存储芯片测试装置和测试系统的制作方法

本申请涉及存储芯片测试领域，尤其涉及一种存储芯片测试装置和测试系统。

背景技术：

1、由于存储芯片需要进行高温老化分选等级，导致需要大批量进行高温稳定测试，测试前后都需要进行开卡测试。对于存储芯片的测试，现有技术是使用单个测试板，手工装上存储芯片，加载rdt(reliability demonstration testing)程序后放入高温炉进行测试，在高温条件下模拟擦写来加速薄弱nand闪存块的故障从而最大限度地提高可靠性和耐用性。

2、现有存储芯片存在不良品，测试时会导致测试装置的电路板发生短路而造成整个电路板无法正常使用的问题，从而可能会导致测试的成本升高。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种存储芯片测试装置和测试系统，提高芯片测试装置的可靠性和适用性，降低测试成本。

2、本申请公开了一种存储芯片测试装置，用于测试存储芯片，所述存储芯片测试装置包括，主板、控制模块和至少一个副板，所述副板设置在所述主板上，且所述副板与所述主板之间可拆卸连接，所述控制模块通过主板与所述副板连接，所述副板上还设置有芯片安装座，所述存储芯片设置在所述芯片安装座内；

3、所述存储芯片测试装置还包括电路保护模块，所述电路保护模块与所述副板一一对应，所述电路保护模块连接在所述芯片安装座的输入端，在测试过程中，所述控制模块检测到所述存储芯片的电压异常，则控制所述电路保护模块断开所述主板与所述芯片安装座的连接。

4、可选的，所述主板上设置有第一电源控制模块，所述副板上设置有第二电源控制模块，所述第一电源控制模块与所述第二电源控制模块连接，所述控制模块与所述第一电源控制模块连接，所述电路保护模块设置在所述主板上，且设置在所述第一电源控制模块的输出端。

5、可选的，所述存储芯片测试装置还包括至少一个led灯珠，所述led灯珠连接在所述第一电源控制模块和第二电源控制模之间，且所述led灯珠设置在所述主板上，并与所述副板一一对应。

6、可选的，所述存储芯片测试装置还包括显示模块，所述显示模块与所述控制模块连接。

7、可选的，所述电路保护模块包括第一开关，所述第一开关设置在所述第一电源控制模块的输出端和第二电源控制模块的输入端。

8、可选的，所述存储芯片测试装置还包括控制模块电路板，所述控制模块设置在所述控制模块电路板上，所述控制模块电路板上还设置有第一连接口，所述主板上设置有第二连接口，所述第一连接口和所述第二连接口通过连接线连接。

9、可选的，所述存储芯片测试装置包括多个所述副板，且多个所述副板对应不同的类型的存储芯片。

10、可选的，所述主板上设置有至少一个公头接口，所述公头接口连接在所述第一电源控制模块的输出端，所述副板上设置有一个母头接口，所述母头接口连接在所述第二电源控制模块的输入端，所述公头接口与所述母头接口可拆卸连接。

11、可选的，所述副板在所述主板上的正投影覆盖与所述副板对应的所述公头接口。

12、本申请还公开了一种测试系统，所述测试系统包括主机端和存储芯片测试装置，所述主机端与所述存储芯片测试装置连接。

13、相对于存储芯片测试装置只有一个电路板的方案来说，本申请通过控制模块检测在测试状态下存储芯片的电压值，当电压出现异常电压时则通过电路保护模块断开对所述存储芯片的供电，及时保护了储存芯片测试装置的安全，提高芯片测试装置的可靠性；并且存储芯片测试装置内的芯片安装座设置在了副板上，副板又与主板可拆卸连接，在测试时存储芯片发生短路现象，即使导致副板发生损坏，主板也不会被烧毁，而且只需要替换副板便可以直接继续测试；并且由于主板和副板是可拆卸连接的，测试不同的芯片时只需要替换相应的副板即可，提高了产品的适用性。

技术特征：

1.一种存储芯片测试装置，用于测试存储芯片，其特征在于，所述存储芯片测试装置包括主板、控制模块和至少一个副板，所述副板设置在所述主板上，且所述副板与所述主板之间可拆卸连接，所述控制模块通过主板与所述副板连接，所述副板上还设置有芯片安装座，所述存储芯片设置在所述芯片安装座内；

2.根据权利要求1所述的存储芯片测试装置，其特征在于，所述主板上设置有第一电源控制模块，所述副板上设置有第二电源控制模块，所述第一电源控制模块与所述第二电源控制模块连接，所述控制模块与所述第一电源控制模块连接，所述电路保护模块设置在所述主板上，且设置在所述第一电源控制模块的输出端。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述存储芯片测试装置还包括至少一个led灯珠，所述led灯珠连接在所述第一电源控制模块和第二电源控制模之间，且所述led灯珠设置在所述主板上，并与所述副板一一对应。

4.根据权利要求2所述的存储芯片测试装置，其特征在于，所述存储芯片测试装置还包括显示模块，所述显示模块与所述控制模块连接。

5.根据权利要求2所述的存储芯片测试装置，其特征在于，所述电路保护模块包括第一开关，所述第一开关设置在所述第一电源控制模块的输出端和第二电源控制模块的输入端。

6.根据权利要求1所述的存储芯片测试装置，其特征在于，所述存储芯片测试装置还包括控制模块电路板，所述控制模块设置在所述控制模块电路板上，所述控制模块电路板上还设置有第一连接口，所述主板上设置有第二连接口，所述第一连接口和所述第二连接口通过连接线连接。

7.根据权利要求1所述的存储芯片测试装置，其特征在于，所述存储芯片测试装置包括多个所述副板，且多个所述副板对应不同的类型的存储芯片。

8.根据权利要求2所述的存储芯片测试装置，其特征在于，所述主板上设置有至少一个公头接口，所述公头接口连接在所述第一电源控制模块的输出端，所述副板上设置有一个母头接口，所述母头接口连接在所述第二电源控制模块的输入端，所述公头接口与所述母头接口可拆卸连接。

9.根据权利要求8所述的存储芯片测试装置，其特征在于，所述副板在所述主板上的正投影覆盖与所述副板对应的所述公头接口。

10.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括主机端和如权利要求1-9中任意一项所述的存储芯片测试装置，所述主机端与所述存储芯片测试装置连接。

技术总结
本申请公开了一种存储芯片测试装置和测试系统，用于测试存储芯片，所述存储芯片测试装置包括，主板、控制模块和至少一个副板，所述副板设置在所述主板上，且所述副板与所述主板之间可拆卸连接，所述控制模块通过主板与所述副板连接，所述副板上还设置有芯片安装座，所述存储芯片设置在所述芯片安装座内；所述存储芯片测试装置还包括电路保护模块，所述电路保护模块与所述副板一一对应，所述电路保护模块连接在所述芯片安装座的输入端，在测试过程中，所述控制模块检测到所述存储芯片的电压异常，则控制所述电路保护模块断开所述主板与所述芯片安装座的连接。通过上述设计，保护了储存芯片测试装置的安全，提高可靠性和适用性，降低测试成本。

技术研发人员：许颖萍,李华星,俞文全
受保护的技术使用者：深圳市时创意电子有限公司
技术研发日：20230612
技术公布日：2024/2/29