LP0、在时点tc2取样讯号38B的电平LB0，就能根据电平LP0、LB0计算出读取结果36的试写结果参数。
如前所述，写入功率是否偏离理想值，可由读取结果的振幅是否对称于零电平L0来作为判断的依据之一。而在已知光驱20中，峰值、底值保持电路32A、32B就是分别用来跟踪读取结果36的正极值及负极值，以代表读取结果36于正负之间的振幅，并由此计算出试写结果参数。
然而，上述的已知技术也有缺点。一般来说，峰值/底值保持电路中都是以电容储存电荷以执行讯号极值的维持；然而，就像图3中所示，由于电容不可避免的漏电问题，峰值/底值保持电路都不能长期地稳定维持读取结果36的极值。像在峰值保持电路32A产生的讯号38A中，当其在时点tc0开始保持读取结果36的极值电平LP后，就会因为漏电的问题而使讯号38A的电平逐渐降低、衰减，直到时点tc5，才会因讯号38A的讯号电平开始低于读取结果36的电平，而再度开始跟踪读取结果36的峰值。也就是说，当转换电路34在时点tc1对讯号38A取样得电平LP0时，电平LP0就已经不再是读取结果真正的极值LP了。类似的情形也会发生在底值保持电路32B及其产生的讯号38B上；原本讯号38B的极值应该是电平LB，等到转换电路34在时点tc2取样到电平LB0时，其实已经偏离极值电平LB。换句话说，转换电路34对讯号38A、38B取样的值，其实无法真正地反映出读取结果36于正负之间的振幅。而且，若转换电路34在不同的时点进行取样，也会因为相同的原因而使取样的结果不能反映读取结果的振幅。举例来说，若转换电路34是在图3中的时点tc3、tc4进行取样，很明显地就会和在时点tc1、tc2取样出来的值有所不同，连带使得计算出来的试写结果参数也不同。换句话说，试写结果参数会随取样时间的不同发生变化，并不稳定。
另外，由于转换电路34一次只能对讯号38A、38B其中之一进行取样，不会同时对两讯号进行取样，故其取样出来的极值，其实是读取结果36在不同时间的极值；如前面讨论过的，读取结果36会因为写入数据中长短不同的数据串而有高低不同的极值；要正确地判断读取结果在正负之间的振幅，其实应该比较读取结果中对应于同长度(但内容相反)数据串的部份，看看这些部份是否有相同的正负极值。若转换电路34在进行取样时，是在讯号38A中取样到对应于短数据串的低峰值，却在讯号38B中取样到对应于长数据串、绝对值较大的底值，就会使试写结果参数的计算失真、不正确。
请参考图4。图4为另一已知光驱40进行写入功率校正相关功能方块的示意图。光驱40中设有一读取头44、一存取电路48、一控制模块50、一高通(high pass)滤波器42、一削波器(slicer)46、一充电电路52A、一放电电路52B以及电阻R0、电容C0。控制模块50主控光驱40的运作；在进行写入功率校正时，控制模块50可控制存取电路48将试写数据传输至读取头44，由读取头44以一预设的写入功率将试写数据写入至光盘片26上，再由光盘片26上将写入的试写数据读出，回传至存取电路48，由存取电路48产生对应的读取结果56A。滤波器42为一高通滤波器，可对读取结果56A进行高通滤波，产生滤波后的读取结果56B；削波器46则能将读取结果56B高于、低于零电平的部份分别削波成具有固定电平的削波讯号，并以此削波讯号控制充电、放电电路52A、52B。充电、放电电路52A、52B可以是受控的定电流源，其中充电电路52A可通过电阻R0向电容C0充电，增加节点N0的电压；放电电路52B则能透过电阻R0将电容C0放电，减少节点N0处的电压。最后，根据电容C0在节点N0的电压，控制模块50就能计算出该预设写入功率对应的试写结果参数。
为进一步说明光驱40计算试写结果参数的原理，请继续参考图5(并一并参考图4)。图5即为图4中光驱40在计算试写结果参数时各相关讯号波形时序的示意图；图5中的横轴即为时间，读取结果56A(以虚线表示)、56B以及削波讯号58的纵轴则代表波形的大小。如图1中所显示的，当写入功率偏离理想值时，对应的读取结果也会发生偏离零电平的现象，即使是读取结果中对应于等长数据串的部份，其在正负之间的振幅也会因读取结果偏离零电平L0而不对称。连带地，读取结果中零越时点间的零越时段也不能正确反映等长数据串延续的时间。在对应于短数据串的部份，读取结果偏离零电平L0的情形就会更加明显。延续图1中的例子，图5中的读取结果56A也偏离了零电平L0，尤其是对应于短数据串的部份，像是在时点td1至td4、时点td6至td8之间的部份。而光驱40中的高通滤波器42，其目的就是要滤除读取结果56A中对零电平L0近似于直流的偏离，让读取结果56A中对应于短数据串的部份，其对零电平L0的偏移能被滤除。就像滤波后的读取结果56B所示，由于读取结果56A中对应于短数据串的部份会表现为高频的震荡，而高通滤波器42会让读取结果56A中的高频成分通过，使滤波后的读取结果56B在高频部份会呈现较佳的震荡形式，在正负之间有较为对称的振幅。举例来说，在图5中，读取结果56A在时点td1至td4、时点td6至td8的高频部份会偏离零电平L0，在大于、小于零电平L0的部份没有对称的振幅；在经过高通滤波形成读取结果56B后，读取56B在这些时段中高频部份就会具有较为对称的振幅，更接近于完美的交流震荡形式，这就是因为高通滤波器42在形成滤波后的读取结果56B时，会倾向于保留读取结果56A高频交流震荡的部份；等效上来说，就是高通滤波器42可移除读取结果56A中对应于短数据串的高频部份对零电平L0的偏移。
相对于对高频部份的保留，高通滤波器42连带地就会将读取结果56A中低频部份对零电平L0的偏离做较大的调整。举例来说，在时点td4、td5之间，读取结果56A对应于长数据串的部份原本在零越时点之间会维持时段Tp0、Tp1的零越时段，但在高通滤波后，迁就对高频交流震荡部份的保留，滤波后的读取结果56B就会有近似于直流的偏移(在图5的例子中，其效果类似于将读取结果56A沿纵轴平移)。这样一来，读取结果56B在时点td4、td5间的零越时段就改变为时段Tp2、Tp3。换句话说，在经过滤波器42的高通滤波后，读取结果56A中高频部份(对应于短数据串的部份)对零电平L0的偏移，会转变为读取结果56B中低频部份(对应于长数据串的部份)零越时段的改变。这样一来，在读取结果56B中，即使是对应于等长、相异数据串(尤其是长数据串)的部份，也会有零越时段上的差异。已知的光驱40即是利用此原理，以高通滤波将原始读取结果56A中对零电平L0的偏移反映至读取结果56B中的零越时段差异，再根据读取结果56B零越时段差异来估计试写结果参数。原始读取结果56A中对零电平L0的偏移就反映了写入功率对理想值的偏移，而在高通滤波后，就是由读取结果56B中的零越时段差异来反映写入功率对理想值的偏移。而已知光驱40中就是根据读取结果56B中的零越时段差异来计算试写结果参数，反映写入功率是否偏离理想值。
在高通滤波而产生读取结果56B后，削波器46就会依据读取结果56B零越的情形产生削波讯号58，让削波讯号58中维持于电平H的部份对应于读取结果56B中高于零电平L0的部份，削波讯号58中维持于电平L的部份对应于读取结果56B中低于零电平L0的部份。这样一来，削波讯号58中维持于电平H、L的时段，就代表读取结果56B中零越时点间的零越时段。根据削波器46的削波讯号58，充电电路52A、放电电路52B就会在不同的时间对电容C0充放电；图5中的驱动时序59A、59B，就分别代表充电、放电电路52A、52B依据削波讯号58充放电的情形。其中，当削波讯号58维持于电平H时，充电电路52A就会以预设大小的电流向电容C0充电，像驱动时序59A于时点td2至td3、时点td4至td5等等以网纹显示的时段中。而当削波讯号58维持于电平L时，放电电路52B就会以预设大小的电流(通常是和充电电流大小相等的电流)将电容C0放电，像驱动时序59B于时点td1至td2、td3至td4、td5至td6等等以斜纹显示的时段中。这样一来，电容C0中储存的电荷量，就会和读取讯号56B中零越时段的差异有直接的关系。举例来说，在时点td4至td5之间，电容C0中增加的电荷量会和时段Tp2的长短成正比，在时点td5至td6之间，电容C0中减少的电荷量则会和时段Tp3的长短成正比。总计在时点td4至td6之间，电容C0中增加的电荷量应和(Tp2-Tp3)成正比，可用来代表读取讯号56B在时点td4至td6之间的零越时段差异。随着充电、放电电路52A、52B根据削波讯号58的电平变化而受控对电容C0充放电，电容C0中累计的电荷量，等效上也就是读取结果56B中大于零电平L0的时段与小于零电平L0的时段两者的差。
当写入功率相当于理想值，读取结果56A及滤波后的读取结果56B都应该呈现近乎完美的交流震荡波形，读取结果56B中大于、小于零电平L0的时段应该几乎相等，这也使得电容C0中的电荷量应该接近零，反映出写入功率已经趋近于理想值。反之，若写入功率偏离理想值较远，读取结果56A就会偏离零电平L0(尤其是对应于短数据串的高频部份)，像在图5中呈现的情形。在高通滤波后，读取结果56A对零电平的偏移会被反映于读取结果56B的零越时段差异上(尤其是对应于长数据串的低频部份的零越时段)；即使是读取结果56B中对应于相同长度、相异内容数据串的部份，也会有零越时段上的差异，不会有等长的零越时段。而电容C0中累积的电荷量，应该就会反映这种零越时段上的差异。零越时段的差异越大，电容C0中累积的电量也就会越大，反映出写入功率偏离理想值的情形。
上述已知技术的缺点，就是电容C0中累积的电荷并不能较为敏感地反映读取结果56B中零越时段的差异。一般而言，写入功率偏离理想值比较容易造成读取结果56A于高频部份(对应于短数据串的部份)的零电平偏移；在经过高通滤波后，此零电平偏移主要会反映于读取结果56B在低频部份(对应于长数据串的部份)零越时段的差异。然而，在图4、图5中的已知技术，却是在读取结果56B的高频部份及低频部份都持续地累计零越时段上的差异。由于高通滤波的本质就是保留读取结果56B中交流震荡的部份，而交流震荡部份的本质就是大于零电平的时段等于小于零电平的时段，故就读取结果56B的整体来说，低频部份的零越时段差异和高频部份的零越时段差异一起合计后，几乎就会互相抵消。换句话说，即使原始读取讯号56A的高频部份中对零电平L0有相当的偏移，但若持续累计读取讯号56B高频与低频部份的零越时段差异，其累计的结果也会相当接近零，无法较为敏感地反映出原始读取讯号56A的零电平偏移。
总结来说，高通滤波基本上是将原始读取结果56A高频部份的零电平偏移转变为读取结果56B低频部份的零越时段差异，若在读取结果56B中持续累计高频部份及低频部份的零越时段差异，高通滤波将零电平偏移转变为零越时段差异的效果就不明显，使得已知光驱40在进行写入功率校正时会因为各写入功率下的试写结果参数相差不大，无法较为明确地分辨出哪一个写入功率才是较佳的写入功率。
发明内容
因此，本发明的主要目的是提供一种能够仅依据读取结果的低频部份来累计零越时段差异的试写结果参数计算方法及相关装置，以正确计算出不同写入功率对应的试写结果参数，克服已知技术中难以正确估计试写结果参数的缺点。
在前面讨论过的已知技术中，利用峰值、底值跟踪来计算试写结果参数的已知技术会因取样时点的不同而算出不同的试写结果参数，导致其运作上的不稳定。而利用读取结果高通滤波后的零越时段差异来计算试写结果参数的已知技术，又会因为在滤波后的读取结果中持续累计高频与低频部份的零越时段差异，而使计算出来的试写结果参数并不能明确地分辨出各写入功率的效果。
在本发明中，则是在进行写入功率校正时，将具有特定内容的试写数据以预设的写入功率写入至光盘片上，再读取为读取结果。由于试写数据中的特定内容，本发明可在读取结果中识别出哪一部份的读取讯号对应于试写数据中的长数据串，在将读取结果高通滤波后，就能仅依据读取结果中对应长数据串的低频部份来累计试写结果参数。由于高通滤波会将读取结果中对零电平的偏离转变为低频部份的零越时段差异，而本发明也只会在读取结果的低频部份累计零越时段差异，这样就能避免已知技术中持续于低频部份及高频部份累计零越时段差异所导致的敏锐度降低；而本发明也就可使不同试写功率对数据写入的影响能明确地反映于试写结果参数中，实现写入功率校正的目的。
图1为不同写入功率下各种读取结果波形时序的示意图。
图2为一已知光驱功能方块的示意图。
图3为图2中光驱进行写入功率校正时相关讯号波形时序的示意图。
图4为另一已知光驱功能方块的示意图。
图5为图4中光驱进行写入功率校正时相关讯号波形时序的示意图。
图6为本发明中光驱功能方块的示意图。
图7为图6中光驱进行写入功率校正时相关讯号波形时序的示意图。
图8为本发明中另一实施例中试写数据及相关讯号的时序示意图。
附图符号说明10、92、96试写数据12A-12B、36、56A-56B、86A-86B、100读取结果14A-14B、16A-16B、S1-S4数据串20、40、60光驱22、62马达24、44、64读取头26、66光盘片 28、48、68存取电路30、50、70控制模块32A峰值保持电路32B底值保持电路 34转换器38A-38B讯号 39取样结果
42、72滤波器 46、74削波器52A、76A充电电路 52B、76B放电电路58、88、104削波讯号 59A-59B、91驱动时序71试写数据编录模块 78判断模块80估算模块 82开关84数据储存单元 90、98控制讯号102A-102B读取讯号R0、R电阻C0、C电容L0零电平N0-N1节点Sa、Sb数据序列H、L电平 SL、SS区段Ta-Tg、Tp0-Tp3、Tt时段Ln0-Ln3、Lp0-Lp3、LP0、LB0电平ta0-ta7、tb0-tb7、tc0-tc4、td1-td6、t1-t8、te、tk1-tk4时点具体实施方式
请参考图6。图6为本发明中光驱60及写入功率校正相关功能方块一实施例的示意图。光驱60中设有一马达62、一读取头64、一存取电路68、一控制模块70、一高通滤波器72、一削波器74、一试写数据编录模块71及一估算模块80。估算模块80中则设有一充电电路76A、一放电电路76B、一判断模块78、一开关82及一数据储存单元84；在图6的实施例中，数据储存单元84中设有一电阻R及一电容C。马达62用来带动一光盘片66转动，读取头64能将激光入射至光盘片66以存取光盘片上的数据，并可接收由光盘片66反射的激光；控制模块70则主控光驱60的操作。存取电路68电连于高通滤波器72，削波器74则能对滤波器74滤波后的讯号进行削波，将削波的结果传输至判断模块78，并根据削波的结果控制充电电路76A、放电电路76B是否提供充电、放电的电力。在估算模块80中，开关82电连于充电、放电电路76A、76B及数据储存单元84之间，用来控制充放电电路能否将电力导通至数据储存单元84。而开关82的导通与否，则由判断模块78的控制讯号90来控制。另外，数据储存单元84用来储存数据；该数据的数值大小，就由电容C中的电荷量来代表。当开关82受控导通时，充电电路76A提供的充电电力就能传输至数据储存单元84，向电容C充电，增加其电荷量，相当于累增数据储存单元84中的数据数值；放电电路76B提供的放电电力也能传导至数据储存单元84，将电容C放电，减少其电荷量，也就是让数据储存单元84中的数据数值递减。当开关82受控不导通时，充电电路76A、放电电路76B的充放电电力就不会传输至数据储存单元84，而数据储存单元84中的数据数值就不会改变。电容C中储存的电荷量可于节点N1回传至控制模块70。
在本发明中，试写数据编录模块71可编成或记录具有特定内容的试写数据92；在本发明较佳的实施例下，此试写数据中会包含有多个由长数据串相连而形成的数据序列(以下称为长数据序列)，以及多个由短数据串相连形成的数据序列(以下称短数据序列)。每一长数据序列由两个等长(位数相等)、数据内容相异的长数据串形成；每一短数据序列则由两个等长、内容相异的短数据串形成。
本发明中光驱60进行写入功率校正的情形可描述如下。在进行写入功率校正时，控制模块70即可通过存取电路68，让读取头64以一预设的写入功率将试写数据编录模块71提供的试写数据92写入至光盘片66上。接着读取头64可将写入至光盘片66上的试写数据读出，经由存取电路68产生对应的读取结果86A，传输至滤波器72。高通滤波器72会对此原始的读取结果86A进行高通滤波，对应地产生滤波后的读取结果86B。削波器74可根据读取结果86B的波形讯号是否大于一零电平而产生一削波讯号88。根据此削波讯号88，削波器74即能控制充电电路76A、放电电路76B是否要提供充放电的电力。另外，削波讯号88也会传输至判断模块78，由判断模块78判断、识别出读取结果86B(以及削波讯号88)中对应于长数据序列的部份。根据识别的结果，判断模块78就可产生控制讯号90控制开关82，使得充、放电电路76A、76B提供的充、放电电力只有在削波讯号88对应于长数据序列的时段才会传导至数据储存单元84。相对地，在削波讯号88对应于短数据序列的时段中，控制讯号90就会使开关82停止导通，让充放电电路76A、76B不会改变数据储存单元84中的数据数值。根据数据储存单元84中储存的数据数值，控制模块70就能计算出对应于该预设写入功率的试写结果参数。
为进一步说明本发明计算试写结果参数的原理，请进一步参考图7(并同时参考图6)。图7即为本发明中光驱60在进行写入功率校正时，试写数据92及各相关讯号波形时序的示意图；图7的横轴即为时间，读取结果86A、86B及削波讯号88、控制讯号90波形的横轴则为波形的大小。如前所述，在本发明的试写数据92中，可包括有一个由多个连续相连的长数据序列Sa形成的区段SL，以及由多个连续相连的短数据序列Sb形成的区段SS，其中，每一长数据序列Sa由一数字「1」的长数据串S1及一数字「0」的长数据串S2形成；每一短数据序列Sb则由一数字「1」的短数据串S3及一数字「0」的短数据串S4形成。如前面曾描述过的，要写入至光盘片上的数据会经过编码，使编码后的数据中会由长短不同的数据串组成；在可烧录式多功能光盘(DVD)格式中，最长的数据串会具有14个相同的位(也就是14T)，最短的数据串会具有3个相同的位(即3T)。应用在此种格式下，本发明的长数据串S1、S2即可各具有14个位的数字「1」、「0」；而短数据串S3、S4则可分别具有3个位的数字「1」、「0」。同理，在可烧录式光盘(CD)格式中，最长及最短的数据串各具有11及3个位(即11T及3T)，要应用于此种格式下，本发明的长数据串S1、S2可对应地编成为11个位，而短数据串S3、S4则为3个位。
如图1及相关说明中可知，一数据序列中长度相同、内容相异的两个数据串，合起来就对应于读取结果中于正负之间震荡的一个周期。举例来说，如图7中所示，试写数据92中由长数据串S1、S2合起来的三个长数据序列Sa就分别对应于原始读取结果86A中大致位于时点t0至t2、时点t2至t4、时点t4至t6间的一个低频震荡周期，每一短数据序列Sb则对应于读取结果86A的一个高频震荡周期，像是读取结果86A中大致位于时点t6至t7、t7至t8间的高频部份，就各自对应于一个短数据序列。当然，如前所述，若写入功率偏离理想值，读取结果86A就会偏离零电平L0，尤其是对应于短数据序列的高频部份。在经过滤波器72高通滤波后，读取结果86A中对零电平的偏移主要就会反映至滤波后读取结果86B中的低频部份，使读取结果86B中的低频部份其大于零电平的时段及小于零电平的时段会有零越时段差异；这些主要分布于低频部份的零越时段差异，即对应于原始读取结果86A中对零电平L0的偏移。
在削波器74将读取讯号86B削波为削波讯号88后，削波讯号88中维持于电平H的部份即对应于读取结果86B中电平大于L0的部份，而削波讯号88中维持于电平L的部份则对应于读取结果86B中电平小于L0的部份。换句话说，在削波讯号88中，维持于电平L的时段就是读取结果86B中小于零电平L0的零越时段，维持于电平H的时段就是读取结果86B中大于零电平L0的零越时段。而充电电路76A就可在削波讯号88维持于电平H的时段提供充电的电力，而放电电路76B可在削波讯号88维持于电平L的时段提供放电的电力。
另一方面，本发明中的判断模块78也会依据削波讯号88来判断削波讯号对应于试写数据的哪一个部份，并产生对应的控制讯号90，控制开关90的导通或不导通。如前面讨论过的，读取结果86B(以及削波讯号88)中零越时段的差异主要会显现于低频部份，若在滤波后的读取结果中持续于高频及低频部份累计零越时段差异，反而会使零越时段的差异不明显，无法明确地以滤波后读取结果的零越时段差异来代表原始读取结果中对零电平的偏移。而本发明中的判断模块78即是用来识别读取结果86B(削波讯号88)中对应于长数据序列的低频部份，只在低频部份让开关82导通，于数据储存单元84中累计零越时段差异；到了削波讯号88中对应于短数据序列的高频部份，就使开关82停止导通，不再累计零越时段的差异。这样一来，就能依据仅读取结果86B于低频部份的零越时段差异，来明确地反映原始读取结果86A中对零电平L0的偏移，并使控制模块70能正确地依据数据储存单元84中储存的数据来代表各写入功率下的试写结果参数，实现写入功率校正的目的。
在实际实现本发明判断模块78的功能时，可根据削波讯号88中维持于同一电平的时段是否已经超过一预设时段，来判断是否已经到了削波讯号88中对应于长数据序列的低频部份。在设定此预设时段时，其时间长度可比短数据串延续的时间长，但短于长数据串延续的时间。举例来说，若长、短数据串分别有14及3个位(也就是14T及3T)，此预设时段即可设为5或6个位对应的时间(即5或6T)。由于削波讯号88中维持于同一电平的时间就对应于同一数据串延续的时段，故当削波讯号88维持同一电平的时间已经超过短数据串应维持的时段后，就表示此时削波讯号88正处于一个对应于长数据串的时段。
举例来说，像在图7的实施例中，由于区段SL中长数据序列Sa是以对应于电平H的数字「1」数据串S1启始，故判断模块78可依据削波讯号88中维持于电平H的时间是否已经超过一预设时段Te，来判断是否已经有一个长数据序列Sa开始了。如图7所示，当判断模块78在削波讯号88于时点t0由电平L变为电平H后，就会开始计算削波讯号88维持于电平H的时间；等到了时点te(也就是时点t0后再经过了预设时段Te(如图7中所标示)的时间)，削波讯号88仍维持于电平H，判断模块78就可在时点te判断出削波讯号88此时正处于一个对应于长数据串的时段。同时，由于本发明中的试写数据编录模块71在编定试写数据92时即让预设数目个长数据序列Sa连续排列于区段SL中，故判断模块78在时点te判断出有一个长数据串启始时，就可知道削波讯号88在时点te之后必定有相当长度的时段是对应于长数据序列的低频时段，故等到时点t1削波讯号88由电平H转变为电平L后，判断模块78就可判断出削波讯号88中对应于数字「0」长数据串的部份正要由此时启始；此时判断模块78就可将控制讯号90由原先的电平L转变为电平H，让开关82由时点t1开始导通。而充电、放电电路76A、76B依据削波讯号88提供的充放电电力，就能在时点t1开始导通至数据储存单元84。如图7中对数据储存单元84的驱动时序91所示，当控制讯号90在时点t1由电平L转变为电平H后，在时点t1、t2间，削波讯号88正对应于一长数据串S2，而放电电路76B就会将电容C放电，递减数据储存单元84中的数据数值；在时点t2、t3间，削波讯号88对应于一长数据串S1，放电电路76A会向电容C充电，累加数据储存单元84中的数据数值。综合时点t1至t3间充放电电路76A、76B对电容C充放电的驱动情形可知，在此时段中，电容C中增加的电荷应该就和零越时段的差异(Td-Tc)成正比(如图7中所标示)。换句话说，在时点t1至t3对应于读取结果86B低频部份的时段间，充、放电电路76A、76B即可依据零越时段差异来累计数据储存单元84储存的数据数值。同理，在时点t3至t5间，充、放电电路76A、76B再度于数据储存单元84中累计正比于(Tg-Tf)的零越时段差异。
另一方面，在时点t1开始导通开关82后，判断模块78还是会持续记录削波讯号88在电平H、L之间变化的情形。由于试写数据编录模块71在试写数据中安排了预设数目个连续排列的长数据序列，判断模块78随时间推进而持续计数削波讯号88于电平H、L之间交替变化的次数，就可判断出已经经过了几个对应于长数据串的部份。等到削波讯号88中对应于区段SL中连串的长数据序列的部份将要到达对应于最后一个长数据串的部份时，判断模块78就会将控制讯号90由电平H转变为电平L，让开关82停止导通。在试写数据92中，由于区段SL连续的长数据序列Sa结束后，就是区段SS中连续的短数据序列Sb，故判断模块78在对应于连续长数据串的部份将要结束前停止让开关82导通，就能在削波讯号88对应于短数据串的高频部份停止累算数据储存单元84中的数据数值。这样一来，当处理模块70根据数据储存单元84中储存的数据数值来计算试写结果参数时，本发明就能只依据滤波后读取结果86B在低频部份的零越时段差异，来明确地反映原先用来写入试写数据92的写入功率是否为较佳的写入功率。
像在图7中的实施例，试写数据92中的区段SL有3个长数据序列Sa、共6个交错的数据串，故判断模块78在时点te判断出削波讯号88对应于长数据串的部份已经启始后，只要检测出削波讯号88在接下来发生了五次电平转变(分别在时点t1、t2、t3、t4及t5)，就可判断出时间已经经过了对应于5个长数据串的时段，而削波讯号88在时点t5的电平转变，就代表削波讯号中对应于区段SL最后一个长数据串的部份正要启始。故在时点t5，当判断电路78检测到削波讯号88第五次的电平转变时，就可在此时将控制讯号90转为低电平，让开关82停止导通。由于试写数据92在区段SL的最后一个长数据串结束后，接下来就是区段SS中的短数据串，不管在读取结果86A、86B或是削波讯号88中，这个部份都是低频部份讯号与高频部份讯号交接之处，不在对应于区段SL最后一个长数据串的时段中累计数据储存单元84中的数据数值，可避免低、高频交接部份混乱瞬时对数据数值的负面影响。对图7中实施例来说，区段SL中共有6个数字「1」、「0」交错的长数据串，扣除第一个长数据串及最后一个长数据串不累计数据储存单元84中的数据，充放电电路76A、76B总共在4个对应于长数据串的期间内(也就是时点t1至t5)，累算了读取结果86B于两个低频震荡周期中的零越时段差异。
在本发明中，能以交错排列的模式，在试写数据92中重复编入多个区段SL、SS、SL、SS，由判断模块78在对应于各区段SL的时段中使开关82导通，让充放电电路76A、76B持续于数据储存单元84中，根据削波讯号88来累计读取结果86B于低频部份的零越时段差异。在这种情形下，每当判断模块78使开关82停止导通后，就要继续检测削波讯号88维持于同一电平的时间，以检测出次一区段SL第一个长数据串的启始。再以图7中的实施例来说明，判断模块78在时点t5判断出对应于一个区段SL的部份将要结束之后，就会在时点t5之后再度开始计算削波讯号88维持于电平H的时间是否大于预设时段Te，以检测下一个区段SL的开始。当然，由于在时点t5之后削波讯号88就会继续进行到对应于区段SS的高频部份，削波讯号88维持于电平H的时间都相当短，不会达到预设时段Te的长度，而判断模块78就可判断出削波讯号88还在对应于区段SS的时间中，不使开关82导通。等到区段SS结束而下一个区段SL的第一个长数据串启始时，判断模块78就会再度检测到削波讯号88维持于电平H的时间大于预设时段Te，就像在时点t0至te时的情形一样。此时判断模块78就可再度以控制讯号90导通开关82，再度于削波讯号88对应的低频部份累计数据储存单元84中的数据数值。
关于本发明中试写数据编成的通则，请参考图8(并一并参考图6、图7)。图8示意的是本发明中试写数据96一实施例数据组成的示意图，也示出了光驱60对应(高通滤波后)的读取结果100、削波讯号104及判断模块78对应的控制讯号98的时序示意图；图8的横轴即为时间。在试写数据96中，可编入多个以区段SL、SS模式重复的数据，各区段SL中由M个长数据序列Sa组成，区段SS中则由N个短数据序列Sb组成；各个长数据序列Sa中有两个等长度的数字「1」、「0」长数据串S1、S2(譬如说是由14个位形成一长数据串)，各个短数据序列Sb中则有两个等长度的数字「1」、「0」的短数据串S3、S4(像是由3个位形成一短数据串)。如前所述，长数据序列会形成读取结果中震荡振幅较大、周期较长的低频部份，像在图8中，由长数据序列形成的区段SL，就对应于读取结果100中低频部份的读取讯号102A；短数据序列则会形成读取结果中震荡振幅较小，周期较短的高频部份，像是由短数据序列形成的区段SS，就对应于读取结果100中高频部份的读取讯号102B。
在本发明中，区段SL、SS中长数据序列、短数据序列的个数M与N的比，可用来调整高通滤波时将原始读取讯号中的零电平偏移转换至低频部份零越时段差异的效果。举例来说，当M∶N为长、短数据串中位数的反比时(承前例，即M∶N等于为3∶14时)，在试写数据96中，区段SL延续的时间就会和区段SS延续的时间相等，在高通滤波后，在原始读取结果对应于区段SS的高频部份中对零电平的偏移，大致就会在滤波后读取结果的低频部份，造成相同程度的零电平偏移，并表现为低频部份的零越时段差异。若M∶N的比值变小(像是成为3∶17)，试写数据中区段SL延续的时间就会比区段SS延续的时间长，而原始读取结果于高频部份对零电平的偏移，就会造成滤波后读取结果于低频部份中较大程度的偏移，因此也就会有较大程度的零越时段差异。
对本发明中的判断模块78来说，当其在以削波讯号104电平维持的时间检测出对应于区段SL中第一个长数据串的部份后，也不一定要像图7中的实施例，在次一长数据串启始时就马上使开关82导通。在检测出削波讯号104对应于区段SL部份启始后，判断模块78可根据削波讯号电平变化的次数，判断出时间进展到对应于哪一个长数据串的部份，而在对应另一长数据串启始的时点，再开始以控制讯号98的电平H让开关82导通。像在图8中，判断模块78在时点tk0检测出一个对应长数据串的部份启始后，可以在时点tk2(也就是削波讯号104发生另一次的电平改变时)，才开始将控制讯号98由电平L转变为电平H，不一定要在时点tk1开始。同理，判断模块78将控制讯号98转变为电平L而让开关82停止导通的时机，也可选在对应于任一长数据串结束的时点；不一定要像图7中的实施例，在对应于区段SL倒数第二个长数据串结束的时候才停止开关82的导通。像在图8中，判断模块78就提早于时点tk3结束开关82的导通，不会等到时点tk4才使控制讯号98改变电平。不过，在判断模块78维持开关82导通的时段Tt中(也就是时点tk2至tk3间)，应该对应于相同数目的数字「1」长数据串S1及数字「0」长数据串S2(也就是一共有偶数个长数据串)，因为一组数字「0」、「1」的长数据串S1、S2合起来才会对应于读取结果中于正负之间震荡的一个周期，也才会有一笔零越时段的差异值。换句话说，包括在时点tk2、tk3的削波讯号104电平转换，判断电路78要在时段Tt之中检测到奇数次的削波讯号104电平转换，才代表估算模块80在时段Tt的内完整地累算了读取讯号102A于多个低频震荡周期中的零越时段差异。
由前述对判断模块78的功能描述可知，本发明的判断模块78的功能可以用简单的状态机(state machine)逻辑电路或是固件程序代码来实现。而在实际实施本发明的估算模块80时，可将估算模块80的各电路及滤波器72、削波器74及控制模块70的功能以硬件或固件程序代码的方式整合、实现于同一控制电路或同一控制芯片中。另外，当判断模块78在计算削波讯号维持于同一电平的时间长短时，可以使用一高频的时钟来计数电平维持的时间，并依据计数结果来判断维持的时间是否超过预设时段Te。举例来说，若预设时段Te的时间长度为5T，并以周期为0.01T的时钟来计数削波讯号88维持于电平H的时间，那么判断电路78就可在削波讯号88由电平L转变为电平H的时候，由零开始累计0.01T时钟经过的周期个数；若削波讯号88经过500个(也就是5/0.01)0.01T的时钟周期后还继续维持于电平H，判断电路78就可判断出削波讯号对应于一长数据串的部份已经启始。再者，除了以电流源及电容C来实现充放电电路及数据储存单元外，本发明也可使用累加、递减的数字计数器分别来实现充电电路及放电电路，并以一数据缓存器来配合数据储存单元的实现。在此种实施方式中，数字计数器同样可以用高频时钟为基准来计数削波讯号维持于电平H、L的时间，只不过用来实现充电电路的计数器，其计数结果应该能累加于数据缓存器中的数据，而用来实现放电电路的计数器，其计数结果应该能减少数据缓存器中的数据；两计数器联合起来的效应，就等于在计算零越时段差异。这样一来，数据缓存器中累算的计数结果，同样能作为计算试写结果参数的依据。
总结来说，本发明是以试写数据的特殊格式来设定判断模块78，让判断模块78能在高通滤波后的读取结果中识别出对应于长数据串的低频部份，这样就能只依据读取结果的低频部份的零越时段差异累计数据储存单元84中的数据数值，而在读取结果对应于短数据串的高频部份停止累算数据储存单元84中的数据数值。这样一来，在根据数据储存单元84中的数据数值来计算试写结果参数时，就可避免读取结果中的高频部份减少试写结果参数的代表性及敏感度，让试写结果参数更能敏感地反映原写入功率是否为较佳的写入功率。
在已知技术中，以读取结果极值计算试写结果参数的方法难以掌握正确的取样时机，使得试写结果参数的计算并不稳定。而依据高通滤波后读取结果各零越时段间的差异来计算试写结果参数的已知技术，又因为在读取结果的高频及低频部份均持续累计零越时段差异，使计算出来的试写结果参数无法明确地反映对应写入功率的效果。相较之下，本发明披露的技术能在高通滤波后的读取结果中以简单的方法识别出对应于长数据串的低频部份，并仅依据此低频部份的读取结果来计算试写结果参数，让试写结果参数能够明确地反映光驱以对应写入功率进行光盘数据写入的成效，实现写入功率校正的目的，让光驱能在后续的数据存取过程中，以较佳的写入功率将数据正确、顺利地写入至光盘片上。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明的权利要求所做的均等变化与修饰，皆应属本发明专利的涵盖范围。
权利要求
1.一种进行光盘写入功率校正的方法，根据一试写结果参数决定一预设功率是否是将数据写入至一光盘的较佳功率；该方法包含有设定一试写数据，该试写数据中包含有至少一第一数据序列及至少一第二数据序列；在以该预设功率将该试写数据写入该光盘后，由该光盘上读取该试写数据并产生一对应的读取结果；该读取结果中有一第一读取讯号及一第二读取讯号，分别对应于该第一数据序列及该第二数据序列；以及进行一估算步骤，根据该第一读取讯号中讯号电平大于及小于一预设电平的部份来累计该试写结果参数，而不根据该第二读取结果来累计该试写结果参数。
2.如权利要求1所述的方法，其还包含有在进行该估算步骤前，根据该读取结果产生一削波讯号，使得该削波讯号中讯号电平为一第一电平的部份对应于该读取结果中讯号电平大于该预设电平的部份，而该削波讯号中讯号电平为一第二电平的部份对应于该读取结果中讯号电平小于该预设电平的部份。
3.如权利要求2所述的方法，其还包含有在产生该削波讯号后，根据该削波讯号维持于该第一电平及该第二电平的时间长短来判断该第一读取讯号及该第二读取讯号于该读取结果中开始或结束的时间。
4.如权利要求3所述的方法，其还包含有当要判断该第一读取讯号及该第二读取讯号起迄的时间时，若该削波讯号维持于该第一电平或该第二电平的时段大于一预设时段，则判断该读取结果于该时段对应于该第一数据序列。
5.如权利要求3所述的方法，其中当进行该估算步骤时，即根据该削波讯号来判断该第一读取讯号及该第二读取讯号起迄的时间，以在该第一读取讯号延续的期间根据该第一读取讯号累计该试写结果参数，而在该第二读取讯号延续的期间停止累计该试写结果参数。
6.一光驱，其包含有一存取电路，用来以一预设功率将一试写数据写入至一光盘片；该存取电路并可读取写入至该光盘片上的试写数据并产生一对应的读取结果；其中该试写数据中包含有至少一第一数据序列及至少一第二数据序列，而该读取结果中有一第一读取讯号及一第二读取讯号，分别对应于该第一数据序列及该第二数据序列；以及一估算模块，用来根据该第一读取讯号中讯号电平大于及小于一预设电平的部份于一数据储存单元中累计该试写结果参数，而不根据该第二读取结果来累计该数据储存单元中的试写结果参数。
7.如权利要求6所述的光驱，其还包含有一削波器，电连于该存取电路及该估算模块之间，用来根据该读取结果产生一削波讯号，使得该削波讯号中讯号电平为一第一电平的部份对应于该读取结果中讯号电平大于该预设电平的部份，而该削波讯号中讯号电平为一第二电平的部份对应于该读取结果中讯号电平小于该预设电平的部份。
8.如权利要求7所述的光驱，其中该估算模块中设有一判断模块，用来根据该削波讯号维持于该第一电平及该第二电平的时间长短来判断该第一读取讯号及该第二读取讯号于该读取结果中开始或结束的时间。
9.如权利要求8所述的光驱，其中当该判断模块要判断该第一读取讯号及该第二读取讯号起迄的时间时，若该削波讯号维持于该第一电平或该第二电平的时段大于一预设时段，则该判断模块会判断该读取结果于该时段中对应于该第一数据序列。
10.如权利要求8所述的光驱，其中该估算模块中还包含有一充电电路，用来提供对该数据储存单元充放电的电力以累计储存于该数据储存单元中的试写数据参数；以及一开关，电连于该充电电路及该数据储存单元，用来控制该充电电路与该开关间的电连；该开关可根据该判断模块对该第一读取讯号及该第二读取讯号起迄时间的判断结果，在该第一读取讯号延续的期间将该充电电路提供的电力传输至该数据储存单元以根据该第一读取讯号累计该试写结果参数；而在该第二读取讯号延续的期间，该开关会停止将该充电电路提供的电力导通至该数据储存单元，以停止根据该第二读取讯号累计该试写结果参数。
全文摘要
本发明提供一种于光盘写入功率最佳化的校正过程中计算试写结果参数(即beta参数)的方法及相关装置。该方法包含有在光盘写入功率校正的过程中，在试写数据中编入多个具有特定内容的第一数据序列及第二数据序列，并将试写数据以一预设功率写入至光盘上的试写区，然后读取写入至光盘的试写数据，再将对应的读取结果进行高通滤波。由于第一数据序列具有特定内容，故可在滤波后的读取结果中检测出对应该第一数据序列的部份，并只根据该部分来计算该试写结果参数，代表光驱以该预设功率写入数据的效果。
文档编号G11B27/24GK1542764SQ20041003258
公开日2004年11月3日 申请日期2004年4月9日 优先权日2003年4月10日
发明者萧原坤 申请人:威腾光电股份有限公司