存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质与流程

本发明涉及芯片测试，尤其是一种存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质。

背景技术：

1、在存储芯片的数据保持性能测试过程中，为了保证测试的准确性，需要使芯片所有区域都达到指定的寿命前期、中期或后期的磨损程度。由于这个过程耗时较长，影响了存储芯片的测试效率。为了缩短测试时间，每颗芯片的每种磨损等级所选的区域，往往都是固定的、相同的一小块区域。但是，由于存储芯片不同区域数据保持性能不一致，只选取一小块区域进行测试，可能存在偶然性，不能完全反映出存储芯片的真实性能，也无法保证存储芯片的测试准确性。

技术实现思路

1、为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质，通过根据标识符分配存储芯片的测试存储块，按照不同的磨损等级对测试存储块进行磨损测试，能快速地得到磨损等级确定的磨损存储块，并精准地得到存储芯片的性能结果，提高存储芯片的测试准确性。

2、本发明解决其问题所采用的技术方案是：

3、第一方面，本申请实施例提供一种存储芯片随机磨损测试方法，所述方法包括：读取存储芯片的标识符，并根据所述标识符分配所述存储芯片的测试存储块；按照不同的磨损等级对所述测试存储块进行磨损测试，得到磨损存储块；读取所述磨损存储块的磨损参数，其中，所述磨损参数包括所述磨损存储块的磨损等级和擦除次数；根据所述磨损参数对所述磨损存储块进行数据保持测试，得到所述存储芯片的性能结果。

4、第二方面，本申请实施例提供一种存储芯片随机磨损测试装置，包括：分配模块，用于读取存储芯片的标识符，并根据所述标识符分配所述存储芯片的测试存储块；测试模块，用于按照不同的磨损等级对所述测试存储块进行磨损测试，得到磨损存储块；读取模块，用于读取所述磨损存储块的磨损参数，其中，所述磨损参数包括所述磨损存储块的磨损等级和擦除次数；性能模块，用于根据所述磨损参数对所述磨损存储块进行数据保持测试，得到所述存储芯片的性能结果。

5、第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如上所述的存储芯片随机磨损测试方法。

6、第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如上所述的存储芯片随机磨损测试方法。

7、本申请实施例，通过读取存储芯片的标识符，并根据标识符分配存储芯片的测试存储块；按照不同的磨损等级对测试存储块进行磨损测试，得到磨损存储块；读取磨损存储块的磨损参数，其中，磨损参数包括磨损存储块的磨损等级和擦除次数；根据磨损参数对磨损存储块进行数据保持测试，得到存储芯片的性能结果，能快速地得到磨损等级确定的磨损存储块，并精准地得到存储芯片的性能结果，提高存储芯片的测试准确性。

8、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

技术特征：

1.一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，所述读取存储芯片的标识符，并根据所述标识符分配所述存储芯片的测试存储块，包括：

3.根据权利要求2所述的一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，所述根据所述存储块的序号，得到所述存储芯片的测试存储块，包括：

4.根据权利要求3所述的一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，所述按照不同的磨损等级对所述测试存储块进行磨损测试，得到磨损存储块，包括：

5.根据权利要求4所述的一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，所述按照已分配的所述磨损等级，对所述测试存储块进行磨损测试，包括：

6.根据权利要求1所述的一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，所述读取所述磨损存储块的磨损参数，包括：

7.根据权利要求6所述的一种存储芯片随机磨损测试方法，其特征在于，所述根据所述磨损参数对所述磨损存储块进行数据保持测试，得到所述存储芯片的性能结果，包括：

8.一种存储芯片随机磨损测试装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求1至7任意一项所述的存储芯片随机磨损测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1至7任意一项所述的存储芯片随机磨损测试方法。

技术总结
本发明公开了一种存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质，所述方法包括以下步骤：读取存储芯片的标识符，并根据标识符分配存储芯片的测试存储块；按照不同的磨损等级对测试存储块进行磨损测试，得到磨损存储块；读取磨损存储块的磨损参数，其中，磨损参数包括磨损存储块的磨损等级和擦除次数；根据磨损参数对磨损存储块进行数据保持测试，得到存储芯片的性能结果。通过根据标识符分配存储芯片的测试存储块，按照不同的磨损等级对测试存储块进行磨损测试，能快速地得到磨损等级确定的磨损存储块，并精准地得到存储芯片的性能结果，提高存储芯片的测试准确性。

技术研发人员：区锦宏,贺乐,赖鼐,龚晖
受保护的技术使用者：珠海妙存科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16