专利名称：数据记录方法及数据记录装置的制作方法
技术领域：
本发明有关于将数据记录到光学存储介质上，尤其关于具有重新验证光学存储介质(例如，光盘)上的已记录数据的缓冲器管理能力的数据记录方法及装置。
背景技术：
大体上，当光学存储装置(例如光盘机)完成将部分用户数据写入光学媒体(例如光盘)之后，光学存储装置将依据仍然被缓冲于缓冲器中的该部分用户数据来验证在最近的记录操作时记录在存储介质上的该已记录部分用户数据的正确性。换句话说，在光学存储介质的一个记录程序内包含多个记录操作及多个对应验证操作。假设该部分用户数据包含多个ECC区块。当记录在光学存储装置上的特定ECC区块被验证为有缺陷的时候，传统缺陷区块管理被使能，以找出光学存储介质上的备用区块(spare block)，用于存储该特定ECC区块。在该部分用户数据的验证操作完成之后，接收另一部分用户数据并随后重写原始缓冲于缓冲器中的该部分用户数据，并且光学存储装置开始对被缓冲于缓冲器中的新数据进行下一记录操作。然而，当执行记录操作时，光学存储装置的光学头(optical pick-up head)可滑至光学存储介质上的错误地址。换句话说，在记录操作期间可发生致命记录错误(fatal recording error)。举例而言，由于自读功率至写功率的功率瞬态(power transient)及 /或伺服条件变化，在记录操作的起始，光学头可滑至错误地址。此外，在光学头开始记录操作之后，由于对于滑轨(sled)的控制不足，光学头可能滑至错误地址(其中光学头在滑轨上运动)。此外，关于具有用于记录数据的抖动岸(wobbled land)及沟槽轨道(groove track)的DVD RAM碟，光学头可在介于岸轨(land track)及沟槽轨道之间的转换点滑至错误地址。由于仅当光学头已经滑至错误地址之后，致命记录错误才能被检测到，光学头的写功率可破坏已经记录在光学存储介质上的数据，使得数据记录质量下降。请参考图IA及图1B，二者分别展示验证光盘上的已记录数据及将数据记录至光盘上的传统操作。假设光盘上用于数据存储的数据单元是ECC区块，并且一个记录操作中
记录六个ECC区块。如图IA所示，在一个记录操作中，ECC区块(N-6).....(N-I)被记录
在光盘上，其中记录在光盘上的ECC区块(N-6).....(N-2)已被依序验证，并且记录在光盘
上的ECC区块(N-I)正在被验证。因此，由于光盘上已记录的ECC区块(N-6).....(N-2)
已被验证，原始缓冲于缓冲器中的ECC区块(N-6).....(N-2)被下一记录操作中待记录在
光盘上的ECC区块N.....(N+4)重写。当光盘上已记录的ECC区块(N-I)的正确性被验证
之后，缓冲器中的ECC区块(N-I)被下一记录操作中待记录在光盘上的ECC区块(N+5)重
写。如图IB所示，在已记录的ECC区块(N-6).....(N-I)的验证操作完成后，缓冲器存储
ECC区块N.....(N+5)。随后，光盘机开始新记录操作以将缓冲器中缓冲的ECC区块N.....
(N+5)记录在光盘上。假设光学头在将ECC区块N记录至光盘的记录起始点滑至错误地址。 如图IB所示，光学头回移至先前已记录及验证的ECC区块(N-2)所处地址，则光学头发出的激光可损坏已记录的ECC区块(N-2)的数据内容。由于缓冲器仅存储ECC区块N.....(N+5)，在验证操作过程中，缺陷ECC区块N可被成功检测到，然而验证操作不能识别出受损 ECC区块(N-幻，其中ECC区块(N-幻在先前验证操作中已被验证过。作为结果，受损ECC 区块(N-2)上不会应用到缺陷区块管理，从而导致不能自光盘上重建ECC区块(N-2)的正确数据内容。
发明内容
有鉴于此，特提供以下技术方案本发明实施例提供一种数据记录方法，用于光学存储介质，数据记录方法包含在用于将第一数据记录至该光学存储介质的当前记录操作期间，检测是否发生致命记录错误；以及当检测到致命记录错误时，启动当前验证操作以验证光学存储介质上的记录数据段的正确性，其中，记录数据段在先前记录操作期间依据第二数据被记录在光学存储介质上，并且第二数据的数据记录已在先于当前记录操作的先前验证操作期间被验证。本发明实施例另提供一种数据记录装置，用于光学存储介质，数据记录装置包含记录电路、检测电路及验证电路。记录电路将数据记录至光学存储介质上；检测电路检测在通过记录电路执行的将第一数据记录至光学存储介质的当前记录操作期间是否有致命记录错误发生；验证电路耦接于检测电路，用于当检测电路检测到致命记录错误时，执行当前验证操作，以验证光学存储介质上的记录数据段的正确性；其中在通过记录电路执行的先前记录操作期间，记录数据段依据第二数据被记录在光学存储介质上，并且第二数据的数据记录已在先于当前记录操作的先前验证操作期间被验证，其中先前验证操作通过验证电路执行。本发明实施例另提供一种数据记录方法，用于光学存储介质，数据记录方法包含 在先前记录操作期间参考缓冲于缓冲器中的第二数据将第二数据记录在光学存储介质上； 以及接收第一数据的一部分并利用该部分第一数据取代被缓冲于缓冲器中的第二数据的一部分；其中在当前记录操作的起始，缓冲器具有缓冲于其上的第二数据的剩余部分及部分第一数据，以将第一数据记录至光学存储介质上。本发明实施例更提供一种数据记录装置，用于光学存储介质，数据记录装置包含缓冲器、记录电路及缓冲器控制器。记录电路耦接于缓冲器，用于在先前记录操作期间，参考缓冲于缓冲器中的第二数据将第二数据记录在光学存储介质上；缓冲器控制器耦接于缓冲器，用于接收第一数据的一部分并利用该部分第一数据取代被缓冲于缓冲器中的第二数据的一部分；其中在通过记录电路执行的当前记录操作的起始，缓冲器具有缓冲于其上的第二数据的剩余部分及该部分第一数据，以将第一数据记录至光学存储介质上。以上所述的数据记录方法及数据记录装置，可重新验证光学存储介质上的记录数据，从而改善数据记录质量。
图IA是验证光盘上的已记录数据的常用操作的示意图。图IB是将数据记录至光盘上的常用操作的示意图。图2是依据本发明一实施例范例性的光学存储介质的数据记录装置的示意图。图3是依据本发明的将数据记录至光学存储介质上的范例方法的流程图。
图4是依据本发明的验证光学存储介质上记录数据的范例方法的流程图。图5是图2中展示的光学存储介质及缓冲器的第一范例的数据存储状态的示意图。图6是图2中展示的光学存储介质及缓冲器的第二范例的数据存储状态的示意图。图7是图2中展示的光学存储介质及缓冲器的第三范例的数据存储状态的示意图。图8是图2中展示的光学存储介质及缓冲器的第四范例的数据存储状态的示意图。图9是图2中展示的光学存储介质及缓冲器的第五范例的数据存储状态的示意图。图10是图2中展示的光学存储介质及缓冲器的第六范例的数据存储状态的示意图。图11是图2中展示的光学存储介质及缓冲器的第七范例的数据存储状态的示意图。图12是可被添加至图3所示的范例性流程的额外步骤的流程图。图13是可被添加至图3所示的范例性流程的多个额外步骤的流程图。
具体实施例方式在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的组件。所属领域中的技术人员应可理解，制造商可能会用不同的名词来称呼同样的组件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的基准。在通篇说明书及权利要求书当中所提及的「包含」是开放式的用语，故应解释成「包含但不限定于」。另外，「耦接」一词在此包含任何直接及间接的电气连接手段。因此，若文中描述第一装置耦接于第二装置，则代表第一装置可直接电气连接于第二装置，或透过其它装置或连接手段间接地电气连接至第二装置。本发明的设想是当致命记录错误发生时重新验证光学存储介质(例如，光盘)上的记录数据。参考本发明的范例(所述范例不可被视为本发明的限制)，可通过适当管理缓冲器中的缓冲数据重新验证光学存储介质上的记录数据。更具体地，一个记录操作中，记录在光学存储介质上的数据的正确性被验证之后，下一记录操作中，缓冲器中仅有部分数据被待记录在光学存储介质上的新数据重写。以此种方式，当由于光学头滑至记录数据所处地址的错误地址而发生致命记录错误时，由于光学头发射出的激光所造成的损坏的记录数据可通过用于先前记录操作并仍保留在缓冲器中的剩余数据而检测到。以此种方式，当受损数据可被成功检测到时，光学存储介质上保留的备用区域可用于记录正确数据，从而解决在记录操作期间光学头滑至错误地址而造成的问题。本发明的详细描述如下。图2是依据本发明一个实施例范例性的光学存储介质的数据记录装置的示意图。 范例性数据记录装置204包含(但不限于)记录电路210、检测电路212、验证电路214、缓冲器控制器216以及缓冲器218。在一个范例性实施中，数据记录装置204、光学头202及读取电路203均配置于光学存储装置200中，其中光学头202发射激光并检测反射激光，用于将数据记录至光学存储介质201以及自光学存储介质201读取数据，读取电路203控制光学头202自光学存储介质201读取记录数据，而包含在数据记录装置204中的记录电路 210则控制光学头202将数据记录在光学存储介质201上。作为范例(所述范例不可被视为本发明的限制)，光学存储介质201是光盘，而光学存储装置200是光盘机。关于包含在范例性数据记录装置204中的其他元件，检测电路212用于检测当前记录操作期间是否产生致命记录错误，其中当前记录操作期间内记录电路210将第一数据记录至光学存储介质201 ；验证电路214耦接于读取电路203及检测电路212，用于在检测电路212检测到致命记录错误时执行验证操作，以当前地验证光学存储介质201上的记录数据段(data section)的正确性。验证电路214可将验证结果通知记录电路210。举例而言，当验证电路214将验证结果通知记录电路210之后，记录电路210可使用缺陷数据管理方案将缓冲数据存储至光学存储介质201的备用区域，其中被存储的缓冲数据对应于由于致命记录错误而损坏的记录数据。然而，以上所述仅用作说明的目的。即，验证电路214 产生的验证结果可提供给需要光学存储介质201上的缺陷数据信息的任意电路元件。请注意，上述第一数据的记录操作发生在当前记录操作期间，而第二数据的记录操作先于当前记录操作发生。因此，关于上述记录数据段，是在记录电路210执行的先前记录操作过程中，依据第二数据记录在光学存储介质201上的，并且第二数据的数据记录已经在通过验证电路214执行的先前验证操作期间被验证过，其中该验证操作先于通过记录电路210执行的当前记录操作。换句话说，范例的数据记录装置204具有重新验证光学存储介质201 上的记录数据的能力。为实现重新验证光学存储介质201上的记录数据的目的，本发明的范例的数据记录装置204采用缓冲器控制器216对缓冲器(例如，写缓冲器)218应用缓冲管理。然而， 以上所述仅用作说明的目的，并非为本发明的限制。只要能实现与重新验证光学存储介质 201上的记录数据相同的目的，数据记录装置204可采用任意可行手段。在本范例性实施例中，缓冲器218耦接于记录电路210、验证电路214以及缓冲器控制器216。因此，在先前记录操作期间，记录电路210参考缓冲于缓冲器218的第二数据将第二数据记录在光学存储介质201上。缓冲器控制器216接收一部分第一数据并用该部分第一数据取代缓冲在缓冲器218中的一部分第二数据，以使在当前记录操作的起始，缓冲器218具有缓冲于其内的第二数据的一剩余部分及该部分第一数据，其中当前记录操作通过记录电路210执行。由于先前验证操作完成后，用于先前记录操作的第二数据未被新进入的数据完全重写，当用于记录第一数据的当前记录操作中发现致命记录错误时，重新验证光学存储介质201上的记录数据可以很容易实现。利用被用来控制缓冲器208的数据缓冲及数据重写的缓冲管理，当前记录操作的起始阶段，缓冲器218将保持第二数据的剩余部分。举例而言，在通过验证电路214执行的先前验证操作期间，缓冲器控制器216释放被该部分第二数据占用的缓冲器空间，接收该部分第一数据，以及将该部分第一数据存储入缓冲器218中释放的缓冲器空间，从而重写该部分第二数据。在通过记录电路210执行的当前记录操作期间，缓冲器控制器216释放缓冲器218中第二数据的剩余部分的至少一部分所占用的缓冲器空间，接收第一数据的另一部分，以及将该另一部分第一数据存储入缓冲器218中释放的缓冲器空间，从而重写第二数据的剩余部分的至少一部分。
此外，假设当检测电路212检测到当前记录操作的致命记录错误时，缓冲器218中第二数据的剩余部分的至少一部分仍然可用，验证电路214将参考缓冲器218中第二数据的剩余部分的至少一部分来验证光学存储介质201上的记录数据段的正确性。此外，在通过验证电路214执行的当前验证操作期间，缓冲器控制器216将释放缓冲器218中第二数据的剩余部分的至少一部分所占用的缓冲器空间，以接收第一数据的另一部分，以及将该另一部分第一数据存储入缓冲器218中释放的缓冲器空间，从而重写第二数据的剩余部分的至少一部分。图3是依据本发明的将数据记录至光学存储介质上的范例方法的流程图。若结果实质上相同，则并不需严格按图3所示步骤的顺序执行。范例的方法可通过图2所示的数据记录装置204执行，并且方法包含下列步骤步骤300 依据记录起始点开始当前记录操作。步骤302 记录电路210控制光学头202将缓冲在缓冲器218中的未记录数据 (non-recorded data)(例如，未记录ECC区块或集群(cluster))记录至光学存储介质201上。步骤304 检测电路212确认是否有致命记录错误产生。若是，流程跳至步骤316 ； 否则，流程跳至步骤306。步骤306 记录电路210是否已将所有在当前记录操作中待记录的数据记录至光学存储介质201上？若是，流程跳至步骤318 ；否则，流程跳至步骤308。步骤308 缓冲器控制器216确认所有在当前记录操作中待记录的数据是否均已被缓冲至缓冲器中。若是，流程跳至步骤302 ；否则，流程跳至步骤310。步骤310 缓冲器控制器216确认缓冲于缓冲器218中的预设数量的缓冲数据(例如，两ECC区块或集群)是否已被记录在光学存储介质201上。若是，流程跳至步骤312; 否则，流程跳至步骤302。步骤312 缓冲器控制器216控制缓冲器218释放被该预设数量的缓冲数据占用的缓冲器空间，以及重置预设数量缓冲数据的计数。步骤314 缓冲器控制器216接收预设数量的新数据，以及将该预设数量的新数据存储入缓冲器218的已释放的缓冲器空间中。流程跳至步骤302。步骤316 验证电路214将验证起始点修正为数据的起始点，其中记录电路210在先前记录操作中使用该数据，并且缓冲器218中该数据此刻仍然可用。步骤318 验证电路214被使能，以依据该验证起始点对光学存储介质201上的记录数据执行验证操作。图4是依据本发明的验证光学存储介质上记录数据的范例方法的流程图。若结果实质上相同，则并不需严格按图4所示步骤的顺序执行。范例的方法可通过图2所示的数据记录装置204执行，并且方法包含下列步骤步骤400 依据验证起始点对光学存储介质201上的记录数据开始当前验证操作。步骤402 验证电路214自读取电路203(读取电路203控制光学头202读取光学存储介质201上的记录数据)接收记录数据，以及验证自光学存储介质201读取的记录数据的正确性。步骤404 验证电路214确认自光学存储介质201读取的记录数据的当前验证数据(例如，已记录的ECC区块或集群)是否发生验证错误。若是，流程跳至步骤416;否则， 流程跳至步骤406。步骤406 验证电路确认是否所有在当前记录操作中待验证的记录数据均已被确认。若是，流程跳至步骤418 ；否则，流程跳至步骤407。步骤407 验证操作是否用于重新验证光学存储介质201上的记录数据？若是，流程跳至步骤410 ；否则，流程跳至步骤408。步骤408 缓冲器控制器216确认被释放的缓冲器空间的总体大小是否达到预设值。若是，流程跳至步骤402 ；否则，流程跳至步骤410。步骤410 缓冲器控制器216确认缓冲于缓冲器218中的预设数量的缓冲数据(例如，两个已记录的ECC区块或集群)是否已被用于验证光学存储介质201上记录数据的正确性。若是，流程跳至步骤412 ；否则，流程跳至步骤402。步骤412 缓冲器控制器216控制缓冲器218释放被该预设数量的缓冲数据占用的缓冲器空间，以及重置预设数量的缓冲数据的计数。步骤414 缓冲器控制器216在下一记录操作中接收待记录于光学存储介质201 上的预设数量的新数据，以及将该预设数量的新数据存储入缓冲器218已释放的缓冲器空间中。流程进入步骤402。步骤416 验证电路214将当前验证数据(例如，已记录的ECC区块或集群)标记为缺陷数据。流程进入步骤406。步骤418 记录电路210被使能以执行记录操作，用于将缓冲于缓冲器218中的未记录数据记录至光学存储介质201上。应当注意，当执行图3中的步骤318之后，记录操作转换为图4中起始于步骤400 的验证操作，并且在执行图4中的步骤418之后，验证操作转换为图3中起始于步骤300的记录操作。为更清楚地描述图3及图4所示的流程图中步骤的特征，下面将讨论数据记录装置204的不同操作方案。假设光学存储介质201上用于数据存储的数据单元是ECC区块，在通过记录电路 210执行的一个记录操作中记录在光学存储介质201上的ECC区块的数目为M，而步骤408 中提到的预设值为S，其意即缓冲器控制器216将确认缓冲器空间是否能够容纳已被释放的S个ECC区块。更具体地，M代表用于记录数据的主体缓冲器大小，而S代表来自于当前记录位置的引导(Ieading)ECC区块编号，例如，当当前记录操作开始时，待记录的第一
个ECC区块。因此，上述在先前记录操作中待记录的第二数据包含ECC区块(N-M).....
(N-I)，上述在当前记录操作中待记录的第一数据包含ECC区块N.....(N+M+1)，上述该
部分第一数据包含ECC区块N.....(N+S)，并且上述第二数据的剩余部分包含ECC区块
(N-M+S+1)、…、(N-I)。在本范例性实施例中，缓冲器218的缓冲器大小可与用于惯用存储装置的缓冲器的大小相等。因此，可在不增加缓冲器成本的同时实现重新验证机制。此外，可依据设计考虑而调整S值。举例而言，记录电路210编码缓冲器218中的缓冲数据以产生编码数据，并随后控制光学头202将编码数据记录在光学存储介质201上。因此，在设置S值时考虑记录电路210的编码能力。换句话说，当当前记录操作开始时，由于缓冲器218仅存储有部分第一数据(例如S个ECC区块)，S个ECC区块不得不提供足够数据以允许记录电路210平稳工作。概括地说，应适当设置S值以避免危害光学存储装置200的整体记录性能。假设在第二数据被记录至光学存储介质201上的先前记录操作期间，未检测到致
命记录错误。因此，如图5所示，当缓冲器218中的所有缓冲ECC区块(N-M).....(N-I)
均已被记录至光学存储介质201上时，验证起始点SP_V将被设置为缓冲在缓冲器218中的 ECC区块(N-M)的起始(步骤306及318)。应当注意，验证起始点SP_V是未被应用任何修正的默认验证起始点。在步骤400，验证电路214依据验证起始点SP_V开始当前验证操作。 在步骤402，比较读取自光学存储介质201的已记录的ECC区块(N-M)与缓冲器218中的缓冲ECC区块(N-M)以验证已记录的ECC区块(N-M)的正确性。在步骤404，若发现已记录的ECC区块(N-M)与缓冲ECC区块(N-M)之间失配(mismatch)，则检测到验证错误；否则，已记录的ECC区块(N-M)将被视为无错误(error-free)记录ECC区块。由于并非所有
已记录的ECC区块(N-M).....(N-I)均已被验证并且上述验证操作并非用于重新验证记
录数据，缓冲器控制器216确认缓冲器218是否已释放能够存储S个ECC区块(步骤406、 407及408)的缓冲器空间。由于尚未释放缓冲器空间，缓冲器控制器216确认是否已有两缓冲ECC区块被用于验证光学存储介质201上各自对应的已记录的ECC区块的正确性(步骤410)。由于实际上仅有一个缓冲ECC区块(N-M)被用于验证已记录的ECC区块(N-M)的正确性，验证电路214继续验证光学存储介质201上的下一已记录的ECC区块(N-M+1)的正确性。类似地，在步骤402，比较读取自光学存储介质201的已记录的ECC区块(N-M+1) 与缓冲ECC区块(N-M+1)以验证已记录的ECC区块(N-M+1)的正确性。在步骤404，若发现已记录的ECC区块(N-M+1)与缓冲ECC区块(N-M+1)之间失配，则检测到验证错误；否则， 已记录的ECC区块(N-M+1)将被视为无错误记录ECC区块。由于并非所有已记录的ECC区
块(N-M+1).....(N)均已被验证，验证操作并非用于重新验证记录数据，并且缓冲器218尚
未释放足以存储S个ECC区块的缓冲器空间，缓冲器控制器216确认是否已有两个缓冲ECC 区块被用于验证光学存储介质201上各个对应的已记录的ECC区块的正确性(步骤406、 407,408及410)。如图6所示，由于两缓冲ECC区块(N-M)及(N-M+1)已被用于验证已记录的ECC区块(N-M)及(N-M+1)的正确性，缓冲器控制器216控制缓冲器218释放被缓冲 ECC区块(N-M)占据的缓冲器空间，以及将ECC区块N存储入缓冲器218中，从而重写缓冲 ECC区块(N-M)(步骤412及414)，其中ECC区块N将在下一记录操作中记录至光学存储介质201上。此外，已被用于验证已记录的ECC区块的正确性的缓冲ECC区块的计数值将被重设为初始值(例如，0)，从而缓冲数据的预设量可被重设(步骤412)。如图7所示，上述验证操作被重复，用于验证随后的已记录的ECC区块
(N-M+2).....(N-I)中每一个的正确性。应注意，在缓冲器218中的缓冲ECC区块(N-M+S)
被在下一记录操作中记录的ECC区块(N+幻重写之后，不允许新数据存储入缓冲器218 中(步骤408)。作为结果，缓冲于缓冲器218中的第二数据的一部分，例如ECC区块
(N-M).....(N-M+S)，被第一数据的一部分，例如ECC区块N.....(N+S)取代。从而，在当前
记录操作的起始，缓冲器218中缓冲有第二数据的剩余部分，例如ECC区块(N-M+S+1).....
(N-I)，以及该部分第一数据，例如ECC区块N.....(N+S)。在所有已记录的ECC区块(N-M).....(N-I)均已在先前验证操作中被验证之后，
11记录电路210被使能以执行当前记录操作(步骤406及418)。如图7所示，当前记录操作的记录起始点SP_R紧接已记录的ECC区块(N-I)的终点。在步骤300，记录电路210依据记录起始点SP_R开始当前记录操作。在步骤302，记录电路210自缓冲器218读取缓冲ECC 区块N并将ECC区块N记录至光学存储介质201上。在步骤304，检测电路212确认是否有致命记录错误发生。假设在当前记录操作期间无致命错误发生。从而，不需要重新验证已
于先前验证操作中验证过的已记录的数据。由于所有缓冲ECC区块N.....(N+M+1)尚未
完全记录于光学存储介质201上，缓冲器控制器216确认是否所有于当前记录操作中待记录的数据均已缓冲于缓冲器218中(步骤306及308)。由于当前仅有部分第一数据，例如
ECC区块N.....(N+S)，被缓冲于缓冲器218中，缓冲器控制器216更确认是否两缓冲ECC
区块已被记录于光学存储介质201上(步骤310)。由于实际上仅有一个缓冲ECC区块N被记录，记录电路210继续将下一缓冲ECC区块(N+1)记录至光学存储介质201上。类似地，在步骤302，记录电路210自缓冲器218读取缓冲ECC区块(N+1)并将ECC 区块(N+1)记录至光学存储介质201上。由于检测电路212未检测到致命记录错误，并且
所有ECC区块N.....(N+M+1)尚未完全记录于光学存储介质201上，缓冲器控制器216确
认是否所有在当前记录操作中待记录的数据均已缓冲在缓冲器218中(步骤304、306及 308)。如图8所示，由于当前仅有部分第一数据被缓冲于缓冲器218中，并且两缓冲ECC区块N及(N+1)已被记录于光学存储介质201上，缓冲器控制器216控制缓冲器218释放由属于第二数据的缓冲ECC区块(Ν-Μ+S+l)占据的缓冲器空间，其中该第二数据用于先前记录操作，以及将于当前记录操作中待记录至光学存储介质201上的ECC区块(N+S+1)存储至缓冲器218中，从而重写缓冲ECC区块(Ν-Μ+S+l)(步骤412及414)。此外，已被记录于光学存储介质201上的缓冲ECC区块的计数值将被重设至初始值(例如，0)，从而缓冲数据的预设量可被重设(步骤412)。如图9所示，上述记录操作被重复，用于记录随后的缓冲ECC区块(N+2).....
(N+M+1)中的每一个。应注意，第二数据的剩余部分，例如ECC区块(Ν-Μ+S+l).....(N-I)，
将最终被第一数据的剩余部分取代，例如被ECC区块(N+S+1).....(N+M+1)取代。此外，
在ECC区块(N-I)被ECC区块(N+M+1)重写之后，不允许新数据存储入缓冲器218中(步骤 308)。考虑另一种情况，其中在当前记录操作期间发生致命错误。如图10所示，在所有
已记录的ECC区块(N-M).....(N-I)均已在先前验证操作中被验证之后，记录电路210被
使能以执行当前记录操作(步骤406及418)。如上所述，当前记录操作的记录起始点SP_R 紧接已记录的ECC区块(N-I)的终点。从而记录电路210开始将读取自缓冲器218的缓冲 ECC区块N记录至光学存储介质201上(步骤300及302)。然而，由于当前记录操作的起始发生功率瞬态及/或伺服条件变化，光学头202自光学存储介质201上的当前记录地址滑至错误地址。如图10所示，光学头202移至已记录的ECC区块(N-2)存储的位置，由于光学头202发射的激光，已记录的ECC区块(N-2)的数据内容可被损坏。检测电路212检测到上述致命记录错误，从而验证起始点修正为缓冲器218中的第二数据的剩余部分的起始(步骤304及316)。随后，验证电路214被使能，以开始当前验证操作，其中当前验证操作用于重新验证已记录的数据(步骤318)。如图10所示，在步骤400，验证电路214依据已修正的验证起始点SP_V开始当前验证操作，其中已修正的验证起始点SP_V当前位于缓冲ECC区块(Ν-Μ+S+l)的起始。在步骤402，比较读取自光学存储介质201的已记录的ECC区块(Ν-Μ+S+l)与缓冲器218中的缓冲ECC区块(Ν-Μ+S+l)以验证已记录的ECC区块(Ν-Μ+S+l)的正确性。在步骤404，若发现已记录的ECC区块(Ν-Μ+S+l)与缓冲ECC区块(Ν-Μ+S+l)之间失配，则检测到验证错误；否则，已记录的ECC区块(Ν-Μ+S+l)仍被视为无错误记录ECC区块。由于并非所有已记
录的ECC区块(Ν-Μ+S+l).....(N-I)均已被验证，并且上述验证操作用于重新验证记录数
据，缓冲器控制器216确认是否已有两个缓冲ECC区块被用于验证光学存储介质201上各个对应的已记录的ECC区块的正确性(步骤406、407及410)。由于仅有一个缓冲ECC区块(Ν-Μ+S+l)被用于验证已记录的ECC区块(Ν-Μ+S+l)的正确性，验证电路214继续验证下一已记录的ECC区块(N-M+S+2)的正确性。类似地，在步骤402，比较读取自光学存储介质201的已记录的ECC区块 (N-M+S+2)与缓冲器218中缓冲的ECC区块(N-M+S+2)，以验证已记录的ECC区块(N-M+S+2) 的正确性。在步骤404，若发现已记录的ECC区块(N-M+S+2)与缓冲ECC区块(N-M+S+2)之间失配，则检测到验证错误；否则，已记录的ECC区块(N-M+S+2)仍被视为无错误记录ECC
区块。如图11所示，由于并非所有已记录的ECC区块(Ν-Μ+S+l).....(N-I)均已被验证，
验证操作用于重新验证记录数据，两缓冲ECC区块(Ν-Μ+S+l)及(N-M+S+2)已被用于验证已记录的ECC区块(Ν-Μ+S+l)及(N-M+S+2)的正确性，缓冲器控制器216控制缓冲器218 释放被缓冲ECC区块(Ν-Μ+S+l)占据的缓冲器空间，以及将ECC区块(Ν+S+l)存储入缓冲器218中，从而重写缓冲ECC区块(Ν-Μ+S+l)(步骤406、407、410、412及414)，其中ECC区块(Ν+S+l)将在当前记录操作中记录至光学存储介质201上。此外，已被用于验证已记录的ECC区块的正确性的缓冲ECC区块的计数值将被重设至初始值(例如，0)，从而缓冲数据的预设量可被重设(步骤41幻。重复上述验证操作，以验证随后的已记录的ECC区块 (N-M+S+3).....(N-I)中的每一个的正确性。为简洁起见，此处不再赘述。在上述范例的操作方案中，待缓冲、验证或记录的每一数据单元是一个ECC区块。 然而，以上所述仅用于说明的目的。数据单元的大小可依据设计考虑而调整。举例而言，在一种可选设计中，数据单元并非ECC区块的整数倍(integer multiple)。此外，数据单元的定义可改变，以对应光学存储介质201的不同类型。在光学存储介质201是DVD的情况下， 数据单元的定义基于ECC区块。在光学存储介质201是BD的另一情况下，数据单元的定义基于集群。此外，为实现最优记录性能，验证速度优选地为记录速度的一半。基于此点的考虑，可在每次验证或记录一个数据单元(例如，一个ECC区块或集群)之后，释放缓冲器218 中两个数据单元的存储空间(例如，两个ECC区块或集群)。然而，其仅用于说明的目的。 其他可选设计也是可行的。简单的说，缓冲于缓冲器218中的第二数据的剩余部分(如图7及图10所示)，为光学存储介质201上的对应记录数据定义一个保护范围。该保护范围可以以数据单元(例如，ECC区块或集群)的方式表现N-(N-M+S) = M-S0以具有2MB缓冲的DVDRAM光盘机为例，M等于ICOh (也就是说，14ECC区块)，S等于20h (也就是说，2ECC区块)，则保护范围为 IAOh(也就是说，5外轨道(outer track)或10内轨道(inner track))。以具有2MB缓冲的BD驱动为例，M等于180h (也就是说，12个集群)，S等于40h (也就是说，2个集群)，则保护范围为140h (也就是说，2外轨道或4内轨道)。如图3所示，每当检测电路212检测到致命记录错误时，用于重新验证记录数据的验证操作才会执行(步骤304、316及318)。然而，发生致命记录错误的起因可能并非由于光学头202滑动。举例而言，在记录操作期间，光学存储介质201上的稳定缺陷(stationary defect)可导致致命记录错误；然而，已被验证的记录数据可不受所述致命记录错误的影响。因此，如图12所示，图3所示的流程图可被修正为具有额外的步骤1202，其中步骤1202 插入至步骤304及步骤316之间。在步骤1202，检测电路212更确认致命记录错误是否是光学头202滑至光学存储介质201上的错误地址而产生。若是，流程转至步骤316 ；否则， 在不激活验证操作来响应检测到的致命记录错误重新验证已记录数据的情形下，流程转至步骤306。此外，当光学头202沿光学存储介质201的径向由内轨道移至外轨道，将数据记录于光学存储介质201上时，光学头202向外滑至无数据记录的错误地址并不损坏已被验证的已记录的数据。因此，如图13所示，图3所示的流程图可被修正为具有两个额外的步骤 1202及1302，其中步骤1202及1302插入至步骤304及步骤316之间。在步骤1302，检测电路212更确认光学头202是否向内滑至已记录的数据所处的错误地址。若是，流程转至步骤316 ；否则，在不激活验证操作来响应检测到的致命记录错误重新验证已记录数据的情形下，流程转至步骤306。举例而言(但并非为本发明的限制)，检测致命记录缺陷是否由滑动光学头产生可简单通过确认光学存储介质的地址而实现。在通过光学头记录的连续数据单元的地址不连续或光学存储介质上的当前地址不同于预期地址的情形下，可判定光学头滑至错误地址。类似地，检测光学头是否向内滑至错误地址亦可通过确认光学存储介质的地址而实现。 例如，在通过光学头记录的连续数据单元中当前数据单元的地址小于先前数据单元的地址的情形下，可判定光学头向内滑至错误地址。然而，以上所述仅用于说明的目的。检测电路 212可采取任意一种能够判定致命记录缺陷是否由滑动光学头而产生的方法，或任意一种能够判定光学头是否向内滑至错误地址的方法。致命记录错误的产生可以是由于沿光学存储介质的径向的外部力量应用于光学存储装置200使得寻轨误差(track error)信号指示光学头滑至光学存储介质的错误地址而造成。然而，在上述重新验证机制的帮助下，在光学存储介质的记录程序完成后，由读取光学存储介质上的记录数据而获得的读出数据是无误差的，其中记录程序可包含有多个记录操作及多个验证操作。以上所述仅为本发明的较佳实施例，本领域相关的技术人员依据本发明的精神所做的等效变化与修改，都应当涵盖在权利要求书内。
权利要求
1.一种数据记录方法，用于光学存储介质，该数据记录方法包含在用于将第一数据记录至该光学存储介质的当前记录操作期间，检测是否发生致命记录错误；以及当检测到该致命记录错误时，启动当前验证操作以验证该光学存储介质上的记录数据段的正确性，其中，该记录数据段在先前记录操作期间依据第二数据被记录在该光学存储介质上，并且该第二数据的数据记录已在先于该当前记录操作的先前验证操作期间被验证。
2.根据权利要求1所述的数据记录方法，更包含在该先前记录操作期间，参考缓冲于缓冲器中的该第二数据以将该第二数据记录在该光学存储介质上；以及接收该第一数据的一部分并用该部分第一数据取代缓冲于该缓冲器中的该第二数据的一部分；其中在该当前记录操作的起始，该缓冲器上缓冲有该第二数据的剩余部分以及该部分第一数据。
3.根据权利要求2所述的数据记录方法，其特征在于，启动该当前验证操作以验证该光学存储介质上的该记录数据段的正确性的步骤包含参考该缓冲器中该第二数据的该剩余部分的至少一部分，以验证该光学存储介质上的该记录数据段的正确性。
4.根据权利要求2所述的数据记录方法，其特征在于，接收该部分第一数据并利用该部分第一数据取代缓冲于该缓冲器中的该部分第二数据的步骤包含在该先前验证操作期间，释放由该部分第二数据占用的缓冲器空间，接收该部分第一数据，以及将该部分第一数据存储入该缓冲器释放的该缓冲器空间。
5.根据权利要求2所述的数据记录方法，更包含在该当前验证操作期间，释放该缓冲器中该第二数据的该剩余部分的至少一部分所占用的缓冲器空间，接收该第一数据的另一部分，以及将该另一部分第一数据存储入该缓冲器释放的该缓冲器空间。
6.根据权利要求2所述的数据记录方法，更包含在该当前记录操作期间，释放该缓冲器中该第二数据的该剩余部分的至少一部分所占用的缓冲器空间，接收该第一数据的另一部分，以及将该另一部分第一数据存储入该缓冲器释放的该缓冲器空间。
7.根据权利要求1所述的数据记录方法，其中启动该当前验证操作以验证该光学存储介质上的该记录数据段的正确性的步骤包含确认该致命记录错误是否是光学头滑至该光学存储介质的错误地址而产生；以及当该致命记录错误是由该光学头滑至该光学存储介质的该错误地址而产生时，启动该当前验证操作。
8.根据权利要求1所述的数据记录方法，其中启动该当前验证操作以验证该光学存储介质上的该记录数据段的正确性的步骤包含确认该致命记录错误是否是光学头沿该光学存储介质的径向向内滑至该光学存储介质的错误地址而产生；以及当该致命记录错误是由该光学头向内滑至该光学存储介质的该错误地址而产生时，启动该当前验证操作。
9.根据权利要求1所述的数据记录方法，其中该致命记录错误是由于施加在该光学存储介质的径向的外部力量使得光学头滑至该光学存储介质的错误地址而产生的，并且在该光学存储介质的记录程序完成后，由读取该光学存储介质上的记录数据而获得的读出数据是无误差的。
10.一种数据记录装置，用于光学存储介质，该数据记录装置包含记录电路，将数据记录至该光学存储介质上；检测电路，检测在通过该记录电路执行的将第一数据记录至该光学存储介质的当前记录操作期间是否有致命记录错误发生；以及验证电路，耦接于该检测电路，用于当该检测电路检测到该致命记录错误时，执行当前验证操作，以验证该光学存储介质上的记录数据段的正确性；其中在通过该记录电路执行的先前记录操作期间，该记录数据段依据第二数据被记录在该光学存储介质上，并且该第二数据的数据记录已在先于该当前记录操作的先前验证操作期间被验证，其中该先前验证操作通过该验证电路执行。
11.根据权利要求10所述的数据记录装置，更包含缓冲器控制器；以及缓冲器，耦接于该记录电路、该验证电路以及该缓冲器控制器；其中在该先前记录操作期间，该记录电路参考缓冲于该缓冲器中的该第二数据来将该第二数据记录在该光学存储介质上；以及该缓冲器控制器接收该第一数据的一部分并利用该部分第一数据取代缓冲于该缓冲器中的该第二数据的一部分，其中在该记录电路执行的该当前记录操作的起始，该缓冲器缓冲有该第二数据的剩余部分以及该部分第一数据。
12.根据权利要求11所述的数据记录装置，其特征在于，该验证电路参考该缓冲器中该第二数据该剩余部分的至少一部分以验证该光学存储介质上的该记录数据段的正确性。
13.根据权利要求11所述的数据记录装置，其特征在于，在通过该验证电路执行的该先前验证操作期间，该缓冲器控制器释放由该部分第二数据占用的缓冲器空间，接收该部分第一数据，以及将该部分第一数据存储入该缓冲器释放的该缓冲器空间。
14.根据权利要求11所述的数据记录装置，其特征在于，在通过该验证电路执行的该当前验证操作期间，该缓冲器控制器释放由该缓冲器中该第二数据的该剩余部分的至少一部分所占用的缓冲器空间，接收该第一数据的另一部分，以及将该另一部分第一数据存储入该缓冲器释放的该缓冲器空间。
15.根据权利要求11所述的数据记录装置，其特征在于，在通过该记录电路执行的该当前记录操作期间，该缓冲器控制器释放该缓冲器中该第二数据的该剩余部分的至少一部分所占用的缓冲器空间，接收该第一数据的另一部分，以及将该另一部分第一数据存储入该缓冲器释放的该缓冲器空间。
16.根据权利要求10所述的数据记录装置，其特征在于，该检测电路更确认该致命记录错误是否是光学头滑至该光学存储介质的错误地址而产生；以及当该致命记录错误是由该光学头滑至该光学存储介质的该错误地址而产生时，该验证电路启动该当前验证操作。
17.根据权利要求10所述的数据记录装置，其特征在于，该检测电路更确认是否该致命记录错误是否是光学头沿该光学存储介质的径向向内滑至该光学存储介质的错误地址而产生；以及当该致命记录错误是由该光学头向内滑至该光学存储介质的该错误地址而产生时，该验证电路启动该当前验证操作。
18.根据权利要求10所述的数据记录装置，其特征在于，该致命记录错误是由于施加在该光学存储介质的径向的外部力量使得光学头滑至该光学存储介质的错误地址而产生的，并且在该光学存储介质的记录程序完成后，由读取该光学存储介质上的记录数据而获得的读出数据是无误差的。
19.一种数据记录方法，用于光学存储介质，该数据记录方法包含在先前记录操作期间参考缓冲于缓冲器中的第二数据将该第二数据记录在该光学存储介质上；以及接收第一数据的一部分并利用该部分第一数据取代缓冲于该缓冲器中的该第二数据的一部分；其中在当前记录操作的起始，该缓冲器具有缓冲于其上的该第二数据的一剩余部分及该部分第一数据，以将该第一数据记录至该光学存储介质。
20.根据权利要求19所述的数据记录方法，其特征在于，接收该部分第一数据并利用该部分第一数据取代缓冲于该缓冲器中的该部分第二数据的步骤包含在先于该当前记录操作的验证操作期间，释放由该部分第二数据占用的缓冲器空间， 接收该部分第一数据，以及将该部分第一数据存储入该缓冲器释放的该缓冲器空间，其中该验证操作验证该第二数据的数据记录。
21.一种数据记录装置，用于光学存储介质，该数据记录装置包含缓冲器；记录电路，耦接于该缓冲器，用于在先前记录操作期间，参考缓冲于缓冲器中的第二数据将该第二数据记录在该光学存储介质上；以及缓冲器控制器，耦接于该缓冲器，用于接收第一数据的一部分并利用该部分第一数据取代缓冲于该缓冲器中的该第二数据的一部分；其中在通过该记录电路执行的当前记录操作的起始，该缓冲器具有缓冲于其上的该第二数据的剩余部分及该部分第一数据，以将该第一数据记录至该光学存储介质上。
22.根据权利要求21所述的数据记录装置，更包含验证电路，耦接于该缓冲器，用于在先于该当前记录操作的验证操作期间，验证该第二数据的数据记录；其中在通过该验证电路执行的该验证操作期间，该缓冲器控制器释放由该部分第二数据占用的缓冲器空间，接收该部分第一数据，以及将该部分第一数据存储入该缓冲器释放的该缓冲器空间。
全文摘要
本发明提供一种数据记录方法及数据记录装置。所述数据记录方法用于光学存储介质，数据记录方法包含在用于将第一数据记录至该光学存储介质的当前记录操作期间，检测是否发生致命记录错误；以及当检测到致命记录错误时，启动当前验证操作以验证光学存储介质上的记录数据段的正确性，其中，记录数据段在先前记录操作期间依据第二数据被记录在光学存储介质上，并且第二数据的数据记录已在先于当前记录操作的先前验证操作期间被验证。本发明的数据记录方法及数据记录装置，可重新验证光学存储介质上的记录数据，从而改善数据记录质量。
文档编号G11B7/12GK102339614SQ20101057425
公开日2012年2月1日 申请日期2010年12月6日 优先权日2010年7月16日
发明者何升晏, 吕柏青, 黄宣翰 申请人:联发科技股份有限公司