专利名称：基于聚焦误差的高倍速数字通用光盘的质量检测方法
技术领域：
本发明涉及一种基于聚焦误差的高倍速数字通用光盘的质量检测方法，尤其涉及数字通用光盘(以下简称DVD)的高倍速DVD盘片质量检测方法，属于光存储技术领域。
背景技术：
在目前DVD-player和DVD-ROM等光学盘片驱动设备中，光盘信息的记录与提取，是通过光盘驱动设备实现的，它将来自激光器的光束变成亚微米光斑，并根据从盘片反射的光学信号进行聚焦及信道伺服控制，克服在光盘旋转读取中的各种误差。尽管光盘驱动设备采用了伺服跟踪系统以校正读取过程中的各种误差，但是由盘片本身所引起的误差，如偏心、面振和反射率等，会对光盘驱动器及读出RF信号产生各种有害影响，如盘片偏心过大能使驱动器产生噪声，反射率过小将不能正常读出盘片信息等。
因此，在DVD盘片生产过程中，光盘测试的目的是为光盘提供盘片质量信息，剔除不合格盘片，提供对盘片复制线和生产环境参数进行调整的依据。
目前，在DVD光盘的工业生产过程中，传统的光盘电参数质量评价方法常以标准驱动器为核心，然后由信号评价模块判断盘片的质量。传统光盘电参数检测方法通常采用离线评价方式，即通常在盘片完成之后进行参数评价，并且评价一张盘片需要较长时间，盘片测试时旋转速度较低，相当于DVD盘片1～4倍速。
传统的光盘参数检测方法对于光盘质量检测可以基本满足需要。然而由于传统的光盘参数评价装置检测时间长，应用于光盘的在线质量管理时存在很大的局限性，不能实时反应光盘生产质量变化。并且传统的光盘电参数评价时盘片转速较低，不能反应出DVD盘片在高倍速情况下的读出信号质量，用来检测高倍速DVD盘片质量具有很大的局限性。
发明目的本发明的目的是提出一种基于聚焦误差的高倍速数字通用光盘的质量检测方法，利用高倍速下聚焦误差的变化对盘片质量进行动态检测，并且判断高倍速DVD的盘片质量。
本发明提出的基于聚焦误差的高倍速高密度盘片的质量检测方法，包括以下各步骤(1)设待测盘片的转速为n倍速，使检测系统初始化，用激光光束聚焦在光盘反射层上，光盘反射后得到原始反射光斑；(2)将上述反射光斑分成四个光斑区，对每个光斑区的光强进行光电转换，得到四个电压，分别代表四个光斑区的光强；(3)将上述代表四个光斑区光强的电压信号进行四则运算得到聚焦误差信号；(4)设定待测盘片质量所期望的抖晃值，并测定与该抖晃值所对应的标准盘片的聚焦偏置值；(5)将上述标准盘片的聚焦偏置值设定为待测盘片聚焦信号的峰峰值阀值，将上述待测盘片的聚焦误差信号与峰峰值阀值进行比较，若聚焦误差信号位于阀值内，则待测盘片质量合格，若聚焦误差信号位于阀值外，则待测盘片质量不合格。
本发明提出的基于聚焦误差的高倍速数字通用光盘的质量检测方法，其优点是对待测盘片的评价参数少，因此检测速度快，适于在线、大批量快速检测盘片的质量，提高盘片检测效率。
图1是利用本发明方法检测盘片质量的装置原理图。
图1中，1是盘片，2是物镜，3是光电探测器，4是主轴电机。
具体实施方法本发明提出的基于聚焦误差的高倍速数字通用光盘的质量检测方法，首先，设待测盘片的转速为n倍速，使检测系统初始化，用激光光束聚焦在光盘反射层上，光盘反射后得到原始反射光斑；将上述反射光斑分成四个光斑区，对每个光斑区的光强进行光电转换，得到四个电压，分别代表四个光斑区的光强；将上述代表四个光斑区光强的电压信号进行四则运算得到聚焦误差信号；设定待测盘片质量所期望的抖晃值，并测定与该抖晃值所对应的标准盘片的聚焦偏置值；将上述标准盘片的聚焦偏置值设定为待测盘片聚焦信号的峰峰值阀值，将上述待测盘片的聚焦误差信号与峰峰值阀值进行比较，若聚焦误差信号位于阀值内，则待测盘片质量合格，若聚焦误差信号位于阀值外，则待测盘片质量不合格。
本发明提出的基于聚焦误差的高倍速数字通用光盘的质量检测方法，其依据的原理如图1所示，下面将参照附图更详细地说明本发明的内容。在图1中，盘片1夹持在主轴电机4上。物镜2可使盘片反射的光成像于四像限探测器3上，并可以通过双轴力矩器沿跟踪和聚焦方向移动。于是本检测方法包括以下各步骤设定盘片的转速为n倍速(n≥4)，光盘一倍速的线速度为3.49m/s。
聚焦伺服闭环，径向伺服闭环，并调整系统，消除光电四像限探测器的径向和切向偏差，从光盘上反射可得到原始反射光斑。
将每个光斑区的光强进行光电转换，得到四个电压Ua、Ub、Uc、Ud，分别代表四个光斑区的光强。将上述四个电压信号进行四则运算得到聚焦误差信号Ua+Uc-Ub-Ud。
设定盘片质量所期望的抖晃Jitter值，测定该Jitter值所对应的聚焦偏置Defocus值为fe1。设定聚焦信号的峰峰值阀值为±fe1，若聚焦误差信号位于阀值内，则盘片质量合格，若聚焦误差信号位于阀值外，则盘片质量不合格。
权利要求
1.一种基于聚焦误差的高倍速高密度盘片的质量检测方法，其特征在于该方法包括以下各步骤(1)设待测盘片的转速为n倍速，使检测系统初始化，用激光光束聚焦在光盘反射层上，光盘反射后得到原始反射光斑；(2)将上述反射光斑分成四个光斑区，对每个光斑区的光强进行光电转换，得到四个电压，分别代表四个光斑区的光强；(3)将上述代表四个光斑区光强的电压信号进行四则运算得到聚焦误差信号；(4)设定待测盘片质量所期望的抖晃值，并测定与该抖晃值所对应的标准盘片的聚焦偏置值；(5)将上述标准盘片的聚焦偏置值设定为待测盘片聚焦信号的峰峰值阀值，将上述待测盘片的聚焦误差信号与峰峰值阀值进行比较，若聚焦误差信号位于阀值内，则待测盘片质量合格，若聚焦误差信号位于阀值外，则待测盘片质量不合格。
全文摘要
本发明涉及一种基于聚焦误差的高倍速高密度盘片的质量检测方法，属于光存储技术领域。首先设待测盘片的转速为n倍速，将光盘上的激光反射光斑分成四个光斑区，对每个光斑区对应的四个电压信号进行四则运算得到聚焦误差信号；设定待测盘片质量所期望的抖晃值，并测定与该抖晃值所对应的标准盘片的聚焦偏置值；将标准盘片的聚焦偏置值设定为待测盘片聚焦信号的峰峰值阀值，将上述待测盘片的聚焦误差信号与峰峰值阀值进行比较，若聚焦误差信号位于阀值内，则待测盘片质量合格，若聚焦误差信号位于阀值外，则待测盘片质量不合格。本发明的方法，对待测盘片的评价参数少，因此检测速度快，适于在线、大批量快速检测盘片的质量，提高盘片检测效率。
文档编号G11B7/26GK1758347SQ20051010240
公开日2006年4月12日 申请日期2005年9月9日 优先权日2005年9月9日
发明者马建设, 张建勇, 潘龙法, 徐端颐, 秦利琴 申请人:清华大学