本实用新型应用于微储存卡测试的技术领域,特别涉及一种自动sm卡拔插测试模组。
背景技术:
sm卡是用于储存各类电子信息的一种微型储存卡。在目前的sm卡测试领域中,有手动sm卡拔插测试,但是手动拔插sm卡需要人工操作,将sm卡插入测试设备的卡槽里并扣紧到位,这样操作不仅时间长、效率低、人力成本高,而且工艺的生产流程稳定性因人而异,导致产品测试的一致性差。如能针对此类sm卡拔插测试需求,通过模拟人工拔插的方式,设计出一种自动sm卡拔插测试设备,则能很好地解决上述问题。
技术实现要素:
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供了一种工作效率高、人力成本低且能保证工艺的生产流程稳定性及产品测试一致性的自动sm卡拔插测试模组。
本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括拔插模组和压紧滑块,所述拔插模组和所述压紧滑块通过sm卡前后浮动结构相连接,所述拔插模组包括sm卡上下浮动结构和预压块前后浮动结构,所述sm卡上下浮动结构包括sm卡模组和sm卡模组定位块,所述sm卡模组和所述sm卡模组定位块通过若干个缓冲弹簧相连接。
由上述方案可见,拔插模组被推动向前在sm卡的拔插过程中,通过sm卡上下浮动结构的设置,可以模拟手插的动作,可以有效地避免sm卡硬插测试设备,防止sm卡以及测试设备损坏,顺利地完成整个拔插过程。
进一步地,所述sm卡前后浮动结构包括有拔插模组复位弹簧和导向机构,所述拔插模组复位弹簧套在所述导向机构上。由此可见,在sm的拔插过程中,通过sm卡前后浮动结构的设置,可以提供一个前后缓冲的效果,从而很好地避免了sm卡硬插测试设备而被损坏。
进一步地,所述sm卡模组包括有sm卡和sm卡定位块,所述sm卡固定在所述sm卡定位块上。由此可见,在插入过程中,sm卡定位块与测试设备的接口相配合后插入到里面,sm卡就能够被检测。
进一步地,所述预压块前后浮动结构包括有预压块、预压块复位弹簧及预压块复位弹簧固定板,所述预压块复位弹簧与预压块复位弹簧固定板相连接。由此可见,通过预压块的设置,在插入测试设备之前,可以使sm卡稳定地固定在sm卡固定块上。
又进一步地,所述预压块设置在所述sm卡模组的上方,所述预压块的上方设置有预压泡棉,所述预压泡棉的上方设置有sm卡模组固定块,所述sm卡模组固定块通过所述预压泡棉对所述预压块和所述sm卡模组进行固定限位,所述sm卡模组固定块与所述sm卡模组定位块相配合。由此可见,通过预压泡棉的设置,可以给予预压块弹性压力,从而弹性压制sm卡,防止sm卡从上方掉落,通过sm卡模组固定块与sm卡模组定位块的配合,可以对预压块以及sm卡模组起到固定限位的作用。
又进一步地,所述预压块复位弹簧固定板与所述sm卡模组定位块的凹槽相配合,所述预压块复位弹簧穿过所述sm卡模组定位块的凹槽中的通孔与所述预压块相接触。由此可见,在插入测试设备的过程中,预压块会在测试设备的作用下往回压缩预压块复位弹簧,从而露出整个sm卡上表面,进行测试。
再进一步地,所述拔插模组及所述压紧滑块均滑动配合在一滑轨上,所述滑轨固定在固定板上。由此可见,通过滑轨的设置,能给予拔插模组以及压紧滑块定位导向的作用。
再进一步地,所述固定板上设置有l型块,所述l型块上固定有气缸,所述气缸的输出轴与所述压紧滑块连接,所述气缸带动所述压紧滑块作往复直线运动。由此可见,气缸推动压紧滑块,从而给予拔插模组一个来回运动的动力,让sm卡能够自动进行拔插测试,大大地提高了整体的工作效率,减少了人力成本,并且提高了整个工艺的生产流程稳定性以及产品测试的一致性。
附图说明
图1是本实用新型的立体图;
图2是本实用新型的爆炸图;
图3是拔插模组的立体图;
图4是拔插模组的预压块缩回图;
图5是拔插模组的爆炸图。
具体实施方式
如图1所示,本实用新型包括拔插模组1、压紧滑块2、sm卡前后浮动结构3、滑轨18、固定板19、l型块20及气缸21。所述sm卡前后浮动结构3包括拔插模组复位弹簧9和导向机构10,所述拔插模组复位弹簧9套在所述导向机构10上,所述拔插模组1自身拔插接触测试设备的过程中,所述sm卡前后浮动结构3起到一个前后缓冲导向的作用,避免sm卡硬插测试设备,导致测试设备或者sm卡损坏。所述拔插模组1及所述压紧滑块2均滑动配合在一滑轨18上,可前后活动;所述气缸21固定在所述l型块20上,所述滑轨18与所述l型块20均固定在固定板19上,组成一个完整的自动拔插活动模组。其中,所述气缸21的输出轴与所述压紧滑块2连接,所述气缸21给所述压紧滑块2及所述拔插模组1提供来回运动的动力,所述滑轨18起到定位导向作用,从而做往复直线运动,大大地提高了工作效率,减少人力成本,并且保证了整个工艺的生产流程稳定性及产品测试的一致性。
如图2和图3所示,所述拔插模组1包括有sm卡上下浮动结构4,所述sm卡上下浮动结构4包括sm卡模组6和sm卡模组定位块7,所述sm卡模组6和所述sm卡模组定位块7通过若干个缓冲弹簧8相连接。所述sm卡模组6包括有sm卡11和sm卡定位块12,所述sm卡模组6的上方设置有预压块13,所述预压块13的上方设置有预压泡棉16,所述sm卡11固定在所述sm卡定位块12上,所述预压块13上下方向由上方所述预压泡棉16提供弹性压力,所述sm卡模组6上下方向由所述预压块13进行弹性压制,并通过所述sm卡模组固定块17固定限位,所述sm卡模组固定块17与所述sm卡模组定位块7相配合。所述sm卡模组6通过所述缓冲弹簧8与所述sm模组定位块7相连接,组成上下浮动结构,由此所述sm卡模组6的拔插过程中,完成上下浮动导向作用,模拟手插动作,避免硬插所述sm卡11而导致损坏,从而顺利完成整个拔插过程。
如图2和图4所示,所述拔插模组1包括预压块前后浮动结构5,所述预压块前后浮动结构5包括有所述预压块13、预压块复位弹簧14及预压块复位弹簧固定板15,所述预压块复位弹簧14与所述预压块复位弹簧固定板15相连接。未接触测试设备前,所述预压块13弹性压制所诉sm卡11,起到限位保护作用,防止所述sm卡11从上方掉落;在插入测试设备的过程中,所述预压块13接触到测试设备,并在测试设备的作用下往回压缩所述预压块复位弹簧14,从而露出整个所述sm卡11的上表面,进行测试。此过程中所述预压块13始终起到保护所述sm卡11掉落的作用。
本实用新型应用于微储存卡测试的技术领域。
1.一种自动sm卡拔插测试模组,其特征在于:它包括拔插模组(1)和压紧滑块(2),所述拔插模组(1)和所述压紧滑块(2)通过sm卡前后浮动结构(3)相连接,所述拔插模组(1)包括有sm卡上下浮动结构(4)和预压块前后浮动结构(5),所述sm卡上下浮动结构(4)包括有sm卡模组(6)和sm卡模组定位块(7),所述sm卡模组(6)和所述sm卡模组定位块(7)通过若干个缓冲弹簧(8)相连接。
2.根据权利要求1所述的一种自动sm卡拔插测试模组,其特征在于:所述sm卡前后浮动结构(3)包括有拔插模组复位弹簧(9)和导向机构(10),所述拔插模组复位弹簧(9)套在所述导向机构(10)上。
3.根据权利要求1所述的一种自动sm卡拔插测试模组,其特征在于:所述sm卡模组(6)包括有sm卡(11)和sm卡定位块(12),所述sm卡(11)固定在所述sm卡定位块(12)上。
4.根据权利要求1所述的一种自动sm卡拔插测试模组,其特征在于:所述预压块前后浮动结构(5)包括有预压块(13)、预压块复位弹簧(14)及预压块复位弹簧固定板(15),所述预压块复位弹簧(14)与所述预压块复位弹簧固定板(15)相连接。
5.根据权利要求4所述的一种自动sm卡拔插测试模组,其特征在于:所述预压块(13)设置在所述sm卡模组(6)的上方,所述预压块(13)的上方设置有预压泡棉(16),所述预压泡棉(16)的上方设置有sm卡模组固定块(17),所述sm卡模组固定块(17)通过所述预压泡棉(16)对所述预压块(13)和所述sm卡模组(6)进行固定限位,所述sm卡模组固定块(17)与所述sm卡模组定位块(7)相配合。
6.根据权利要求5所述的一种自动sm卡拔插测试模组,其特征在于:所述预压块复位弹簧固定板(15)与所述sm卡模组定位块(7)的凹槽相配合,所述预压块复位弹簧(14)穿过所述sm卡模组定位块(7)的凹槽中的通孔与所述预压块(13)相接触。
7.根据权利要求1所述的一种自动sm卡拔插测试模组,其特征在于:所述拔插模组(1)及所述压紧滑块(2)均滑动配合在一滑轨(18)上,所述滑轨(18)固定在固定板(19)上。
8.根据权利要求7所述的一种自动sm卡拔插测试模组,其特征在于:所述固定板(19)上设置有l型块(20),所述l型块(20)上固定有气缸(21),所述气缸(21)的输出轴与所述压紧滑块(2)连接,所述气缸(21)带动所述压紧滑块(2)作往复直线运动。