专利名称：光驱烧录方法
技术领域：
本发明涉及一种光驱，尤其是涉及光驱烧录光盘片时，验证烧录功率测 试结果，筛选烧录倍速烧录光盘片的方法。
背景技术：
光驱通过读取头发出的激光束，投射在可烧录的光盘片上，形成凹洞或
相变化等记号，造成有记号及无记号间反射光量的差异，构成0与1的数字
讯号，达到记录数据的目的。因此光盘片上记号的清析度，要视激光束功率 强度及照射时间而定，照射时间又随着光盘片转速增加而减少。
虽然光盘片转动速度越慢，激光束照射时间越长，形成的记号清析度较 佳，但慢速转动光盘片，将增长烧录的时间，降低光驱烧录的效能。因应光 盘片储存容量越来越大，为了缩短烧录时间，如图l所示，已知光驱的烧录
过程，由主轴马达l转动光盘片2,利用一读取头3沿着光盘片2径向来回 移动，并发射一激光束投射至光盘片2上。配合光盘片2外圈移动速度较快 的特性，将光盘片2由内圈向外圈划分成几个不同的烧录倍速区，在各预设 的倍速变换地址，由低烧录倍速阶段性变化至高烧录倍速，例如2X， 4X， 6X 及8X等，使外圈的烧录速度提高，以缩短整体烧录的时间。
然因制造光盘片2的厂商繁多，各家光盘片2的材料、成份及工艺上略 有差异，造成不同厂牌的光盘片2对激光束的反应不同。因而已知光盘片2 在可烧录区域的最内圈或最外圈，规划激光束功率的内圈测试区4及外圈测 试区5，提供烧录时，测试出最适合该光盘片烧录的激光束功率。已知的光 驱设定在低倍速2X的状态下，通过烧录预设的测试数据模式在内圏测试区4 或外圏测试区5,进行预烧测试，再读出预烧测试记号的讯号。评估预烧记 号的清析度，根据各记号所产生的反射光量、译码正确性、讯号强度……等 计算出一试烧质量参数(即Beta参数)，作为烧录质量好坏的参考。由试烧 质量参数选择出最佳烧录功率，即所谓最佳功率控制(Optimum Power Control,简称0PC)。为了缩短预烧测试时间，其余各高烧录倍速，再由2X烧录倍速预烧测试结果，比率推估各高倍速的烧录功率，然后进行烧录数据。 然而，已知高烧录倍速的烧录功率由低烧录倍速烧录功率的测试结果直 接推估，非经实际测试获得，导致光盘片高烧录倍速的烧录质量不易控制， 甚至烧录后可读性不佳，无法读取而浪费光盘片。如要对每一高烧录倍速进 行最佳功率控制的预烧测试，不仅需要更多的测试区，而减少光盘片有效的 储存容量，且需准备、传输及烧录各高烧录倍速的测试数据模式，增长预烧 测试时间，影响整体烧录的效率。此外，光驱无法支持所有厂牌的光盘片， 对未支持的光盘片，有限的测试数据模式，所比对出最低烧录倍速的最佳烧 录功率，也可能无法烧录出可读的质量，更何况推估出的高烧录倍速烧录功 率。因此，已知光盘片预烧测试的方法，在预烧测试结果的检查上，仍有问 题亟待解决。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光驱烧录方法，通过验证低烧录倍速测试所 推估的结果，排除不适用的烧录倍速，以确保烧录质量。
本发明的另一目的在于提供一种光驱烧录方法，对被排除的烧录倍速， 利用较低的烧录倍速替代，提高烧录的可读性，以减少浪费光盘片。
本发明再一目的在于提供一种光驱烧录方法，利用直接烧录预烧测试及 推估结果，验证各烧录倍速烧录功率的适用性，避免一一测试烧录倍速，以 减少测试数据的烧录数量及所占空间。
本发明又一目的在于提供一种光驱烧录方法，在光盘片导出区验证预烧 结果，以免影响光驱正常烧录空间及作业。
为了达到前述发明的目的，本发明的光驱烧录方法，首先预烧测试及推 估烧录倍速的烧录功率，在光盘片的导出区搜寻空白部位，验证预烧及推估 结果，读取验证烧录讯号，剔除烧录质量不佳的烧录倍速，保留烧录质量佳 的作为可烧录倍速，确认烧录数据地址所需烧录倍速，由所需烧录倍速依序 向下搜寻可烧录倍速，以搜寻到的可烧录倍速替代所需烧录倍速，调整至该 可烧录倍速及其推估的功率，进行烧录数据。
图1为已知光驱烧录过程的示意图。图2为光盘片数据结构的示意图。
图3为本发明第一实施例光驱烧录方法的流程图。 图4为本发明第二实施例光驱烧录方法的流程图。
附图符号说明
Rl 开始烧录步骤
R2低倍速烧录功率测试步骤
R3推估各高倍速烧录功率步骤
R4搜寻保留空白部位步骤
R5 验证各倍速烧录功率步骤
R6读取烧录质量步骤
R7检查可烧录倍速步骤
R8 烧录失败步骤
R9 剔除验证质量不佳倍速步骤
R10确认所需烧录倍速步骤
Rll向下搜寻相对可烧录倍速步骤
R12调整至可烧录倍速步骤
R13烧录数据步骤
R14结束烧录步骤
Sl 开始烧录步骤
S2验证保留可烧录倍速步骤
S3确认烧录数据地址步骤
S4搜寻相对可烧录倍速步骤
S5搜寻次一可烧录倍速步骤
56 烧录失败步骤
57 结束烧录步骤
S8调整至该倍速及推估烧录功率步骤 S9烧录数据步骤 S10监控烧录完成步骤 Sll需改变烧录倍速步骤 S12暂停烧录步骤
具体实施例方式
有关本发明为达到上述目的，所采用的技术手^a及其功效，现举较佳实
施例，并结合附图加以说明如下。
请参考图2,其为光盘片的数据结构的示意图。 一般圆形的光盘片，具 有螺旋形的数据轨，数据轨由光盘片中央孔附近， 一圏接一圈绕至光盘片外
缘附近，由内向外依序分为内圏区10、导入区11、数据区12、导出区13 及外圈区14等区段。内圈区10、与外圈区14同用以预烧测试光盘片的最 佳烧录功率。导入区11则用以记载光盘片的数据目录及特性信息，其中包 含一些保留的空白部位，数据区12为光驱实际记录数据的位置，数据区12 之后为导出区13,作为数据记录结束的标示緩冲区，其中包含一些保留的空 白部位。
本发明光驱烧录方法，为了实际验证外圈区14或内圈区IO预烧测试 出的最佳烧录功率及其推估高烧录倍速的烧录功率，因验证数据数量有限， 所需烧录空间不大，首先在导出区13搜寻出可烧录的保留空白部位，作为 验证区，以避免在外圈区14执行验证烧录时，影响光驱正常的烧录作业及 空间。接着依照外圈区14或内圈区IO所测试出的最佳烧录功率及其推估 各高烧录倍速的烧录功率， 一一烧录在搜寻到保留空白部位的导出区13，然 后读出各烧录讯号，检查各烧录倍速的烧录质量参数是否在预设的范围内？ 假如烧录质量参数在范围内，则表示该烧录倍速的烧录质量正常，烧录后具 有可读性，可使用该烧录倍速进行烧录。假如烧录质量参数超出范围，则表 示该烧录倍速的烧录质量不佳，无法达到可读性，应剔除该烧录倍速，烧录 时不予采用。
因此，本发明的光驱烧录方法，进行烧录光盘片时， 一进入数据烧录位 置，由其所在的地址，确认所属预先划分的烧录倍速区，即搜寻验证认可相 对的烧录倍速，进行烧录数据。假如该相对烧录倍速的烧录质量参数，为验 证时超出范围且已被剔除的烧录倍速，依序向下搜寻较低的可烧录倍速及其 烧录功率作为替代，进行烧录数据。虽然以较慢烧录倍速烧录数据，牺牲一 点烧录时间，但可维持光盘片烧录后的可读性，以免烧录出无法读取的光盘 片，增加时间与光盘片的浪费。假如依序向下搜寻，又找不到较低的可烧录 倍速及其烧录功率可作为替代，则回报主机烧录失败，结束烧录，以免利用不适用的烧录倍速及其烧录功率烧录数据，避免浪费时间与光盘片。
如图3所示，其为本发明第一实施例光驱烧录方法的流程图。本发明利 用验证低烧录倍速测试出的最佳烧录功率及其推估各高烧录倍速的烧录功
率，筛选不适用的烧录倍速，执行光驱烧录的详细步骤如下首先在步骤R1 启动光驱开始进行烧录光盘片，进入步骤R2利用光驱已预设的最低烧录倍 速，例如2X，在光盘片的内圈区或外圈区进行最佳烧录功率测试，测出最低 烧录倍速相对的最佳烧录功率，再进入步骤R3，依据光盘片预先划分烧录倍 速的转速及数据传输率特性，相对步骤R2实际测出最低烧录倍速相对的最 佳烧录功率，按比率推估出各高烧录倍速的烧录功率。
接着，进入步骤R4,本实施例以在导出区搜寻空白部位为例，作为验 证烧录区，然后至步骤R5，将测出的最低烧录倍速与相对最佳烧录功率，及 推估出各高烧录倍速与相对的烧录功率，实际烧录在导出区的空白部位进行 验证，进入步骤R6读取各烧录倍速的烧录讯号，由各烧录倍速的烧录质量 参数决定烧录质量，进入步骤R7，根据各烧录倍速的烧录质量适合烧录的范 围，检查是否有可烧录倍速存在？假如无可烧录倍速存在，则进入步骤R8， 回报主机烧录失败，无法完成烧录，接着进入步骤R14结束烧录。假如有可 烧录倍速存在，则进入步骤R9，先行剔除验证时烧录质量不佳的烧录倍速不 予采用，保留可烧录倍速。
然后进入步骤RIO，由光盘片上数据接续烧录的地址，确认预先划分烧 录倍速区的所在，以决定烧录数据所需的烧录倍速，再进入步骤Rll，由所 需烧录倍速依序向下搜寻步骤R9所存可烧录倍速，假如未搜寻到可烧录倍 速，则进入步骤R8，回报主机烧录失败，无法完成烧录，接着进入步骤R14 结束烧录，假如搜寻到可烧录倍速，则至步骤R12，以该搜寻到的可烧录倍 速替代所需烧录倍速，调整至该可烧录倍速及相对推估的功率，进入步骤 R13，进行烧录数据，烧录完成后最后进入步骤R14结束烧录。
如图4所示，其为本发明第二实施例光驱烧录方法的流程图。本实施例 的预烧测试、推估、搜寻空白部位、验证及排除不适用烧录倍速的过程，基 本上与本发明第一实施例相同。不同处在于，本实施例的烧录数据过长，需 跨数烧录倍速区烧录，在烧录倍速转换点，暂停烧录，以其地址向下搜寻次 一较低的可烧录倍速，替代已剔除的高烧录倍速，完成调整后，再继续烧录 数据，以缩短烧录时间。本发明第二实施例光驱烧录方法的详细步骤如下首先在步骤Sl启动 光驱开始进行烧录光盘片，进入步骤S2由预烧测试、推估、搜寻空白部位 及验证，排除不适用烧录倍速，以保留可烧录倍速。再至步骤S3，由光盘片 上数据接续烧录的地址，确认预先划分烧录倍速区的所在，以决定烧录数据 所需的烧录倍速，进入步骤S4由所需烧录倍速搜寻保留可烧录倍速中相对 可烧录倍速，假如未搜寻到相对可烧录倍速，则进入步骤S5搜寻次一较低 的可烧录倍速，假如仍无法找到次一较低的可烧录倍速，则回报主机烧录失 败，无法完成烧录，接着进入步骤S7结束烧录。假如在步骤S4搜寻到相对 可烧录倍速，或在步骤S5搜寻到次一较低的可烧录倍速，则至步骤S8，以 该搜寻到的相对可烧录倍速或次一较低的可烧录倍速替代所需烧录倍速，调 整至搜寻到的可烧录倍速及相对推估的功率，进入步骤S9进行烧录数据。
接着，进入步骤S10监控数据是否已烧录完成？假如烧录完成，则至步 骤S7结束烧录，假如未烧录完成，则进入步骤Sll，检查烧录位置是否已到 预先规划烧录倍速区转换位置需改变烧录倍速？假如尚未到达烧录倍速区 转换位置，则回至步骤S9继续以原烧录倍速进行烧录数据，假如到达烧录 倍速区转换位置，则进入步骤S12,暂停烧录数据，然后回至步骤S3，由烧 录倍速区转换地址，确认烧录数据所需改变的烧录倍速，重复搜寻可烧录倍 速或次一可烧录倍速，以继续进行烧录数据。
由前述两实施例，本发明光驱烧录方法，即可通过实际验证低烧录倍速 测试及所推估高烧录倍速的结果，由读取验证烧录讯号的烧录质量，针对烧 录质量未符合可读性范围的烧录倍速，先行排除不适用的烧录倍速，利用烧 录质量合于可读性范围的可烧录倍速或较低的可烧录倍速替代已剔除的高 烧录倍速，进行烧录数据，以确保烧录质量。此外，本发明也可利用在光盘 片导出区，直接烧录有限的预烧测试及推估结果，验证各烧录倍速烧录功率 的适用性，不仅避免影响光驱正常烧录空间及作业，且避免——测试烧录倍 速，减少测试数据的烧录数量及所占空间。
以上所述仅用以方便说明本发明的较佳实施例，本发明的范围不限于所 述较佳实施例，凡依本发明所做的任何变更，在不脱离本发明的精神的前提 下，都属本发明权利要求的范围。
权利要求
1.一种光驱烧录方法，其步骤包含(1)预烧测试及推估烧录倍速的烧录功率；(2)验证预烧及推估结果，保留可烧录倍速；(3)确认烧录数据地址所需烧录倍速；(4)由所需烧录倍速依序向下搜寻可烧录倍速；(5)以搜寻到的可烧录倍速替代所需烧录倍速，调整至该可烧录倍速及其推估的功率；以及(6)进行烧录数据。
2. 依据权利要求1所述的光驱烧录方法，其中该预烧测试以预设最低烧 录倍速，进行烧录功率测试，测出相对最佳烧录功率，再依据光盘片预先划 分出烧录倍速区，由测出最低烧录倍速的最佳烧录功率，推估出各高烧录倍 速的烧录功率。
3. 依据权利要求1所述的光驱烧录方法，其中该步骤(2)先在光盘片的 导出区搜寻空白部位，作为验证区。
4. 依据权利要求1所述的光驱烧录方法，其中该步骤(2)实际烧录预烧 及推估结果，读取烧录讯号，剔除烧录质量不佳的烧录倍速，保留烧录质量 佳的作为可烧录倍速。
5. 依据权利要求4所述的光驱烧录方法，其中该烧录倍速的烧录质量 佳，是指读取烧录讯号的烧录质量参数在预设范围内。
6. 依据权利要求4所述的光驱烧录方法，其中该步骤(2)后进一步包含 一步骤检查是否保留可烧录倍速？假如无保留可烧录倍速，则回报烧录失 败，结束烧录，假如有保留可烧录倍速，则进入步骤(3)。
7. 依据权利要求1所述的光驱烧录方法，其中该步骤(4)后进一步包含 一步骤检查是否搜寻到可烧录倍速？假如未搜寻到可烧录倍速，则回报烧 录失败，结束烧录，假如搜寻到可烧录倍速，则进入步骤(5)。
8. 依据权利要求7所述的光驱烧录方法，其中该步骤(4)由所需烧录倍速向下搜寻次一较低的可烧录倍速。
9. 依据权利要求1所述的光驱烧录方法，其中该步骤(6)后进一步包含步骤(7)监控数据是否已烧录完成？假如烧录完成，则结束烧录，假如未 烧录完成继续烧录数据。
10.依据权利要求9所述的光驱烧录方法，其中该步骤(7)未烧录完成继 续烧录数据时进一步包含步骤(8)检查烧录位置是否已到预先规划烧录倍速区转换位置？假如尚未 到达转换位置，则回至步骤(6)继续以原烧录倍速进行烧录数据，假如到达 烧录倍速区转换位置，则暂停烧录数据，回至步骤(3)。
全文摘要
一种光驱烧录方法，首先预烧测试及推估烧录倍速的烧录功率，在光盘片的导出区搜寻空白部位，验证预烧及推估结果，读取验证烧录讯号，剔除烧录质量不佳的烧录倍速，保留烧录质量佳的作为可烧录倍速，确认烧录数据地址所需烧录倍速，由所需烧录倍速依序向下搜寻可烧录倍速，以搜寻到的可烧录倍速替代所需烧录倍速，调整至该可烧录倍速及其推估的功率，进行烧录数据，以确保烧录质量。
文档编号G11B7/125GK101494062SQ20081000381
公开日2009年7月29日 申请日期2008年1月24日 优先权日2008年1月24日
发明者朱修明, 许锦发, 陈世国 申请人:广明光电股份有限公司