一种DDR5内存性能测试分析辅助系统的制作方法

本发明涉及内存条参数统计分析领域，尤其是涉及内存性能测试分析辅助系统，具体为一种ddr5内存性能测试分析辅助系统。

背景技术：

1、半导体模组测试的性能测试工序分析ddr5异常不良的时候需要先搜集大量的数据(test log&chipid log存于测试机本地，容易丢失实际不良资材；接着读取所有不良资材的spdserial presence detect信息，即是通过i2c串行接口的eepromelectricallyerasable programmable read-only memory，电可擦可编程只读存储器对内存插槽中的模组存在的信息检查；最后根据spd信息将所有数据手动汇总整理至excel得出结论。由此可见，现有的分析过程冗长和繁琐缺乏直观的数据反映；测试机本地保存测试信息容易丢失，测试信息维护不便，并且ddr5中dimm构架发生改变采用双通道设计，并且现使用的ddr4测试分析系统仅支持1个通道通信结构测试日志的解析，现需要针对ddr5分析结果冗长繁琐且易错的问题以及ddr5双通道的架构特点开发一种ddr5内存性能测试分析辅助系统。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种ddr5内存性能测试分析辅助系统，用于解决现有技术的难点。

2、为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种ddr5内存性能测试分析辅助系统，包括：

3、测试数据库1，所述测试数据库1接收测试设备中ddr5通电运行的测试结果，建立该编号ddr5的通道测试数据表2，所述通道测试数据表2设置有上下两段分段对应ddr5中0与1两条通道；

4、pc3，所述pc3通过数据传输装置6读取并备份测试数据库1中通道测试数据表2，并在所有同批次的通道测试数据表2上位建立批次产品分析表7；

5、数据解析模块4，所述数据解析模块4提取批次产品分析表7下位所有同批次的通道测试数据表2收集并统计该批次产品从零件到成品的各项收率；

6、查询模块5，所述查询模块5通过数据传输装置6远程读取测试数据库1中通道测试数据表2和批次产品分析表7。

7、根据优选方案，通道测试数据表2包括：

8、rank组21，所述rank组21显示该内存颗粒被哪个ddr控制器控制；

9、通道组22，所述通道组22显示该内存颗粒属于的通道编号；

10、位置标号23，所述位置标号23显示该内存颗粒的位置编号；

11、起始dq24，所述起始dq24显示该内存颗粒的所连接的dq数据传输通道的起始数量。

12、根据优选方案，起始的通道组22、位置标号23、rank组21中元件或者线路起始标号为0。

13、根据优选方案，数据解析模块4包括：

14、电特性项目的测试结果41，所述电特性项目的测试结果41收集该批次内存条的输入电压与ac与dc中信号电压等运行时的检测参数，统计不良项目类型及占比；

15、量产资材的履历管理42，所述量产资材的履历管理42为内存条内的内存颗粒与ddr控制器以及基板等量产资材生产时的参数；

16、量产设备别收率监测43，所述量产设备别收率监测43设置在测试设备内，所述量产设备别收率监测43可按日、周、月别自动统计每台设备上测试资材收率；

17、产品别收率监测44，所述产品别收率监测44收集不同制品收率统计。

18、根据优选方案，一种ddr5内存性能测试分析辅助系统的控制方法，包括以下步骤：

19、步骤s1：测试设备中ddr5独立双通道的测试信息发送至测试数据库1并在pc3设备备份；

20、步骤s2：pc3设备利用计算机语言c/c++/sql将原始数据以及运算结果建立成通道测试数据表2并显示，方便技术人员直观查看测试结果；

21、步骤s3：pc3设备根据通道测试数据表2内的内存条编号，扫描测试数据库1提取并分析分析该编号ddr5内存条各线路以及元器件之间的开路、短路、spd写入参数，以及该内存每个单元的读写数据；

22、步骤s4：pc3设备建立批次产品分析表7提取同批次的通道测试数据表2通过电特性项目的测试结果41、量产资材的履历管理42、量产设备别收率监测43、产品别收率监测44，收集并统计该批次产品从零件到成品的各项收率；

23、步骤s5：查询模块5通过数据传输装置6读取pc3设备内信息，根据批次号提取批次产品分析表7，根据产品编号提取该编号产品的通道测试数据表2。

24、本发明采用测试数据库、数据解析模块和查询模块，调节装置根据泡棉尺寸调节完毕后，可以智能识别内存类型与内存颗粒数据，能支持双通道ddr5内存测试结果正确解析，通过pc自动建立批次产品分析表由数据解析模块自动提取数据，达到全自动化作业系统替代了人工操作，达到了以下有益效果：

25、(1)采用模块化结构，将多种标准测试日志进行无缝整合，系统具备高度的可扩展性以及可维护性；

26、(2)通过多种信息交互方式，管控测试流程，生成相应的履历信息，构建完善的电算体系，防止人为出现参数记错以及漏检；

27、(3)通过ddr5内存性能测试分析辅助功能系统，可以实时收集每根内存实时测试数据，进行内存异常分析/设备散播管理等，自动完成数据流转，构建后续的设备散播管理体系，指导内存生产性提升；

28、(4)异常分析作业效率提升，有效防止了数据整理的人为出错；可以实时收集多个内存实时测试数据，进行内存及设备多样化管理，提高分析效率。

29、下文中将结合附图对实施本发明的最优实施例进行更详尽的描述，以便能容易地理解本发明的特征和优点。

技术特征：

1.一种ddr5内存性能测试分析辅助系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的ddr5内存性能测试分析辅助系统，其特征在于，所述通道测试数据表(2)包括：

3.根据权利要求2所述的ddr5内存性能测试分析辅助系统，其特征在于，所述数据解析模块(4)包括：

4.根据权利要求3所述的ddr5内存性能测试分析辅助系统，其特征在于，所述一种ddr5内存性能测试分析辅助系统的控制方法，包括以下步骤：

技术总结
本发明提供一种DDR5内存性能测试分析辅助系统，包括测试数据库1接收测试设备中DDR5通电运行的测试结果，建立该编号DDR5的通道测试数据表，通道测试数据表2设置有上下两段分段对应DDR5中0与1两条通道；PC3通过数据传输装置读取并备份测试数据库中通道测试数据表，并在所有同批次的通道测试数据表上位建立批次产品分析表；数据解析模块提取批次产品分析表下位所有同批次的通道测试数据表收集并统计该批次产品从零件到成品的各项收率；查询模块通过数据传输装置远程读取测试数据库中通道测试数据表和批次产品分析表，PC自动建立批次产品分析表由数据解析模块自动提取数据，达到全自动化作业系统替代了人工操作。

技术研发人员：蔡燕,刘欣,唐奇胜
受保护的技术使用者：海太半导体（无锡）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15