在盘片驱动器中的磁头欠满检测的制作方法

文档序号:6749504阅读:319来源:国知局
专利名称:在盘片驱动器中的磁头欠满检测的制作方法
技术领域
本发明一般涉及盘片驱动装置领域,具体地说,涉及(但不限制于)通过识别盘片驱动器的头-盘组合件(HDA)的结构来提高盘片驱动器的工作性能。
背景技术
在现代的计算机和计算机网络中将盘片驱动器用作主要的数据存储装置。典型的盘片驱动器包括头-盘组合件(HDA),它装载有一个或多个磁盘,其中由主轴马达以恒定的速度旋转所述磁盘并由一读/写头阵列对它进行存取,其中所述读/写头阵列将数据存储在限定在盘片表面上的磁道上。
在现有技术中的技术进展导致盘片驱动器数据存储容量的不断提高。相继的每一代驱动器以相等或提高的数据传递速率提供两倍于前一代驱动器的数据存储容量并不是不同寻常的。设计周期已被缩小到每几个月就有新一代的驱动器面市的程度。
为了满足在当今市场激烈的竞争中庞大的技术和后勤挑战,盘片驱动器制造商们已采取步骤尽快和尽可能有效地设计新的盘片驱动器产品并投放市场。特别感兴趣的是元件标准化,它包括标准化盘片驱动器设计,从而来自单个产品家族的大量的盘片驱动器产品设有相同或类似的硬件元件。于是,在制造过程中,通过选择后来由驱动器在操作过程中装载并使用的参数值(诸如,写电流(write current)、增益、滤波特征,等等),可以最优化各驱动器的性能。
由于现代盘片驱动器一般采用固件来为盘片驱动器控制器(诸如微处理器和数字信号处理器)提供程序,所以制造商还通常把基本上相同的固件装载到相同盘片驱动器产品家族中的所有驱动器上。固件依靠附加存储的信息访问适于每个特殊的盘片驱动器结构的特殊例程,并装载在制造过程中建立的参数来最优化驱动器的性能,其中所述附加存储信息表示驱动器的特殊结构(诸如,盘片数量、数据存储容量、接口型式,等等)。
典型的盘片驱动器包括将固件写入其中的一个或多个非易失存储装置(即,当从驱动器中去除外部电源时保持他们的内容的存储装置)。还在制造驱动器期间,把参数值和产品信息写入这种装置。这些装置被设置在盘片驱动器印刷布线组件(PWA)上并在每次初始化驱动器时访问该装置。
于是,当从盘片驱动器中去除原先安装的PWA并用新的替代PWA来代替它时,出现一个问题。这些替换通常发生在制造过程中以及例如响应于关于原先安装PWA的故障情况检测的现场业务操作。除非清楚地采取各步骤来保证将关于HDA的参数值和产品信息从原先安装的PWA中移到新的替代PWA,否则当运用新PWA来重新初始化盘片驱动器时可能导致误差情况。特别是,存储在新的PWA上的固件预期要看不同的硬件结构,而不是HDA实际拥有的,或者存储在新的PWA上的参数值可能不适于驱动器的可靠操作。
当带有新安装替代PWA的盘片驱动器尝试重新初始化时,参数和产品信息的误匹配可能导致不可接受的延迟。此外,当参数和产品信息的这种误匹配相当显著时,在驱动器企图加速旋转(spin-up)并装载磁头(即,可操作地将磁头从盘片表面移去)时,会物理损坏盘片驱动器。虽然一般将用于HDA的最佳参数存储在HDA的指定磁道中,但是不能访问这些磁道,直至盘片驱动器已成功地加速旋转并已装载磁头之后。
即使不发生PWA替换,当把新的更新的固件下载到PWA时,如果新的固件不适于HDA的结构,那么还有问题。在现场业务操作过程中,经常执行这种固件更新,且虽然十分谨慎以保证下载正确的固件,但是仍然会偶尔地发生差错。如将被认识的那样,固件-硬件误匹配还可能导致与当安装不正确配置的PWA时所发生的类型相同的问题。
例如,在加速旋转期间,如果在盘片驱动器中的磁头和盘片数量根据驱动器的不同而变化时,固件不能确定特定HDA的结构。在努力降低成本的过程中,许多制造商可能发明利用较少磁头和盘片的盘片驱动器。例如,盘片驱动器可包括5个磁头用于3个盘片(一般称为欠满(depopulated)结构),这与包括10个磁头用于5个盘片(一般称为填满(fully populated)结构)不同。在这两个结构中,可采用包含激励器的相同硬件,从而在制造欠满盘片驱动器结构期间,不会导致附加成本,其中激励器具有从它延伸出来的6个支撑臂。利用悬自激励器的哑磁头、通过用具有附加质量的铁铸盘(swage plate)来补偿缺少的弯度(missing flexure)和磁头以及通过用其他的方法,可以保持欠满激励器的平衡特征和惯性。
虽然大大减小成本,但是当固件不能适应在初始化盘片期间盘片驱动器的欠满结构时,会发生一个问题。因此,当PWA的固件发送不正确的初始化信息时,盘片驱动器发生故障或甚至损坏HDA。
因此,需要一种能够容易地指示盘片驱动器的HDA结构以消除当将新的替代PWA安装在盘片中时或者当将新的固件下载到PWA时所产生的问题。
发明概述本发明的目的是用来确定盘片驱动器头-盘组装件(HDA)的结构的装置和方法。
根据较佳实施例,HDA包括可旋转盘片阵列以及在盘片周围的激励器。该激励器支持在填满结构中的最大数量的磁头以及在欠满结构中的欠满磁头。每个磁头设置在唯一的磁头位置上。
耦合到激励器的伺服电路最好包括具有相关程序的处理器以允许预放大器电路选择磁头位置,当盘片驱动器的结构是填满时,有一个磁头,而当盘片驱动器的结构是欠满时,不具有磁头。最佳的是,在盘片驱动器的每次加速旋转期间,预放大器电路确定在所选头位置的阻抗,并把该阻抗值与预定门限值相比较以确定所选头位置是否具有一个磁头,从而指示该盘片驱动器是否是填满或欠满。然后,初始化该盘片驱动器。
阅读下面的详细描述和相关附图概述,本发明的这些和其他特征以及优点将显而易见。
附图简述

图1提供根据本发明的较佳实施例构成的盘片驱动器的顶平面图。
图2是图1的盘片驱动器的功能方框图。
图3是结合盘片驱动器的多个磁头和盘片,如图2所示的前置放大器的功能方框图。
图4示出图2的磁头的一般结构。
图5提供在填满结构中图1的HDA的部分剖面图立面图。
图6提供在欠满图1的HDA的部分剖面图立面图。
图7是示出根据INITIALIZING R0UTINE(初始化例程)执行的一般步骤的流程图,其中根据本发明的较佳实施例将相关程序存储在图2的按块擦除存储器装置中并由图2的控制处理器使用。
详细描述现在,参照图1,示出根据本发明的较佳实施例构成的盘片驱动器100的顶平面图。
盘片驱动器100包括头-盘组装件(HDA)101和盘片驱动器印刷布线组件(PWA),将它安装在HDA101的下侧,并在图1中看不见。PWA提供控制HDA101的操作以及在HDA101和主机之间传递数据所需的电路,在主机中可将盘片驱动器100安装在用户环境中。
参照图1,HDA101包括基板(base deck)102,将各种盘片驱动元件安装在上述基板上。顶盖(在图1中省略以利于本说明)与基板102配合为盘片驱动器100形成内部的封装环境。设置主轴马达104以恒定的高速旋转盘片堆(stack)104,同时盘片夹108将盘片固定在主轴马达104上。
为了访问盘片106,设置可控制地定位的激励器组件110,它响应于旋于语音线圈马达(VCM)114的线圈(图113所示的那部分)的电流,围绕卡盘轴承组件(cartridge bearing assembly)112旋转。激励器组件110包括多个臂,相应的弯曲组件(flexture assembly)从中延伸,其最顶部分别标为116和118。把磁头120设置在弯曲组件116,118的末端,并在盘片106上受到空气轴承的支撑,其中通过盘片106的旋转产生的气流建立上述空气轴承。
设置闩组件(latch assembly)122以当去激励盘片驱动器100时,将磁头120固定在盘片106的最内直径处的磁头停放区(未标示)。弯曲电路组件124将电通信路径设置在激励器组件110和盘片驱动器PWA之间。
现在,参照图2,示出图1的盘片驱动器100结合其中认为安装了盘片驱动器100的主机130的功能方框图。具体地说,图1示出PWA的电路(用虚线框131表示)和HDA101的所选元件。主机130提供盘片驱动器控制处理器132的最高级控制(top level control),它反过来根据存储在动态随机存取存储器(DRAM)134和非易失按块擦除存储器136中的程序和参数值控制盘片驱动器100的操作。
将由盘片驱动器100存储的数据从主机130传递到接口电路140,它包含用来临时缓存数据的数据缓冲器和用来在数据传递操作期间指挥读/写信道(channel)142和前置放大器/驱动器电路144(“前置放大器”)的操作的定序器。最好将前置放大器144安置在激励器组件110上,如图1所示。
此外,如现有技术中已知的那样,提供主轴电路146以通过主轴马达104的反电动势(bemf)交换(commutation)控制盘片106的旋转。通过伺服电路148控制作为由伺服环路一部分的磁头120相对于盘片106的位置,其中由磁头120、前置放大器144、伺服电路148和线圈113构成上述伺服环路。伺服电路148包括数字信号处理器(DSP)和相关存储器(未分开示出),而且控制处理器通过诸如美国专利5,262,907(1993年11月16日颁布授予Duffy等人,并已转让本发明的受让人)中所述的方法与DSP的操作进行通信并控制它。
图3提供结合一对盘片106和一对相关磁头120的图2的前置放大器144的功能方框图;然而,容易理解,虽然为了本说明的目的示出两个盘片106,但是本发明并不局限于此。在盘片106的邻近记录表面158,160上支撑每个磁头120。
较佳的是,磁头120的特征是磁阻(MR)磁头,其中每个磁头包含传统薄膜写元件和MR读元件,在图4中对于每个磁头120将上述元件统一标为166,168。盘片驱动器100的每个MR读元件168最好包括合金,它是由钴、镍和铁形成的并具有当处于所选方向上的磁场中变化的电阻。为了获得支持现代盘片驱动器的数据密度所需的灵敏度,每个MR读元件包括相对较薄的边缘层(一般以埃为单位),它们相对较脆弱且易被损坏。理想的是,使每个磁头120的所有MR读元件168的公共模式电势保持接近于盘片106的电势,以便于阻止头-盘放电(电弧放电),并保证施加到MR读元件168的电流不超出元件的电流载流容量。
现在,参照图3,如下面详细描述的那样,当盘片驱动器100的读和写操作期间用前置放大器144来存取存储在记录表面158,160上的数据。在这么做的过程中,前置放大器144有选择地将电流加到磁头120的写和读元件166,168。前置放大器144最好加入多个附加特征(诸如,门限检测、高频信号滤波和磁头选择能力,如在现有技术中已知的那样);例如,特别适当的市场供应的前置放大器是V10594,由VTC,Inc.制造,Bloomington,Minnesota,美国。
本说明特别感兴趣的是在读操作期间前置放大器144的操作,在该期间将所选幅值的读偏置(read bias)电流连续加到所选磁头120的MR读元件168。关于跨MR读元件168两侧的电压变化,检测存储在相关记录表面158,160上的数据,并在由前置放大器144输出到读/写信道142(图2)的读回信号中反映出来。在图3中,示出读回信号是沿着DATA 0UT路径170发送的,其中上述路径最好包括连接到前置放大器144的一对差分输出管脚(不分别指出)的一对信号线。
在盘片驱动器制造期间,对于每个磁头120,分别选择读偏置电流的幅值(在图3中将每个都标为“IB”)。具体地说,最好选择读偏置电流IB,从而例如通过将所选测试数据量写到每个记录表面158,160、运用各种幅值的读偏置电流IB读回数据多次并关于提供最佳读出误码率(或其他评价规则)的那些幅值,选择读偏置电流IB的最后幅值,最优化盘片驱动器性能。
响应于存储在按块擦除存储器136中并由控制处理器132(图2)利用伺服电路148的DSP发送到前置放大器144的读偏置值,控制读偏置电流IB的幅值。以多位的数字形式表达读偏置值,并利用串行接口路径174把它装载到前置放大器144的寄存器(由虚框172表示)的所选地址。以类似的方式,响应于多位数字头选择值,分别选择各磁头120,其中利用串行接口路径174将上述选择值装载在寄存器172的另一个地址。应理解,串行接口路径174最好包括数据线,沿着该数据线发送读偏置和磁头选择值,上述串行接口路径174还包括用来提供时钟以控制寄存器172的读和写的时钟线以及允许寄存器存取的使能线(enable line)。所考虑的前置放大器144可容纳上至10个不同的磁头120,并利用上至32个不同读偏置电流电平。通过连续定时16位字中的各位,每次更新读偏置值或磁头选择值,其中16位包括一个读/写命令位、7个地址位和八个数据位。于是,接收到第16个时钟脉冲时,用新的字更新寄存器172。
在正常的盘片驱动器操作过程中,磁头120之一将处于一个所选状态(这里称为“当前所选磁头”或“当前磁头”)。前置放大器144一般进行操作以将适当的读偏置电流连续加到当前所选的磁头120。例如,在操作的写模式期间,前置放大器144通过有选择地写入电流应用将数据写入当前所选磁头的写元件(诸如图4的166),其中在上述操作的写入模式期间,用当前所选磁头120来将数据写入相关记录表面158,160上的所选磁道。然而,在写操作期间,当前所选磁头120还定期地从相关记录表面读取数据(诸如,伺服或报头信息),以使得伺服电路148能够控制当前所选磁头120的位置,使得读偏置电流连续应用到MR读元件168变得必需。
同样,在每次读操作期间,前置放大器144连续地将读偏置电流施加于当前所选磁头120,从而检索来自相关记录表面的数据。虽然可以定期地执行从一个磁道到下一个磁道的搜索,但是发生实际读和写数据,同时由当前所选磁头120跟踪所选磁道,同时在特别读或写操作期间,可访问多个不同磁道(甚至是来自不同记录表面158,160的磁道)。在结束每次读和写操作之后,伺服电路148(图2)一般进行操作以使得当前所选的磁头120连续跟踪最后存取的磁道,直至由盘片驱动器100执行下一个指令。
应认识到,在任何给定时刻所选的磁头和施于它的读偏置电流的幅值都由存储在寄存器172中的磁头选择和读偏置值来确定。磁头120的每个MR读元件168标称上都相等,因而具有的特定范围内的阻抗。当读元件的阻抗超出预定门限时,寄存器172进一步具有报告对于所选磁头120的“开阅读器故障(open reader fault)”的能力。
如前所述,盘片驱动器(诸如100)可设有满额(full complement)磁头和盘片(称为填满结构)或者作为较廉价的变通方法的缺额(reduced suchcomplement)(称为欠满结构)。在填满结构中,盘片的每一面都具有相应的磁头,而在欠满结构中盘片和磁头的数量减少,从而不是所有的盘片表面都具有相应的功能磁头。图5和6提供这些结构中的每一个的一些例子。
首先参照图5,图中示出在填满结构中图1的HDA101的部分剖面,立面图,其中于每个表面158,160相对应,盘片驱动器100具有5个盘片106和10个磁头120。悬挂磁头120,从而可由前置放大器144存取在盘片106的每个表面158,160上的数据。将盘片106固定在多个大小相同的间隔器176之间的主轴马达104上,从而在一个盘片106的记录表面160和邻近盘片106的记录表面158之间没有损坏性接触的情况下,允许盘片106旋转。应注意,为了说明的目的揭示了如图5所示的填满结构,这并不是限制本发明;即,在本发明的实践中,可容易地使用其他数量的盘片和磁头。
现在,参照图6,图中示出以欠满结构的图1的HDA101的部分剖面,立面图,其中上述欠满结构具有3个盘片106和5个功能磁头120。在欠满结构中,盘片106的每个记录表面158,160并没有相应的功能磁头120,而且把数量减小的盘片106固定在主轴马达104上。应注意,为了说明的目的揭示如图6所示的欠满结构,但是不是对本发明进行限定;即,可在本发明的实践中容易地采用其他比例的盘片对磁头。
如图6所示,把数量减小的盘片106固定在多个大小相同的间隔器176之间的主轴马达104上,从而在一个盘片106的记录表面160和相邻盘片106的记录表面158之间没有损坏性接触的情况下,允许盘片106旋转。应注意,可用较大的填充间隔器178来补偿一般在填满结构中出现的没有被盘片106占用的主轴马达104的面积。这允许将相同主轴马达104用于填满和欠满结构。
将磁头120悬在每个盘片106的表面158,160附近,除了最底层盘片106之外,该处功能磁头120没有悬在记录表面160附近。取而代之的是,将由弯曲组件118悬挂的多个不可操作磁头180(也称为“哑磁头”)设在最底层盘片106之下,哑磁头180与功能磁头120具有基本相同的质量。设置哑磁头180以保持盘片驱动器100的惯性平衡特征,从而补偿缺乏功能磁头120的情况,盘片驱动器100的填满结构中具有所有的功能磁头。在较佳实施例中,通过如图6所示的弯曲组件118的弹簧力,一起按压哑磁头180。
应理解,在较佳实施例中,用所选磁头的测定阻抗来检测盘片驱动器100的特定结构,并以对其进行适当初始化开始继续处理。为此,图7示出了INITIALIZING R0UTINE(初始化例程)200的普通流程图,它被认为是表示了存储在按块擦除存储器并在初始化盘片驱动器100期间(诸如,当处于不可操作状态之后打开盘片驱动器100时)由控制处理器132用到的程序。
如框202所示,控制处理器132首先进行操作以指挥主轴电路146启动盘片106加速至操作速度(已知为加速旋转)旋转。在成功地加速旋转之后,寄存器172用利用串行接口路径174装载的多位数字磁头旋转值来选择磁头位置,当盘片驱动器100是填满的时候可具有磁头120,而当盘片驱动器100是欠满的时候它不具有磁头120,如框204所示。在框206中,前置放大器144将电流施加到所选磁头位置的磁头120,并感测跨所选磁头位置两端感应的所得电压,以确定在所选磁头位置上的阻抗Z,和在框208中,将该阻抗与门限值T相比较,上述门限值大于如果存在磁头120时预计的阻抗。如果存在功能磁头120,那么该阻抗小于门限值,并继续到框210,伺服电路148识别盘片驱动器100为填满的。于是,流程继续到框212,其中盘片驱动器100根据填满结构初始化驱动器,在该流程结束处例程结束(框214)且盘片驱动器100通知主机130(图2)驱动器准备正常操作。
然而,如果阻抗超出预定门限值,那么寄存器172将提供“开阅读器故障”,它可能表示高阻抗阅读意味着在所选磁头位置上没有任何磁头。高阻抗是磁头损坏的结果也是可能的。为了确定高阻抗值是因为没有功能磁头120还是因为在所选磁头位置上存在被损坏的磁头,例程选择第二磁头位置,当盘片驱动器100是填满时它具有一个磁头120,但是当盘片驱动器是欠满时,它没有任何磁头120,如框216所示。于是,前置放大器144把电流施加到第二所选磁头位置的磁头120上,并感测跨第二所选磁头位置感应到的所得电压。在框218中,前置放大器144用所施加的电流以及感测到的电压来确定在第二所选磁头位置上的阻抗,并在框220中,将该阻抗与门限值相比较,其中上述门限值大于当存在磁头120的情况下预计到的阻抗。如果该阻抗小于门限值,那么已知在第二磁头位置上存在磁头120。如框222所示,寄存器172表明指示磁头故障的误差条件(error condition),如上所述,已知它为“开阅读器故障”。换句话说,由于在填满结构情况下应设有一个磁头的第二磁头位置实际上设有功能头120,所以在框204中,第一所选磁头位置的“开阅读器故障”表示损坏的磁头在第一所选磁头位置上,而不是如在欠满结构中所预计的那样没有磁头。于是,例程在框214中结束,且盘片驱动器100通知主机130(图2)驱动器具有损坏的磁头。
然而,如果在比较框220中,阻抗大于门限值,那么在框224中指示伺服电路148确定欠满的结构。于是流程进到框212,其中盘片驱动器100根据欠满结构初始化驱动器,在流程的结束处INITIALIZING R0UTINE(初始化例程)结束(框214),而且盘片驱动器100通知主机130(图2)驱动器准备正常操作。
虽然本发明的较佳实施例利用寄存器172的“开阅读器故障”报告能力还确定盘片驱动器100的结构,但是应理解这不是限定本发明;即,可用其他方法来测量阅读元件的阻抗以确定在所选磁头位置上是否存在磁头,从而识别盘片驱动器的结构,此外,应注意,可在盘片驱动器制造过程中,在伺服磁道写入期间有利地实施上述方法。
清楚的是,本发明所提供的明显优点是盘片驱动器100具有确定相关HDA的结构的能力,而且以初始化开始进行处理。在没有盘片驱动器故障或损坏HDA的危险的情况下,在制造期间或现场可容易地交换PWA131。
按照前面的描述,应理解,本发明的目的在于检测在盘片驱动器100中磁头欠满的情况的装置和方法。如由较佳实施例所示的那样,盘片驱动器100包括PWA131,它装有用于盘片驱动器100的控制电路。头-盘组件HDA100可操作地耦合到印刷布线组件,并包括可旋转盘片106,其中设置在唯一磁头位置上的可控制定位的磁头120将数据写入上述盘片106。可操作地构成在盘片附近的激励器110来支持以填满结构的最大数量的磁头以及以欠满结构的数量减小的磁头。
可操作地耦合到激励器的伺服电路148最好包括具有相关程序以允许前置放大器144选择磁头位置的处理器,其中如果盘片驱动器的结构是填满的,那么上述磁头位置上设有一个磁头,而当盘片驱动器是欠满的,那么上述磁头位置不设有磁头。前置放大器还确定在该所选磁头位置上的阻抗,并把该阻抗值与预定门限值相比较以确定所选磁头位置是否具有磁头。当阻抗超出预定门限值时,前置电路的寄存器172报告故障,因此指示在所选磁头位置上没有磁头或者只存在损坏的磁头。
应理解,在权利要求书中用编号和字母标示各步骤是为了帮助理解,而这些标示不应限制所示步骤的特殊排序。
清楚的是,本发明适于达到上述优点和目的以及这里所述的本质。虽然为了说明的目的描述较佳实施例,但是熟悉本技术领域的人员可容易地进行各种变化,并落在本发明所揭示的以及所附权利要求书所限定的构思和范围内。
权利要求
1.在激励器附近设有盘片阵列的盘片驱动器头-盘组件中,其中在填满结构中所述激励器支持最大数量的磁头而在欠满结构中所述激励器支持数量减小的磁头,其中将每个磁头设置在所述激励器的唯一磁头位置上,一种用来确定所述头-盘组件的结构的方法,其特征在于,所述方法包括下列步骤(a)确定所选磁头位置的阻抗,其中当所述头-盘组件是填满时所述磁头位置设有一个磁头,而当所述头-盘组件是欠满时所述磁头位置不设有磁头;(b)当所述阻抗小于预定门限时,将所述头-盘组件的结构识别为填满;和(c)当所述阻抗大于所述预定门限时,将所述头-盘组件的结构识别为欠满。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定步骤(a)还包括下列步骤(a)将电流施于所述所选磁头位置;(a2)感测跨所述所选磁头位置两端的电压;和(a3)关于所述施加的电压幅值以及所述感测电压的幅值,确定所述阻抗。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述头-盘组件还包括前置放大器,它具有当所选磁头位置提供高于所述预定门限的阻抗时提供错误状态的状态寄存器,而且所述确定步骤(a)还包括下列步骤(a1)阅读所述状态寄存器。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述阻抗被特征化为第一阻抗,而且所述识别步骤(c)还包括下列步骤(c1)确定第二所选磁头位置的第二阻抗,在该位置当所述头-盘组件是填满时所述磁头位置设有一个磁头,而当所述头-盘组件是欠满时所述磁头位置不设有磁头;和(c2)当所述第二阻抗大于所述预定门限时,将所述头-盘组件的结构识别为欠满;和(c3)当所述第二阻抗小于所述预定门限时,宣布误差状况。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述头-盘组件安装在盘片驱动器中,当将所述盘片驱动器从不可操作状态转移到可操作状态时,执行所述方法,而且所述方法还包括下列步骤(d)按所述头-盘组件的结构识别为填满还是欠满,初始化所述盘片驱动器。
6.一种盘片驱动器,其特征在于,包括;可旋转盘片阵列;在所述盘片附近的激励器,可操作地构成它以在填满结构中支持最大数量的磁头并在欠满结构中支持数量减少的磁头,把每个磁头设置在所述激励器的唯一磁头位置上;和可操作地耦合到所述激励器的伺服电路,包括具有相关程序的处理器,从而(a)确定所选磁头位置的阻抗,在该位置当所述盘片驱动器是填满时所述磁头位置设有一个磁头;而当所述盘片驱动器是欠满时所述磁头位置不设有磁头;(b)当所述阻抗小于预定门限时,将所述驱动器的结构识别为填满;(c)当所述阻抗大于所述预定门限时,识别所述盘片的结构为欠满;和(d)按所述盘片驱动器的所述识别结构初始化所述盘片驱动器。
7.如权利要求6所述的盘片驱动器,其特征在于,所述盘片驱动器还包括可操作地耦合到所述磁头和所述伺服电路的前置放大器,而且所述前置放大器把电流施于所选磁头位置、感测跨所选磁头位置两端的电压并在所述确定步骤(a)中按所述施加的电流的幅值和所述感测电压的幅值,确定阻抗。
8.如权利要求7所述的盘片驱动器,其特征在于,所述前置放大器包括状态寄存器,当所述阻抗超出预定门限时,所述状态寄存器设置误差标记。
9.如权利要求6所述的盘片驱动器,其特征在于,所述阻抗被特征化为第一阻抗,而且所述处理器具有附加程序以(e)确定第二所选磁头位置的第二阻抗,在该位置当所述盘片驱动器是填满时所述磁头位置设有一个磁头,而当所述盘片驱动器是欠满时,所述磁头位置不设有磁头;(f)当所述第二阻抗大于所述预定门限时,将所述盘片的结构识别位欠满;和(g)当所述第二阻抗小于预定门限时,宣布误差状况。
全文摘要
用来确定盘片驱动器(100)头-盘组件(HDA)(101)的结构的方法和装置。HDA包括可旋转盘片(106)阵列和在盘片附近的激励器组件(110),其中激励器组件支持填满结构的最大数量的磁头(120)以及欠满结构的数量减少的磁头(120)。将每个磁头设置在唯一磁头位置。在盘片驱动器的每次加速旋转期间,伺服电路(148)确定所选磁头位置的阻抗,其中当所述盘片驱动器是填满时,所述磁头位置设有一个磁头,而当所述盘片驱动器是欠满时,所述磁头位置不设有磁头。伺服电路按所确定的阻抗来识别HDA的结构并相应地初始化驱动器。
文档编号G11B5/48GK1317136SQ99808180
公开日2001年10月10日 申请日期1999年7月1日 优先权日1998年7月2日
发明者T·T·沃克, R·马托塞克, M·G·伯顿 申请人:西加特技术有限责任公司
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1