专利名称：记录方法、记录装置、程序以及记录控制装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及在多种记录条件的一种记录条件下，在记录介质上记录信息的方法，记录装置，程序以及记录控制装置。
背景技术：
一种光盘装置，通过以激光束照射光盘而在光盘上记录数字信息。因为光盘装置之间和光盘之间个体的差异，可能降低记录在光盘上的信号的质量。为了避免由于这种个体差异的信号质量下降，例如，一种方法是，在光盘安装在光盘装置上的时候测试记录信号。另一种方法例如是优化照射功率和光脉冲形状。
图10是用于示出常规光盘装置400配置的图。
这样配置光盘装置400，使得光盘401可以安装在其上。光盘装置400包括光头402，再现装置404，解调ECC电路406，记录条件确定装置408，记录补偿电路409，激光驱动电路412，以及记录功率设置装置411。
记录条件确定装置408确定记录脉冲位置以及记录功率。记录补偿电路409依照记录条件确定装置408的确定设置记录脉冲位置。记录功率设定装置411依照记录条件确定装置408设置记录功率。激光驱动电路412控制光头402，使得光头402在光盘401上执行预定测试记录。
当完成了测试记录之后，激光驱动电路412控制光头402，使得光头402再现记录在光盘401上的信号。再现信号403输入到再现装置404。
图11是示出再现装置404配置的图。
再现装置404包括前置放大器501，均衡器502，低通滤波器503，二值电路505，锁相环(PLL)507，边缘间隔测量电路508，以及抖动计算电路510。
前置放大器501放大再现信号403。均衡器502以及低通滤波器503通过均衡已经被放大的再现信号403的波形产生信号504。二值电路505基于信号504和限制电平产生脉冲信号506。通常，二值电路505以几十KHz的带宽内的限制电平操作，使得标记的积分值等于空白(space)的积分值。脉冲信号506输入到PLL 507中。
图12是示出PLL 507配置的图。
PLL 507包括相位比较器601，低通滤波器602，VCO 603，双稳态多谐振荡器605，分频电路606，以及门电路607。
相位比较器601探测脉冲信号506的相位和门电路607输出的信号608的相位之间的差异。相位比较器601产生表示脉冲信号506和信号608之间频率差异和相位差异的误差信号。
低通滤波器602通过误差信号的低频分量以产生表示VCO 603的控制电压的控制信号。VCO 603基于控制电压产生时钟信号604。分频电路606将时钟信号604的频率分开。门电路607基于频率被分开的时钟信号604产生信号608。控制VCO 603使得输入到相位比较器602的两个信号(即脉冲信号506和信号608)的相位彼此相同。因此，PLL 507基于脉冲信号506产生信号405。
当从二值电路505输出的脉冲信号506和从双稳态多谐振荡器605输出的信号405输入到边缘间隔测量电路508的时候，边缘间隔测量电路508测量两个脉冲的边缘间隔，t0，t1，t2，t3，t4，t5，t6，t7，t8，t9，...并输出表示边缘间隔的信号509到抖动计算电路510(参见图13)。
抖动计算电路510对边缘间隔进行积分。
图14是示出边缘间隔分布的图。抖动计算电路510例如基于边缘间隔的分布计算标准偏差，并输出表示计算结果的信号407到记录条件确定装置408。记录条件确定装置408基于信号407寻找最优记录条件。
参考文件日本专利公开出版物No.2000-200418。
然而在记录数据的最短标记长度非常短的情况下，因为例如符号间(inter-symbol)干扰(参见图15)，使得边缘间隔分布的部分有时超过窗口宽度。即使在这种情况下，将总数作为整体考虑，偏离于正态分布的部分非常小。由于标准偏差的支配元素是分布的中间部分，抖动的增加比较小。然而实际上，由于分布超过窗口宽度，就出现误差。因此，增加了产生误差的可能性。即，即使产生误差的可能性不同，抖动也可以是一样的。为此原因，有时候很难估计仅来自抖动的误差产生的准确可能性。
考虑到上述问题，本发明的一个目的是提供一种记录方法，可以甚至在最短的标记长度短于其常规具有的长度时，进行数据的准确记录。
发明内容
本发明的记录方法用于在多个记录条件的一个记录条件之下在记录介质上记录信息。该记录方法包括以下步骤(a)在多个记录条件下在记录介质上记录多条测试信息；以及(b)在多个记录条件的一个记录条件下在记录介质上记录信息，其中步骤(b)包括以下步骤(b-1)计算通过再现记录在记录介质上的多个测试信息获得的多个测试信号的每个与至少一个需要的信号之间的差异；以及(b-2)通过参照计算的差异，选择多个记录条件的一个记录条件，由此实现上述目的。
步骤(a)可以包括以下步骤(a-1)确定初始条件；以及(a-2)基于初始条件确定至少一个记录条件。所述多个记录条件包括初始条件以及确定的至少一个记录条件。
步骤(b-1)可以包括以下步骤通过从该记录介质再现多条测试信息，来获得多个测试信号；对该多个测试信号执行最大似然解码，以产生多个表示该最大似然解码结果的二值信号；以及基于多个测试信号和多个二值信号，计算该最大似然解码的结果的可靠度，以及步骤(b-2)可以包括以下步骤基于表示可靠度的多个值，选择所述多个记录条件中的一个记录条件。
步骤(b-2)可以包括下面的步骤从多个记录条件中，选择对应于表示可靠度的多个值中最小值的记录条件。
步骤(b-1)可以包括下面的步骤通过再现记录介质上的多条测试信息获得多个测试信号；基于多个测试信号的每个产生多个路径；以及基于多个测试信号的每个和多个路径，计算表示多个测试信号可靠度的多个指数，且步骤(b-2)可以包括以下步骤基于多个指数，选择多个记录条件中的一个记录条件。
步骤(b-2)可以包括以下步骤从多个记录条件中，选择对应于多个指数中最小值的记录条件。
可以将用于选择的优先级分给多个记录条件。
步骤(b)可以包括下面的步骤依照所选择的一个记录条件，确定光束中包括的多个光脉冲的相对位置；以及通过以光束照射该记录介质，在该记录介质上形成具有预定长度的多个记录标记。
具有预定长度的所述多个记录标记可以包括最短记录标记。
具有预定长度的所述多个记录标记可以包括第二短的记录标记。
在生产记录介质的时候，可以将初始条件记录在该记录介质上。
记录方法可以还包括以下步骤基于边缘偏移(edge shift)量和抖动中至少一个，确定预定记录条件，其中该预定记录条件包括在该多个记录条件之中。
步骤(a-1)可以包括下面的步骤确定该预定记录条件作为该初始条件。
本发明的记录装置用于在多个记录条件的一个记录条件下，在记录介质上记录信息。该记录装置包括第一记录装置，用于在多个记录条件下将多条测试信息记录到该记录介质上；以及第二记录装置，用于在多个记录条件的一个记录条件下，将信息记录到记录介质上，其中该第二记录装置包括计算单元，用于计算通过再现记录在记录介质上的多条测试信息所获得的多个测试信号的每个和至少一个所需信号之间的差异；以及选择单元，用于参照所计算的差异，选择多个记录条件中的一个记录条件，由此实现上述目的。
本发明的程序用于使得计算机在多个记录条件的一个记录条件下，执行在记录介质上记录信息的记录处理。其中该记录处理包括以下步骤(a)在多个记录条件下将多条测试信息记录到该记录介质上；以及(b)在多个记录条件的一个记录条件下，将信息记录到记录介质上，其中步骤(b)包括以下步骤(b-1)计算通过再现记录在记录介质上的多条测试信息所获得的多个测试信号的每个和至少一个所需信号之间的差异；以及(b-2)通过参照计算的差异，选择多个记录条件中的一个记录条件，由此实现上述目的。
本发明的记录控制装置用于在多个记录条件的一个记录条件下，在记录介质上记录信息。该记录控制装置包括计算单元，用于计算通过再现记录在记录介质上的多条测试信息所获得的多个测试信号的每个和至少一个所需信号之间的差异；以及选择单元，用于参照计算的差异，选择多个记录条件中的一个记录条件，由此实现上述目的。
根据本发明的记录方法，记录装置，程序以及记录控制装置，计算通过再现多条测试信息所获得的多个测试信号的每个和所需信号之间的差异，并且选择多个记录条件中的一个记录条件。因此，为了使得一个记录条件与对于该所需信号的条件一致，通过仅仅选择多个记录条件中的一个记录条件，可以在接近于该所需信号的条件的条件下，在该记录介质上记录信息。结果，就可以以简单的电路配置来优化记录参数。
此外，根据本发明的记录方法，在记录用户数据之前执行测试记录，使得在使得PRML误差指数M更小的条件下记录用户数据。因此，甚至在最短标记长度比较短的时候，可以执行准确的记录。
此外，根据本发明的记录方法，在记录用户数据之前执行测试记录，使得在使得PRML误差指数M更小的条件下记录用户数据。因此，可以准确地执行记录而不受到光盘质量变化和光盘装置质量变化的影响。
附图简述图1是示出状态转换规则的状态转换图A，该转换规则由具有为2的最小极性反转间隔(polarity reversal interval)以及均衡系统PR(1，2，2，1)的记录代码限定的；
图2是通过沿时间轴扩展状态转换图A而获得的格子(trellis)图；图3是示出Pa-Pb的分布的图；图4是示出依照本发明实施例的光盘装置100的配置的图；图5是示出光盘101的配置的图；图6是示出执行记录的时候光头102照射的光束波形的图；图7是示出记录在光盘上用于优化3T标记脉冲位置的测试信号；图8是描述用于优化脉冲位置确定多个条件的过程的图；图9是示出再现装置104配置的图；图10是示出常规光盘装置400的配置的图；图11是示出再现装置404的配置的图；图12是示出PLL 507的配置的图；图13是示出再现装置404中包括的多个构成元件产生的信号的图；图14是示出边缘间隔分布的图；图15是示出边缘间隔分布的另一个图。
100光盘装置101光盘102光头104再现装置106解调ECC电路108记录条件确定装置109记录补偿电路111记录功率设置装置112激光驱动电路201前置放大器202高通滤波器203AGC电路204波形均衡器205A/D转换器
206形状调整单元207最大似然解码器208可靠性计算单元发明详述此后，参照附图描述本发明的实施例。
首先，将描述依照本发明实施例的光盘装置引用的PRML误差指数M(此后简称为“指数M”)(参见“1.关于指数M”)。其次，将详细描述本发明实施例的光盘装置(参见“2.依照本发明实施例的光盘装置”)。
1.关于指数M将描述用于基于最大似然解码方法评估再现信号的指数M。通常认为最大似然解码方法是这样一种解码方法，其用于通过预先比较再现信号的波形和估计波形，来确定再现信号的波形模式，并基于确定的结果来解码再现的信号。
下面的描述基于其中记录代码的最小极化反间隔(minimumpolarity reversal interval)为2的例子，且调整信号的波形形状，使得信号的频率特性是PR(1，2，2，1)均衡。
在当前时间的记录代码表示为bk。在当前时间的一个时间单元之前的时间的记录代码表示为bk-1。在当前时间的二个时间单元之前的时间的记录代码表示为bk-2。在当前时间的三个时间单元之前的时间的记录代码表示为bk-3。PR(1，2，2，1)均衡的理想输出值Levelv由下面的等式表示。
Levelv＝bk-3+2bk-2+2bk-1+bk其中k是表示时间的整数，v是从0到6的任何一个整数。
表1是其中时间k的状态用S(bk-2，bk-1，bk)表示的状态转换表。
表1由为2的最小极化反间隔和PR(1，2，2，1)限制所限定的状态转换表
图1是具有为2的最小极化反间隔以及均衡系统PR(1，2，2，1)的记录代码所限定的状态转换规则的状态转换图A。
S0k表示时间k的状态S(0，0，0)k。S1k表示时间k的状态S(0，0，1)k。S2k表示时间k的状态S(0，1，1)k。S3k表示时间k的状态S(1，1，1)k。S4k表示时间k的状态S(1，1，0)k。S5k表示时间k的状态S(1，0，0)k。
图2是通过沿时间轴扩展状态转换图A得到的格子图。
将参照图1和图2描述具有为2的最小极化反间隔和均衡系统PR(1，2，2，1)的记录代码所限定的状态转换。
关注时间k的状态S0k以及时间k-4的S2k-4。图2是示出可以在状态S0k以及状态S2k-4中的两个状态转换序列(路径A和路径B)的图。路径A的转换是状态S2k-4，状态S4k-3，状态S5k-2，状态S0k-1，以及状态S0k。路径B的转换是状态S2k-4，状态S3k-3，状态S4k-2，状态S5k-1，以及状态S0k。
假设(Ck-6，Ck-5，Ck-4，Ck-3，Ck-2，Ck-1，Ck)表示从时间k-6到时间k的最大似然解码的结果。在此情况下，在获得解码结果以满足(Ck-6，Ck-5，Ck-4，Ck-3，Ck-2，Ck-1，Ck)＝(0，1，1，x，0，0，0)(其中x是0或1的值)时，就估计路径A和路径B的哪一个更有可能发生。由于时间k-4的状态为82k-4的可能性对于路径A和路径B是一样的，就可以通过计算时间k-3的再现信号yk-3到时间k的再现信号yk的每个，以及路径A和路径B上的每个预计值之间的差的平方值的总和，找出路径A和路径B中的哪一个更有可能。
Pa表示时间k-3的再现信号yk-3以及时间k-3时路径A上预计值之间差异的平方值；时间k-2的再现信号yk-2以及时间k-2时路径A上预计值之间差异的平方值；时间k-1的再现信号yk-1以及时间k-1时路径A上预计值之间差异的平方值；以及时间k的再现信号yk以及时间k时路径A上预计值之间差异的平方值的总和。Pa由下面的等式1表示。
等式1Pa＝(yk-3-4)2+(yk-2-3)2+(yk-1-1)2+(yk-0)2Pb表示时间k-3的再现信号yk-3以及时间k-3时路径B上预计值之间差异的平方值；时间k-2的再现信号yk-2以及时间k-2时路径B上预计值之间差异的平方值；时间k-1的再现信号yk-1以及时间k-1时路径B上预计值之间差异的平方值；以及时间k的再现信号yk以及时间k时路径B上预计值之间差异的平方值的总和。Pb由下面的等式2表示。
等式2Pb＝(yk-3-5)2+(yk-2-5)2+(yk-1-3)2+(yk-1)2因此，Pa-Pb示出最大似然解码结果的可靠性。
图3示出Pa-Pb的分布。将描述Pa-Pb表示的差异的含义。当满足Pa＜＜Pb的时候，最大似然解码单元以较高可能性选择路径A。在满足Pa＞＞Pb的时候，最大似然解码单元以较高可能性选择路径B。在满足Pa＝Pb的时候，最大似然解码单元以50％的可能性选择路径A或路径B，且最大似然解码单元的解码结果正确的可能性为50％。以此方式，可以基于预定时间段或预定次数的解码结果，通过计算Pa-Pb，获得Pa-Pb的分布。
图3(a)示出基于叠加有噪声的再现信号而计算的Pa-Pb的分布。该分布具有两个峰值。峰值之一表示Pa＝0的时候频率具有局部最大，同时另一峰值表示Pb＝0的时候频率具有局部最大。
计算Pa-Pb的绝对值，且计算|Pa-Pb|-Pstd。这里，-Pstd表示Pa-Pb的值(其中Pa＝0)，同时Pstd表示Pa-Pb的值(其中Pb＝0)。
图3(b)示出|Pa-Pb|-Pstd的分布。计算图3(b)所示分布的标准偏差σ以及平均值Pave。假设图3(b)所示的分布是正态分布，且其中误差发生的状态定义为这样一种状态，其中表示解码结果可靠度的|Pa-Pb|的值等于或小于基于σ和Pave的-Pstd。在此情况下，通过下面等式3表示误差可能性P(σ，Pave)。
等式3P(σ，Pave)＝erfc((Pstd+Pave)/σ)可以使用从Pa-Pb分布计算得到的平均值Pave和标准偏差σ，来估计表示最大似然解码结果的二值信号的误差可能性。即，平均值Pave和标准偏差σ可以用作再现信号的质量的指数。
在上述例子中，假设|Pa-Pb|的分布是正态分布。然而，甚至在分布不是正态分布的时候，可以在|Pa-Pb|-Pstd的值等于或小于预定参考值的时候，计算次数。在此情况下，计算的次数可以用作信号质量的指数。
在使用了具有为2的最小极化反间隔和均衡系统PR(1，2，2，1)的记录代码限定的状态转换规则的时候，在作出状态转换时，对于用两种可能的状态转换序列的结合，在时间k-4到时间k的范围中有八种模式，而在从时间k-5到时间k的范围中有十六种模式。
重要的一点在于，通过仅探测其中获得误差的可能性较大(即误差可能性)的模式，而不探测所有的模式，使用表示作为再现信号质量指数的可靠性的Pa-Pb值，使得可以使用探测结果作为与误差可能性相关的指数。这里，使得误差的可能性较大的模式被称作这样一种模式，其中Pa-Pb值的每个表示可靠性较低。有八种这样的模式，其中Pa-Pb＝±10。下面的表2示出了这八个模式和Pa-Pb值的总结。
表2具有两种可能的状态转换的最短状态转换的组合
通过总结这八个模式中表示解码结果可靠性的Pa-Pb的值，获得下面的表达式4。
表达式4模式1在(Ck-6，Ck-5，Ck-4，Ck-3，Ck-2，Ck-1，Ck)＝(0，1，1，x，0，0，0)时，Pa-Pb＝(Ek-3-Fk-3)+(Dk-2-Fk-2)+(Bk-1-Dk-1)+(Ak-Bk)模式2在(Ck-6，Ck-5，Ck-4，Ck-3，Ck-2，Ck-1，Ck)＝(1，1，1，x，0，0，0)时，Pa-Pb＝(Fk-3-Gk-3)+(Dk-2-Fk-2)+(Bk-1-Dk-1)+(Ak-Bk)模式3在(Ck-6，Ck-5，Ck-4，Ck-3，Ck-2，Ck-1，Ck)＝(0，1，1，x，0，0，1)时，Pa-Pb＝(Ek-3-Fk-3)+(Dk-2-Fk-2)+(Bk-1-Dk-1)+(Bk-Ck)模式4在(Ck-6，Ck-5，Ck-4，Ck-3，Ck-2，Ck-1，Ck)＝(1，1，1，x，0，0，1)时，
Pa-Pb＝(Fk-3-Gk-3)+(Dk-2-Fk-2)+(Bk-1-Dk-1)+(Bk-Ck)模式5在(Ck-6，Ck-5，Ck-4，Ck-3，Ck-2，Ck-1，Ck)＝(0，0，0，x，1，1，0)时，Pa-Pb＝(Ak-3-Bk-3)+(Bk-2-Dk-2)+(Dk-1-Fk-1)+(Ek-Fk)模式6在(Ck-6，Ck-5，Ck-4，Ck-3，Ck-2，Ck-1，Ck)＝(1，0，0，x，1，1，0)时，Pa-Pb＝(Bk-3-Ck-3)+(Bk-2-Dk-2)+(Dk-1-Fk-1)+(Ek-Fk)模式7在(Ck-6，Ck-5，Ck-4，Ck-3，Ck-2，Ck-1，Ck)＝(0，0，0，x，1，1，1)时，Pa-Pb＝(Ak-3-Bk-3)+(Bk-2-Dk-2)+(Dk-1-Fk-1)+(Fk-Gk)模式8在(Ck-6，Ck-5，Ck-4，Ck-3，Ck-2，Ck-1，Ck)＝(1，0，0，x，1，1，1)时，Pa-Pb＝(Bk-3-Ck-3)+(Bk-2-Dk-2)+(Dk-1-Fk-1)+(Fk-Gk)其中Ak＝(yk-0)2，Bk＝(yk-1)2，Ck＝(yk-2)2，Dk＝(yk-3)2，Ek＝(yk-4)2，Fk＝(yk-5)2，以及Gk＝(yk-6)2。
从最大似然解码结果Ck，可以获得满足等式4的Pa-Pb的值，以及从Pa-Pb的分布计算到的标准偏差σ10以及平均值Pave10。假设分布时正态分布的时候，得到误差P10的可能性表示为下列等式5。
等式5P10(σ10，Pave10)＝erfc((10+Pave10)/σ10)上述的八个模式是其中产生一位偏移误差的每个的模式。其他模式是其中产生两位或更多位的偏移误差的每个的模式。在PRML处理之后依照分析误差模式的结果，可以知道大多数误差模式表示一位偏移误差。因此，可以通过使用下面的等式6来估计再现信号的误差可能性。因此，可以使用标准偏差σ10以及平均值Pave10作为再现信号质量的指数。例如，在该指数称作指数M的时候，指数M可以通过下面的等式6定义。
等式6M＝σ10/(2*dmin2)[％]
其中dmin2是欧几里德距离最小值的平方。例如，当具有最小极化反间隔位为2的调制代码与PR(1，2，2，1)ML系统结合时，dmin2＝10＝Pstd。此外，等式5中的平均值Pave10假设为0，并在使用等式6的指数计算中不予考虑。
因此，已经完成了基于最大似然解码方法评估再现信号的指数(即指数M)的描述。
2.依照本发明实施例的光盘装置此后，将描述依照本发明实施例的光盘装置100的配置和操作。
图4示出依照本发明实施例的光盘装置100的配置。该光盘装置100配置为使得光盘101可以安装在其上。
图5示出光盘101的配置。在光盘101上形成沟道轨(groovetrack)601。该沟道轨601具有例如同心圆螺旋的形状。沟道轨601包括记录区域。
光盘装置100的配置将参照图4进行描述。光盘装置100包括光头102，再现装置104，解调ECC电路106，记录条件确定装置108，记录补偿电路109，记录功率设置装置111，以及激光驱动电路112。
图6示出了在执行记录的时候光头102照射的光束的波形。在本实施例中，假设依照游长受限(1，7)调制系统的数据使用标记边缘记录法记录。在此情况下，存在七种标记和空白，其中2T为最短且8T为最长(其中T表示基准周期)。应该注意，记录方法并不限于标记边缘记录方法，且可以使用任何其他记录方法。
用于光波形的参数包括表示记录功率的参数和表示脉冲位置的参数。表示记录功率的参数包括PW(峰值功率)，Pe(偏置功率)，以及Pbw(底部(bottorn)功率)。表示脉冲位置的参数包括Ttop，dTtop，Tmp以及dTe。这里，具有Tmp的宽度脉冲的上升位置且第一脉冲的dTtop的开始点是限定了与原始信号的相对关系的基准位置。
依照形成在光盘101上的标记长度调整脉冲数目。以一个脉冲记录2T标记，而以两个脉冲记录3T标记。随着形成在光盘101上的标记的长度变长1T，脉冲的数目增加一个。
总的来说，光波形的一些参数(例如，Pw(峰值功率)，Pe(偏置功率)，Pbw(底部功率)以及Tmp)并不依赖于标记长度，同时光波长的一些其他参数(例如，Ttop，dTtop以及dTe)依赖于标记长度。然而，可以任意确定如何设置光波形的参数。
参照图4描述光盘装置100的操作。如下所述，在多个记录条件的一个记录条件下，光盘装置100在光盘101上记录信息。例如，多个记录条件的每个表示光波形的参数。
在光盘101安装在光盘装置100上以及完成了光盘装置100的预定操作(诸如识别盘类型，控制旋转等)的时候，光头102这样控制，使得其移动到光盘101中包括的测试区域中。用于设置最优记录功率的测试信息以及最优脉冲位置记录在用于测试目的的测试区域中。例如，测试区域可以设置在光盘101的最内部轨上。然而，测试区域的位置不限于光盘101的最内部轨，只要测试区域设置在用于记录用户数据的用户区域外的记录区域内。例如，测试区域可以设置在光盘101的最外部轨中。
在执行测试记录的时候，记录功率设置装置111将记录功率的初始值(即峰值功率、偏置功率以及底部功率的初始值)设置到激光驱动电路112。在制造光盘101的时候，该记录功率的初始值预先记录在光盘101上。然而，可以在光盘101安装在光盘装置100上的时候，基于测试记录来计算记录功率的初始值，并将计算的初始值记录在光盘101上。
在基于测试记录计算的记录功率的初始值设置到激光驱动电路112的时候，考虑光盘质量的变化和光盘装置的质量变化来计算初始值，而不像这样一种情况，其中将在制造光盘101的时候预先记录在光盘101上的记录功率的初始值设置到激光驱动电路112。因此，在使用基于测试记录的初始值的时候，可以执行良好的记录，其中很好的保持了S/N(信号/噪声)比。
记录补偿电路109向激光驱动电路112发送信号110。
激光驱动电路112产生脉冲序列信号113，该信号依照将记录的标记的长度来整型。激光驱动电路112将脉冲序列信号113发送到光头102。光头102基于脉冲序列信号113测试-记录光盘101上的测试信号。从光头102上设置的半导体激光器输出的光束汇聚成为光盘101上的光斑，且半导体激光器依照光盘101上的光束形成记录标记。稍后将描述测试信号的细节。
可以在测试记录执行之前，仅以偏置功率在测试区域中记录数据。通过仅以偏置功率记录数据，可以从测试区域擦除信号，该信号在执行测试记录之前记录在测试区域中。结果，可以减少执行测试记录之前在测试区域中记录的信号可能给测试记录带来的影响。
来自光头102的激光束的波长接近405nm，且物镜的NA(数值孔径)接近0.85。最短的标记长度约为0.16微米。
图7示出用于优化3T标记脉冲位置的在光盘上记录的测试信号。测试信号具有各种条件，且在沟道轨上进行测试-记录。
沟道轨包括在测试区域内。在多个条件下将测试信号记录在沟道轨中。具体的说，测试信号A具有条件A，测试信号B具有条件B，测试信号C具有条件C，测试信号D具有条件D，这些信号以此顺序多次记录在沟道轨上。基于通过再现这些记录信号所获得的再现信号，可以减少在光盘101的圆周方向上倾斜的变化造成的影响以及光盘上污渍造成的损害。
表示脉冲位置初始值例如表示条件A。表示条件A的值可以预先记录在光盘101上。表示条件A的值可以基于测试记录的结果来预先计算。
脉冲位置初始值预先记录在光盘101上的例子是这样一种情况，其中描述了生产光盘时，在同样条件下生产的多个光盘中使用同样的值。例如，可以预先通过摆动(wobbling)轨来记录这种公用值。基于测试记录的结果来预先计算脉冲位置初始值的例子是这样一种情况，其中针对光盘101先优化过的记录参数记录在测试区域中。当生产光盘101时记录的值以及针对光盘101先优化过的记录参数值都记录在光盘101上的时候，希望使用已经先针对光盘101优化过的记录参数的值。由于考虑光盘质量变化和光盘装置质量变化，来计算针对光盘101先优化过的记录参数的值，就可以基于这样的值来执行其中很好保持S/N比的良好记录。
应该注意，取代在轨的一圈上记录四个条件，可以在轨的一圈上记录一个条件，或是对于一个测试记录使用多于一圈的轨。在样本的数量较大的时候，改进了优化处理的精确程度。
图8是说明确定用于优化脉冲位置的多个条件的过程的图。应该注意，确定用于优化脉冲位置的多个条件的过程通过记录条件确定装置108和记录补偿电路109中至少一个来执行。
将参照图8描述优化脉冲位置使用的条件的确定过程。
将参照图8(a)描述优化3T标记脉冲位置使用的条件的确定过程。
条件A确定为表示脉冲位置的初始值。表示条件A的值可以预先记录在光盘101上，或是基于测试记录结果预先计算。通过控制光头102，光盘装置100读取记录在光盘101上的初始值。
基于初始条件A，确定了条件B，条件C以及条件D。例如，条件B是通过固定条件A的Ttop和dTtop，并使得条件A的dTe变小预定量(ΔdTe)来确定的。条件C是通过使得条件A的Ttop变大预定量(ΔTtop)，并使得条件A的dTtop变大预定量(ΔdTtop)，并进一步固定条件A的dTe来确定的。条件D是通过使得条件A的Ttop变大预定量(ΔTtop)，并使得条件A的dTtop变大预定量(ΔdTtop)，并进一步使得条件A的dTe变小预定量(ΔdTe)来确定的。
应该注意脉冲位置的改变步幅(例如，ΔTtop，ΔdTtop和ΔdTe)是在窗口宽度大约1％到7％的范围内。
将参照图8(b)描述优化2T标记脉冲位置使用的条件的确定过程。
条件a确定为表示脉冲位置的初始值。表示该条件a的值可以预先记录在光盘101上，或是可以基于测试记录的结果预先计算。
通过固定条件a的Ttop和dTtop，并使得条件a的dTe增大预定量(ΔdTe)来确定条件b。条件c是通过使得条件a的Ttop变大预定量(ΔTtop)，并使得条件a的dTtop变大预定量(ΔdTtop)，并进一步固定条件a的dTe来确定的。条件d是通过使得条件a的Ttop变大预定量(ΔTtop)，并使得条件a的dTtop变大预定量(ΔdTtop)，并进一步使得条件a的dTe变大预定量(ΔdTe)来确定的。
此外，通过固定条件a的Ttop和dTtop，并使得条件a的dTe变小预定量(ΔdTe)来确定条件b’。条件c’是通过使得条件a的Ttop变小预定量(ΔTtop)，并使得条件a的dTtop变小预定量(ΔdTtop)，并进一步固定条件a的dTe来确定的。条件d’是通过使得条件a的Ttop变小预定量(ΔTtop)，并使得条件a的dTtop变小预定量(ΔdTtop)，并进一步使得条件a的dTe变小预定量(ΔdTe)来确定的。
应该注意，脉冲位置的改变步幅(例如，ΔTtop，ΔdTtop以及ΔdTe)在窗口宽度大约1％到7％的范围内的。
指数M最小的条件是通过设定表示2T标记的脉冲位置的参数为条件a、条件b、条件c和条件d(参见图8(b))来临时确定的，并记录和再现表示这些条件的测试信号。随后，指数M最小的另一条件是通过设定表示2T标记的脉冲位置的参数为条件a、条件b’、条件c’和条件d’(参见图8(b))来临时确定的，并记录和再现表示这些条件的测试信号。在临时确定的两种条件中，指数M更小的条件被确定为表示2T标记的脉冲位置的条件。
在改变3T标记的脉冲位置的时候，3T标记之外的标记的脉冲位置不变。类似地，在改变2T标记的脉冲位置的时候，2T标记之外的标记的脉冲位置不变。将记录的数据可以是随机模式的，或者可以固定为特定模式。希望脉冲位置的改变步骤在窗口宽度的大约1％到7％的范围之内。
用于使得指数M更小的一种方法在于准确识别2T标记和3T标记。通过优化2T标记和3T标记之一或两者的脉冲位置，如本实施例所述，可以更准确地执行记录。
应该注意，本实施例中，3T标记的最优脉冲位置通过在四个条件下的测试-记录和再现在单个处理中确定，而2T标记的最优脉冲位置通过使用七个条件的测试-记录和再现在两个处理中确定。然而，确定脉冲位置的过程并不限于此例子。此外，本实施例中，同时确定Ttop和dTtop；然而确定Ttop和dTtop的过程并不限于此例子。
此外，在本实施例中，3T标记以对应于四个条件的脉冲位置记录，且初始条件之外的三个条件是3T标记记录为较长的条件。由于可以更准确的识别出现频率程度更高的2T标记，因此在使用较长3T标记的条件的时候找到最优条件的可能性更高。
此外，在本实施例中，2T标记以对应于七个条件的脉冲位置来记录。由于2T信号的S/N比很大程度上依赖于光盘的变化和光盘装置的变化而改变，所以不执行仅使用特定方向的搜索。应该注意，在图8(b)中，本实施例中不对于右上的条件和左下的条件进行搜索，因为可能有这样一种危险，其中标记长度可能很大程度上不同于初始状态。
此外，在以与本实施例使用一样的步骤确定初始条件的情况下，或是以抖动变得较小的常规例子中一样的步骤确定初始条件的情况下，在2T和3T标记依照本实施例来记录的时候，确定所使用脉冲的条件是有效的。在没有证据表示初始条件和最优条件彼此接近的时候，可以使用不同于本实施例中条件的条件来确定脉冲。
回头参照图4，继续描述光盘装置100的操作。
在表示3T标记的脉冲位置的测试信号A、测试信号B、测试信号C以及测试信号D的测试记录已经完成的时候，激光驱动电路112控制光头102，使得光头102再现记录在光盘101上的测试信号A、测试信号B、测试信号C以及测试信号D。通过再现测试信号A、测试信号B、测试信号C以及测试信号D产生的再现信号103输入到再现装置104。再现信号103依赖于是否在光盘101上形成记录标记而改变。
图9示出再现装置104的配置。再现装置104包括前置放大器201，高通滤波器202，AGC电路203，波形均衡器204，A/D转换器205，形状调整单元206，最大似然解码器207，以及可靠性计算单元208。
形状调整单元206例如可以是数字滤波器，其接收A/D转换器205产生的数字信号，并调整数字信号的波形形状使得该数字信号具有预定的均衡特性。
最大似然解码器207例如可以是Viterbi解码电路，其对于已经调整过波形、由形状调整单元206输出的数字信号执行最大似然解码，并且产生表示最大似然解码结果的二值信号。
可靠性计算单元208例如可以是差分度量(differential metric)分析设备，其基于由形状调整单元206输出的已经调整波形的数字信号，以及最大似然解码器207输出的二值信号，来计算最大似然解码结果的可靠性。最大似然解码结果的可靠性由形状调整单元206输出的已经调整波形的数字信号，以及最大似然解码器207输出的二值信号之间的不同来表示，或是通过由形状调整单元206输出的已经调整波形的数字信号，以及基于最大似然解码器207输出的基于二值信号而产生的信号之间的不同来表示。
前置放大器201放大信号103。在通过高通滤波器202执行的AC耦合之后，放大的信号103输入到AGC 203。AGC 203调整增益，使得波形均衡器204的输出具有特定的幅度。AGC 203输出的再现信号的波形通过波形均衡器204来调整。已经调整过波形的再现信号输入到A/D转换器205中。A/D转换器205使用时钟209对再现信号执行采样。基于再现的信号通过PLL(图中没有示出)产生时钟209。
通过由A/D转换器205执行的采样所产生的再现信号输入形状调整单元206。形状调整单元206调整再现信号的频率(即，调整再现信号的波形的形状)，使得在记录时间和在再现时间的再现信号频率特性与最大似然解码器207估计的特性一致(例如，本实施例中的PR(1，2，2，1)均衡特性)。
最大似然解码器207对形状调整单元206输出的已经调整波形的再现信号执行最大似然解码，从而产生二值信号。可靠性计算单元208接收形状调整单元206输出的已经调整波形的再现信号以及二值信号。可靠性计算单元208从二值信号确定状态转换。可靠性计算单元208基于确定结果和数据210，计算表示解码结果可靠性的指数M(参见等式6)。可靠性计算单元208基于对应于多个测试信号A’的再现信号计算多个指数M’，并进一步计算已经计算出的多个指数M’的平均值。可靠性计算单元208相对于多个测试信号B’、多个测试信号C’、以及多个测试信号D’，以对于多个测试信号A’一样的方式，进一步计算多个指数M’的平均值。
输出结果107发送到记录条件确定装置108。输出结果107包括上述计算的平均值。
记录条件确定装置108选择(或确定)对应于输出结果107中包括的多个平均值中最小一个的条件，作为3T标记脉冲位置的条件。应该注意，在具有若干平均值彼此相等或类似于的时候，依照预先给定的优先级可以确定该值。例如，可以具有这样一种配置，其中基于多个测试信号C’的多个指数的平均值被优先于基于多个测试信号D’的多个指数的平均值。可以具有这样一种配置，其中基于多个测试信号B’的多个指数的平均值被优先于基于多个测试信号C’的多个指数的平均值。可以具有这样一种配置，其中基于多个测试信号A’的多个指数的平均值被优先于基于多个测试信号B’的多个指数的平均值。
本发明不限于具有多个测试信号A’、多个测试信号B’、多个测试信号C’、以及多个测试信号D’的配置。测试信号A、B、C和D中任何一个以单一形式存在的时候，没有必要基于多个测试信号计算指数的平均值。
在上面的描述中，说明了这样一个实施例，其中对于多个测试信号执行最大似然解码，随后产生表示最大似然解码处理的结果的多个二值信号，使得可靠性计算单元208基于多个测试信号和多个二值信号，计算表示解码处理结果可靠性的指数M’；然而，表示可靠性的指数的计算不限于此例子。例如，在基于测试信号表示最大似然解码器207产生多个路径的信号输入到可靠性计算单元208的时候，可靠性计算单元208基于测试信号和多个路径，计算表示测试信号可靠性的多个指数。例如，该可靠性计算单元208计算测试信号和路径A之间的差别，以及测试信号和路径B之间的差别。可靠性计算单元208通过参照这些差别，计算表示测试信号可靠性的指数。记录条件确定装置408可以基于表示多个测试信号中每个的可靠性的多个指数，选择多个记录条件中的一个记录条件。
如到现在所描述的，已经最优地确定了表示3T标记脉冲位置的参数。光束中包括的多个光脉冲的相对位置依照此参数来确定。通过以光束照射光盘101，可以在光盘101上形成最优3T标记。
表示2T标记的脉冲位置的参数优化以与对表示3T标记的脉冲位置的参数优化采用一样的方式执行。
将描述最优确定表示2T标记的脉冲位置的参数的过程。
在表示2T标记脉冲位置的测试信号a、测试信号b、测试信号c、测试信号d、测试信号b’、测试信号c’、以及测试信号d’的测试记录已经完成的时候，激光驱动电路112控制光头102，使得光头102再现记录在光盘101上的这些测试信号。通过再现这些测试信号产生的再现信号103被输入到再现装置104中。该再现信号103依赖于记录标记是否形成在光盘101上而改变。
可靠性计算单元208基于对应于多个测试信号a’的再现信号计算多个指数M，，并进一步计算已经计算出来的多个指数M’的平均值。可靠性计算单元208还对于多个测试信号b’、多个测试信号c’、以及多个测试信号d’，以与多个测试信号a’相同的方式来计算多个指数M的平均值。
输出结果107发送到记录条件确定装置108。输出结果107包括上面计算的平均值。
记录条件确定装置108使得条件的第一临时确定作为2T标记的脉冲位置的条件，其中该临时确定的条件对应于输出结果107包括的多个平均值的最小一个。
此外，可靠性计算单元208对于多个测试信号a’、多个测试信号(b’)’、多个测试信号(c’)’、以及多个测试信号(d’)’，计算多个指数M’的平均值。
输出结果107被发送到记录条件确定装置108。输出结果107包括上面计算的平均值。
记录条件确定装置108使得条件的第二临时确定作为2T标记的脉冲位置的条件，其中该临时确定的条件对应于输出结果107包括的多个平均值的最小一个。
记录条件确定装置108确定对应于若干条件的最小值的条件，作为2T标记的脉冲位置的条件，其中该若干条件是在第一和第二临时确定中获得的。
在基于对第一临时确定而计算的测试信号a的指数M、以及基于对第二临时确定而计算的测试信号a的指数M彼此不同的时候，将这些指数的每个标准化，使得将对应于最小值的条件确定为T标记的脉冲位置的条件。例如，基于多个测试信号b’的指数、基于多个测试信号c’的指数、以及基于多个测试信号d’的指数，基于指数M来标准化，其中M是基于对于第一临时确定计算的测试信号的。此外，基于多个测试信号(b’)’的指数、基于多个测试信号(c’)’的指数、以及基于多个测试信号(d’)’的指数，基于指数M来标准化，其中M是基于对于第二临时确定而计算的测试信号的。应该注意，在执行记录以确定2T标记的脉冲位置的条件的时候，确定前面紧临的3T标记的脉冲位置的条件被表现出来(reflected)。
应该注意，在有若干平均值彼此相等或是相似的时候，该值可以依照预先指定的优先级确定。例如，可以接受这样一种配置，其中基于多个测试信号c’的多个指数的平均值被优先于基于多个测试信号d’的多个指数的平均值。可以接受这样一种配置，其中基于多个测试信号b’的多个指数的平均值被优先于基于多个测试信号c’的多个指数的平均值。可以接受这样一种配置，其中基于多个测试信号a’的多个指数的平均值被优先于基于多个测试信号b’的多个指数的平均值。可以接受这样一种配置，其中基于多个测试信号(c’)’的多个指数的平均值被优先于基于多个测试信号(d’)’的多个指数的平均值。可以接受这样一种配置，其中基于多个测试信号(b’)’的多个指数的平均值被优先于基于多个测试信号(c’)’的多个指数的平均值。可以接受这样一种配置，其中基于多个测试信号(a’)’的多个指数的平均值被优先于基于多个测试信号(b’)’的多个指数的平均值。此外，优先级可以按照以下的顺序给出多个测试信号a’、多个测试信号(b’)’、多个测试信号b’、多个测试信号(d’)’、多个测试信号(c’)’、多个测试信号d’以及多个测试信号c’。或者，优先级可以按照以下的顺序给出多个测试信号a’、多个测试信号b’、多个测试信号(b’)’、多个测试信号d’、多个测试信号c’、多个测试信号(d’)’以及多个测试信号(c’)’。
此外，本发明不限于具有多个测试信号a’、多个测试信号b’、多个测试信号c’、多个测试信号d’、多个测试信号(b’)’、多个测试信号(c’)’以及多个测试信号(d’)’的配置。当这些测试信号中的任何一个以单一形式存在的时候，不需要基于多个测试信号来计算指数的平均值。
如到现在所说明的，已经最优确定了表示2T标记的脉冲位置的参数。光束中包括的多个光脉冲的相对位置依照此参数来确定。通过以光束照射光盘101，就可以在光盘101上形成最优的2T标记。
总的来说，在依照本实施例的光波形的参数之中，依照一步中改变而变化的记录标记形状，对于dTe的量小于对于Ttop或对于dTtop的量。通过赋予初始条件最高优先级，并赋予记录标记形状变化较小量的条件第二高优先级，可以确定一种条件，其满足依照本实施例的初始条件以及脉冲位置改变条件。因此，就可以改进再现装置中的再现稳定性，其中该再现装置不具有依照本实施例的电路配置。
例如，在确定初始条件以使得其等于或者小于预定抖动的情况下，通过类似于本实施例中来设置优先级，就可以确定使得抖动和指数M比较好的脉冲位置。如上所述，时钟209从PLL输出，且由于抖动是对于PLL稳定操作的指数，所以通过找到使得抖动和指数M较好的条件，就可以执行更准确的记录和再现。此外，将初始条件确定为这样一种条件的时候，即由于图11所示的电路配置，通过上述条件使来自边缘间隔测量电路508的输出信号比较小，这样，通过依照本实施例设置优先级，就可以确定脉冲位置，使得边缘偏移比较小并且指数M较好。因此，依照本实施例，就可以基于边缘偏移量和抖动中至少一个确定初始条件。
如到现在所说明的，通过使用本发明实施例的记录方法，通过在执行用户数据记录之前执行测试记录，并随后在使得指数M比较小的条件下执行用户数据记录，就可以甚至在最短标记长度比较短的时候执行准确的记录。
为了确定用于优化2T标记脉冲位置的条件以及用于优化3T标记脉冲位置的条件，通过一步仅对不同于初始条件的脉冲位置执行搜索，使得对于脉冲位置的运动具有限制。例如，在确定初始条件以使其等于或小于预定抖动的情况下，通过依照本实施例设置优先级，可以确定抖动退化较小且指数M较好的脉冲位置。此外，可以通过反复执行搜索步骤寻找脉冲位置，其不同之处在于2个或是更多步骤。在这种情况下，可以使用在一个步骤中确定的脉冲位置作为下个步骤的初始值。
此外，在将初始条件确定为记录条件的时候，其中以此条件由于图11所示的电路配置，使来自边缘间隔测量电路508的输出信号比较小，通过依照本实施例设置优先级，就可以确定一种脉冲位置，使得边缘偏移较小且指数M较好。
此外，可以通过执行测试记录确定表示记录功率的参数(峰值功率、偏置功率、底部功率等)。
此外，依照本实施例，使用指数M的量级作为基准确定脉冲位置的条件，即从八个模式(参见等式4)计算标准偏差σ10(参见等式5)；然而，可以具有这样一种配置，其中将八个模式分成各有四个模式的两组，使得从四个模式的每个组的标准偏差确定优化脉冲位置的条件。更具体的说，在表示标记的情况下，c的值是1(见等式4)的时候，模式1、模式2、模式3以及模式4与标记结束边缘相关，而模式5、模式6、模式7以及模式8与标记开始边缘相关。可以从结束边缘区别开始边缘，并以此方式用更高优先级来优化具有更大标准偏差的边缘。此外，从具有更高优先级的八个模式中以具有较大标准偏差的模式来优化边缘。
例如，在模式3中的标准偏差大于预定值的时候，就表示2T标记后面跟着3T空白的情况和3T标记后面跟着2T空白的情况之间没有明显的区别。因此，在这种情况下，通过使得2T标记的结束边缘的下降位置更早，或是通过使得3T标记的结束边缘的下降位置更晚，就再次执行记录，使得选择并确定具有更小标准偏差的那一个。应该注意，在以标记和空白的组合可以确定边缘位置的时候，通过以2T标记后面跟着3T空白的组合，使得2T标记的结束边缘的下降位置更早，或是通过以3T标记和2T空白的组合，使得3T标记的结束边缘的下降位置更晚，就再次执行记录，使得选择并确定具有更小标准偏差的那一个。因此，可以以更高的精确程度优化边缘位置。
例如以类似方式，在模式5的标准偏差大于预定值的时候，就表示3T或更多空白后面跟着3T标记的情况和4T或更多空白后面跟着2T空白的情况之间没有明显的区别。因此，在这种情况下，通过使得3T标记的开始边缘的上升位置更早，或是通过使得2T标记的开始边缘的上升位置更晚，就再次执行记录，使得选择并确定具有更小标准偏差的那一个。同样在此情况下，如果可以以标记和空白的组合确定边缘位置，通过以3T或更多空白和3T标记的组合，使得3T标记的开始边缘的上升位置更早，或是通过以4T或更多空白和2T空白的组合，使得2T标记的开始边缘的上升位置更晚，使得选择并确定具有更小标准偏差的那一个。因此，可以以更高的精确程度优化边缘位置。
此外，在本实施例中，对于3T标记和2T标记确定最优脉冲位置；然而，可以仅对于2T标记确定最优脉冲位置。由于通过优化2T标记的脉冲位置，2T标记具有最高的出现频率程度，就可以实现比使用常规技术更准确的记录，并缩短确定最优脉冲位置所需的时间。
依照本实施例，确定对于3T标记和2T标记的最优脉冲位置；然而，可以优化4T标记的脉冲位置。通过确定4T标记的最优脉冲位置，可以执行更准确的记录。类似的，在对确定最优脉冲位置所花掉的时间中具有一些可以允许的误差(leeway)时，可以对所有标记确定最优脉冲位置。
此外，在本实施例中，对于使用具有最小极化反间隔为2的代码作为记录代码，来执行PR(1，2，2，1)均衡的时候给出说明；然而本实施例不限于此例子。例如，上述实施例可以用于这样一种情况，其中记录代码具有为2的最小极化反间隔，诸如(1，7)调制代码。可以在这样一种情况中实施本发明，其中具有为3的最小极化反间隔的记录代码，诸如8-16调制代码，用在DVD中，通过使用状态转换规则，其中由于PR(1，2，2，1)均衡，在时间k存在六种状态，并限制可行的状态转换为六种状态，在时间k+1为八种可行的组合。因此，可以将本发明用于这样一种情况，其中使用的状态转换规则由具有为3的最小极化反间隔的记录代码以及PR(C0，C1，C1，C0)均衡系统来限定，或者用于这样一种情况，其中使用的状态转换规则由具有为2或3的最小极化反间隔的记录代码以及PR(C0，C1，C0)均衡系统来限定，或者用于这样一种情况，其中使用的状态转换规则由具有为2或3的最小极化反间隔的记录代码以及PR(C0，C1，C2，C1，C0)均衡系统来限定。在这些例子中，C0，C1，和C2都是任意正数。
这样就完成了本发明实施例光盘装置100的配置和操作的描述。
在图4和9示出的例子中，光盘装置100对应于“记录装置，用于在多个记录条件中的一个记录条件下在记录介质上记录信息”；光头102和激光驱动电路112对应于“第一记录装置，用于在多个记录条件下在记录介质上记录多条测试信息”；光头102、激光驱动电路112、记录条件确定装置108以及再现装置104对应于“第二记录装置，用于在多个记录条件中的一个记录条件下在记录介质上记录信息”；该可靠性计算单元208对应于“计算单元，用于计算通过再现记录在记录介质上的多个测试信息所获得的多个测试信号的每个和至少一个所需信号之间的差异”；且该记录条件确定装置108对应于“选择单元，用于参照计算的差异，选择多个记录条件中的一个记录条件”。
然而，本发明的光盘装置100不限于图4和9中示出的配置。只要实现了上述装置的功能，本发明的范围可以包括具有任意配置的任何装置。
例如，只要通过使用光盘装置100，可以参照通过再现记录在记录介质上的多个测试信息所获得的多个测试信号的每个和表示所需模式的所需信号之间的差异，本发明不限于其中由指数M表示差异的配置。可以通过比较测试信号的波形和预先估计的模式，来确定测试信号波形模式和预先估计的模式间的差异，并基于确定的结果选择记录条件。
此外，预先估计的模式不限于两种模式。只要至少有一种预先估计的模式，就可以通过计算所述至少一种模式和测试信号之间的差异，来选择多种记录条件中的记录条件。
此外，预先估计的模式不限于表示2T标记或2T空白的模式。该模式可以是表示nT标记或nT空白的一种模式(其中n是正整数)。此外，预先估计的模式可以是多个模式的组合。例如，预先估计的模式可以是表示2T标记的模式、表示2T空白的模式、以及表示3T标记的模式的组合。
此外，预先估计的模式不限于这样一种配置，其中这些模式预存储在光盘装置包括的存储单元中。预先估计的模式可以在再现测试信号之后通过光盘装置产生。原因在于，光盘装置预先知道具有理想形状的模式的形状是什么样子的。
此外，图4至9示出的实施例的每个装置可以通过硬件实施，或是可以用软件实施，或是可以用硬件和软件实施。不管每个装置是由硬件、软件或硬件和软件来实施的，可以以光盘装置执行本发明的记录处理，该记录处理包括以下步骤“在多个记录条件下在记录介质上记录多条测试信息”；“在多个记录条件的一个记录条件下在记录介质上记录信息”；“计算通过再现记录在记录介质上的多个测试信息所获得的多个测试信号的每个和至少一个所需信号之间的差异”以及“参照计算的差异，选择多个记录条件中的一个记录条件”。只要其可以执行上述步骤，本发明的记录处理可以具有任意过程。
例如，本发明的光盘装置在其中存储记录处理程序，用于使得可以执行光盘装置的功能。记录处理程序可以具有光盘装置执行的功能。
可以具有这样一种配置，其中在运送计算机的时候，这种记录处理程序预先存储在光盘装置中包括的存储装置中。或者，可以有这样一种配置，其中在运送计算机之后，这种记录处理程序存储在存储装置中。例如，可以具有这样一种配置，其中通过交纳或不交纳费用，用户从互联网的特定网站上下载这种记录处理程序，并将下载的程序安装到计算机上。在记录处理程序记录在诸如软盘、CD-ROM、DVD-ROM等计算机可读记录介质中的情况下，可以具有这样一种配置，其中使用输入装置(例如盘驱动装置)将存取处理安装在计算机上。已经安装的该记录处理程序将存储在存储装置中。
此外，记录控制装置(即形状调整单元206、最大似然解码单元207、以及可靠性计算单元208、以及记录条件确定装置108)可以制造为单芯片LSI(半导体集成电路)，或是单芯片LSI的一部分。在记录控制装置生产为单芯片LSI的情况下，可以使得光盘装置的生产过程更加容易。
本发明参照本发明优选实施例来描述。然而，本发明不应被解释为限于这些实施例。应该认识到，本发明的范围仅通过权利要求来解释。应该认识到本领域技术人员可以从具体优选实施例的描述中，基于本发明的描述和公知的技术知识，来实施同样的范围。可以认识到，这里引用的专利、专利申请以及引用文件以如同将其全部描述的方式，在此通过参考来引入。
工业应用本发明的记录方法可用于在光盘上执行高密度记录。
根据本发明的记录方法、记录装置、程序和记录控制装置，计算再现多个测试信息获得的多个测试信号以及所需信号之间的差异，且选择多个记录条件中的一个记录条件。因此，通过仅选择多个记录条件中的一个记录条件，以使得一个记录条件与所需信号的条件相符，可以在接近于所需信号条件的条件下，在记录介质上记录信息。结果，可以以简单的电路配置优化记录参数。
此外，根据本发明的记录方法，在记录用户数据之前执行测试记录，使得在使得PRML误差指数M更小的条件下记录用户数据。因此，甚至在最短标记长度较短的时候，可以准确执行记录。
此外，依照本发明的记录方法，在记录用户数据之前执行测试记录，使得在使得PRML误差指数M更小的条件下记录用户数据。因此，可以不受光盘质量变化和光盘装置质量变化，来准确记录数据。
权利要求
1.一种记录方法，用于在多个记录条件的一个记录条件下在记录介质上记录信息，该记录方法包括以下步骤(a)在所述多个记录条件下在该记录介质上记录多条测试信息；以及(b)在所述多个记录条件的一个记录条件下在该记录介质上记录该信息，其中步骤(b)包括以下步骤(b-1)计算通过再现在该记录介质上记录的所述多条测试信息所获得的多个测试信号的每个与至少一个所需信号之间的差异；以及(b-2)通过参照所计算的差异，选择所述多个记录条件中的一个记录条件。
2.根据权利要求1的记录方法，其中步骤(a)包括以下步骤(a-1)确定初始条件；以及(a-2)基于该初始条件确定至少一个记录条件，以及所述多个记录条件包括该初始条件以及所确定的所述至少一个记录条件。
3.根据权利要求1的记录方法，其中步骤(b-1)可以包括以下步骤通过从该记录介质再现所述多条测试信息，来获得所述多个测试信号；对所述多个测试信号执行最大似然解码，以产生表示该最大似然解码结果的多个二值信号；以及基于所述多个测试信号和所述多个二值信号，计算该最大似然解码的结果的可靠度，以及步骤(b-2)包括以下步骤基于表示该可靠度的多个值，选择所述多个记录条件中的一个记录条件。
4.根据权利要求3的记录方法，其中步骤(b-2)包括下面的步骤从所述多个记录条件中，选择与表示该可靠度的多个值中最小值相对应的记录条件。
5.根据权利要求1的记录方法，其中步骤(b-1)包括以下步骤通过从该记录介质再现所述多条测试信息而获得所述多个测试信号；基于所述多个测试信号的每个而产生多个路径；以及基于所述多个测试信号的每个和所述多个路径，计算表示所述多个测试信号可靠度的多个指数，以及步骤(b-2)包括以下步骤基于所述多个指数，选择所述多个记录条件中的一个记录条件。
6.根据权利要求5的记录方法，其中步骤(b-2)包括以下步骤从所述多个记录条件中，选择对应于所述多个指数中最小值的记录条件。
7.根据权利要求1的记录方法，其中将被选择的优先级分给所述多个记录条件。
8.根据权利要求1的记录方法，其中步骤(b)包括以下步骤依照所选择的一个记录条件，确定光束中包括的多个光脉冲的相对位置；以及通过以该光束照射该记录介质，在该记录介质上形成具有预定长度的多个记录标记。
9.根据权利要求8的记录方法，其中具有预定长度的所述多个记录标记包括最短记录标记。
10.根据权利要求8的记录方法，其中具有预定长度的所述多个记录标记包括第二短的记录标记。
11.根据权利要求2的记录方法，其中在生产该记录介质的时候，将该初始条件记录在该记录介质上。
12.根据权利要求2的记录方法，还包括以下步骤基于边缘偏移量和抖动中至少一个，确定预定记录条件，其中该预定记录条件包括在所述多个记录条件之中。
13.根据权利要求12的记录方法，其中步骤(a-1)包括以下步骤确定该预定记录条件为该初始条件。
14.一种记录装置，用于在多个记录条件的一个记录条件下在记录介质上记录信息，该记录装置包括第一记录装置，用于在所述多个记录条件下将多条测试信息记录到该记录介质上；以及第二记录装置，用于在所述多个记录条件的一个记录条件下，将该信息记录到该记录介质上，其中该第二记录装置包括计算单元，用于计算通过再现在该记录介质上记录的所述多条测试信息所获得的多个测试信号的每个和至少一个所需信号之间的差异；以及选择单元，用于通过参照所计算的差异，选择所述多个记录条件中的一个记录条件。
15.一种使得计算机执行记录处理的程序，该记录处理用于在多个记录条件的一个记录条件下在记录介质上记录信息，其中该记录处理包括以下步骤(a)在所述多个记录条件下将多条测试信息记录到该记录介质上；以及(b)在所述多个记录条件的一个记录条件下，将该信息记录到该记录介质上，以及步骤(b)包括以下步骤(b-1)计算通过再现在该记录介质上记录的多条测试信息所获得的多个测试信号的每个和至少一个所需信号之间的差异；以及(b-2)通过参照所计算的差异，选择所述多个记录条件中的一个记录条件。
16.一种记录控制装置，用于在多个记录条件的一个记录条件下在记录介质上记录信息，该记录控制装置包括计算单元，用于计算通过再现在该记录介质上记录的多条测试信息所获得的多个测试信号的每个和至少一个所需信号之间的差异；以及选择单元，用于通过参照所计算的差异，选择所述多个记录条件中的一个记录条件。
全文摘要
本发明提供一种记录方法，用于在多个记录条件的一个记录条件下在记录介质上记录信息。该记录方法包括以下步骤(a)在所述多个记录条件下在该记录介质上记录多条测试信息；以及(b)在所述多个记录条件的一个记录条件下在该记录介质上记录信息，其中该步骤(b)包括步骤(b－1)，计算通过再现记录在该记录介质上的所述多个测试信息获得的多个测试信号的每个与至少一个所需信号之间的差异；以及(b－2)，通过参照所计算的差异，选择所述多个记录条件中的一个记录条件。
文档编号G11B7/125GK1902702SQ20048003957
公开日2007年1月24日 申请日期2004年11月1日 优先权日2003年10月31日
发明者东海林卫, 宫下晴旬, 小林勋, 佐藤孝广 申请人:松下电器产业株式会社