专利名称：记录/再现设备及其调整方法
技术领域：
本发明涉及使用光盘作为记录介质的记录/再现设备，更具体而言涉及能够执行聚焦周整(focus bias adjustment)禾口HI^iiE (aberrationcorrection)的i己录 / 再现设备及其调整方法。
背景技术：
使用光盘作为记录介质的记录/再现设备在激光于数据记录或数据再现期间照 射到光盘的数据记录表面时，生成聚焦误差(focus error)信号，该聚焦误差信号指示出激 光在数据记录表面上对准焦点的程度。基于聚焦误差信号，记录/再现设备沿着激光轴的 光轴在靠近数据记录表面的方向和相反方向上适当地移动光学拾取器(optical pickup) 的物镜，从而把激光聚焦在光盘的数据记录表面上。在记录/再现设备中，由于光学拾取器的组装精度(例如，在调整光学组件的布置 位置时的误差)、构成光学拾取器的各种组件的成型精度等等，在聚焦误差信号中可能导致 误差。因此，记录/再现设备在启动时设定例如用于校正物镜的位置的透镜位置校正信号 (以下称之为“聚焦偏移”)的值(恒定值)。另外，记录/再现设备在数据记录和数据再现 时将该聚焦偏移与聚焦误差信号相加，并基于加法的结果来调整物镜的位置。结果，即使当 在聚焦误差信号中导致误差时，记录/再现设备也可以校正物镜的位置，以便利用聚焦偏 移来抵消聚焦误差信号的误差，以使得激光在光盘的数据记录表面上对准焦点。另外，在高密度光盘的情况下，必须执行球面象差校正，以应对覆盖层的厚度误差 或者多层结构中的多个记录层。尤其是在诸如蓝光光盘之类的包括具有高NA的透镜的记 录/再现设备中，由于较小的聚焦偏移/球面象差裕量，必须执行球面象差调整以及聚焦偏 移调整。作为有关聚焦偏移调整和球面象差调整的公知技术，已知下述方法在启动时执 行聚焦偏移调整和球面象差调整的方法(例如参见日本专利申请早期公开No. 2004-95106 和日本专利申请早期公开No. 2004-241081 ；以下分别称之为专利文献1和专利文献2)，通 过在数据读取期间执行聚焦偏移调整和象差校正的灵敏度学习并且执行多维搜索来调整 聚焦偏移和象差的方法(例如参见日本专利申请早期公开No. 2002-342952 ；以下称之为专 利文献3)，等等。另外，在记录/再现设备中，从光学拾取器输出的光的光轴必须垂直于盘的信号 记录表面。因此，需要执行倾斜调整(tilt adjustment)，以调整从光学拾取器输出的光的 光轴与盘的信号记录表面之间的关系。作为有关倾斜调整的公知技术，已知下述方法在启 动时调整倾斜以及聚焦偏移和球面象差的方法，在数据读取期间调整倾斜以及聚焦偏移和 球面象差的方法(例如，参见专利文献3)，等等。
发明内容
再现光盘的设备从启动以后开始，由于各种电路块、主轴电机等等的操作而发出热量，并且其内部温度随着时间而升高。由于内部温度的升高，光学拾取器的基底构件可能 由于热量而伸展和变形，其结果是光学拾取器中诸如透镜和激光二极管之类的被基底构件 所支撑的光学组件之间的距离改变了。因此，由于在聚焦误差信号中导致的误差的改变，聚 焦偏移的最优值发生改变，并且由于象差生成量的改变，象差校正的最优值也发生改变。尤 其是当塑料透镜被用于光学拾取器的光学系统时，由于温度改变而导致的球面象差生成量 变得比使用玻璃透镜时大。因此，如专利文献1和2中所公开的，在仅于启动时执行聚焦偏移调整和球面象差 调整的方法中，不执行在启动之后跟随内部温度改变的聚焦偏移调整和象差调整。另外，在于启动时执行倾斜调整的方法中，启动时间延长了，延长量等于倾斜调整 所花的时间。具体而言，为了吸收盘半径方向上的整个区域的倾斜波动，启动时在盘半径方 向上的多个位置执行倾斜调整，并且基于倾斜调整的结果通过内插方法来计算盘半径方向 上的整个区域中的倾斜设定值。因此，倾斜调整可能需要相对较长的时间。另外，在廉价的 塑料透镜被用作物镜的情况下，针对透镜倾斜波动的慧形象差(comaaberration)生成灵 敏度(透镜倾斜灵敏度)可能波动。在此情况下，可以设想按温度来校正透镜倾斜灵敏度 波动量并且使用启动时的调整结果的方法，但是当针对温度的透镜倾斜灵敏度波动量中存 在个体差异时，调整可能不充分。另外，在通过在数据读取期间执行聚焦偏移调整、象差校正和倾斜调整的灵敏度 学习来调整聚焦偏移、象差和倾斜的方法中，在灵敏度学习时可能必须增大调整值的幅度 以提高调整精度。然而，幅度的增大可能导致读取性能的恶化。考虑到上述情况，需要一种能够减小调整操作期间的幅度并且减轻调整操作对读 取性能的影响以及良好地执行聚焦偏移调整和象差调整的记录/再现设备，及其调整方 法。根据本发明的一个实施例，提供了一种记录/再现设备，包括发射激光的光源； 第一校正装置，用于基于聚焦偏移设定值来对在光盘的数据记录表面上收集从光源发射的 激光的物镜的位置进行校正，该聚焦偏移设定值是基于聚焦偏移值获得的；第二校正装置， 用于基于象差校正设定值来校正激光的象差，该象差校正设定值是基于象差校正值获得 的；评估值生成装置，用于生成通过数字化再现信号的质量而获得的评估值；聚焦偏移调 整装置，用于改变聚焦偏移值的正负并在每次第一周期过去时基于由评估值生成装置生成 的评估值来计算新聚焦偏移值；以及象差调整装置，用于与由第一校正装置设定的聚焦偏 移值的更新并行地执行象差调整，该象差调整用于改变象差校正值的正负并在每次第二周 期过去时基于由评估值生成装置生成的评估值来计算新象差校正值，该第二周期等于或长 于第一周期。在本发明的实施例中，通过在启动后执行聚焦偏移调整和象差调整，可以获得更 优的值作为跟随启动后的内部温度改变的聚焦偏移值和象差校正值，并且可以良好地执行 聚焦偏移调整和象差调整。另外，在该记录/再现设备中，聚焦偏移调整装置获得由第一校正装置设定的聚焦偏移值被改变到正的第一区间的第一评估值与紧挨该第一区间之后获得的聚焦偏移值 被改变到负的第二区间的第二评估值之间的差分，并且利用当前差分值、先前差分值和由 第一校正装置设定的聚焦偏移值来计算新聚焦偏移值，并且象差调整装置获得由第二校正装置设定的象差校正值被改变到正的第三区间的第三评估值与紧挨该第三区间之后获得 的象差校正值被改变到负的第四区间的第四评估值之间的差分，并且利用当前差分值、先 前差分值和由第二校正装置设定的象差校正值来计算新象差校正值。根据本发明的实施例，由于评估值的积分效应被施予到聚焦偏移调整和象差调整 的计算并且抖动值的测量误差的影响从而被尽可能地减小，因此调整操作期间的幅度和调 整操作对读取性能的影响可得以减小。另外，该记录/再现设备还可包括第三校正装置，用于基于倾斜调整值对在半径方向上光盘的倾斜调整进行校正；以及倾斜调整装置，用于与由第二校正装置设定的象差 校正值的更新并行地执行倾斜调整，该倾斜调整在每次第三周期过去时基于由评估值生成 装置生成的评估值来计算新倾斜调整值，该第三周期等于或长于第二周期。根据本发明的实施例，可以在启动后执行聚焦偏移调整和象差调整的同时良好地 执行实时倾斜调整。此外，由于评估值的积分效应被施予到实时倾斜调整的计算并且抖动 值的测量误差的影响从而被尽可能地减小，因此调整操作期间的幅度和调整操作对读取性 能的影响可得以减小。根据本发明的实施例，可以减小调整操作期间的幅度并且减轻调整操作对读取性 能的影响以及良好地执行聚焦偏移调整和象差调整。根据以下对附图中示出的本发明最佳模式实施例的详细描述，本发明的这些和其 他目的、特征和优点将变得更清楚。
图1是示出根据本发明第一实施例的再现设备的硬件的框图；图2是示出图1所示的光学拾取器的结构的框图；图3是示出图1所示的伺服电路的结构的框图；图4是示出图1所示的读取器电路的结构的示图；图5是读取期间的象差调整的流程图；图6是读取期间的聚焦偏移调整的流程图；图7是聚焦偏移调整的说明图；图8是读取期间的象差调整的说明图；图9是示出在采用抖动值作为评估值的情况下聚焦偏移调整与评估值之间的关 系的示图；图10是示出在采用抖动值作为评估值的情况下象差调整与评估值之间的关系的 示图；图11是用于说明在搜寻(seek)之前和之后盘半径方向上的距离的示图；图12是长距离搜寻中的象差调整处理的说明图；图13是用于说明聚焦偏移调整期间象差校正值的改变的示图；图14是用于说明聚焦偏移调整对象差调整精度的影响的示图；图15A和15B是用于说明象差校正驱动的平均周期的设定的示图；图16是示出根据本发明第二实施例的再现设备的硬件的框图；图17是示出图16所示的光学拾取器的结构的示图18是示出图16所示的伺服电路的结构的示图；图19是示出通过在半径位置分割光盘而获得的区域以及每个区域的倾斜区域调 整值和倾斜区域调整时温度之间的关系的示图；图20是示出在实时倾斜调整中倾斜区域调整值的更新的示图；图21是实时倾斜调整的流程图；图22是作为图21所示的实时倾斜调整的修改例的实时倾斜调整的流程图；图23是示出读取期间的倾斜调整、象差调整和聚焦偏移调整之间的关系的示图；图24是示出在采用抖动值作为评估值的情况下评估倾斜调整值与评估值之间的 关系的示图；图25是示出切换评估象差校正值相对于象差校正值的正负的修改例的示图；图26是示出切换评估倾斜调整值相对于倾斜调整值的正负的修改例的示图；图27是倾斜区域调整值和倾斜区域调整时温度的初始设定1的流程图；图28是倾斜区域调整值和倾斜区域调整时温度的初始设定2的流程图；并且图29是实时倾斜调整中的倾斜区域调整值和倾斜区域调整时温度的更新的流程 图。
具体实施例方式下面，将参考附图描述本发明的实施例。<第一实施例>图1是示出根据本发明第一实施例的再现设备的硬件的框图。(整体结构)在图1中，光盘2可被装载到再现设备1中。在再现设备1中，设置了光学拾取器 3，其对着被装载到再现设备1中的光盘2的数据记录表面。另外，螺纹机构部件4支撑光 学拾取器3，同时使其能够在光盘2的半径方向(以下称之为“盘半径方向”)上移动。在用于在再现设备1中再现数据的光盘2上，以恒定的线速度、从而具有恒定频率 地预先在数据记录表面上形成了摆动式(wobbling) (S卩，蜿蜒式)的沟槽(即，引导沟槽)， 并且沟槽(以及沟槽间的岸台)成为了记录数据的轨道(track)。另外，在光盘2中，被称 为ADIP(AddreSSIn Pre Groove，预刻槽寻址)的数据记录表面上的地址信息(以下称之为 “盘地址信息”)被嵌入在沟槽的摆动中。另外，光盘2包括多个记录层。在再现设备1中，由例如微型计算机构成的系统控制器5响应于诸如从外部 AV (视听)系统AVSl给出的读取命令之类的各种命令而总体控制整个设备，并且执行各种 类型的处理。从而，当在光盘2被装载于再现设备1中的状态中输入加电命令并激活再现 设备1时，或者当在激活之后的可操作状态(即，加电状态)中在再现设备1中装载(或更 换)光盘2时，系统控制器5进入启动模式。此时，伺服电路6例如在系统控制器5的控制下驱动螺纹机构部件4并且把光学 拾取器3移动到例如对着光盘2的最内圆周的位置。另外，主轴驱动电路7在系统控制器 5的控制下驱动主轴电机8并且使得光盘2以恒定速度旋转。另外，光盘2被旋转时，激光 驱动器9在系统控制器5的控制下生成用于连续发射激光的激光控制信号并且把该信号发 送到光学拾取器3。
在接收到来自激光驱动器9的激光控制信号后，光学拾取器3基于该激光控制信 号使得激光二极管连续发射激光，并且还使得物镜收集所发射的激光，以将其照射到光盘2 的数据记录表面上。光学拾取器3还利用例如多个光接收器件来接收作为由光盘2的数据 记录表面对激光的反射而获得的反射光，并且对反射光进行光电转换。从而，光学拾取器3 生成与多个光接收器件所接收的反射光的光量相对应的电流值的信号(以下称之为“光电 信号”)，并把该信号发送到矩阵电路10。在接收到来自光学拾取器3的由多个光接收器件生成的光电信号后，矩阵电路10 通过选择性地使用通过转换光电信号而获得的电压值来执行矩阵运算处理、放大处理等 等。从而，矩阵电路10基于光电信号生成聚焦误差信号，该聚焦误差信号指示出激光在光 盘2的数据记录表面上对准焦点的程度。矩阵电路10还基于光电信号生成循轨误差(tracking error)信号，循轨误差信 号指示出激光的照射位置相对于光盘2的数据记录表面的轨道的精确程度。然后，矩阵电 路10把聚焦误差信号和循轨误差信号发送到伺服电路6。顺便说一下，此时，在系统控制器5的控制下，伺服电路6生成用于搜索物镜的下 述期望位置的聚焦搜索信号并把该信号发送到光学拾取器3:在该期望位置处，激光在光 盘2的数据记录表面上对准焦点。从而，例如，在光学拾取器3中按照聚焦搜索信号沿着光 轴移动物镜以使其靠近光盘2的数据记录表面的同时，伺服电路6基于当时从矩阵电路10 输入的聚焦误差信号来执行聚焦牵引(focus drawing)操作以使得激光在数据记录表面上 对准焦点。然后，在结束聚焦牵引操作后，伺服电路6随后基于从矩阵电路10输入的聚焦误 差信号来生成聚焦控制信号并把该信号发送到光学拾取器3。从而，伺服电路6基于聚焦 控制信号，在光学拾取器3中沿着光轴在物镜靠近光盘2的数据记录表面的方向(以下称 之为“接近方向”)以及物镜远离光盘2的数据记录表面的相反方向(以下称之为“离开方 向”)上适当地移动物镜，从而使得激光在光盘2的数据记录表面上对准焦点。伺服电路6 从而与光学拾取器3和矩阵电路10形成了聚焦伺服环并且使得激光的焦点跟随光盘2的 数据记录表面。另外，在系统控制器5的控制下，伺服电路6生成用于将激光的照射位置定位在光 盘2的数据记录表面的轨道上的轨道搜索信号并把该信号发送到光学拾取器3。从而，例 如，在光学拾取器3中按照轨道搜索信号在盘半径方向上逐渐移动物镜的同时，伺服电路6 基于当时从矩阵电路10输入的循轨误差信号执行激光的轨道牵引(track drawing)操作， 以将激光的照射位置定位在数据记录表面的轨道上。然后，在如上所述的激光的轨道牵引操作结束后，伺服电路6随后基于从矩阵电 路10输入的循轨误差信号来生成循轨控制信号，并把该信号发送到光学拾取器3。从而，伺 服电路6基于循轨控制信号，在光学拾取器3中在盘半径方向上适当地移动物镜，以使得激 光被照射在光盘2的轨道上。从而，伺服电路6还与光学拾取器3和矩阵电路10形成了循 轨伺服环，并且使得激光的照射位置跟随光盘2的轨道。另外，在结束聚焦牵引操作和轨道牵引操作后，矩阵电路10通过选择性地使用通过对从光学拾取器3发送来的多个光电信号进行转换而获得的电压值来执行矩阵运算处 理、放大处理等等。从而，矩阵电路10基于光电信号，不仅生成聚焦误差信号和循轨误差信号，还生成指示出在光盘2上形成的沟槽的摆动的幅度(以下称之为“摆动幅度”)的摆动信号。矩阵电路10对所生成的摆动信号进行解调，生成用于检测盘地址信息的流数据， 并把该流数据发送到地址生成电路12。然后，地址生成电路12使得该流数据经历解码处理 并把作为解码处理的结果而获得的盘地址信息发送到系统控制器5。从而，系统控制器5可以基于来自地址生成电路12的盘地址信息来检测激光在光 盘2的数据记录表面上的照射位置。顺便说一下，系统控制器5被置于例如能够以盘地址 信息的形式检测激光在光盘2的数据记录表面上的照射位置的状态中，并且在读取命令从 AV系统AVSl发送来时从启动模式转移到再现模式。此时，当指示数据的读取开始位置的地址信息被AV系统AVSl指定时，系统控制器 5比较从地址生成电路12发送来的盘地址信息(即，在该时刻激光在光盘2的数据记录表 面上的照射位置)与指示读取开始位置的地址信息，并且适当地生成搜寻命令信号。然后， 系统控制器5把搜寻命令信号发送到伺服电路6。在接收到来自系统控制器5的搜寻命令信号后，伺服电路6临时解除循轨伺服环。 然后，伺服电路6基于搜寻命令信号生成搜寻控制信号，并把该搜寻控制信号发送到螺纹 机构部件4。从而，伺服电路6基于搜寻控制信号驱动螺纹机构部件4并且使得光学拾取器 3在在盘半径方向上跳过多个轨道的同时进行搜寻。系统控制器5把激光的读取输出值指示给激光驱动器9。从而，激光驱动器9响应 于来自系统控制器5的指示而生成用于按照读取输出而连续照射激光的激光控制信号，并 把该激光控制信号发送到光学拾取器3。从而，光学拾取器3基于从激光驱动器9发送来的激光控制信号，按照读取输出从 激光二极管连续发射激光，并且利用物镜收集照射的激光，以将其照射到光盘2的数据记 录表面上。光学拾取器3还利用多个光接收器件接收作为光盘2的数据记录表面对激光的 反射的反射光并对其进行光电转换以生成光电信号，并把该信号发送到矩阵电路10。在接收到来自光学拾取器3的多个光电信号后，矩阵电路10通过选择性地使用通 过转换这些光电信号而获得的电压值来执行矩阵运算处理、放大处理等等。从而，矩阵电路 10基于光电信号来生成与要再现的数据相对应的高频信号(以下称之为“RF信号”)以及 聚焦误差信号、循轨误差信号和摆动信号。然后，矩阵电路10把该RF信号发送到读取器电 路13，并把聚焦误差信号和循轨误差信号发送到伺服电路6。读取器电路13对从矩阵电路10发送来的RF信号顺序执行二值化处理、PLL (锁相 环)处理、再现数据生成处理等等，把作为处理的结果获得的调制数据发送到解调电路14， 并把通过PLL处理生成的操作时钟提供给各个部件。解调电路14与此时从读取器电路13提供来的用于再现处理的操作时钟同步地操 作。然后，解调电路14使从读取器电路13发送来的调制数据经历诸如游程长度受限解码 处理之类的解调处理，并把作为解码处理的结果获得的编码数据发送到解码器15。解码器15与此时从读取器电路13提供来的用于再现处理的操作时钟同步地操 作。然后，解码器15例如使从解调电路14发送来的编码数据经历针对被添加了差错校正码 的每个单位块的差错检测校正处理或诸如去交织之类的解码处理，以生成要再现的数据， 并把所生成的数据存储在内置的缓冲器中。
另外，响应于来自AV系统AVSl的命令，解码器15在每次与预定数目的单位块(比 如四个单位块)相对应的数据被存储在缓冲器中时从缓冲器中读出与该预定数目的单位 块相对应的数据，并把该数据传送到AV系统AVSl。如上所述，系统控制器5可以对被记录 到光盘2的数据记录表面上的数据进行再现，并将其传送到AV系统AVSl。顺便说一下，在下述情况下，模式从启动模式转移到待用模式即使当系统控制器5在启动模式中被置于激光在光盘2的数据记录表面上的照射位置能够作为盘地址信息被 检测到的状态中时，也没有读取命令从AV系统AVSl输入。此时，系统控制器5继续检测激 光在光盘2的数据记录表面上的照射位置作为盘地址信息。从而，即使当在待用模式期间 接收到来自AV系统AVSl的读取命令时系统控制器5转移到再现模式，此时，也能够很容易 地检测到激光相对于光盘2的数据记录表面的照射位置并且能够容易地开始从光盘2中的 数据读取。(光学拾取器3的结构)图2是示出光学拾取器3的结构的示图。光学拾取器3包括作为光源的激光二极 管20，并且在激光二极管20中取入从激光驱动器9发送来的激光控制信号。光学拾取器3 使得基于激光控制信号从激光二极管20发射的激光Ll经过准直透镜21以将其转换成平 行光。在此之后，该平行光相继经过分束器22和球面象差校正透镜组23，并且被物镜24所 收集，从而被照射到光盘2的数据记录表面上。另外，在通过由光盘2的数据记录表面反射激光Ll而获得的反射光L2相继经过 物镜24和球面象差校正透镜组23并被分束器22所反射之后，光学拾取器3利用准直透镜 25收集该光，并且利用设置在光接收部26中的多个光接收器件接收该光。然后，光学拾取 器3利用光接收部26的多个光接收器件对反射光L2进行光电转换，并把作为转换的结果 而获得的光电信号发送到矩阵电路10。这里，球面象差校正透镜组23包括可移动透镜23A和固定透镜23B。致动器27支 撑可移动透镜23A，同时使其能够沿着光轴在接近方向和离开方向(以下，接近方向和离开 方向也可被称为“光轴方向”)上移动。球面象差校正透镜组23的结构使得当可移动透 镜23A被致动器27在光轴方向上适当移动时，激光Ll的波阵面被散焦，并且物镜24的物 点从而可据此来被调整。结果，在激光Ll中导致的球面象差可得到校正。另外，二轴致动器28支撑物镜24，同时使其能够在光轴方向和盘半径方向上移 动。通过被二轴致动器28沿着光轴在接近方向和离开方向上适当地移动，物镜24能够据 此将激光Ll聚焦在光盘2的数据记录表面上。此外，通过由二轴致动器28在盘半径方向 上适当移动物镜24，可据此在光盘2的数据记录表面的轨道上调整激光Ll的照射位置。(伺服电路6的结构)图3是示出伺服电路6的结构的示图。伺服电路6包括内置的DSP(数字信号处 理器)30。在接收到来自矩阵电路10的模拟聚焦误差信号后，伺服电路6在DSP 30之前的 一级，经由模拟/数字转换器31以数字聚焦误差数据的形式向DSP 30发送聚焦误差信号。DSP 30在系统控制器5的控制下操作，并且经由加法器32在聚焦伺服运算部件 35中取入聚焦误差数据。从而，DSP 30通过在聚焦伺服运算部件35中利用聚焦误差数据 执行诸如包括相位补偿等的滤波和环路增益处理之类的预定操作来生成聚焦控制数据。当DSP 30生成数字聚焦控制数据时，伺服电路6在DSP 30后经由数字/模拟转换器38以模拟聚焦控制信号的形式将聚焦控制数据发送到聚焦驱动器39。从而，伺服电路 6把聚焦控制信号从聚焦驱动器39发送到光学拾取器3的二轴致动器28 ( 即，聚焦线圈)， 并对其进行驱动。伺服电路6从而在接近方向和离开方向上沿着光轴移动物镜24(图2)， 并使得激光Ll的焦点跟随光盘2的数据记录表面。在伺服电路6的DSP 30中设置有象差校正设定值设定部件34，该部件34存储用 于对激光Ll (图2)的球面象差进行校正的校正数据(以下称之为“象差校正设定值”)。当 激光Ll被照射到光盘2的数据记录表面上时，DSP 30从象差校正设定值设定部件34中读 出象差校正设定值。当象差校正设定值被从DSP 30中的象差校正设定值设定部件34中读 出时，伺服电路6在DSP 30之后经由数字/模拟转换器36以模拟象差校正信号的形式将 该象差校正设定值发送到球面象差校正驱动器37。从而，伺服电路6把该象差校正信号从 球面象差校正驱动器37发送到光学拾取器3的致动器27，并对其进行驱动。伺服电路6从 而在光轴方向上驱动球面象差校正透镜组23的可移动透镜23A，并对在激光Ll中导致的球 面象差进行校正。在伺服电路6的DSP 30中还设置有聚焦偏移设定部件33，该部件33存储用于将 物镜24的位置校正到期望位置的校正数据(以下称之为“聚焦偏移设定值”)。当激光Ll 被照射到光盘2的数据记录表面上时，DSP30从聚焦偏移设定部件33中读出聚焦偏移设定值。通过把聚焦偏移设定值发送 到加法器32，DSP 30在加法器32中把聚焦偏移设定值与聚焦误差数据相加，并把结果发送 到聚焦伺服运算部件35。换言之，DSP 30在聚焦伺服运算部件35中利用添加了聚焦偏移设定值的聚焦误 差数据来计算聚焦控制数据。然后，伺服电路6把聚焦控制数据作为聚焦控制信号提供给 光学拾取器3的二轴致动器28。如上所述，伺服电路6能够在聚焦误差信号的误差被聚焦偏移设定值所抵消的状 态中形成聚焦伺服环。因此，伺服电路6能够根据聚焦伺服环的循环处理来使得激光Ll的 焦点跟随光盘2的数据记录表面。 另外，在伺服电路6的DSP 30中设置了设定控制部件40。设定控制部件40存储与 在启动时系统控制器5确定的初始象差生成量相对应的象差调整初始值，并将通过把从系 统控制器5发送来的象差校正值或评估象差校正值与存储的象差调整初始值相加而获得 的值作为象差校正设定值发送到象差校正设定值设定部件34，使得该值被存储于其中。另外，设定控制部件40存储与在启动时系统控制器5确定的初始聚焦偏移量调整结果相对应 的聚焦偏移初始值，并将通过把从系统控制器5发送来的聚焦偏移值或评估聚焦偏移值与 存储的聚焦偏移初始值相加而获得的值作为聚焦偏移设定值发送到聚焦偏移设定部件33， 使得该值被存储于其中。应当注意，在启动时，系统控制器5通过公知的方法而不是本发明 的调整方法来相继确定光盘2的每一层的聚焦偏移初始值和象差调整初始值，并把这些值 存储在DSP 30的存储部件(未示出)中。 图4是示出读取器电路13的结构的示图。读取器电路13包括二值化电路52、 PLL电路53、RF再现处理电路54、以及评估值生成电路51。二值化电路52使得从矩阵电 路10发送来的RF信号经历二值化处理，并把作为二值化处理的结果而获得的调制数据发 送到解调电路14。PLL电路53通过利用RF信号执行PLL处理来生成用于再现处理的操作时钟。RF再现处理电路54基于由二值化电路52获得的二值化信号，利用由PLL电路53生 成的用于再现处理的操作时钟来生成数据。评估值生成电路51测量从矩阵电路10发送来 的RF信号中沿着时间轴导致的波动成分(以下称之为抖动)，并把测得的抖动测量信号作 为评估值发送到系统控制器5。在RF信号中导致的抖动是表示表达RF信号的信息的转变 的时间性偏差的物理量。另外，表达RF信号的信息例如是以坑(pit)的形式形成在光盘2 的数据记录表面上的信息。在光学拾取器3中，随着物镜24更靠近期望位置并且激光Ll更聚焦在光盘2的 数据记录表面上时，激光Ll能够更精确地捕捉坑。因此，随着激光Ll更聚焦在数据记录 表面上，在RF信号中导致的抖动的值变小。相反，在光学拾取器3中，随着物镜24远离期 望位置并且激光Ll的焦点更远离光盘2的数据记录表面(即，随着焦点更远离数据记录表 面)，激光Ll将会更难以捕捉坑。因此，随着激光Ll的焦点更远离数据记录表面，在RF信 号中导致的抖动的值变大。在再现设备1中，由于启动后各种电路块、主轴电机8等等的操作所发出的热量， 内部温度升高。由于内部温度的升高，光学拾取器3的基底构件可能由于热量而伸展并变 形，其结果是光学拾取器3中诸如透镜和激光二极管之类的被基底构件所支撑的光学组件 之间的距离发生改变。因此，由于在聚焦误差信号中导致的误差的改变，聚焦偏移的最优值 改变了，并且由于象差生成量的改变，象差校正的最优值也改变了。尤其是当塑料透镜被用 于光学拾取器3的光学系统时，由于温变改变而导致的球面象差生成量变得比使用玻璃透 镜的情况中的大。在这点上，再现设备1在读取期间执行聚焦偏移调整和象差调整，以使得在启动 后，跟随内部温度的改变，能够获得更优的值来作为聚焦偏移值和象差校正值。(整体操作)接下来，将描述聚焦偏移调整和象差调整的整体操作。在用AOx表示与再现设备1启动时光盘2的层χ的象差生成量调整结果相对应的 象差调整初始值并且用BOx表示与启动时的聚焦偏移量调整结果相对应的聚焦偏移初始 值的情况下，层χ中的象差校正设定值可以用AOx+象差校正值来表达，并且层χ中的聚焦 偏移设定值可以用BOx+聚焦偏移值来表达。因此，在再现设备1启动之后要作为调整目标 的值是象差校正值和聚焦偏移值。这里，层χ是在光盘2的多个记录层之中作为调整目标的 记录层。系统控制器5在再现设备1启动时为每个记录层获得聚焦偏移初始值和象差调整 初始值，并把这些值发送到伺服电路6的设定控制部件40，以使得这些值被存储在DSP 30 的存储部件(未示出)中。下面，将描述在调整象差校正值和聚焦偏移值时执行的操作。象差校正值由A表示，聚焦偏移值由B表示。在调整开始时象差校正值和聚焦偏 移值的初始值都为0。图5是读取期间的象差调整的流程图。1.再现设备1的系统控制器5在接收到来自外部AV系统AVSl的读取命令后，判 断为了在光盘2上的目标读取开始位置前移动光学拾取器3而执行搜寻操作的搜寻执行定 时(步骤S101)。在判断出搜寻执行定时后，系统控制器5将Α+ΔΑ发送给设定控制部件 40作为评估象差校正值(步骤S102)。这里，△ A是为评估象差调整而预先给出的改变量。然后，系统控制器5把搜寻命令信号发送到伺服电路6，以执行实际搜寻操作(步骤S103)。应当注意，这里虽然改变象差校正设定值设定部件34的象差校正值的定时就在 执行搜寻之前，但象差校正设定值设定部件34的象差校正值例如也可在搜寻操作期间被 改变。2.当光学拾取器3能够从光盘2上的目标读取开始位置执行读取操作时，系统控 制器5在执行聚焦偏移调整的同时执行读取操作(步骤S104)。下文中将详细描述聚焦偏 移调整。3.从光盘2中读出并且在读取器电路13中经历二值化处理、在解调电路14中经 历解调处理并在解码器15中经历解码处理的数据被传送到解码器15内的缓冲器以存储于 其中。当缓冲器变满时，模式临时从再现模式转移到待用模式，并且在此之后，当数据被从 缓冲器中读出并且存储在缓冲器中的数据量下降到低于一定值时，读取操作再继续。从而， 系统控制器5再次判断搜寻执行定时(步骤S105)。4.当再次判断出搜寻执行定时时，系统控制器5把评估象差校正值改变到 A-Δ A (步骤S106)，然后执行搜寻(步骤S107)。在光学拾取器3能够从光盘2上的目标读 取开始位置执行读取操作时，系统控制器5在执行聚焦偏移调整的同时执行读取操作(步 骤 S108)。5.此后，系统控制器5计算象差校正值并把计算结果设定到A作为新的象差校正 值(步骤S109)。6.系统控制器5在执行读取操作的同时执行聚焦偏移调整处理。在判断出新的搜 寻执行定时后，系统控制器5返回到步骤S102，并且执行控制以重复从把评估象差校正值 改变到A+Δ A的处理开始的相同处理。(读取期间的聚焦偏移调整方法)接下来，将描述聚焦偏移调整方法。图6是读取期间的聚焦偏移调整的流程图，图7是聚焦偏移调整的说明图。应当 注意，在图7中，FB表示聚焦偏移。另外，图7的纵轴表示通过从聚焦偏移设定值中减去聚 焦偏移初始值而获得的值，横轴表示时间。在开始第q次聚焦偏移调整时的当前聚焦偏移值由B (q)表示。如图7所示，系统控制器5执行控制，以执行读取操作，同时在BP(q)和BM(q)之间 交替改变给予设定控制部件40的关于聚焦偏移值的信息。这里，BP(q)和BM(q)各自被称 为“评估聚焦偏移值”。BP(q)为B(q) + AB，BM(q)为B(q)_AB。ΔΒ表示为了评估聚焦偏 移调整而预先给出的改变量。对于其中评估聚焦偏移值被设定为B (q) 士 ΔΒ的各个区间， 系统控制器5通过评估值生成电路51获取评估值YPl (q)、YMl (q)、YP2 (q)、YM2 (q)、…、 YPn (q)以及 YMn (q)。如上所述，对于预定的区间，系统控制器5在按一定周期基于聚焦偏移值在正负 之间交替改变评估聚焦偏移值的同时，执行收集评估聚焦偏移设定区间中的评估值的处理 (步骤S201)。这里，该预定区间例如可以是ECC块单位或者盘旋转周期。或者，该预定区 间可以是适当确定的其他区间。在收集预定区间的评估值时，系统控制器5把要给予设定控制部件40的信息从评估聚焦偏移值临时恢复到聚焦偏移值(步骤S202)并且基于评估值来执行聚焦偏移调整的计算(步骤S203)。聚焦偏移调整的计算例如是通过以下过程来执行的。1.在其中评估聚焦偏移值被设定在聚焦偏移值的正侧的区间中获得的评估值的平均值由yp表示，在其中评估聚焦偏移值被设定在聚焦偏移值的负侧的区间中获得的评 估值的平均值由ym表示。假定通过第q次聚焦偏移调整的测量，已经获得了 η组评估值，确立了yp(q) = (YPl (q) +YP2 (q) +A+YPn (q)) /nym(q) = (YMl (q) +YM2 (q) +A+YMn (q)) /n另夕卜，yp(q)和ym(q)之间的差分被表达如下。yp (q) = yp (q) -ym (q)2.系统控制器5利用以下式子来计算新的聚焦偏移值。[式1] 这里，u(q)是在第q次聚焦偏移值中计算出的聚焦偏移值，并且由U (q) =B(q+l) 来表达，u(q-l)是在第q_l次聚焦偏移值中计算出的聚焦偏移值，并且由u (q_l) = B (q) 来表达，y(q)是在第q次聚焦偏移调整中测量出的评估值差分，y(q-l)是在第q_l次聚焦偏移调整中测量出的评估值差分，ytarget是评估值差分的目标值，T1是调整间隔[S]，Klp是比例增益，并且Kli是积分增益。式1对应于通过离散化以下PI控制式而获得的式子。[式2]
(2)这里，Klp和Kli是调整增益，并且被确定来满足期望性能。在结束上述过程后，系统控制器5把作为计算结果的新聚焦偏移值设定到下一 B(q+1)(步骤S204)。此后，系统控制器5返回到步骤S201，以开始第q+Ι次聚焦偏移调整 的测量，然后类似地执行聚焦偏移调整。图9是示出在采用抖动值作为评估值的情况下聚焦偏移调整与评估值之间的关 系的示图。在其中评估聚焦偏移值被设定在聚焦偏移值的正侧的区间中获得的评估值的平 均值yp(q)和在其中评估聚焦偏移值被设定在聚焦偏移值的负侧的区间中获得的评估值 的平均值ym(q)对应于由图9中的黑点指示的抖动值。因此，如果ym-被设定为0，那么 抖动底部可被调整到目标值。(读取期间的象差调整方法)接下来，将描述读取期间的象差调整方法。如以上(整体操作)部分中所述，读取期间的球面象差调整是在在BP(q)和BM(q) 之间交替改变要被给予设定控制部件40的关于聚焦偏移值的信息的同时执行的。图8是象差调整的说明图。1.第r次象差调整开始时的象差校正值由A(r)表示。在判断出开始第r次象差 调整时的搜寻执行定时后，系统控制器5向伺服电路6的DSP 30输出控制命令，以使得评 估象差校正值被设定为AP(r) =Α(Γ) + ΔΑ02.系统控制器5在象差校正值被设定为AP(r)的状态中执行上述的读取期间的聚 焦偏移调整。3.在判断出搜寻执行定时后，系统控制器5向伺服电路6的dsp 30输出控制命 令，以使得评估象差校正值被改变到am(r) =α(γ)-δα0为了描述，就在该搜寻执行定时前 执行的聚焦偏移调整的测量被假定为第Pr次测量。4.在评估象差校正值被设定到AM(r)的状态中，系统控制器5执行上述的读取期 间的聚焦偏移调整。为了描述，在评估象差校正值被设定到AM(r)后第一次执行的聚焦偏 移调整的测量被假定为第Mr次测量。5.在结束第mr次测量后，系统控制器5通过以下过程执行象差调整。(a)在聚焦偏移调整的第Pr次测量中获得的评估值的平均值由zp (r)表示，并且 在聚焦偏移调整的第Mr次测量中获得的评估值的平均值由zm(r)表示。具体而言，确立了另夕卜，zp (r)和zm(r)之间的差分被设定如下。z(r) = zp(r)-zm(r)(b)系统控制器5按以下式子计算新的象差校正值。[式3] 这里，v(r)是在第r次象差调整中计算出的象差校正值，并且由ν(r) =A(r+l)来 表达，v(r-l)是在第r-1次象差调整中计算出的象差校正值，并且由ν (r-1) = A(r)来 表达，z(r)是在第r次象差调整中测量出的评估值差分，z(r-l)是在第r-Ι次象差调整中测量出的评估值差分，ztarget是评估值差分的目标值，T2是调整间隔[s]，K2p是比例增益，并且K2i是积分增益。式3对应于通过离散化以下PI控制式而获得的式子。[式4] 这里，K2p和K2i是调整增益，并且被确定来满足期望的性能。
6.在结束通过以上过程进行的计算后，系统控制器5在评估象差校正值被设定到 AM(r)的状态中执行上述的聚焦偏移调整。7.当搜寻执行定时发生时，系统控制器5把评估象差校正值设定到AP(r+l)= A (r+1) + ΔΑ,然后类似地执行调整。图10是示出在采用抖动值作为评估值的情况下象差调整与评估值之间的关系的 示图。在其中评估象差校正值被设定在象差校正值的正侧的区间中获得的评估值的平均值 ζρ ω和在其中评估象差校正值被设定在象差校正值的负侧的区间中获得的评估值的平均 值zm(r)对应于图10中的黑点指示的抖动值。因此，如果Ztmgrt被设定为0，则抖动底部可 被调整到目标值。根据此实施例，通过执行读取期间的聚焦偏移调整和象差调整，在启动之后，跟随 内部温度的改变，能够获得最优值来作为聚焦偏移值和象差校正值，从而可以良好地执行 聚焦偏移调整和象差调整。此外，根据此实施例，由于评估值的积分效应被施予到聚焦偏移 调整和象差调整的计算并且抖动值的测量误差的影响被尽可能地减小，因此调整操作期间 的幅度和调整操作对读取性能的影响可得以减小。接下来，将描述以上实施例的修改例。(修改例1)用于增强调整精度的调整计算的处理象差校正的最优值依据光盘表面内的位置而有所不同。例如，当球面象差被选择 为调整项时，象差校正的最优值依据光盘的保护层的厚度而有所不同。通常认为在搜寻之 前和之后的位置处光盘的保护层的厚度之间的差异在如图11所示的短距离搜寻中相对较 小，但在长距离搜寻中，光盘的保护层的厚度之间的差异则可能变大，因为物理位置彼此远 离。换言之，象差校正的最优值之间的差异可能变大。在这点上，如图12所示，如果在评估象差校正值被从AP(r)切换到AM(r)时的搜 寻是长距离搜寻，则系统控制器5在不执行象差调整的初始阶段的预定次数的计算的情况 下保持象差校正值。图12示出了在不执行象差调整的第r次和第r+Ι次计算的情况下保 持象差校正值的示例。换言之，确立了 A(r+1) =A(r+2) =A(r)。顺便说一下，关于长距离搜寻和短距离搜寻的判断只需要如下进行。也就是说，例 如，当搜寻中在盘半径方向上的移动量在一定值以上时，搜寻被判断为长距离搜寻，而当移 动量小于该一定值时，搜寻被判断为短距离搜寻。(修改例2)在评估象差校正值从正改变到负时的搜寻跨层的情况下的处理当在评估象差校正值从AP (r)切换到AM(r)时的搜寻跨层时，由于温度改变而进 行的象差校正的最优值在搜寻前后可能不同。在此情况下，希望执行与修改例1的处理相 同的处理。具体而言，当在评估象差校正值从AP (r)切换到AM(r)时的搜寻跨层时，系统控 制器5保持象差校正值，而不执行象差调整的初始阶段的预定次数的计算。(修改例3)评估象差校正值刚刚改变之后的聚焦偏移调整计算的处理为了测量相同象差条件下的聚焦偏移调整的评估值y (q-Ι)和y (q)，在式1所示的 聚焦偏移调整的计算中，希望在不执行象差设定刚刚改变之后的第一次计算的情况下保持 聚焦偏移调整。例如，当如图13所示评估象差校正值在第q_l次聚焦偏移调整和第q次聚焦偏移调整之间改变时，对于评估值y(q-l)和y(q)，象差条件不同。在这一点上，系统控制器5不执行第q次聚焦偏移调整的计算，而是保持聚焦偏移值，并且设定B (q+1) =B(q)0(修改例4)聚焦偏移调整对象差调整精度的影响如图14所示，如果在获得象差调整的评估值zp (r)和zm(r)时第Pr次聚焦偏移调整中的聚焦偏移调整量较大，则最优象差值的波动由于聚焦偏移条件的差异而变大，从 而影响象差调整精度。为了去除这样的影响，系统控制器5不执行第Pr次聚焦偏移调整的 计算，而是保持先前的聚焦偏移值，即，设定B(Mr) =B (Pr)。应当注意，在聚焦偏移调整周 期充分短于象差调整周期并且一次聚焦偏移调整计算中的聚焦偏移调整量较小的情况下， 聚焦偏移调整对象差调整精度的影响可忽略。因此，可省略该处理。(修改例5)评估值和评估值差分的目标值以上实施例已描述了使用抖动值作为评估值的情况。然而，本发明并不限于此，例 如，RF信号的幅度值或者摆动信号的幅度值可用作评估值。另外，在再现设备1中，在RF 信号经历了模拟/数字转换后，可以通过其中组合了被称为PRML(部分响应最大似然)的 部分响应均衡处理和诸如维特比(Viterbi)解码之类的最大似然解码处理的信号处理来 获得要再现的数据，并且使用作为PRML的误差指标的MLSA(最大似然序列幅度)或者作 为PRML的质量评估指标的PRSNR(部分响应信号噪声比)来作为评估值。此外，在再现设 备1中，还可以在PRML信号处理中所包括的最大似然解码中获得具有最小欧几里得距离 (Euclidean distance)的路径的似然差异，并且使用在通过使该似然差异经历统计处理而 确定的调整条件下生成的再现差错率(DMj)来作为评估值。当使用上述评估值时，通过将两个评估值差分的目标值ytoget和Ztoget都设定到0， 可以将聚焦偏移值和象差校正值调整到最优值。在读取(再现模式)和空闲(待用模式)期间的调整中，可以使用任何上述的评 估值。当执行写入期间的调整时，可以使用摆动幅度信号作为评估值。(修改例6)考虑了象差校正机制的耐久性的调整方法作为象差校正机制，存在将液晶器件用于象差校正的方法、驱动象差校正透镜以 执行校正的方法等等。尤其是在驱动象差校正透镜的情况下，从机械驱动耐久性的角度来 看，最好限制象差调整频率。作为这种情况下的限制方法，可以设想以下方法。1.在从启动起经过一定时间段之后，停止象差调整操作。通过此方法，可以跟随由于操作刚刚开始之后再现设备1中的温度升高而引起的 象差改变。一般地，再现设备1的内部温度由于操作刚刚开始之后再现设备1的各种电路 块、主轴电机8等等发出的热量而升高。然而，由于温度的上升曲线在一段时间之后变得温 和并且由于温度改变引起的象差生成量变小，所以即使不执行象差调整也能维持性能。应 当注意，当再现设备1的内部温度在象差调整操作停止之后由于再现设备1外部的温度改 变而波动时，所生成的象差不能被调整。2.改变象差校正值的平均周期被控制为一定值以上。以上的描述已经描述了在读取期间每当搜寻执行定时发生时改变评估象差校正 值的方法。与之不同，如图15A和15B所示，也可以插入“跳过在一定时间段内多次改变评 估象差校正值的过程”的处理，并且将改变评估象差校正值的平均周期限制为一定值以上。 通过此方法，可以考虑到象差校正机制的耐久性，同时一直使象差调整工作。图15A和15B是此方法的说明图。图15A示出了在不采用此方法的处理的情况下评估象差校正值的改变，图15B示出了在采用此方法的处理的情况下评估象差校正值的改 变。这里，T1、T2、T3、…是为了限制评估象差校正值的周期而确定的共同持续时间。假定 在不采用该处理时，搜寻执行定时如图15Α所示在定时stl、st2、st3、…、和stll处发生。 另一方面，当采用该处理时，如图15B所示，在搜寻执行定时st3、st5、st6、st9和stll不 改变评估象差校正值。如上所述，通过采用该处理，可以限制改变评估象差校正值的周期， 并且可以在一直使象差调整工作的同时考虑到象差校正机制的耐久性。3.在启动之后，在预定的时间段期间在每个搜寻执行定时改变评估象差校正值， 而在该预定时间段逝去之后，改变评估象差校正值的平均周期被设定为一定时间段以上。 具体而言，此方法是通过组合上述的1的方法和2的方法来获得的。通过此方法，可以通过 频繁的调整操作很容易地跟随刚刚启动之后由于再现设备1的内部温度升高引起的象差 改变，并且在温度改变稳定且象差改变变得平缓之后以考虑到耐久性的频率来执行象差调整.4.基于评估值的质量来判断象差调整的必要性，并且仅在必要时执行象差调整操 作。具体而言，仅在通过聚焦偏移调整获得的评估值(例如抖动值)恶化了一定水平以上 时才执行象差调整操作。通过此方法，可以避免不必要的调整操作。5.仅在基于温度测量结果、温度改变较大时，才执行象差调整操作。利用热敏电阻 测量再现设备1的内部温度，并且当在先前调整之后检测到预定值以上的温度改变时执行 象差调整操作。当再现设备1的内部温度几乎没改变时不执行象差调整。通过此方法，可 以避免不必要的调整操作，同时校正由温度改变导致的象差。6.使象差调整周期可根据评估值差分的大小而变化。当评估值差分的大小(z(r) 的绝对值)变得等于或小于预先确定的第一值时，延长象差调整周期，而当评估值差分的 大小(z(r)的绝对值)超过预先确定的第二值时，缩短象差调整周期。此时，通过上述2的 方法改变象差调整周期。(修改例7)关于缺陷耐受性的改善以上描述的聚焦偏移调整和象差调整的调整精度可能由于再现期间光盘2的数 据记录区域中存在的缺陷的影响而降低。为了改善缺陷耐受性，只需要通过对利用以上式 (1)和⑶计算出的每个值的输出执行LPF (低通滤波器)计算来去除每个调整值的缺陷成 分。(修改例8)在启动之后的层间移动之后聚焦偏移设定值和象差校正设定值的设 定例如，当启动之后的读取等等期间发生读取位置的层间移动时，系统控制器5在 聚焦偏移设定部件33中设定在读取位置的层间移动之前的最新聚焦偏移值与在再现设备 1启动时获得并存储在DSP 30的存储部件(未示出)中的移动目的地层的聚焦偏移初始值 的总和。类似地，系统控制器5在象差校正设定值设定部件34中设定在读取位置的层间移 动之前的最新象差校正值与在再现设备1启动时获得并存储在DSP 30的存储部件(未示 出)中的移动目的地层的象差调整初始值的总和。在此之后，在移动目的地层中开始聚焦 偏移值和象差校正值的调整。结果，在读取位置的层间移动之后，即可良好地执行聚焦偏移 调整和象差调整。(其他修改例)
以上描述的实施例已经描述了基于以上式(1)来调整聚焦偏移值的情况。然而， 本发明并不限于此，例如，如果抖动值的测量精度相当高，则也可以在每次获得最新评估值 时使用该评估值而不是使用第q和第q_l个评估值来调整聚焦偏移值。类似地，可以在每 次获得最新评估值时使用该评估值而不是使用第r和第r-Ι个评估值来执行象差调整。另外，在以上实施例中，系统控制器5把计算出的聚焦偏移值和象差校正值存储 在内置的存储部件中，并且使用这些值来执行以下的调整计算。作为这个部分的修改例，可 以设置把系统控制器5计算出的聚焦偏移值和象差校正值存储在伺服电路6的DSP 30中 的存储部件，并且在每次系统控制器5执行聚焦偏移和象差调整计算时从伺服电路6的DSP 30中读出聚焦偏移值和象差校正值。另外，以上实施例已经描述了在读取期间执行聚焦偏移调整和象差调整的情况。 然而，本发明并不限于此，在空闲期间也可类似地执行聚焦偏移调整和象差调整。另外，以上实施例已经描述了本发明被应用到再现设备1的情况。然而，可在记录 /再现设备中的读取、空闲和写入中的至少一个期间执行聚焦偏移调整和象差调整。以上实施例已经描述了调整激光的球面象差的情况。然而，本发明并不限于球面 象差，也可应用到在激光中导致的各种其他象差的调整。<第二实施例>此实施例涉及实时地执行半径方向上的光盘的倾斜调整以及聚焦偏移调整和象 差调整的再现设备。图16是示出根据本发明第二实施例的再现设备的硬件的框图。应当注意，在该图 中，与图1的部分相对应的部分用100+相应的标号来表示，并且对于重复部分的描述将被 适当地省略。在此实施例的再现设备101中，至少光学拾取器103、伺服电路106和系统控 制器105不同于图1的那些。(光学拾取器103的结构)图17是示出图16所示的光学拾取器103的结构的示图。这里，三轴致动器128 支撑物镜124，同时使其能够在光轴方向(聚焦方向)、盘半径方向(循轨方向)和倾斜方 向上移动。这里使用的倾斜方向指的是光盘的半径方向上的倾斜方向，也就是说以与聚焦 方向和循轨方向正交的切线方向作为轴旋转的方向。三轴致动器128例如由多个循轨线圈和四个聚焦线圈构成。聚焦线圈被布置在相 对于物镜124的光轴位置在循轨方向的+方向和_方向上仅偏离相等距离的两个位置处， 并且彼此对向，同时在切线方向上夹着物镜124。这里，彼此对向并同时在切线方向上夹着 物镜124的两个聚焦线圈将被称为“驱动聚焦线圈对”。换言之，两个驱动聚焦线圈对被设 置在光学拾取器103中。物镜124被这两个驱动聚焦线圈对所生成的聚焦方向上的两个驱 动力在聚焦方向上驱动。此外，通过在由这两个驱动聚焦线圈对所生成的聚焦方向上的两 个驱动力之间提供差分，来向物镜124施予倾斜方向上的驱动力。应当注意，在以上描述中，倾斜方向是以与聚焦方向和循轨方向正交的切线方向 作为轴旋转的方向。然而，本发明并不限于此，倾斜方向只需要是物镜124的光轴相对于与 聚焦方向正交的平面倾斜的方向。另外，虽然用于倾斜调整的驱动力是通过由两个驱动聚焦线圈对生成的驱动力之间的差分生成的，但也可改为使用用于生成倾斜方向上的驱动力的专用线圈。
在图17所示的光学拾取器103中，除三轴致动器128以外的部分与图2的那些相 同。另外，在光学拾取器103中可设置温度传感器150。温度传感器150进行的温度检测的 结果被提供给系统控制器105。(伺服电路106的结构)图18是示出伺服电路106的结构的示图。在伺服电路106中，由聚焦伺服运算部 件135生成的数字聚焦控制数据被共同提供给两个加法器142a和142b。加法器142a和 142b的输出分别被数字/模拟转换器136a和136b转换成模拟聚焦控制信号并被发送到两 个聚焦驱动器139a和139b。聚焦驱动器139a和139b对模拟聚焦控制信号进行放大并把 它们发送到光学拾取器103中的三轴致动器128的驱动聚焦线圈对。从而，沿着光轴驱动 物镜124，并且使激光Ll的焦点跟随光盘102的数据记录表面。在伺服电路106中还设置了倾斜校正运算部件141。设定控制部件140把从系统 控制器105发送来的倾斜调整值发送到倾斜校正运算部件141作为倾斜设定值。基于从设 定控制部件140发送来的倾斜设定值，倾斜校正运算部件141计算将被施予到两条数字聚 焦控制数据的差分数据并把它们输出到加法器142a和142b。在加法器142a和142b的每 一个中，从倾斜校正运算部件141发送来的差分数据被加到由聚焦伺服运算部件135生成 的数字聚焦控制数据。从而，各自被添加了与倾斜设定值相对应的差分的两个聚焦控制信 号被输出到聚焦驱动器139a和139b，以提供给三轴致动器128的两个驱动聚焦线圈对。从 而，在倾斜方向上驱动物镜124，并且执行倾斜校正。应当注意，还可以在伺服电路106中通过移动球面象差校正透镜组123(图17)的可移动透镜123A来校正在激光Ll中导致的球面象差。由于用于球面象差校正的结构与第 一实施例的相同，因此对其的描述将被省略。在此实施例的再现设备101中，除了在第一实施例中描述的聚焦偏移调整和象差 调整外，还执行实时的倾斜调整(以下称之为“实时倾斜调整”)。将定义在描述实时倾斜调整时使用的变量的含义。如图19所示，“倾斜区域调整值”是在通过在半径位置分割光盘而获得的区域al、 a2、a3、···、和an中的每一个中获得的倾斜调整值。倾斜区域调整值被存储在再现设备101 的系统控制器105的非易失性存储器(未示出)中，并且被用通过实时倾斜调整而获得的 最新倾斜调整值来更新。“倾斜调整值”是在实时倾斜调整时用作下文要描述的“评估倾斜调整值”的基准 值的倾斜设定值。“评估倾斜调整值”是用于在实时倾斜调整时获得评估值的倾斜设定值。在用C表 示“倾斜调整值”的情况下，“评估倾斜调整值”是由C+ Δ C和C- Δ C表达的值。Δ C是预先 给定的位移量。“倾斜设定值”在实时倾斜调整时从系统控制器105给予伺服电路106的倾斜校正 运算部件141的值。倾斜校正运算部件141基于倾斜设定值来生成要加到两条聚焦控制数 据的差分数据。在实时倾斜调整中，“评估倾斜调整值”成为“倾斜设定值”。图20是示出在实时倾斜调整中倾斜区域调整值的更新状态的示图。在开始实时 倾斜调整之前的初始状态中，共同初始值被设定为所有区域的倾斜区域调整值。该初始值 例如是像下面这样计算的。
当出厂时的调整数据被预先存储在非易失性存储器中时，系统控制器105在启动 时从该非易失性存储器中读出该调整数据并将其设定为每个区域的倾斜区域调整值的初 始值。另一方面，当出厂时的调整数据未被存储在非易失性存储器中时，系统控制器105在 启动时在光盘的预定部分区域上执行倾斜调整，并且将该倾斜调整值设定为所有区域的倾 斜区域调整值的初始值。在实时倾斜调整期间，每当通过计算获得倾斜调整值时，就用倾斜 调整值来更新相应区域的倾斜区域调整值。通过对所有区域重复此处理，可以获得再现期 间针对光盘的这些区域的倾斜区域调整值。在实时倾斜调整开始时，包括长距离搜寻后，在倾斜区域调整值(对应于搜寻目 的地的盘半径)被拷贝到倾斜调整值作为实时倾斜调整的初始值后再继续调整。从而，在 长距离搜寻后可以立即良好地执行实时倾斜调整。接下来，将描述实时倾斜调整的操作。图21是读取期间的实时倾斜调整的流程图。1.在接收到来自外部AV系统AVSl的读取命令后，再现设备101的系统控制器105 判断为了在光盘102上的目标读取开始位置前移动光学拾取器103而执行搜寻操作的搜寻 执行定时(步骤S301)。在判断出搜寻执行定时后，系统控制器105把C+AC设定为评估 倾斜调整值(步骤S302)并把Α+ΔΑ设定为评估象差校正值(步骤S303)。然后，系统控 制器105把搜寻命令信号发送到伺服电路106以执行控制，以便进行实际搜寻操作(步骤 S304)。应当注意，这里虽然设定评估倾斜调整值和评估象差校正值的定时就在执行搜寻 之前，但该定时也可改为在搜寻操作期间。2.在能够从光盘102上的目标读取开始位置执行读取操作时，系统控制器105在 执行读取操作的同时执行象差调整和聚焦偏移调整(步骤S305)。3.从光盘102中读出并且在读取器电路113中经历二值化处理、在解调电路114 中经历解调处理并在解码器115中经历解码处理的数据被传送到解码器115内的缓冲器 以存储于其中。当缓冲器变满时，模式临时从再现模式转移到待用模式，并且在此之后，当 数据被从缓冲器中读出并且存储在缓冲器中的数据量下降到低于一定值时，读取操作再继 续。这里，再次发生搜寻执行定时(步骤S306)。4.当判断出结束预定次数(1次以上)的象差调整计算后的第一搜寻执行定时时， 系统控制器105把评估倾斜调整值改变到C-Δ C (步骤S307)，然后把评估象差校正值改变 到Α-ΔΑ(步骤S308)。然后，系统控制器105向伺服电路106发送搜寻命令信号以执行控 制，以便进行实际搜寻操作(步骤S309)。5.在光学拾取器103能够从光盘102上的目标读取开始位置执行读取操作时，系 统控制器105在再次执行读取操作的同时执行象差调整和聚焦偏移调整(步骤S310)。6.系统控制器105在结束了其中评估倾斜调整值被设定为C-AC的区间的再现后 计算倾斜调整值C(步骤S311)。此时，系统控制器105利用新的倾斜调整值C来更新盘半 径上的当前位置所属的区域的倾斜区域调整值。7.系统控制器105此后在执行读取操作的同时执行象差调整和聚焦偏移调整(步骤S312)。然后，当判断出结束预定次数(1次以上)的象差调整计算后的第一搜寻执行定 时时(步骤S301)，系统控制器105执行控制以再次把评估倾斜调整值改变到C+ △ C并重复之后的操作。应当注意，如果在上述的实时倾斜调整中执行了盘半径方向上的移动量为一定值 以上的长距离搜寻，则系统控制器105停止实时倾斜调整操作，并重新开始从步骤S301的处理。以上已经描述了通过在每次在结束预定次数(1次以上)的象差调整计算后判断 出第一搜寻执行定时时改变评估倾斜调整值来执行实时倾斜调整的情况中执行的操作。在 该预定次数为1次的情况下的实时倾斜调整如下。图22是在此情况下的实时倾斜调整的 流程图。1.在接收到来自外部AV系统AVSl的读取命令后，再现设备101的系统控制器105 判断为了在光盘102上的目标读取开始位置前移动光学拾取器103而执行搜寻操作的搜寻 执行定时(步骤S401)。在判断出搜寻执行定时后，系统控制器105执行如下的评估倾斜调 整值的设定。系统控制器105在当前评估倾斜调整值(设定改变前)为C- Δ C时把C+ Δ C设定为新的评估倾斜调整值(步骤S403)，而在当前评估倾斜调整值为C+ Δ C时把C-AC设定为 新的评估倾斜调整值(步骤S404)。然后，系统控制器105把Α+ΔΑ设定为评估象差校正 值(步骤S405)。接下来，系统控制器105把搜寻命令信号发送到伺服电路106，以执行实 际搜寻操作(步骤S406)。2.在光学拾取器103能够从光盘102上的目标读取开始位置执行读取操作时，系 统控制器105在执行读取操作的同时执行聚焦偏移调整处理(步骤S407)。3.从光盘102中读出并且在读取器电路113中经历二值化处理、在解调电路114 中经历解调处理并在解码器115中经历解码处理的数据被传送到解码器115内的缓冲器 以存储于其中。当缓冲器变满时，模式临时从再现模式转移到待用模式，并且在此之后，当 数据被从缓冲器中读出并且存储在缓冲器中的数据量下降到低于一定值时，读取操作再继 续。这里，再次发生搜寻执行定时(步骤S408)。4.系统控制器105把评估象差校正值改变到A-Δ A (步骤S409)。然后，系统控制 器105向伺服电路106发送搜寻命令信号，以执行实际搜寻操作(步骤S410)。5.在光学拾取器103能够从光盘102上的目标读取开始位置执行读取操作时，系 统控制器105在再次执行读取操作的同时执行聚焦偏移调整处理(步骤S411)。然后，系统 控制器105基于在评估象差校正值被设定为A+ Δ A时获得的评估值和在评估象差校正值被 设定为A-Δ A时获得的评估值来计算象差校正值A (步骤S412)。6.此后，在获得了在评估倾斜调整值为C+ Δ C的状态中获得的评估值和在评估倾 斜调整值为C-AC的状态中获得的评估值后(步骤S413中的“是”)，系统控制器105计算 倾斜调整值C (步骤S414)。此时，系统控制器105利用作为该计算的结果获得的倾斜调整 值C来更新盘半径上的当前位置所属的区域的倾斜区域调整值。7.系统控制器105此后在执行读取操作的同时执行聚焦偏移调整(步骤S415)。 然后，当判断出下一搜寻执行定时时(步骤S401)，系统控制器105执行控制以重复从改变 评估倾斜调整值的处理起之后的操作。(实时倾斜调整期间倾斜调整值的计算方法)接下来，将描述在实时倾斜调整期间倾斜调整值的计算方法。
图23是示出通过在每回判断出一次象差调整计算后的第一搜寻执行定时时改变 评估倾斜调整值来执行实时倾斜调整的情况下倾斜调整、象差调整和聚焦偏移调整之间的 关系的示图。图23的纵轴表示倾斜、象差和聚焦偏移的设定值，横轴表示时间。1.在开始第s次实时倾斜调整时获得的倾斜调整值由C(S)表示。系统控制器105 在开始第s次实时倾斜调整的搜寻执行定时把评估倾斜调整值设定为CP(S) = C(S) + AC。2.系统控制器105在评估倾斜调整值被设定到CP (s)的同时执行象差调整和聚焦 偏移调整。3.系统控制器105在结束一次象差调整计算后的搜寻执行定时把评估倾斜调整 值改变为CM(S) =C(S)-AC0为了描述，紧挨那之前评估象差校正值被从正切换到负的定 时由TPs表示，紧挨那之后评估象差校正值被从负切换到正的定时由TMs表示。4.为了描述，聚焦偏移调整被如下命名。紧挨TPs之前的聚焦偏移调整第PPs次测量紧挨TPs之后的聚焦偏移调整第PMs次测量紧挨TMs之前的聚焦偏移调整第MPs次测量紧挨TMs之后的聚焦偏移调整第匪s次测量5.在结束第MMs次测量后，系统控制器105通过以下过程来计算倾斜调整值。(a)在聚焦偏移调整的第PPs次测量和第PMs次测量的每一个中获得的评估值的 平均值由XP(S)表示，在聚焦偏移调整的第MPs次测量和第匪s次测量的每一个中获得的 评估值的平均值由Xm(S)表示。此时，xp (s)和Xm(s)分别被表达如下。[式5] [式6] 这里，Xp(s)是在评估倾斜调整值在正侧的情况下测量到的评估值的平均值， Xm(S)是在评估倾斜调整值在负侧的情况下测量到的评估值的平均值。另外，xp(s)和Xm(s)之间的差分如下。x(s)=xp(s)-xm(s)(b)接下来，系统控制器105如下计算倾斜调整值。[式7]
(7)这里，g(s)是在第s次倾斜调整中计算出的倾斜调整值，并且由g(s) =C(s+l)来 表达，g(s-l)是在第S-I次倾斜调整中计算出的倾斜调整值，并且由g(s-l) = C(s)来表达，x(s)是在第s次倾斜调整的测量中测量到的评估值差分，χ (s-1)是在第S-I次倾斜调整的测量中测量到的评估值差分，Xtarget是评估值差分的目标值，T3是调整间隔[S]，K3p是比例增益，并且K3i是积分增益。式7对应于通过离散化以下PI控制式而获得的式子。[式8]g(t) = K3p {x (t)-XtargeJ+K3i f {χ (t)-XtargeJdt …(8)这里，K3p和K3i是调整增益并被确定来满足期望的性能。6.通过以上过程结束计算后，系统控制器105在评估倾斜调整值被设定到CM(S) 的同时执行象差调整和聚焦偏移调整。然后，系统控制器105在一次象差调整计算结束后 的第一搜寻执行定时把评估倾斜调整值改变为CP(s+l) = C (s+1) +Δ C，并且类似地执行之 后的调整。图24是示出在采用抖动值作为评估值的情况下评估倾斜调整值与评估值之间的 关系的示图。在其中评估倾斜调整值被设定在倾斜调整值的正侧的区间中获得的评估值的 平均值XP(S)和在其中评估倾斜调整值被设定在倾斜调整值的负侧的区间中获得的评估 值的平均值Mi(S)对应于图24中的黑点所指示的抖动值。因此，如果Xtmgrt被设定为0，则 抖动底部可被调整到目标值。根据以上描述的实施例，在启动后执行聚焦偏移调整和象差调整的同时，可以良 好地执行实时倾斜调整。此外，根据此实施例，由于评估值的积分效应被施予到实时倾斜调 整的计算并且抖动值的测量误差的影响被尽可能地减小，因此调整操作期间的幅度和调整 操作对读取性能的影响可得以减小。以上实施例已经描述了在读取期间执行聚焦偏移调整、象差调整和倾斜调整的情 况。然而，本发明并不限于此，在空闲期间也可类似地执行调整。另外，以上实施例已经描述了本发明被应用到再现设备101的情况。然而，在记录 /再现设备中的读取、空闲和写入中的至少一个期间，可以执行聚焦偏移调整、象差调整和 倾斜调整。以上实施例已经描述了调整激光的球面象差的情况。然而，本发明并不限于球面 象差，而是也可应用到在激光中导致的各种其他象差的调整。下面，将描述以上第二实施例的修改例。(修改例9)通过提高评估值精度来提高倾斜调整精度由于盘半径方向上平均值XP(S)和xm(s)的获取位置之间的距离随着平均值 XP(S)和Xm(S)的交替获取定时彼此更接近而变得更小，因此可以提高评估值精度。存在以下的方法来使得平均值Xp(S)和xm(s)的交替获取定时比第二实施例中的 更接近。图25是示出一个修改例的示图，在该修改例中，切换象差校正值的正侧的评估象差校正值和象差校正值的负侧的评估象差校正值的顺序相对于第二实施例的顺序有所改变，以使得平均值xp(s)和Xm(S)的交替获取定时彼此更加接近。在第二实施例中，相对于 象差校正值，按正、负、正、负、正、负、…的规定顺序交替切换评估象差校正值的正区间和负 区间。另一方面，在此修改例中，按正、负、负、正、正、负、…的规定顺序交替切换正区间和 负区间。在图25中，在紧挨评估倾斜调整值被从CP (s)切换到CM(s)的定时之前和之后的 聚焦偏移调整之中，其中评估倾斜调整值被设定在倾斜调整值的正侧的区间CP(S)的聚焦 偏移调整被称为第Ps次测量，并且其中评估倾斜调整值被设定在倾斜调整值的负侧的区 间CM(S)的聚焦偏移调整被称为第Ms次测量。结果，在第Ps次测量中获得的评估值的平 均值Xp(s)和在第Ms次测量中获得的评估值的平均值xm(s)可以分别计算如下。[式9]
(9)[式 10] 此后，以与第二实施例中相同的方式执行倾斜调整值的计算。根据该修改例，由于使平均值xp (s)和xm(s)的计算比第二实施例中的更简单，因 此可以使平均值Xp(s)和Xm(S)的交替获取定时彼此更接近，并且倾斜调整的评估值精度 可以相应地提高。(修改例10)减小象差调整对倾斜调整的影响的方法由于平均值xp (s)和xm(s)的计算是在象差调整在工作的同时执行的，因此倾斜 调整的评估值精度往往随着一次象差调整的调整量增大而降低。存在以下两种方法来抑制 这种问题。1.当一次象差调整的调整量大于预定值时跳过倾斜调整值的计算和更新的方法。2.交替更新评估倾斜调整值的正区间和负区间以使得切换倾斜调整值的正侧的 评估倾斜调整值和倾斜调整值的负侧的评估倾斜调整值的顺序变为例如正、负、负、正、正、 负、…，如图26所示。(修改例11)倾斜设定值和象差校正设定值的更新定时更新倾斜设定值和象差校正设定值的定时并不限于搜寻执行定时。例如，倾斜设 定值和象差校正设定值可以按预设的时间周期被更新。(修改例12)处理由于温度引起的透镜倾斜灵敏度波动当廉价的塑料透镜被用作物镜时，针对透镜倾斜波动的慧形象差生成灵敏度(透 镜倾斜灵敏度)可能波动。在这一点上，如果可以利用由温度传感器150 (图16)检测到的 温度来对评估倾斜调整值的位移量Δ C进行校正，则即使在透镜倾斜灵敏度波动时也能精 确执行倾斜调整。作为具体方法，存在以下三种方法。1.把每个温度范围的评估倾斜调整值的位移量Δ C存储在系统控制器105的存储 器中并且从该存储器中读出与检测到的温度范围相对应的位移量△(的方法。2.利用透镜倾斜灵敏度的计算式获得评估倾斜调整值的位移量的AC的方法。例如，系统控制器105像下面这样计算利用温度校正了的倾斜区域调整值。在Temp_now[deg]表示当前温度，
Temp_0 [deg]表示基准温度[deg]，温度T下的透镜倾斜灵敏度由f (T)[盘倾斜deg/透镜倾斜deg]表示，并且Clemp0表示基准温度下的位移量设定值的情况下，当温度为Temp_n0W时的位移量Δ CTemp n。w可以如下计算。[式11] 3.对于每个区域存储关于在更新倾斜区域调整值时的倾斜区域调整时温度的信 息(如图19所示)，并且在参考作为实时倾斜调整的初始值的倾斜区域调整值时，在考虑到 由于倾斜区域调整时温度和相应区域的当前温度之间的差异而引起的透镜倾斜灵敏度的 波动量的同时、校正倾斜区域调整值的方法。通过此方法，即使在透镜倾斜灵敏度由于温度 而波动的状态中，也可以在执行长距离搜寻之后立即良好地执行实时倾斜调整。例如，在倾斜区域调整值由TACn [step]表示，倾斜区域调整时温度由Temp_TACn[deg]表示，当前温度由Temp_now[deg]表示，并且温度T下的透镜倾斜灵敏度由f (T)[盘倾斜deg/透镜倾斜deg]表示的情况下，校正后的倾斜区域调整值可以如下计算。(校正后的倾斜区域调整值)=TACn*f(Temp_TACn) /f (Temp_now)…(12)。接下来，将详细描述在通过以上3的方法更新倾斜区域调整值的情况下执行的操作。(1)倾斜区域调整值和倾斜区域调整时温度的初始设定1图27是倾斜区域调整值和倾斜区域调整时温度的初始设定1的流程图。这里，光盘上的任意区域由ai表示，与区域ai相对应的倾斜区域调整值由TACi 表示，并且与区域ai相对应的倾斜区域调整时温度由Temp_TACi表示。在启动时，系统控制器105从非易失性存储器中读出作为出厂时的调整数据的驱 动倾斜校正值Tilt_d0和驱动倾斜校正时温度Temp_d0 (步骤S501)。系统控制器105把这 些信息设定为所有区域的倾斜区域调整值TACi和倾斜区域调整时温度Temp_TACi的初始 值(步骤S502至S504)。应当注意，驱动倾斜校正值是用于校正在倾斜方向上再现设备本 身的固定倾斜的值。(2)倾斜区域调整值和倾斜区域调整时温度的初始设定2例如，在出厂时的调整数据未被存储在非易失性存储器中的情况下，系统控制器 105在启动时在光盘的部分区域中执行倾斜调整，把该倾斜调整的结果设定为所有区域的 倾斜区域调整值TACi的初始值，并且存储关于在该倾斜调整时由温度传感器150检测到的 温度的信息来作为所有区域的倾斜区域调整时温度Temp_TACi。图28是倾斜区域调整值和倾斜区域调整时温度的初始设定2的流程图。在启动时，系统控制器105仅在诸如盘的内圆周部分之类的部分区域中执行倾斜 调整，以获得TiltAdjjn作为倾斜区域调整值以及Temp_Ti ItAdjjn作为倾斜区域调整时 温度(步骤S601)。然后，系统控制器105把TiltAdjjn设定为所有区域的倾斜区域调整 值TACi，并把Temp_Ti ItAdjjn设定为所有区域的倾斜区域调整时温度Temp_TACi (步骤S602至S604)。应当注意，这里在启动时仅对盘的内圆周部分执行倾斜调整。然而，本发明 并不限于此，例如，也可以在诸如盘的外圆周部分之类的其他特定部分执行倾斜调整，并设 定所有区域的倾斜区域调整值TACi和倾斜区域调整时温度Temp_TACi。(3)倾斜区域调整值的更新在实时倾斜调整时，利用计算出的倾斜调整值C来更新相应区域的倾斜区域调整 值TACi，并且利用关于在计算该倾斜调整值时由温度传感器150检测到的温度的信息来更 新同一区域的倾斜区域调整时温度TempjACi。图29是实时倾斜调整中的倾斜区域调整值和倾斜区域调整时温度的更新的流程 图。在通过实时倾斜调整计算出倾斜调整值C后，系统控制器105通过温度传感器150 获得计算时的当前温度Temp_n0W (步骤S701)。接下来，系统控制器105根据关于当前位置 的地址信息来计算出在盘半径上的当前位置(步骤S702)，并计算盘半径上的当前位置所 属的区域的号码i (步骤S703)。此后，系统控制器105利用倾斜调整值C来更新该区域的倾 斜区域调整值TAC，并利用计算时的当前温度Temp_n0W来更新倾斜区域调整时温度Temp_ TACi (步骤 S704)。(修改例13)评估值和评估值差分的目标值作为第二实施例中使用的评估值，可以使用RF信号的抖动值、RF信号的幅度值以 及摆动信号的幅度值。另外，还可以使用MLSA(最大似然序列幅度)、作为PRML的质量评估 指标的I3RSNR(部分响应信号噪声比)以及DMj作为评估值。当使用这些评估值时，如果评 估值差分的目标值被设定为Xtawt = 0，则倾斜调整值可被调整到最优值。在读取(再现模式)和空闲(待用模式)期间的调整中，可以使用上述评估值中 的任何一种。当在写入期间执行调整时，可以将摆动幅度信号用作评估值。(修改例14)关于缺陷耐受性的改善在以上描述的实时倾斜调整中，调整精度可能由于再现期间光盘的数据记录区域 中存在的缺陷的影响而降低。为了改善缺陷耐受性，只需要通过对计算出的倾斜调整值执 行LPF(低通滤波器)计算来去除倾斜调整值的缺陷成分。以上已描述了本发明被应用到再现设备和记录/再现设备的情况。然而，本发明 并不限于此，本发明也可被应用到各种其他能够向光盘记录数据或从光盘再现数据的设 备。例如，本发明可应用到诸如个人计算机、游戏设备、车辆导航设备和记录设备之类的信 息处理设备。另外，系统控制器的程序可被预先存储在设置于再现设备中的诸如ROM之类的存 储部件中，或者可通过经由存储程序的可脱离存储介质或诸如因特网之类的传输介质安装 而被加载到内部存储部件。本申请包含与2009年3月16日向日本专利局提交的日本在先专利申请JP 2009-063615和2009年7月7日向日本专利局提交的日本在先专利申请JP 2009-160900 相关的主题，这里通过引用将这些申请的全部内容并入。本领域的技术人员应当理解，取决于设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组 合、子组合和变更，只要它们处于权利要求或其等同物的范围之内即可。
权利要求
一种记录/再现设备，包括发射激光的光源；第一校正装置，用于基于聚焦偏移设定值来对在光盘的数据记录表面上收集从所述光源发射的激光的物镜的位置进行校正，该聚焦偏移设定值是基于聚焦偏移值获得的；第二校正装置，用于基于象差校正设定值来校正所述激光的象差，该象差校正设定值是基于象差校正值获得的；评估值生成装置，用于生成通过数字化再现信号的质量而获得的评估值；聚焦偏移调整装置，用于改变所述聚焦偏移值的正负并在每次第一周期过去时基于由所述评估值生成装置生成的评估值来计算新聚焦偏移值；以及象差调整装置，用于与由所述第一校正装置设定的聚焦偏移值的更新并行地执行象差调整，该象差调整用于改变所述象差校正值的正负并在每次第二周期过去时基于由所述评估值生成装置生成的评估值来计算新象差校正值，该第二周期等于或长于所述第一周期。
2.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中，所述聚焦偏移调整装置获得由所述第一校正装置设定的聚焦偏移值被改变到正 的第一区间的第一评估值与紧挨该第一区间之后获得的聚焦偏移值被改变到负的第二区 间的第二评估值之间的差分，并且利用当前差分值、先前差分值和由所述第一校正装置设 定的聚焦偏移值来计算所述新聚焦偏移值，并且其中，所述象差调整装置获得由所述第二校正装置设定的象差校正值被改变到正的第 三区间的第三评估值与紧挨该第三区间之后获得的象差校正值被改变到负的第四区间的 第四评估值之间的差分，并且利用当前差分值、先前差分值和由所述第二校正装置设定的 象差校正值来计算所述新象差校正值。
3.根据权利要求2所述的记录/再现设备，其中，所述象差调整装置在搜寻定时改变所述象差校正值的正负。
4.根据权利要求3所述的记录/再现设备，其中，当在所述象差校正值被从正改变到负时在盘半径方向上搜寻的移动量等于或小 于预定值时，所述象差调整装置执行象差调整。
5.根据权利要求4所述的记录/再现设备，其中，所述象差调整装置被限制为使得在从启动起的第一时间段期间，所述象差校正 值的正负在所述搜寻定时被改变，并且在该第一时间段逝去之后，改变所述象差校正值的 正负的平均周期变得等于或大于预定时间段。
6.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中，所述象差调整装置执行象差调整，直到从启动起经过预定时间段为止。
7.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中，所述象差调整装置被限制为使得改变所述象差校正值的正负的平均周期变得等 于或大于预定时间段。
8.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中，所述象差调整装置基于由所述评估值生成装置生成的评估值来确定象差调整的 执行与否。
9.根据权利要求1所述的记录/再现设备，还包括温度检测装置，用于检测温度，其中，所述象差调整装置监视所检测到的温度的改变，并且基于温度改变的程度来确 定象差调整的执行与否。
10.根据权利要求2所述的记录/再现设备，其中，所述象差调整装置基于所述第三评估值与所述第四评估值之间的差分来改变象差调整的周期。
11.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中，所述聚焦偏移调整装置和所述象差调整装置中的至少一个基于计算结果执行用 于去除所述光盘的数据记录表面的缺陷成分的频率滤波。
12.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中，在所述光盘包括多个记录层的情况下，所述象差调整装置仅当在所述象差校正 值被从正改变到负时的搜寻是同一记录层内的搜寻时才执行象差调整。
13.根据权利要求1所述的记录/再现设备，其中，所述评估值生成装置利用再现RF信号的抖动值、再现RF信号的幅度值、摆动信 号的幅度值以及再现差错率中的至少一个来生成所述评估值。
14.根据权利要求1所述的记录/再现设备，还包括存储部件，用于在被设定为所述记录/再现设备启动时的聚焦偏移设定值的值为聚焦 偏移初始值并且在被设定为所述记录/再现设备启动时的象差校正设定值的值为象差调 整初始值的情况下，为所述光盘的多个记录层中的每个记录层存储所述聚焦偏移初始值和 所述象差调整初始值；以及初始值调整装置，用于在所述光盘包括多个记录层的情况下，在所述记录/再现设备 启动时获得所述多个记录层中的每个记录层的聚焦偏移初始值和象差调整初始值并将这 些值存储在所述存储部件中，其中，当在启动之后在所述多个记录层之间发生读取位置的移动时，所述第一校正装 置把在移动之前由所述聚焦偏移调整装置获得的最新聚焦偏移值和存储在所述存储部件 中的作为移动目的地的记录层的所述聚焦偏移初始值的总和设定为所述聚焦偏移设定值， 并且其中，当在启动之后在所述多个记录层之间发生读取位置的移动时，所述第二校正装 置把在移动之前由所述象差调整装置获得的最新象差校正值和存储在所述存储部件中的 作为移动目的地的记录层的所述象差调整初始值的总和设定为所述象差校正设定值。
15.一种记录/再现设备的聚焦偏移和象差调整方法，该记录/再现设备包括第一校正 部件和第二校正部件，该第一校正部件基于聚焦偏移设定值来对在光盘的数据记录表面上 收集从光源发射的激光的物镜的位置进行校正，该聚焦偏移设定值是基于聚焦偏移值获得 的，第二校正装置基于象差校正设定值来校正所述激光的象差，该象差校正设定值是基于 象差校正值获得的，该方法包括通过数字化再现信号的质量来生成评估值；改变所述聚焦偏移值的正负并在每次第一周期过去时基于所生成的评估值来计算新 聚焦偏移值；以及与由所述第一校正部件设定的聚焦偏移值的更新并行地，改变所述象差校正值的正负并在每次第二周期过去时基于所生成的评估值来计算新象差校正值，该第二周期等于或长 于所述第一周期。
16.根据权利要求1所述的记录/再现设备，还包括第三校正装置，用于基于倾斜调整值对在半径方向上所述光盘的倾斜调整进行校正；以及倾斜调整装置，用于与由所述第二校正装置设定的象差校正值的更新并行地执行倾斜 调整，该倾斜调整在每次第三周期过去时基于由所述评估值生成装置生成的评估值来计算 新倾斜调整值，该第三周期等于或长于所述第二周期。
17.根据权利要求16所述的记录/再现设备，其中，所述倾斜调整装置获得由所述第三校正装置设定的倾斜调整值被改变到正的第 五区间的第五评估值与紧挨该第五区间之后获得的倾斜调整值被改变到负的第六区间的 第六评估值之间的差分，并且利用当前差分值、先前差分值和由所述第三校正装置设定的 倾斜调整值来计算所述新倾斜调整值。
18.根据权利要求17所述的记录/再现设备，其中，所述倾斜调整装置在所述象差调整装置执行象差调整计算一次或多次之后的第 一搜寻定时改变所述倾斜调整值的正负。
19.根据权利要求18所述的记录/再现设备，其中，当在盘半径方向上搜寻的移动量等于或小于预定值时，所述倾斜调整装置执行 倾斜调整。
20.根据权利要求17所述的记录/再现设备，其中，所述象差调整装置获得由所述第二校正装置设定的象差校正值被改变到正的第 三区间的第三评估值与紧挨该第三区间之后获得的象差校正值被改变到负的第四区间的 第四评估值之间的差分，利用当前差分值、先前差分值和由所述第二校正装置设定的象差 校正值来计算所述新象差校正值，并且交替切换所述象差校正值被改变到正的第三区间和 所述象差校正值被改变到负的第四区间的顺序。
21.根据权利要求20所述的记录/再现设备，其中，所述倾斜调整装置交替切换所述倾斜调整值被改变到正的第五区间和所述倾斜 调整值被改变到负的第六区间的顺序。
22.根据权利要求17所述的记录/再现设备，还包括温度检测装置，用于检测温度，其中，所述倾斜调整装置基于检测到的温度来对所述倾斜调整值的正负的位移量进行 校正。
23.根据权利要求17所述的记录/再现设备，还包括温度检测装置，用于检测温度；以及温度信息存储部件，其从所述温度检测装置获取关于在所述倾斜调整装置进行倾斜调 整时获得的温度的信息并存储该信息，其中，所述倾斜调整装置在新执行倾斜调整时考虑存储在所述温度信息存储部件中的 温度和当前温度之间的波动量的同时计算倾斜调整值。
24.根据权利要求23所述的记录/再现设备，其中，所述温度信息存储部件为通过基于半径上的位置分割所述光盘而获得的每个区 域存储关于温度的信息，并且其中，所述倾斜调整装置在新执行倾斜调整时从所述温度信息存储部件中读出与所述光盘的半径上的当前位置所属的区域相对应的关于温度的信息，并在考虑存储在所述温度 信息存储部件中的温度和当前温度之间的波动量的同时计算倾斜调整值。
全文摘要
本发明公开了记录/再现设备及其调整方法。该记录/再现设备包括光源；第一校正装置，用于基于从聚焦偏移值获得的聚焦偏移设定值来对在光盘的表面上收集来自光源的激光的物镜的位置进行校正；第二校正装置，用于基于从象差校正值获得的象差校正设定值来校正激光的象差；评估值生成装置，用于生成评估值；聚焦偏移调整装置，用于改变聚焦偏移值的正/负并在每次第一周期过去时基于评估值来计算新聚焦偏移值；以及象差调整装置，用于与聚焦偏移值的更新并行地改变象差校正值的正负并在每次第二周期过去时计算新象差校正值。
文档编号G11B7/09GK101840710SQ20101012918
公开日2010年9月22日 申请日期2010年3月9日 优先权日2009年3月16日
发明者玉木达也 申请人:索尼公司