专利名称：利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明有关一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置。
背景技术：
当我们在测试读取逻辑硬盘的时候，常常会需要使用标示坏扇区(Mark Bad Sector)这种命令对于某一个硬盘的区块(Block)注明为”坏的”，进而测试读取逻辑硬盘 的容错机制(Error Handling)。但是该命令只能针对”某一个”区块进行，所以若是需要标 示为坏掉的区块很多的话会需要执行很多命令。请参阅图1所示，为习知模拟测试硬盘的功能方块架构图，其中一选项只读存储 器11，接收且执行一实体要求指令，通过一硬盘固件(HDD Firmware) 12进入一硬盘13中去 执行标示坏扇区动作，并产生一坏扇区写入位置131，但一旦标示为坏掉，即无法再对该坏 扇区写入位置131做使用。若是还想要使用该坏扇区写入位置131，则必须重新下写入命 令(Write Command)将该坏扇区写入位置131导到坏扇区映射区132的坏扇区映射写入位 置(Remapped Block) 1321才可继续使用。倘若坏扇区映射写入位置1321已经额满，则表 示该硬盘13已经损毁，必须重新进行低阶格式化O^omat)才能重新使用，但也代表该硬盘 13里面数据必完全清除。故传统的模拟测试逻辑硬盘的方法及装置对于硬盘13势必留下 一些破坏性，且测试的速度也无法提升，本发明提出的方法与装置正可改善上述习知缺点。
发明内容
本发明的目的在于，解决现有技术中测试读取逻辑硬盘的时候，易对硬盘产生破 坏的技术问题。为达上述目的，本发明为一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的装置， 其包含有一选项只读存储器，接收且执行一实体要求指令；—坏扇区记录表，设置于该选项只读存储器中，执行该选项只读存储器的实体要 求指令，提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器；以及一硬盘固件，于坏扇区设置信息范围之外，提供一硬盘数据读写的指令来读写硬ο为达上述目的，本发明为一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法， 其包含有利用一选项只读存储器接收且执行一实体要求指令；利用一坏扇区记录表，执行该选项只读存储器的实体要求指令，提供坏扇区设置 信息给该选项只读存储器；以及利用一硬盘固件，于坏扇区设置信息范围之外，提供一硬盘数据读写的指令来读 写硬盘。本发明的有益效果在于，利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘，将坏扇区记3录表设置于一选项只读存储器(OPROM)中，该坏扇区记录表设置有测试者模拟坏扇区的区 块，利用此坏扇区记录表来模拟坏扇区的区块内的数据，不必真实对硬盘写入任何数据及 制作真实坏扇区的区块，故可提高逻辑磁盘的测试速度。
图1为习知模拟测试硬盘的功能方块架构图；图2为本发明模拟测试硬盘的功能方块架构图；图3为本发明模拟测试硬盘的方法流程图。附图标记说明11、21_选项只读存储器；12、23-硬盘固件；13、24_硬盘；131-坏扇区写入位置； 132J43-坏扇区映射区；1321-坏扇区映射写入位置；22-坏扇区记录表；221-硬盘序号； 222-磁扇区及区块；223-区块计数值的数据；241-模拟坏扇区写入位置—般数据； 31-利用一选项只读存储器接收且执行一实体要求指令；32-利用一坏扇区记录表，执行该 选项只读存储器的实体要求指令，提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器；33-利用一 硬盘固件，于坏扇区设置信息范围之外，提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘。
具体实施例方式下面配合下列的图式说明本发明的详细结构，及其连结关系。请参阅图2所示，为本发明模拟测试硬盘的功能方块架构图，其包含有一选项只 读存储器21，接收且执行一实体要求指令；一坏扇区记录表22，设置于该选项只读存储器 21中，执行该选项只读存储器21的实体要求指令，提供坏扇区设置信息给该选项只读存储 器21，该坏扇区设置信息包括有一硬盘序号221、磁扇区及区块222、区块计数值223的数 据；一硬盘固件23，于坏扇区设置信息范围之外，提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘 24，而硬盘M中原本应是坏扇区写入位置处，直接以一模拟坏扇区写入位置M1，换言之， 即可不需真正将该位置利用写入方式变更为坏扇区，另外非坏扇区写入位置的区块，即可 以一般数据242来进行写入动作，同时其坏扇区映射区243也不需写入任何数据。请参阅图3所示，为本发明模拟测试硬盘的方法流程图其包含有31-利用一选项只读存储器接收且执行一实体要求指令；32-利用一坏扇区记录表，执行该选项只读存储器的实体要求指令，提供坏扇区设 置信息给该选项只读存储器；以及33-利用一硬盘固件，于坏扇区设置信息范围之外，提供一硬盘数据读写的指令来 读写硬盘。根据上述模拟测试硬盘的方法，其较为细部的执行步骤为在选项只读存储器 (OPROM)之中建立一个坏扇区记录表(Bad sector Table)，当实体要求指令(INT13)对于 该硬盘有读取动作的时候，会先检查该坏扇区记录表看是否有被标示为坏掉，如果该坏扇 区记录表中时，则直接回传上层该实体要求(Physical Request)状态为严重错误(Fatal Error)，回传给选项只读存储器进行错误处理(Error Handling)。倘若测试结束时可直接 将坏扇区记录表删除，不需要再通过硬盘固件来写入硬盘，故该硬盘内部的数据还都存在， 也不会造成数据遗失，让测试设备可利用率提升。
利用上述模拟测试硬盘的装置及方法，具有下列的优点1.利用在选项只读存储器(OPROM)之中建立一个坏扇区记录表(Bad sector Table)来达成标示坏扇区(Mark Bad Sector)命令，不需另外设置一硬件装置，故可节省测 试装置的成本。2.无须对于硬盘固件(HDD Firmware)下达命令，所以实际上硬盘区块(HDD Block)并未真正毁损，所以也并没有坏扇区映射写入位置(Remapped Block)不足的问题。3.坏扇区记录表为一表格形式，所以一次可大量输入多笔坏扇区(BadSector)数 据，省去必须输入大量标示坏扇区命令，故可节省大量的测试时间。综上所述，本发明的结构特征及各实施例皆已详细揭示，而可充分显示出本发明 案在目的及功效上均深赋实施的进步性，极具产业的利用价值，且为目前市面上前所未见 的运用。以上对本发明的描述是说明性的，而非限制性的，本专业技术人员理解，在权利要 求限定的精神与范围之内可对其进行许多修改、变化或等效，但是它们都将落入本发明的 保护范围内。
权利要求
1.一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的装置，其特征在于，包含有一选项只读存储器，接收且执行一实体要求指令；一坏扇区记录表，设置于该选项只读存储器中，执行该选项只读存储器的实体要求指 令，提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器；以及一硬盘固件，在坏扇区设置信息范围之外，提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘。
2.如权利要求1所述的利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的装置，其特征在 于，该坏扇区设置信息包括有一硬盘序号、磁扇区及区块、区块计数值的数据。
3.一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法，其特征在于，包含有利用一选项只读存储器接收且执行一实体要求指令；利用一坏扇区记录表，执行该选项只读存储器的实体要求指令，提供坏扇区设置信息 给该选项只读存储器；以及利用一硬盘固件，于坏扇区设置信息范围之外，提供一硬盘数据读写的指令来读写硬ο
4.如权利要求3所述的利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法，其特征在 于，该坏扇区设置信息包括有一硬盘序号、磁扇区及区块、区块计数值的数据。
5.如权利要求3所述的利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法，其特征在 于，于选项只读存储器之中建立一个坏扇区记录表，当实体要求指令对于该硬盘有读取动 作的时候，会先检查该坏扇区记录表看是否有被标示为坏掉，如果该坏扇区记录表中时，则 直接回传上层该实体要求状态为严重错误，回传给选项只读存储器进行错误处理。
全文摘要
本发明一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置，其包含有一选项只读存储器，接收且执行一实体要求指令；一坏扇区记录表，设置于该选项只读存储器中，执行该选项只读存储器的实体要求指令，提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器；一硬盘固件，于坏扇区设置信息范围之外，提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘。利用该坏轨扇区记录表来模拟坏扇区的区块内的数据，不必真实对硬盘写入任何数据及制作真实坏扇区的区块，故可提高逻辑磁盘的测试速度。
文档编号G11B20/18GK102044278SQ20091020431
公开日2011年5月4日 申请日期2009年10月12日 优先权日2009年10月12日
发明者陈重江 申请人:英业达股份有限公司