专利名称：存储/再现机构的控制装置、控制方法及使用该方法的存储装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及对设置在磁盘装置等中的存储介质上的数据进行存储和/或再现的机构的控制装置。
背景技术：
通常，将磁盘装置构造成由于使磁盘高速地旋转所导致的气流而使磁头(摆臂)浮起约为0.01微米到0.02微米。
近来，由于磁盘的记录表面的密度增大了，因此磁头的漂浮(flying)高度逐渐降低。
因此，磁头的漂浮高度现在变得更容易受到大气压、温度或其他变化因素的变化的影响。例如，当大气压升高时，磁头的漂浮高度也升高，因此信号特性劣化了。当大气压降低时，磁头的漂浮高度响应于此而降低，因此磁头接触并损坏磁盘的概率也变大了。
换句话说，存在如下问题在磁盘上存储和/或再现的信号的特性受到大气压、温度或其他变化因素的变化的影响。
日本专利公报《特开昭63-069075号》公开了一种磁盘装置，其增大了记录表面密度，同时通过仅当正在对数据进行存储和/或再现处理时才降低磁头的漂浮高度，来降低磁头与磁盘之间发生碰撞的危险。
日本专利公报《特开平06-236641号》公开了一种磁头漂浮高度控制装置，其通过实时地对读/写头悬浮系统进行动态调节来控制盘驱动机构的头的漂浮高度。
日本专利公报《特开2002-092810号》公开了一种磁盘装置，其通过根据错误原因改变磁头的漂浮高度来提高错误恢复率。
发明内容
鉴于以上问题提出了本发明，本发明的目的是提供一种用于存储和/或再现机构的控制装置，其可以获得不受大气压的变化的影响的恒定信号质量。
为了实现以上目的，根据本发明的控制装置是通过使盘形存储介质旋转而使用于对所述存储介质上的数据执行存储处理或再现处理的头浮起的控制装置，该控制装置至少包括错误检测单元，用于从所述头再现的数据中检测错误；和漂浮高度控制单元，用于根据所计数的错误率对所述头的漂浮高度进行控制。
根据本发明，即使所述头的漂浮高度由于大气压的变化而变化因而错误率发生变化，也可以根据由所述错误检测单元计数的错误率对所述头的漂浮高度进行控制。因此，可以保持不受大气压的变化的影响的恒定漂浮高度，从而产生可以通过存储和再现机构来获得恒定信号质量的效果。
如上所述，根据本发明，可以为存储和再现机构提供一种控制装置，该控制装置可以获得不受大气压的变化的影响的恒定信号质量。
图1对根据本发明实施例的控制装置的概要进行了说明；图2示出了根据本发明实施例的磁盘装置的结构示例；图3对用于根据本发明实施例的磁盘装置的漂浮高度控制的基准错误率进行了说明；图4对用于根据本发明实施例的磁盘装置的漂浮高度控制的错误率与漂浮高度控制电流Ihr之间的关系进行了说明；以及图5是示出根据本发明实施例的磁盘装置的漂浮高度的控制处理的流程图。
具体实施例方式
以下，参照图1到5对本发明的多个实施例进行说明。
图1对根据本发明实施例的控制装置10的概要进行了说明。
如图1所示，根据本实施例的控制装置10至少包括存储介质11，用于存储数据；头12，用于对存储介质11上的数据执行存储/再现处理；错误检测单元13，用于对由头12读取的数据的错误进行计数；漂浮高度控制单元14，用于根据错误率对头12的漂浮高度进行控制。
存储介质11例如是在磁盘装置中使用的存储介质的磁盘。
头12对存储介质11中的数据执行存储(写)和再现(读)处理，同时保持距存储介质11的比规定距离大的距离(漂浮高度)。例如，当存储介质11是磁盘时，由于使存储介质11高速旋转而导致的气流，使头12浮起比规定距离大的距离。
错误检测单元13对由头12再现的数据中的错误进行计数。例如，错误检测单元13通过根据分配给再现数据的ECC(错误校正码)对数据中的错误进行检测，来对错误进行计数。
漂浮高度控制单元14对由错误检测单元13计数的错误率与作为基准的预定错误率(以下称为“基准错误率”)进行比较，并根据这两者之差对头12的漂浮高度进行调节。
图2示出了根据本发明实施例的磁盘装置20的结构示例。
图2所示的磁盘装置20至少包括一个或更多个磁盘21；主轴电动机22，用于使磁盘21按规定速率旋转；磁头23，用于对磁盘21中的数据执行存储和再现处理；预放大器24，用于将由磁头23读取的信号放大到规定电平；A/D转换器25，用于对由磁头23读取的信号进行数字化；控制器26，用于通过使用分配给经数字化数据的ECC来检测数据错误并计算错误率；MPU(微处理单元)27，用于对磁盘装置20的整体进行控制；漂浮高度调节单元28，用于根据MPU 27的指令对磁头23的漂浮高度进行调节；驱动器29，用于根据MPU 27的指令对主轴电动机22进行驱动；以及I/F 30，其与连接到磁盘装置20的装置相连接。
当使磁盘21高速旋转时，磁头23由于由该旋转导致的气流而浮起在磁盘21的上方。然后，磁头23读取存储在磁盘21上的数据，并将所读取的内容输出给预放大器24。
由A/D转换器25对已通过预放大器24放大到规定电平的信号进行数字化，并将它输入给控制器26。控制器26通过使用分配给所输入的数据的ECC来对数据错误进行检测，并对错误进行计数。在本实施例中，使用错误数据与所读取的全部数据的百分比(％)作为错误率。
将从控制器26输出的数据通过I/F 30输出给外部设备。
MPU 27基于基准错误率与由控制器26计数出的错误率之差来计算对磁头23的调节量，并向漂浮高度调节单元28发出指令。
漂浮高度调节单元28使磁头23浮起从MPU 27指示的调节量。例如，根据本实施例，漂浮高度调节单元28在磁头的存储再现元件的附近设置热源，并通过对其进行加热而导致的存储再现元件的热膨胀来调节漂浮高度。电流对该热源的加热进行控制。以下，将该电流称为漂浮高度控制电流Ihr。应当指出，通过热膨胀来调节磁头23的漂浮高度的方法是常规方法；因此，略去对它的详细说明。
在以上结构中，图1所示的存储介质11和头12分别对应于磁盘21和磁头23。此外，错误检测单元13和漂浮高度控制单元14分别对应于控制器26和漂浮高度调节单元28。
图3说明了用于根据本发明实施例的磁盘装置20的漂浮高度控制的基准错误率。
在本实施例中，为了获得基准错误率，对磁盘装置20在各种高度(大气压)处的错误率进行了测量。图3是示出了在6kPa(千帕)、7kPa、8kPa、9kPa以及10kPa下测量的错误率的结果的曲线图。
根据本实施例，磁盘装置20保证了在等于或低于海拔三千米的高度处的操作。在海拔三千米高度处的大气压是7kPa；因此，假设在7kPa的高度处的错误率“a”是基准错误率。
图4说明了用于根据本发明实施例的磁盘装置20的漂浮高度控制的错误率与漂浮高度控制电流Ihr之间的关系。
图4的曲线图示出了基于利用各种漂浮高度的错误率的测量结果的错误率特性。由漂浮高度控制电流Ihr来确定漂浮高度，由此，横轴表示漂浮高度控制电流Ihr。
如图4所示，当漂浮高度控制电流Ihr变大时，磁头23的存储再现元件附近的热源被加热，并且存储再现元件由于该热而膨胀；因此，磁头23的漂浮高度变低。作为其结果，错误率变低。
当漂浮高度控制电流Ihr变小时，热源在磁头23的存储再现元件附近的热量变小，因此存储再现元件更少地膨胀；因此，磁头23的漂浮高度变得更高。作为其结果，错误率变高。
图5是示出根据本发明实施例的磁盘装置20的漂浮高度的控制处理的流程图。
当接通磁盘装置20时，将磁盘装置20启动，因此处理进行到步骤S501。然后，在步骤S501中，磁盘装置20通过使磁盘21按规定速率旋转来使磁头23漂浮，以准备在磁盘21上可以存储和再现数据的状态。
在步骤S502中，磁盘装置20读取预先存储在磁盘21的柱面上的数据(该数据仅用于进行漂浮高度测量)，并对错误率进行计数。以下，将以上柱面和以上数据分别称为“漂浮高度测量柱面”和“漂浮高度测量数据”。
然后，磁盘装置20对漂浮高度控制电流Ihr进行调节，使得所计数的错误率对应于在图3中说明的基准错误率“a”。以下，将以上调节后的漂浮高度控制电流称为“临时最大漂浮高度控制电流Ihmax”。
当完成了调节时，磁盘装置20将临时最大漂浮高度控制电流Ihmax存储在存储器(或类似装置)上，然后处理进行到步骤S503。
在步骤S503中，磁盘装置20将漂浮高度控制电流Ihr设定(固定)为临时最大漂浮高度控制电流Ihmax。换句话说，使磁头23在磁盘21上方的漂浮高度固定。
在步骤S504中，磁盘装置20根据来自连接到磁盘装置20的信息处理设备等的指令对磁盘21上的数据执行存储/再现处理。换句话说，磁盘装置20对磁盘21上的数据执行读/写处理。
此外，当(由于在从磁盘21读取数据的过程中的失败而)执行重试处理时，磁盘装置20对已执行的重试处理的次数进行计数。
此外，磁盘装置20根据通过对磁盘21进行再现处理而读取的数据所分配的ECC来对数据错误进行检测，并计算错误率。
在步骤S505中，磁盘装置20检查在步骤S504中计数的重试处理的次数是否等于或大于规定次数。当该重试处理次数等于或大于规定次数时，磁盘装置20确定读取错误出现得太频繁。然后，处理回到步骤S502，并再次执行对临时最大漂浮高度控制电流Ihmax的测量。
然而，当在步骤S505中确定读取错误并未出现得太频繁时，处理进行到步骤S506。
在步骤S506中，磁盘装置20对在步骤S504中计算出的错误率与基准错误率“a”进行比较。然后，如果在步骤S504中计算出的错误率低于基准错误率“a”，则确定磁头23在磁盘21上方的漂浮高度正在变小，然后处理进行到步骤S507。磁盘装置20接着通过减小漂浮高度控制电流Ihr来提高磁头23的漂浮高度。
可以防止由于由磁头23的漂浮高度的降低而引起的磁盘21与磁头23之间的接触所导致的头损毁。
在步骤S506中，当在步骤S504中计算出的错误率不低于基准错误率“a”时，磁盘装置20使得处理进行到步骤S508。
在步骤S508中，磁盘装置20对在步骤S504中计算出的错误率与基准错误率“a”进行比较。当在步骤S504中计算出的错误率高于基准错误率“a”时(即，当错误率升高了时)，处理进行到步骤S509。
在步骤S509中，磁盘装置20通过增加漂浮高度控制电流Ihr来降低磁头23的漂浮高度。
在步骤S510中，磁盘装置20对漂浮高度控制电流Ihr与临时最大漂浮高度控制电流Ihmax进行比较。
如果漂浮高度控制电流Ihr等于或小于临时最大漂浮高度控制电流Ihmax，则磁盘装置20使得处理回到步骤S504。
当漂浮高度控制电流Ihr大于临时最大漂浮高度控制电流Ihmax时，磁盘装置20使得处理进行到步骤S511。然后，将漂浮高度控制电流Ihr设定为临时最大漂浮高度控制电流Ihmax，然后处理回到步骤S504。
在步骤S508中，当在步骤S504中计算出的错误率不高于基准错误率“a”时(即，当错误率未升高时)，处理进行到步骤S512。
在步骤S512中，磁盘装置20检查当前时间是否为空闲时间。例如，如果在规定的时段内未对磁盘21执行存储和再现处理，则将该时段确定为空闲时间。当该时段被确定为空闲时段时，处理回到步骤S502。当该时段被确定为不是空闲时间时，处理回到步骤S504。
如上所述，通过不断测量错误率并对漂浮高度进行控制，使得所测得的错误率总是等于基准错误率，可以防止由于大气压的变化引起的漂浮高度的变化而导致的信号特性的劣化。
换句话说，可以对磁头(存储和再现机构)进行控制，以获得不受大气压的变化的影响的恒定特性品质。结果，减少了磁盘装置的重试处理次数，使得可以使对数据的读和写处理加速。
还可以防止由于大气压的降低而引起漂浮高度的降低使磁头与磁盘相互接触而导致的损毁。
此外，仅仅通过增加一通过对根据由磁头再现的信号中的错误率进行计算来对漂浮高度(漂浮高度控制电流)进行控制的处理就可以实现本发明；因此，可以通过使用常规电路结构(即，不必增加专用电路)来容易地实现根据本发明的漂浮高度控制。
在以上说明中，使用磁盘装置20的示例对本发明进行了说明。然而，本发明的范围并不限于这些示例。通过将本发明应用于使用如下方法或类似方法的任何存储装置，都可以获得与以上实施例相同的效果，所述方法是通过使存储介质高速旋转来使对存储介质上的数据执行存储和再现处理的机构浮起。
权利要求
1.一种控制装置，该控制装置通过使盘形存储介质旋转而使用于对所述存储介质上的数据执行存储处理或再现处理的头漂浮，该控制装置至少包括错误检测单元，用于对由所述头再现的数据中的错误进行检测；和漂浮高度控制单元，用于根据所计数的错误率来对所述头的漂浮高度进行控制。
2.根据权利要求1所述的控制装置，其中，所述漂浮高度控制单元将预定基准错误率与由所述错误检测单元计数的错误率进行比较，根据所述比较的结果来确定对所述头的所述漂浮高度的调节量，并将所述头的所述漂浮高度调节所述确定的调节量。
3.一种存储装置，该存储装置包括通过使盘形存储介质旋转而使用于对所述存储介质上的数据执行存储处理或再现处理的头漂浮的控制装置，该存储装置至少包括错误检测单元，用于对由所述头再现的数据中的错误进行检测；和漂浮高度控制单元，用于根据所计数的错误率来对所述头的漂浮高度进行控制。
4.根据权利要求3所述的存储装置，其中，所述漂浮高度控制单元将预定基准错误率与由所述错误检测单元计数的错误率进行比较，根据所述比较的结果来确定对所述头的所述漂浮高度的调节量，并将所述头的所述漂浮高度调节所述确定的调节量。
5.一种控制方法，该控制方法通过使盘形存储介质旋转而使用于对所述存储介质上的数据执行存储处理或再现处理的头漂浮，该控制方法使存储装置执行以下处理错误检测处理，对由所述头再现的数据中的错误进行检测；和漂浮高度控制处理，根据所计数的错误率来对所述头的漂浮高度进行控制。
6.根据权利要求5所述的控制方法，其中，所述漂浮高度控制处理将预定基准错误率与由所述错误检测单元计数的错误率进行比较，根据所述比较的结果来确定对所述头的所述漂浮高度的调节量，并将所述头的所述漂浮高度调节所述确定的调节量。
全文摘要
本发明提供了存储/再现机构的控制装置、控制方法及使用该方法的存储装置。为了提供可以获得不受大气压的变化的影响的恒定错误率的存储和再现机构的控制装置，一种控制装置包括存储介质，用于存储数据；头，用于对存储介质上的数据执行存储/再现处理；错误检测单元，用于对由头读取的数据的错误进行检测；以及漂浮高度控制单元，用于根据错误率对头的漂浮高度进行控制，以对漂浮高度由于大气压的变化而产生的变化进行校正。
文档编号G11B5/60GK101075471SQ20061013577
公开日2007年11月21日 申请日期2006年10月19日 优先权日2006年5月18日
发明者柿木格 申请人:富士通株式会社