一种内存颗粒测试设备的制作方法

本技术涉及内存颗粒测试，尤其涉及一种内存颗粒测试设备。

背景技术：

1、内存颗粒又称为内存芯片或内存条，是连接cpu和其他设备的通道，能够起到缓存和数据交换的作用，对电脑等电子设备的稳定性及性能起到至关重要的影响，在内存颗粒生产出来后，经常需要随机抽取部分进行多项指标测试。

2、现有的测试设备主要包括电脑和测试冶具，该设备可以对内存颗粒的运行性能进行测试，但是该设备仍然存在以下不足：

3、1、设备的功能较为单一，只能对内存颗粒的性能进行检测，不能模拟温度环境，需要另外设置程序和设备进行测试；

4、2、内存颗粒一般为拔插式，多次使用容易对内存颗粒造成磨损。

5、针对上述问题，本实用新型文件提出了一种内存颗粒测试设备。

技术实现思路

1、本实用新型提供了一种内存颗粒测试设备，解决了现有技术中存在设备的功能较为单一，只能对内存颗粒的性能进行检测，不能模拟温度环境，内存颗粒一般为拔插式，多次使用容易对内存颗粒造成磨损的缺点。

2、本实用新型提供了如下技术方案：

3、一种内存颗粒测试设备，包括：

4、设备主体，所述设备主体的表面安装有铰接的防护盖，所述防护盖的顶部内壁固定连接有加热管，所述防护盖的一侧外壁固定连接有控制面板，所述设备主体的表面固定连接有多个活动插槽；

5、所述活动插槽包括固定座，所述固定座固定连接在设备主体的表面，所述固定座的一侧转动连接有活动板，所述固定座和活动板的一侧均设有多个检测触点，所述固定座的两侧均开设有滑槽，两个滑槽之间滑动连接有限位块。

6、在一种可能的设计中，所述防护盖的顶部内壁固定连接有安装架，安装架的底部固定连接有散热扇，所述防护盖的两侧外壁均开设有通风口，两个所述通风口内均插接有插板。

7、在一种可能的设计中，所述防护盖的一侧外壁开设有贯穿的测温孔，所述测温孔内插接有金属温度计。

8、在一种可能的设计中，所述防护盖的一侧内壁固定连接有固定管，且固定管和测温孔相连通，所述金属温度计的一端位于固定管内。

9、在一种可能的设计中，所述固定管的材质为硅胶。

10、在一种可能的设计中，所述设备主体的一侧开设有导线槽，所述设备主体的表面固定连接有导线板。

11、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本实用新型。

12、本实用新型中，通过防护盖、加热管和金属温度计的设置，可以利用加热管对防护盖内部进行加热，模拟内存颗粒运行时周围的环境温度，提高了检测数据的真实性，不需要另设程序；

13、本实用新型中，通过固定座、活动板和限位块的设置，在安装内存颗粒时，首先转动活动板展开，然后将内存颗粒放置到固定座上，然后转动活动板夹紧内存颗粒，最后利用限位块对活动板进行限位，操作简单方便，并且降低了结构之间的摩擦，进而降低了摩擦造成的磨损；

14、本实用新型中，通过金属温度计和固定管的设置，金属温度计可以方便人们了解防护盖内部的温度，而固定管可以用于摆放金属温度计，在使用时可以对金属温度计进行固定，方便人们观看，未使用时，可以将金属温度计安装到防护盖内部备用，同时可以对测温孔进行封闭，避免灰尘进入。

15、本实用新型中，可以模拟温度环境，提高检测数据的真实性，可以降低对内存颗粒和设备造成的磨损，还可以测量温度，避免灰尘进入。

技术特征：

1.一种内存颗粒测试设备，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种内存颗粒测试设备，其特征在于，所述防护盖(2)的顶部内壁固定连接有安装架(7)，安装架(7)的底部固定连接有散热扇(8)，所述防护盖(2)的两侧外壁均开设有通风口(201)，两个所述通风口(201)内均插接有插板(4)。

3.根据权利要求1所述的一种内存颗粒测试设备，其特征在于，所述防护盖(2)的一侧外壁开设有贯穿的测温孔(101)，所述测温孔(101)内插接有金属温度计(5)。

4.根据权利要求3所述的一种内存颗粒测试设备，其特征在于，所述防护盖(2)的一侧内壁固定连接有固定管(6)，且固定管(6)和测温孔(101)相连通，所述金属温度计(5)的一端位于固定管(6)内。

5.根据权利要求4所述的一种内存颗粒测试设备，其特征在于，所述固定管(6)的材质为硅胶。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的一种内存颗粒测试设备，其特征在于，所述设备主体(1)的一侧开设有导线槽(102)，所述设备主体(1)的表面固定连接有导线板(9)。

技术总结
本技术属于内存颗粒测试领域，尤其是一种内存颗粒测试设备，针对现有的设备的功能较为单一，只能对内存颗粒的性能进行检测，不能模拟温度环境，内存颗粒一般为拔插式，多次使用容易对内存颗粒造成磨损的问题，现提出如下方案，其包括设备主体，所述设备主体的表面安装有铰接的防护盖，所述防护盖的顶部内壁固定连接有加热管，所述防护盖的一侧外壁固定连接有控制面板，所述设备主体的表面固定连接有多个活动插槽；所述活动插槽包括固定座，所述固定座固定连接在设备主体的表面，本技术中，可以模拟温度环境，提高检测数据的真实性，可以降低对内存颗粒和设备造成的磨损，还可以测量温度，避免灰尘进入。

技术研发人员：黄少娃,郭威成,江敏圳,虞青松,罗晓东
受保护的技术使用者：深圳市铨兴科技有限公司
技术研发日：20221215
技术公布日：2024/1/12