专利名称：一种烧录可写式光盘的方法及其装置的制作方法
技术领域：
本发明是有关于一种烧录光盘的方法及其装置，尤其是一种可在检测烧录过程中正确地检测光盘的缺陷处的烧录可写式光盘的方法及其装置。
背景技术：
光驱在烧录光盘时，例如是CDRW，光学拾取器所发射的激光依其功率的不同而可分为读取功率阶段及写入功率阶段。一般而言，烧录之初是以最佳功率校正OPC(optimum powercalibration)方法找得最佳功率。然而CDRW光盘若有缺陷的话，会造成写入的数据损毁，因此在写入数据至CDRW光盘的过程中，需随时检测光盘是否有缺陷处，然后再加以避开。在现有技术中是依据子射束加法器SBAD(Subbeam adder)信号来得知光盘的缺陷处。在光驱的伺服信号中，SBAD信号的用途之一采用以辅助光学拾取器对焦，其将信号A、B、C、D、E、F、G及H加总而得。由于光盘拾取器的激光的功率有读取功率阶段与写入功率阶段之分，SBAD信号也随之而有不同的电平。
图1是传统光驱的WLDON信号与SBAD信号的示意图。WLDON信号采用以标示激光的功率作为写入功率阶段或读取功率阶段，其中当激光功率是读取功率阶段R时WLDON为低电平；当激光功率是写入功率阶段W时，WLDON则为较高的电平。由于光学拾取器的读取功率与写入功率的不同，SBAD信号也随之而有电平Sl(读)与Sh(写)的差异。
图2描绘在烧录过程中遇到盘片缺陷处的SBAD信号示意图。如图2所示，写入功率阶段或读取功率阶段中，若遇到光盘的缺陷处SBAD信号就会衰减。假设图2的D1与D2处，SBAD信号的信号衰减程度都是缺陷门限值。明显地，伺服系统可以轻易地得知光盘在D1处有缺陷，然而D2处的缺陷却不易查觉。因为SBAD信号的电平差异是(Sh-Sl)，若设定的缺陷门限值与电平差异(Sh-Sl)差不多的话，则在写入功率阶段时，伺服系统极可能误判D2处的缺陷为是读取功率阶段，于是就会造成数据写入失败。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的就是在提供一种烧录可写式光盘的方法及其装置，以在检测烧录过程中正确地检测光盘的缺陷处。
根据本发明的目的，提出一种烧录可写式光盘的方法，用于光驱，该光驱包括光学拾取器，该方法包括决定最佳功率；校正子射束加法器信号的增益值，以产生校正子射束加法器信号，以使得该校正子射束加法器信号于写入功率阶段与读取功率阶段时都具有同样的电平；以该最佳功率烧录该光盘；依据该校正子射束加法器信号的状态检测该光盘的缺陷处；以及当检测到该光盘的缺陷处时，避开缺陷处后继续烧录。
根据本发明的另一目的，提出一种可写式光盘的烧录光驱，包括光学拾取器，用以烧录光盘，并输出一子射束加法器信号；调整装置，用以调整该子射束加法器信号，以产生校正子射束加法器信号，该调整装置包括测量装置，用以测量该子射束加法器信号在写入功率阶段的第一电平与读取功率阶段的第二电平；比较装置，用以比较该第一电平与该第二电平的电平差异；以及校正装置，依据该电平差异调整该子射束加法器信号的增益值，以产生该校正子射束加法器信号，使该校正子射束加法器信号在写入功率阶段与读取功率阶段有相同电平；以及控制装置，依据该校正子射束加法器信号控制该光学拾取器检测该光盘的缺陷处。
为让本发明的上述目的、特征、和优点能更明显易懂，下文给出优选实施例，并配合附图，作详细说明如下
图1是传统光驱的WLDON信号与SBAD信号的示意图。
图2是遇到缺陷处的SBAD信号示意图。
图3是依照本发明优选实施例方法的流程图。
图4是依照本发明在产生校正SBAD信号步骤的流程图。
图5绘示是根据本发明的WLDON信号与校正SBAD信号的示意图。
图6是依照本发明优选实施例方法的光驱结构图。
附图标记说明600光驱610光学拾取器620调整装置630控制装置640量测装置650比较装置660校正装置690光盘片具体实施方式
请参照图3，其绘示依照本发明优选实施例的一种烧录可写式光盘的方法的流程图。首先，以最佳功率校正OPC(optimumpower calibration)程序在光盘的非数据区试写，如功率校准区PCA(power calibration area)测试区时，即决定烧录时的最佳功率，如步骤31所示。
接着，产生校正SBAD信号，如步骤33所示，其中校正SBAD信号在写入功率阶段与读取功率阶段时皆具有同样的电平。接着以最佳功率烧录光盘，如步骤34所示。在烧录过程中，依据校正SBAD信号检测光盘的缺陷，当校正SBAD信号衰减缺陷门限值时，即表示校正SBAD信号检测到光盘的缺陷处，如步骤35所示。当检测到光盘的缺陷处时将跳开缺陷处而不进行烧录，如步骤36所示，即可避免烧录失败。
图4即步骤33中，产生校正SBAD信号的流程图。先以最佳功率在光盘的功率校准区测试区试写，首先在写入功率阶段时测量SBAD信号的第一电平并在读取功率阶段时再测量SBAD信号的第二电平，然后比较第一电平与第二电平的电平差异，如步骤41所示。应注意的是，SBAD信号的第一电平可在运用最佳烧录功率试写数据时测得，而SBAD信号的第二电平可在读取相同试写区时测得。再来依据此电平差异而调整SBAD信号的增益值在写入功率阶段减少SBAD信号增益值，或在读取功率阶段增加SBAD信号增益值，如步骤43所示，以使校正SBAD信号在写入功率阶段与读取功率阶段有相同电平。接着，输出校正SBAD信号，如步骤45所示。应注意的是，测量SBAD信号时不限于烧录在功率校准区测试区，只要不影响光盘正常的数据区即可。
图5是依照本发明的WLDON信号与校正SBAD信号示意图。在读取功率阶段R时，WLDON是低电平，在写入功率阶段W时，WLDON是较高的电平。若无缺陷处的话，校正SBAD信号并不随之而有明显的变动。另一方面，在运用减少SBAD信号增益值的伺服系统中，当在烧录过程中遇到缺陷处时，由于原始的SBAD信号已受到缺陷的影响而衰减，若再通过减少增益的方式来产生校正SBAD信号后，所产生的校正SBAD信号将比原始SBAD信号更低于缺陷门限值(例如D2’处所示)，所以运用本发明优选实施例的方法可明确地表示出缺陷处所在，进而使伺服系统能确实地判断并跳过盘片缺陷处，而不会发生在缺陷处执行数据烧录的误动作。
图6为依照本发明所提出的一种可写式光盘的烧录光驱。光驱600包括光学拾取器610、调整装置620、及控制装置630。光学拾取器610用以烧录光盘690，并输出SBAD信号；调整装置620用以调整SBAD信号，以产生校正SBAD信号；控制装置630，依据校正SBAD信号控制光学拾取器610检测光盘690的缺陷处。
调整装置620包括测量装置640，比较装置650，及校正装置660。测量装置640用以测量SBAD信号在写入功率阶段的第一电平与读取功率阶段的第二电平；比较装置650用以比较第一电平与第二电平的电平差异；校正装置660依据电平差异调整SBAD信号的增益值，以产生校正SBAD信号，使校正SBAD信号在写入功率阶段与读取功率阶段有相同电平。应注意的是，调整装置620可以集成于光驱的伺服是统芯片的内部，以增加伺服系统在烧录过程的稳定度。再者，测量装置640，比较装置650，及校正装置660可通过实际的组合电路(Combinational circuit)或以固件的方式来达成亦即编写成程序代码并储存在内存，当需要时再读出执行它)。此外，控制装置630亦可与调整装置620整合在同一个伺服系统芯片中，用以在校正SBAD信号产生后，通过伺服系统芯片补偿器(未绘出)的处理后，再经由光学拾取器610的驱动电路(未绘出)而馈送至光学拾取器610内部。本领域的技术人员当可依据实际应用加以选择与变更，然所有不脱离本发明优选实施例精神的等效修改与改进，仍应包含在本发明申请专利范围中。
在优选实施例中，将在烧录过程前，由光学拾取器610以最佳功率校正程序在光盘690的功率校准区测试区决定最佳功率。之后光学拾取器再于功率校准区测试区以最佳功率试写时，测量装置640测量SBAD信号的第一电平及第二电平。而校正装置66在写入功率阶段减少SBAD信号增益值，或在读取功率阶段增加SBAD信号增益值，以使校正SBAD信号在写入功率阶段与读取功率阶段具相同电平。但测量时不限于功率校准区测试区，只要不影响光盘正常的数据区即可。
于是在烧录过程中，当校正SBAD信号衰减程度低于缺陷门限值时，表示校正SBAD信号检测到光盘的缺陷处，则光驱将跳过缺陷处继续烧录。
本发明上述实施例所公开的烧录可写式光盘的方法及其光驱，可在烧录过程中，正确检测光盘的缺陷处，避免因烧录光盘的缺陷处，造成烧录失败。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与修饰，因此本发明的保护范围当视权利要求书为准。
权利要求
1.一种烧录可写式光盘的方法，用于光驱，该光驱包括光学拾取器，该方法包括决定最佳功率；校正子射束加法器信号的增益值，以产生校正子射束加法器信号，以使得该校正子射束加法器信号于写入功率阶段与读取功率阶段时都具有同样的电平；以该最佳功率烧录该光盘；依据该校正子射束加法器信号的状态检测该光盘的缺陷处；以及当检测到该光盘的缺陷处时，避开缺陷处后继续烧录。
2.如权利要求1所述的方法，其中决定该最佳功率的步骤中，是以最佳功率校正程序于该光盘的功率校准区测试区决定该最佳功率。
3.如权利要求1所述的方法，其中在校正步骤中，包括以该最佳功率在该光盘的非数据区试写；当该光学拾取器在写入功率阶段时，测量该子射束加法器信号的第一电平；当该光学拾取器在读取功率阶段时，测量该子射束加法器信号的第二电平；比较该第一电平与该第二电平的电平差异；以及依据该电平差异调整该子射束加法器信号的增益值，以产生该校正子射束加法器信号，以使该校正子射束加法器信号在写入功率阶段和读取功率阶段有相同电平。
4.如权利要求3所述的方法，其中该非数据区为光盘的功率校准区测试区。
5.如权利要求3所述的方法，其中在调整步骤中，在写入功率阶段减少该子射束加法器信号增益值，以使该校正子射束加法器信号在写入功率阶段和读取功率阶段具相同电平。
6.如权利要求3所述的方法，其中在调整步骤中，在读取功率阶段增加该子射束加法器信号增益值，以使该校正子射束加法器信号在写入功率阶段与读取功率阶段具相同电平。
7.如权利要求1所述的方法，其中在检测步骤中，当该校正子射束加法器信号衰减缺陷门限值时，表示该校正子射束加法器信号检测到该光盘的缺陷处。
8.一种可写式光盘的烧录光驱，包括光学拾取器，用以烧录光盘，并输出一子射束加法器信号；调整装置，用以调整该子射束加法器信号，以产生校正子射束加法器信号，该调整装置包括测量装置，用以测量该子射束加法器信号在写入功率阶段的第一电平与读取功率阶段的第二电平；比较装置，用以比较该第一电平与该第二电平的电平差异；以及校正装置，依据该电平差异调整该子射束加法器信号的增益值，以产生该校正子射束加法器信号，使该校正子射束加法器信号在写入功率阶段与读取功率阶段有相同电平；以及控制装置，依据该校正子射束加法器信号控制该光学拾取器检测该光盘的缺陷处。
9.如权利要求8所述的烧录光驱，其中该光学拾取器以最佳功率校正程序于该光盘的功率校准区测试区决定最佳功率。
10.如权利要求8所述的烧录光驱，其中该光学拾取器以该最佳功率在该光盘的非数据区决定试写。
11.如权利要求10所述的烧录光驱，其中该非资料区为该光盘的功率校准区测试区。
12.如权利要求10所述的光驱，其中该测量装置在写入功率阶段时，测量该子射束加法器信号的第一电平。
13.如权利要求12所述的光驱，其中该测量装置在读取功率阶段时，测量该子射束加法器信号的第二电平。
14.如权利要求8所述的光驱，其中该校正装置在写入功率阶段减少该子射束加法器信号增益值，以使该校正子射束加法器信号在写入功率阶段与读取功率阶段具相同电平。
全文摘要
一种烧录可写式光盘的方法及其装置，采用光学拾取器，当烧录光盘时，可正确检测光盘缺陷，避免烧录失败。首先，决定最佳烧录功率。接着，调整SBAD信号以产生校正SBAD信号，以使校正SBAD信号在写入功率阶段与读取功率阶段电平相同。于是在校正SBAD信号衰减缺陷门限值时，即可检测到光盘缺陷处并避开它，进而避免烧录错误而造成烧录失败的情况发生。
文档编号G11B20/18GK1619660SQ20041009574
公开日2005年5月25日 申请日期2004年11月17日 优先权日2003年11月17日
发明者陈仕芳, 蔡金印 申请人:威盛电子股份有限公司