一种高低温闪存测试系统的制作方法

本实用新型涉及闪存测试技术领域，具体为一种高低温闪存测试系统。

背景技术：

闪存卡在生产之后，需要对各种数据进行测试，然后才能对闪存卡进行数据的编写，但是现有的测试装置在使用的时候，不能够实现对不同环境下的闪存卡的特性进行测试，这样就使得闪存卡在测试的时候不能够精准的测试到各种环境下的精准数据，为此，我们提出一种高低温闪存测试系统。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种高低温闪存测试系统，具有散热风机实现对测试仪本体内部进行散热降温，以及设有加热板实现对测试仪本体进行加热，实现不同温度的检测，以及设有测温模块能够检测环境参数，用以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种高低温闪存测试系统，包括测试仪本体，所述测试仪本体的正面固定设有显示屏、指示灯、复位按键、电源开关、以太网接口、usb接口和测试接口，所述测试仪本体的上部固定设有测试座，所述测试座的一端固定安装有连接轴座，所述连接轴座内通过轴杆连接有覆压板，所述测试座的另一端固定连接有卡合座，所述测试仪本体的内部后端固定安装有散热风机，所述测试仪本体的上部固定设有安装座，所述安装座的内部固定安装有加热板，所述测试仪本体的内部固定安装有控制模块，所述控制模块电性连接调压模块，所述调压模块电性连接市电网，所述控制模块电性连接显示屏、指示灯、加热板、散热风机和测温模块。

优选的，所述测试仪本体的底部至少设有四组支腿，四组所述支腿分别固定在测试仪本体的底部四角处。

优选的，所述调压模块包括有整流电路、降压电路、滤波电路和稳压电路，所述整流电路有四组电阻组成桥式电路。

优选的，所述卡合座设有两组卡合槽，所述覆压板的顶端设有两组卡块，两组所述卡块分别卡合连接在卡合槽内。

优选的，所述测试仪本体的后端固定设有散热窗，所述散热窗的内侧固定安装有散热风机。

优选的，所述覆压板的顶部一端固定设有把手。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型在测试仪本体的内部固定设有散热风机，可以是实现对测试仪本体内部进行散热，进而使得测试座在测试的时候能够实现在低温或着是常温的环境下进行检测闪存卡，并且在测试仪本体内设有加热板，实现对测试座进行加热，使得闪存卡能够在高温的环境下进行检测，并且设有测温模块，实现对环境的参数进行检测。

附图说明

图1为本实用新型剖面示意图；

图2为本实用新型结构示意图；

图3为本实用新型的系统框图；

图4为本实用新型调压模块电路图。

图中：1、测试仪本体；2、支腿；3、显示屏；4、指示灯；5、复位按键；6、电源开关；7、以太网接口；8、usb接口；9、测试接口；10、测试座；11、连接轴座；12、覆压板；13、把手；14、卡合座；15、散热窗；16、散热风机；17、控制模块；18、安装座；19、加热板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在不同附图中以相同标号来标示相同或类似组件；另外请了解文中诸如“第一”、“第二”、“第三”、“上”、“下”、“前”、“后”、“内”、“外”、“端”、“部”、“段”、“宽度”、“厚度”、“区”等等及类似用语仅便于看图者参考图中构造以及仅用于帮助描述本实用新型而已，并非是对本实用新型的限定。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种高低温闪存测试系统，包括测试仪本体1；

根据图2为了使得测试仪本体1能够保持平衡，在测试仪本体1的底部至少设有四组支腿2，四组支腿2分别固定在测试仪本体1的底部四角处，为了使得测试仪本体1在使用的时候能够便于操作和观测，在测试仪本体1的正面固定设有显示屏3、指示灯4、复位按键5、电源开关6、以太网接口7、usb接口8和测试接口9，为了实现对闪存卡进行测试安装，在测试仪本体1的上部固定设有测试座10，为了使得测试座10上的闪存卡能够安装的稳定，不会发生接触不良的现象，在测试座10的一端固定安装有连接轴座11，连接轴座11内通过轴杆连接有覆压板12，为了使得覆压板12能够方便打开和合闭，在覆压板12的顶部一端固定设有把手13，为了度覆压板12进行固定连接，在测试座10的另一端固定连接有卡合座14，卡合座14设有两组卡合槽，覆压板12的顶端设有两组卡块，两组卡块分别卡合连接在卡合槽内；

根据图1，为了实现对测试仪本体1内部的进行降温，在测试仪本体1的内部后端固定安装有散热风机16，为了实现空气能够流动，在测试仪本体1的后端固定设有散热窗15，散热窗15的内侧固定安装有散热风机16，为了实现对加热板19进行固定安装，在测试仪本体1的上部固定设有安装座18，安装座18的内部固定安装有加热板19；

根据图3和图4，为了实现对系统进行稳定的控制，在测试仪本体1的内部固定安装有控制模块17，为了使得电压能够在适应范围内对控制模块进行供电，在控制模块电性连接调压模块，调压模块包括有整流电路、降压电路、滤波电路和稳压电路，整流电路有四组电阻组成桥式电路，调压模块电性连接市电网，为了实现系统的运行，在控制模块电性连接显示屏3、指示灯4、加热板19、散热风机16和测温模块。

温度传感器采用的是pt100温度传感器为正温度系数热敏电阻传感器，测量范围：-200℃～+850℃，允许偏差值△℃：a级±(0.15+0.002│t│)，b级±(0.30+0.005│t│)；最小置入深度：热电阻的最小置入深度≥200mm；允通电流≤5ma；另外，pt100温度传感器还具有抗振动、稳定性好、准确度高、耐高压等优点；铂热电阻的线性较好，在0～100摄氏度之间变化时，最大非线性偏差小于0.5摄氏度。

工作原理：先将闪存卡放在测试座10上，然后将覆压板12通过连接轴座11覆压在测试座10上，使得测试座10上的闪存卡在测试的时候能够稳定的接触，防止测试造成接触不良，然后开始进行测试，且在测试的时候，可以通过散热风机16实现对测试仪本体1内部的温度，使得闪存卡在测试的时候能够实现低温或者常温下的检测，然后在启动加热板19，实现对测试座10进行加温，使得测试座10内的闪存卡实现在高温下的检测。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：

1.一种高低温闪存测试系统，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)的正面固定设有显示屏(3)、指示灯(4)、复位按键(5)、电源开关(6)、以太网接口(7)、usb接口(8)和测试接口(9)，所述测试仪本体(1)的上部固定设有测试座(10)，所述测试座(10)的一端固定安装有连接轴座(11)，所述连接轴座(11)内通过轴杆连接有覆压板(12)，所述测试座(10)的另一端固定连接有卡合座(14)，所述测试仪本体(1)的内部后端固定安装有散热风机(16)，所述测试仪本体(1)的上部固定设有安装座(18)，所述安装座(18)的内部固定安装有加热板(19)，所述测试仪本体(1)的内部固定安装有控制模块(17)，所述控制模块电性连接调压模块，所述调压模块电性连接市电网，所述控制模块电性连接显示屏(3)、指示灯(4)、加热板(19)、散热风机(16)和测温模块。

2.根据权利要求1所述的一种高低温闪存测试系统，其特征在于：所述测试仪本体(1)的底部至少设有四组支腿(2)，四组所述支腿(2)分别固定在测试仪本体(1)的底部四角处。

3.根据权利要求1所述的一种高低温闪存测试系统，其特征在于：所述调压模块包括有整流电路、降压电路、滤波电路和稳压电路，所述整流电路有四组电阻组成桥式电路。

4.根据权利要求1所述的一种高低温闪存测试系统，其特征在于：所述卡合座(14)设有两组卡合槽，所述覆压板(12)的顶端设有两组卡块，两组所述卡块分别卡合连接在卡合槽内。

5.根据权利要求1所述的一种高低温闪存测试系统，其特征在于：所述测试仪本体(1)的后端固定设有散热窗(15)，所述散热窗(15)的内侧固定安装有散热风机(16)。

6.根据权利要求1所述的一种高低温闪存测试系统，其特征在于：所述覆压板(12)的顶部一端固定设有把手(13)。

技术总结
本实用新型公开了一种高低温闪存测试系统，包括测试仪本体，所述测试仪本体的上部设有测试座，所述测试座的一端通过连接轴座连接有覆压板，所述测试座的另一端连接有卡合座，所述测试仪本体内安装有散热风机，所述测试仪本体上通过安装座安装有加热板，所述测试仪本体内安装有控制模块，所述控制模块电性连接调压模块，所述调压模块电性连接市电网，所述控制模块电性连接显示屏、指示灯、加热板、散热风机和测温模块；本实用新型在测试仪本体内设有散热风机，实现在低温或着是常温下进行检测闪存卡，在测试仪本体内设有加热板，使得闪存卡能够在高温下进行检测，并且设有测温模块，实现对环境的参数进行检测。

技术研发人员：张浩明;李四林
受保护的技术使用者：武汉忆数存储技术有限公司
技术研发日：2020.01.18
技术公布日：2020.07.14