专利名称：基于数据错误量度的记录速度控制的制作方法
技术领域：
本发明涉及基于监控测试数据错误的发生来确定在介质上写入数据的数据写入速度。
背景技术：
在旋转的光盘上进行径向和轴向寻轨的过程中，可能会发生寻轨错误。根据所述盘的标准，这些寻轨错误(或者说偏摆(runout))不能超出特定阈值。
对于例如使用16x的恒定角速度(CAV)的高速记录来说，在盘的外侧达到16x的高线速度。在这样的高写入速度下写入余量(writingmargin)很小，并且小于较低速度下的写入余量。因此，盘的外侧对于轴向和径向寻轨错误或者偏摆更为敏感。
在高记录速度下可能会发生严重的寻轨错误或者偏摆，并且可能导致较差的写入性能。一般对较小的偏摆进行纠错，但是通常无法对较大的偏摆进行正确的纠错。因此，大于特定尺寸的偏摆意味着在盘上发生了不可校正的数据错误。由于不可校正的数据错误是无法被容忍的，因此必须避免不可校正的数据错误。
日本专利申请JP-2003263767A公开了通过使用一个用于检测伺服信号紊乱的装置的检测结果而在对记录介质的预定区域进行试验写入的过程中测量伺服寻轨错误信号，以便最优化写入速度，其中所述试验写入是在预定的主线速度下进行的。此外，该文献似乎公开了在伺服寻轨错误超出特定阈值的情况下降低记录速度。
因此，所述文献的公开内容是基于伺服寻轨错误。这样的一个量度是寻轨困难的量度。很难把任何所检测到的寻轨错误与所写入数据的可能的数据错误相关联。某些寻轨错误并不会导致数据错误。出于这些原因，这样的量度对于可能的数据错误并不是最佳的。
因此，在确定优化的数据写入速度的处理中需要提供一种改进的量度。
发明内容
本发明涉及确定在介质上写入数据的数据写入速度，这是基于获得一个与可能的数据错误的发生相关的量度。
本发明的一个目的是提供基于数据错误量度的数据写入速度。
根据本发明的第一方面，上述目的是通过一种确定利用预定写入功率在介质上写入数据的数据写入速度的方法而实现的，该方法包括以下步骤利用第一数据写入速度在该介质上写入测试数据序列；从该介质上读取所写入的测试数据序列；确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度；以及根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度，由此优化所述数据写入速度。
根据本发明的第二方面，上述目的是通过一种利用按照以下步骤确定的数据写入速度在介质上写入数据的方法而实现的利用第一数据写入速度在该介质上写入测试数据序列；从该介质上读取所写入的测试数据序列；确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度；根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度，从而优化该数据写入速度；以及利用第一写入速度写入所述数据。
根据本发明的第三方面，上述目的是通过一种数据写入速度确定单元实现的，该数据写入速度确定单元用于确定利用预定写入功率在介质上写入数据的数据写入速度，该数据写入速度确定单元包括数据写入单元，其被设置成在该介质上写入测试数据序列；数据读取单元，其被设置成从该介质上读取写入测试数据序列；写入数据错误量度确定单元，其被设置成确定写入数据错误量度；写入速度选择单元，其被设置成根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度；以及连接到该数据写入单元、该数据读取单元、该写入数据错误量度确定单元和该写入速度选择单元的控制单元。所述控制单元被设置成把测试数据序列提供给该数据写入单元并且控制以下步骤利用第一数据写入速度在该介质上写入测试数据序列；从该介质上读取所写入的测试数据序列；确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度；以及根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度。所述数据写入速度从而得到优化。
根据本发明的第四方面，上述目的是通过一种包括数据写入速度确定单元的数据写入设备实现的，该数据写入速度确定单元用于确定利用预定写入功率在介质上写入数据的数据写入速度，该数据写入速度确定单元包括数据写入单元，其被设置成在该介质上写入测试数据序列；数据读取单元，其被设置成从该介质上读取所写入的测试数据序列；写入数据错误量度确定单元，其被设置成确定写入数据错误量度；写入速度选择单元，其被设置成根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度；以及连接到该数据写入单元、该数据读取单元、该写入数据错误量度确定单元和该写入速度选择单元的控制单元。所述控制单元被设置成把测试数据序列提供给该数据写入单元并且控制以下步骤利用第一数据写入速度在该介质上写入测试数据序列；从该介质上读取所写入的测试数据序列；确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度；以及根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度。其中，该数据写入设备还包括数据提供单元，其被设置成提供数据；数据介质驱动单元，其被设置成能够固定该数据介质以便能够在该数据介质上写入数据。所述数据写入速度从而得到优化。
根据本发明的第五方面，上述目的是通过一种计算机程序产品实现的，该计算机程序产品包括其上具有计算机程序代码装置的计算机可读介质，以便在所述计算机程序代码装置被加载到数据计算机或数据写入设备中时使得该计算机或该数据写入设备执行以下操作利用预定写入功率和第一数据写入速度在数据介质上写入测试数据序列；从该介质上读取所写入的测试数据序列；确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度；以及根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度。所述用于写入数据的数据写入速度从而得到优化。
根据本发明的第六方面，上述目的是通过一种计算机程序单元实现的，该计算机程序单元包括计算机程序代码装置以使得计算机或数据写入设备执行以下操作利用预定写入功率和第一数据写入速度在数据介质上写入测试数据序列；从该介质上读取所写入的测试数据序列；确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度；以及根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度。所述用于在介质上写入数据的数据写入速度从而得到优化。
在其上写入数据的介质可以是数字通用盘(DVD)。
本发明具有下列优点使用数据错误量度作为确定数据写入速度的基础是有利的，这是因为监控数据错误以便允许提供无错数据写入是很重要的。
独立权利要求所针对的内容及其优点如下权利要求2和12针对选择第二个较低的数据写入速度。
这些权利要求的优点在于，在选择了第二个较低的数据写入速度之后，所述数据错误量度减小。
权利要求5和6分别针对确定误块率和误比特率。
由于所述误块率和误比特率直接与可能的数据错误的发生相关，因此这些技术方案是有利的。
权利要求8针对在介质的一个部分中使用第一数据写入速度，以及在该介质的另一部分中使用与第二数据写入速度相关的速度。
这样做的优点在于，在无法完全为其使用第一数据写入速度的介质上写入数据所需的时间可以被最小化。
本发明的主旨是选择一个数据写入速度，其中对应于该速度的数据错误量度是可以接受的。
参照下面描述的实施例，本发明的这些和其他方面将变得显而易见。
现在将结合附图更为详细地描述本发明，其中图1是根据本发明的一个优选实施例的数据写入设备和数据写入单元的示意图；图2示出根据本发明的一个优选实施例的用于确定数据写入速度的方法的流程图；图3示出根据本发明的一个实施例的用于在介质上写入数据的方法的流程图；图4示出与本发明的一个实施例相关的光学介质；图5示出与本发明的一个实施例相关的另一个光学介质；以及图6示出根据本发明的一个优选实施例的光学介质。
具体实施例方式
因此，本发明涉及根据数据错误量度来确定在介质上写入数据的数据写入速度，其中所述数据错误量度直接反映了写入性能。
以高转速在光学介质上写入数据是一项具有挑战性的任务。
由于局部的盘变化，在盘上的高速写入对于盘驱动器提出了很高的要求。当在诸如光盘的数据介质上写入电子数据时，需要有高级寻轨性能以便支持高数据写入速度。
寻轨错误可能是径向的也可能是轴向的，并且如果在径向和轴向寻轨时的寻轨错误变得过大，则可能无法对所述寻轨错误进行正确的纠错。这导致不可恢复的数据错误。
由于当在数据介质上写入电子数据时不能容忍不可恢复的数据错误，因此优选地在测试阶段监控这种数据错误的发生，在该测试阶段期间，基于数据错误量度来确定数据写入速度，其中所述数据错误量度与被写入在该数据介质上的测试数据相关。
优选地，通过监控与可能在写入期间发生的数据错误直接相关联的写入参数来监控写入性能。这种写入参数的例子是与被写入在数据介质上的数据直接相关联的数据错误量度。误比特率(BER)和误块率(BLER)是所述数据错误量度的例子，并且下面将描述如何在用于确定在数据介质上写入电子数据的数据写入速度的所述方法中使用这些数据错误量度。
下面将参照图1解释本发明，该图示出数据写入设备的示意图。
根据本发明的一个实施例，用于确定数据写入速度的数据写入设备118包括数据写入速度确定单元100、数据提供单元116以及其中可以加载数据介质112的数据介质驱动单元114。根据本发明的一个实施例，数据介质112是数字通用盘(DVD)，但是其也可以是任何类型的盘，比如蓝光光盘、紧致盘(CD)或者迷你盘(MD)，这里只举出几个例子。
根据本发明的一个优选实施例，数据提供单元116是一个数据接口，通过该数据接口来传送将被存储在所述数据介质上的数据。然而，该数据提供单元116可以具有一定的存储容量，并且因此可以充当数据存储器，以用于存储将被写入在数据介质112上的一定量的电子数据的至少一部分。
如图1所示，数据写入速度确定单元100包括写入速度选择单元102、数据写入单元106、数据读取单元108和写入数据错误量度确定单元110，它们都连接到控制单元104，该控制单元104本身被包括在该数据写入速度确定单元100中。
此外，仍然如图1所示，数据写入速度确定单元100具有到数据介质驱动单元114(通过写入速度选择单元102)、数据写入单元106和数据读取单元108的连接，其中该数据写入单元106和该数据读取单元108都连接到该数据介质驱动单元114。数据提供单元116也连接到数据写入速度确定单元100，这是由于该数据提供单元116连接到该数据写入单元106。
如上所述，在数据写入速度确定单元100、数据提供单元116和数据介质驱动单元114之间的连接以及数据写入速度确定单元100内部的连接都是根据本发明的一个实施例的连接。应当理解，可以用根据本发明的另一个实施例的不同方式来建立各单元之间的连接。
此外，根据本发明的一个不同实施例，数据介质驱动单元114可以包括根据本发明的上述实施例的位于数据写入速度确定单元100内的其中一个或多个单元。例如，数据写入单元106和数据读取单元108可以被包括在数据介质驱动单元114内。此外，根据本发明的另一个不同实施例，数据写入单元106和数据读取单元108可以被组合成单一数据读/写单元。数据写入单元106被设置成在数据介质112的外侧区域上写入测试数据序列。根据本发明的一个优选实施例，该测试数据序列是随机测试数据序列。这样做的优点在于，这种类型的序列被认为是可以被存储在数据介质上的电子数据的良好模型。
图4和5各示出了一个光盘，以作为与本发明相关的数据介质的例子。这些光盘40和50分别具有用42和52表示的外侧区域。这些外侧区域是测试数据区域，在把电子数据存储在盘上之前的测试阶段期间，测试数据被写入在所述测试数据区域上。
根据本发明，由数据读取单元108读取所述测试数据序列，其后，数据读取单元108把所读取的测试数据转发到控制单元104。控制单元104现在可以使用被写入到所述数据介质的测试数据序列以及从该数据介质上读取的数据测试序列。现在，写入数据错误量度确定单元110的任务是确定对应于被写入在数据介质112上的测试数据序列的写入数据错误量度。
通过由控制单元104把所写入的测试数据序列和所读取的数据测试序列提供到写入数据错误量度确定单元110，可以通过比较这两个数据序列来确定数据错误量度。
基于由写入数据错误量度确定单元110进行的比较，控制单元104控制写入速度选择单元102以便选择速度。该速度信息被转发到数据介质驱动单元114，如图1所示。
现在参照伴有表1的图2来更详细地介绍根据本发明的用于确定在数据介质上写入电子数据的数据写入速度的方法，其中图2示出用于确定数据写入速度的该方法的流程图，表1则给出所述方法的简短的任务描述。
表1、根据本发明的一个实施例的用于确定数据写入速度的方法的简短任务描述。
所述方法的第一步骤(即步骤202)是执行最佳功率控制(OPC)的步骤。该步骤可以从文献中获知，因此这里不做详细描述。在该步骤中确定最佳写入功率，以便随后把电子数据在数据介质上。由于对可以被使用的每个写入速度执行OPC，因此该流程图通过执行所述OPC而开始。
该步骤由数据写入设备118执行，其优选地是通过使用数据写入速度确定单元100内的一个或多个可用单元来执行的。
在步骤202中获得了经过优化的写入功率之后，在步骤204中利用第一数据写入速度并且使用所确定的优化写入功率把测试数据序列写入在数据介质112上。该步骤由数据写入单元106在控制单元104的控制下执行。
由于希望写入尽可能快，因此把该第一数据写入速度选择为高CAV速度，比如16x。然而，该第一数据写入速度也可以是20x或者24x，这取决于数据写入设备118的性能以及可用的数据介质112的等级。
在写入测试数据序列的该步骤中，通过使用最高可能写入速度来写入测试数据序列。由于所述写入速度是角速度恒定的速度，因此数据介质的外侧具有最高的线速度。由于所述测试数据序列被写入在位于数据介质的非常靠外侧的测试区域32、42中，因此在该区域中的成功写入自然意味着在该数据介质的其他区域或者其他部分的写入也将会成功，这是因为在位置更靠近旋转数据介质中心的区域内的写入线速度更低。下面将进一步描述角速度、线速度以及从写入位置到盘中心的距离(即写入位置半径)之间的关系。
因此，利用高写入速度来执行第一测试数据写入，该高写入速度优选地是恒定角速度(CAV)的16x速度。
根据本发明的一个实施例，所述测试数据序列由控制单元104提供，但是该测试数据序列也可以从别处获得。
在步骤204中由数据写入单元106利用第一数据写入速度把测试数据序列写入在数据介质112上之后，由读取单元108执行从该数据介质上读取所写入的测试数据序列的步骤，即步骤206。
在数据介质上写入测试数据序列并且随后读取所写入的测试数据序列可能看起来有些奇怪。但是由于在写入期间可能发生错误(由于盘的缺陷造成)，因此能够从数据介质上读取的数据可能不同于实际被写入在数据介质上的数据。此外，由于写入余量随着数据写入速度的提高而减小，因此选择高数据写入速度意味着写入余量很小，这也可能会影响写入测试数据序列的结果。
所述方法的下一步骤是由写入数据错误量度确定单元110比较所述两个数据序列的步骤，即步骤208。因此，该单元比较这两个数据序列，以便确定用于反映所写入数据的数据错误的数据错误量度。该方法的后续步骤是获得误块率(BLER)的步骤，即步骤210，其中所述误块率是与在数据介质上写入数据时所可能发生的数据错误直接相关的数据错误量度的一个例子。步骤210由写入数据错误量度确定单元110执行，该单元可以访问所述两个测试数据序列。
根据本发明的另一个实施例，所获得的所述数据错误量度是所写入数据的误比特率(BER)。
所述两个数据错误量度(即误块率和误比特率)都是可能在所写入数据中发生的错误的直接量度。如前所述，使用与发生在数据中的错误直接相关的错误量度是有利的，这是由于为了避免产生所写入数据的数据错误，检测这种数据错误恰恰是非常重要的。
在获得了所写入数据的BLER之后，根据本发明的一个实施例，在确定BLER是否小于或等于BLER阈值(BLER_threshold)的步骤(即步骤212)中把BLER的值与该BLER阈值相关。该步骤212可以由控制单元104执行。在一个替换方案中，该步骤在写入数据错误量度确定单元110中执行。
如果确定该BLER小于或等于BLER阈值，则用来在数据介质的外侧(即数据介质的线速度最高的位置)写入测试数据序列的当前的第一数据写入速度可以被用来利用该CAV数据写入速度在该介质的任何其他部分中写入数据。
对于相对较小的BLER值，数据错误可以恢复，然而对于较高的BLER值的纠错要难得多，并且可能不会成功。所述BLER阈值通常被设置成使得对于低于或等于该BLER阈值的BLER值来说，在所写入数据中不会产生不可恢复的数据错误。
在步骤212中确定了BLER是否满足所述BLER标准(即该BLER是否小于或等于BLER阈值)之后，接下来是利用所述数据写入速度的下一步骤，即步骤214。由于所述测试数据序列所使用的所选择的数据写入速度满足所述标准，因此如图4所示，该CAV速度可以被用来在整个数据介质区域44中写入电子数据，其中图4示出了与本发明相关的光盘。
在数据写入设备118内，写入速度选择单元102并不选择另一个速度，而是保持已经选择的数据写入速度以用于后续数据记录。
然而，如果在步骤212中确定BLER大于BLER阈值，则在该数据写入速度(即第一数据写入速度)下的BLER是不可接受的。在这种情况下，执行降低数据写入速度的步骤，即步骤216。降低数据写入速度的该步骤由写入速度选择单元102在控制单元104的控制下执行。
因此，在所述用于确定数据写入速度的方法的新的循环中选择较低的第二数据写入速度，该新的循环是以下步骤执行最佳功率控制(OPC)的步骤202，在数据介质上写入测试数据序列的步骤204，读取所写入的测试数据序列的步骤206，把所写入的测试数据序列与所读取的测试数据序列进行比较的步骤208，对于该较低的第二数据写入速度获得新的误块率BLER的步骤210，确定该新的BLER是否小于或等于BLER阈值的步骤212，以及利用该第二数据写入速度或者可能进一步降低所述数据写入速度(步骤214、216)。
由于使用了CAV 16x速度，因此旋转数据介质的某一位置的线速度取决于从该数据介质的中心到该数据介质上的写/读位置的距离，即该数据介质上的该位置的当前半径。对于CAV 16x速度，线速度在数据介质的外侧是16x，并且在该数据介质上的其他位置处较低，这是由于这些其他位置具有较小的半径。作为数据介质的一个例子的DVD盘的几何结构使得这种DVD的外侧具有大约58mm的半径，并且其内侧具有大约22mm的半径。在使用CAV数据写入速度时，由于角速度是恒定的，因此线速度与半径之间的比值也是恒定的，从而可以从等式1获得以16x的CAV旋转的数据介质的某一位置的线速度。
具有以mm计的半径R的某一位置的线速度≈(R/58)·16x (1)半径为22mm的DVD的内侧的线速度因此近似是(22/58)·16x，其大约是6x。
返回到在数据介质的外侧无法利用CAV 16x的第一数据写入速度但是可以利用CAV 12x的数据写入速度以便对于测试数据序列写入获得可以接受的错误量度的情况，下面将参照图3描述用于在介质上写入电子数据的所述方法，图3给出了根据本发明的一个实施例的用于在介质上写入电子数据的方法的流程图。
表2、根据本发明的一个实施例的用于在介质上写入数据的方法的简短任务描述。
使用多个数据写入速度的该方法开始于获得用于在介质上写入电子数据的第一数据写入速度的步骤，即步骤302。该第一数据写入速度可以是CAV 16x，但是例如也可以是CAV 20x或CAV 24x，这里仅举出几个替换的数据写入速度。接下来执行获得第二数据写入速度的步骤，即步骤304。该第二数据写入速度典型地低于该第一数据写入速度。在第一数据写入速度是CAV 16x的该情况下，第二数据写入速度是CAV 12x。
现在，在获得了较低的第二数据写入速度(其在本例中是CAV12x)之后，在步骤306中执行获得一个与第二数据写入速度相关的速度的步骤。在本例中，该步骤包括获得恒定线速度(CLV)12x的速度，其与第二数据写入速度(为CAV 12x)相关。接下来，在步骤308中执行开始监控介质的写/读位置的线速度的步骤。从该步骤开始监控介质的写/读位置的线速度。在后续步骤(即步骤310)中，确定“所监控的线速度小于与第二数据写入速度相关的所获得的线速度”这一条件是否适用。如果在步骤310中确定所监控的线速度小于与第二数据写入速度相关的所获得的线速度，则执行利用第一数据写入速度写入电子数据的步骤，即步骤312。因此，在该步骤中使用CAV 16x的数据写入速度来写入电子数据。只要“所监控的线速度小于与第二数据写入速度相关的所获得的线速度”这一条件适用，就执行该步骤312。通过使用恒定角速度并且从旋转介质的内侧到外侧进行写入，所监控的线速度随着时间增大。一旦所述条件不再适用，即一旦所监控的线速度等于与第二数据写入速度相关的线速度，上述条件就不再适用，因此不再执行步骤312。而是执行利用与第二数据写入速度相关的线速度写入电子数据的步骤，即步骤314。当对应于介质的写/读位置的半径近似是(12x/16x)·58mm(其近似等于44mm)时，发生从使用第一数据写入速度到使用与第二数据写入速度(CAV 12x)相关的线速度(CLV 12x)的切换。因此当使用CAV 16x的数据写入速度时，在44mm的半径下的线速度是12x。由于在数据介质外侧的成功的测试数据序列写入中使用了CAV 12x的数据写入速度，因此可以成功的使用12x的线速度。因此，利用12x的线速度恒定的速度来写入电子数据。
因此，通过使用与用来在介质的第一部分中写入电子数据的速度不同的速度，在介质的第二部分中写入相同的电子数据。接下来执行步骤316，从而结束利用与第二数据写入速度相关的线速度在介质上写入电子数据的步骤。
再次参照图5，该图示出了与本发明的一个实施例相关的光学介质50，在数据介质50的第一部分56中使用CAV 16x数据写入速度。在数据介质50的第二部分54中，使用12x的恒定线速度(CLV)。因此，该区域54是数据介质50的44mm与58mm半径之间的区域。图中还显示了数据写/读位置58。
然而，如果在用于确定数据写入速度的所述方法的步骤212中确定在CAV 12x下获得的BLER大于或等于BLER阈值，则下一个步骤进一步降低数据写入速度，即步骤216。于是从CAV 12x降低到CAV8x，在CAV 8x下写入新的测试数据序列。如上所述，获得新的BLER值并且将其与BLER阈值进行比较，以便确定所使用的数据写入速度(即CAV 8x)是否可以被用来写入测试数据序列而不会发生不可恢复的数据错误。如果这样获得的BLER小于或等于BLER阈值，则使用该第二数据写入速度CAV 8x。
继续到用于写入电子数据的所述方法，在本例中，在步骤304中获得作为第二数据写入速度的CAV 8x。在获得与第二数据写入速度(CAV 8x)相关的速度的步骤306中，获得CLV 8x。在开始监控的后续步骤(即步骤308)中，与上述情况类似，执行介质50的写/读位置58的线速度。只要“所监控的线速度低于与第二数据写入速度相关的线速度(即低于CLV 8x)”这一条件适用，就利用CAV 16x的第一数据写入速度来写入电子数据。根据等式1，直到介质的写/读位置的半径达到近似(8x/16x)·58mm＝29mm，该条件一直适用，在该近似29mm的半径下，写入位置的线速度达到8x的线速度。因此在这种情况下，从半径约为22mm的介质内侧开始使用CAV 16x的数据写入速度，直到对应于介质上的写入位置58的半径达到大约29mm为止，从而限定了介质的第一部分，被标记为56。一旦在步骤310中确定所述速度条件不适用，如果有写入电子数据的命令的话，就利用CLV 8x的数据写入线速度在介质50的第二部分54中执行电子数据写入。介质的该第二部分在本例中被限定为在介质的29mm与58mm半径之间的部分。
在本发明的一个替换方案中，如果在满足用于确定数据写入速度的所述方法的步骤212的BLER标准的情况下无法使用高于6x的CAV数据写入速度，则可以在整个数据介质上使用CLV 6x的数据写入速度。
图6示意性地示出了根据本发明的一个实施例的计算机程序产品，其上具有计算机程序代码装置。当包含在该计算机程序产品中的所述计算机程序代码装置被加载到计算机或者可能被加载到所述数据写入设备自身中时，所述计算机或者可能是该数据写入设备自身执行以下操作利用预定写入功率和第一数据写入速度在数据介质上写入测试数据序列；从该介质上读取所写入的测试数据序列；确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度；以及根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度，从而优化了用于在该介质上写入电子数据的数据写入速度。
这种计算机程序产品的一个例子是CD-ROM，但是其也可以是能够插入计算机的任何类型的可读盘，比如DVD盘、MD盘或者任何其他类型的计算机程序产品。所述计算机程序产品也可以是便携式存储器，比如基于闪存的存储器或者甚至易失性类型的存储器。
此外，可以通过例如因特网或者任何其他有线或无线网络来下载根据本发明的所述计算机程序单元。
此外，所述计算机典型地包括控制单元、存储器单元以及输入/输出单元。
应当强调的是，可以以许多方式改变本发明，下面的替换实施例仅仅是其中的几个例子。因此，这些不同的实施例是非限制性的例子。然而，本发明的范围仅仅由所附权利要求书限定。
根据本发明的另一个实施例，可以使用不同于上述数据写入速度的其他数据写入速度。例如，在CAV 16x不满足所述BLER标准的情况下，可以使用CAV 15x的数据写入速度在数据介质上写入测试数据序列，以便在用于确定数据写入速度的所述方法的各步骤之后确定新的BLER值是否低于BLER阈值等等。
根据本发明的另一个实施例，确定所述数据写入速度是基于获得所写入数据的抖动、确定所获得的抖动是否大于抖动阈值以及根据所述确定选择数据写入速度。该数据错误量度(即抖动)可以与上面提到的诸如BLER或BER的另一个数据错误量度相组合，以用于根据本发明确定数据写入速度。
根据本发明的另一个实施例，可以附加地测量所写入的测试数据序列的抖动，以便确定第二数据错误量度。
应当注意的是-“包括”或“包含”并不排除其他元件、步骤、单元等等。
-“一个”并不排除多个对应项目。
单个单元可以实现权利要求中所列举的几个单元的功能。
权利要求中的附图标记不应被理解为对范围进行限制。
根据本发明的用于确定数据写入速度的方法、数据写入速度确定单元、数据写入设备、计算机程序产品和计算机程序单元以及用于在介质上写入电子数据的方法具有以下的一般优点通过利用本发明确定的数据写入速度不会产生数据错误，这是由于确定了与在光学介质上存储电子数据时将会发生的错误直接相关的数据错误量度，并且在该数据错误量度的基础上确定数据写入速度。
一个附加的优点在于，在用于确定数据写入速度的所述方法中，在选择了第二个较低的数据写入速度之后，所述数据错误量度减小。
在介质的一个部分中使用第一数据写入速度并且在该介质的另一部分中使用与第二数据写入速度相关的速度是一个优点，这是由于在无法完全为其使用第一数据写入速度的介质上写入电子数据所需的时间可以被最小化。
权利要求
1.一种用于确定利用预定写入功率在介质(112，40，50)上写入数据的数据写入速度的方法，包括以下步骤-利用第一数据写入速度在该介质(112，40，50)上写入测试数据序列(步骤204)；-从该介质(112)上读取所写入的测试数据序列(步骤206)；-确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度(步骤208，210)；-以及根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度(步骤214，216)，从而优化了所述数据写入速度。
2.根据权利要求1的方法，其中，所述选择数据写入速度的步骤(步骤214，216)包括如果所述写入数据错误量度高于所写入数据错误阈值，则选择较低的第二数据写入速度(步骤212，216)。
3.根据权利要求1的方法，其中，所述选择数据写入速度的步骤(步骤214，216)包括如果所述写入数据错误量度低于或等于所写入数据错误阈值，则保持第一数据写入速度(步骤212，214)。
4.根据权利要求1的方法，其中，所述确定写入数据错误量度的步骤(步骤208，210)包括把所读取的测试数据序列与所写入的测试数据序列进行比较(步骤208)。
5.根据权利要求1的方法，其中，所述写入数据错误量度是误块率。
6.根据权利要求1的方法，其中，所述写入数据错误量度是误比特率。
7.一种用于利用根据权利要求1确定的数据写入速度在介质(112，40，50)上写入数据的方法，包括利用第一写入速度写入数据的步骤(步骤312)。
8.一种用于利用根据权利要求2确定的数据写入速度在介质(112)上写入数据的方法，包括利用第一数据写入速度在该介质(112，50)的第一部分(56)上写入数据(步骤312)，并且利用与第二数据写入速度相关的数据写入速度在该介质(112，50)的第二部分(54)上写入数据的步骤。
9.用于根据权利要求2在介质(112，40，50)上写入数据的方法，其中，第一数据写入速度是恒定角速度，与第二数据写入速度相关的所述速度是恒定线速度。
10.用于根据权利要求7在介质(112，40，50)上写入数据的方法，其中，在使用第一数据写入速度时的该介质(50)的第一部分(56)外侧的写入位置的线速度等于在使用与第二数据写入速度相关的所述速度时的该介质(50)的第二部分(54)的至少一个写入位置的线速度。
11.一种用于确定利用预定写入功率在介质(112，40，50)上写入数据的数据写入速度的数据写入速度确定单元(100)，包括-数据写入单元(106)，其被设置成在该介质(112，40，50)上写入测试数据序列；-数据读取单元(108)，其被设置成从该介质(112，40，50)上读取所写入的测试数据序列；-写入数据错误量度确定单元(110)，其被设置成确定写入数据错误量度；-写入速度选择单元(102)，其被设置成根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度；以及-连接到该数据写入单元(106)、该数据读取单元(108)、该写入数据错误量度确定单元(110)和该写入速度选择单元(102)的控制单元(104)，所述控制单元(104)被设置成把测试数据序列提供给该数据写入单元(106)并且控制以下步骤利用第一数据写入速度在该介质上写入测试数据序列(步骤204)；从该介质(112，40，50)上读取所写入的测试数据序列(步骤206)；确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度(步骤208，210)；以及根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度(步骤214，216)，从而优化了所述数据写入速度。
12.根据权利要求11的数据写入速度确定单元(100)，其中，所述写入速度选择单元(102)还被设置成在所述写入数据错误量度高于所写入数据错误阈值的情况下选择较低的第二数据写入速度(步骤216)。
13.根据权利要求11的数据写入速度确定单元(100)，其中，所述写入速度选择单元(102)还被设置成在所述写入数据错误量度低于或等于所写入数据错误阈值的情况下保持第一数据写入速度(步骤214)。
14.根据权利要求11的数据写入速度确定单元(100)，其中，所述写入数据错误量度确定单元(110)还被设置成把所读取的测试数据序列与所写入的测试数据序列进行比较(步骤208)。
15.一种包括数据写入速度确定单元(100)的数据写入设备(118)，该数据写入速度确定单元用于确定利用预定写入功率在介质(112，40，50)上写入数据的数据写入速度，该数据写入速度确定单元包括-数据写入单元(106)，其被设置成在该介质(112，40，50)上写入测试数据序列；-数据读取单元(108)，其被设置成从该介质(112，40，50)上读取所写入的测试数据序列；-写入数据错误量度确定单元(110)，其被设置成确定写入数据错误量度；-写入速度选择单元(102)，其被设置成根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度；以及-连接到该数据写入单元(106)、该数据读取单元(108)、该写入数据错误量度确定单元(110)和该写入速度选择单元(102)的控制单元(104)，所述控制单元(104)被设置成把测试数据序列提供给该数据写入单元(106)并且控制以下步骤利用第一数据写入速度在该介质(112，40，50)上写入测试数据序列(步骤204)；从该介质(112，40，50)上读取所写入的测试数据序列(步骤206)；确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度(步骤208，210)；以及根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度(步骤214，216)，其中，该数据写入设备还包括-数据提供单元(116)，其被设置成提供数据；-数据介质驱动单元(114)，其被设置成能够固定该数据介质(112，40，50)以便能够在该数据介质(112，40，50)上写入数据，从而优化了所述数据写入速度。
16.根据权利要求15的所述数据写入设备(118)，其中，所述数据写入单元(106)还被设置成在所述数据介质(112，40，50)上写入数据。
17.一种计算机程序产品(62)，该计算机程序产品包括其上具有计算机程序代码装置的计算机可读介质，以便在所述计算机程序代码装置被加载到数据写入设备(118)或计算机中时使得该数据写入设备(118)或计算机执行以下操作-利用预定写入功率和第一数据写入速度在数据介质(112，40，50)上写入测试数据序列(步骤204)；-从该介质(112，40，50)上读取所写入的测试数据序列(步骤206)；-确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度(步骤208，210)；以及-根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度(步骤214，216)，从而优化了用于在该介质(112，40，50)上写入数据的所述数据写入速度。
18.一种计算机程序单元，该计算机程序单元包括计算机程序代码装置以使得数据写入设备(118)或计算机执行以下操作-利用预定写入功率和第一数据写入速度在数据介质(112，40，50)上写入测试数据序列(步骤204)；-从该介质(112，40，50)上读取所写入的测试数据序列(步骤206)；-确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度(步骤208，210)；以及-根据该写入数据错误量度来选择数据写入速度(步骤214，216)，从而优化了用于在该介质(112，40，50)上写入数据的所述数据写入速度。
全文摘要
本发明涉及确定利用预定写入功率在介质(112，40，50)上写入数据的数据写入速度，包括利用第一数据写入速度在该介质上写入测试数据序列(步骤204)；从该介质上读取所写入的测试数据序列(步骤206)；确定对应于所写入的测试数据序列的写入数据错误量度(步骤210)；以及在该写入数据错误量度高于所写入数据错误阈值的情况下选择较低的第二数据写入速度(步骤212，216)。本发明还涉及利用某一数据写入速度在介质上写入数据，包括利用第一数据写入速度在该介质(50)的第一部分(56)上写入数据(步骤312)，并且利用与第二数据写入速度相关的速度在该介质(50)的第二部分(54)上写入数据(步骤314)。
文档编号G11B7/0045GK101044571SQ200580036282
公开日2007年9月26日 申请日期2005年10月17日 优先权日2004年10月22日
发明者T·P·范恩德特, E·范克萨利 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司