西数硬盘无法访问及运行缓慢的修复方法
【技术领域】
[0001]本发明属于数据恢复领域，具体涉及一种西数硬盘无法访问及运行缓慢的修复方法。
【背景技术】
[0002]硬盘使用久了就可能出现各种各样的问题，而硬盘“坏道”便是这其中最常见的问题。硬盘出现坏道除了硬盘本身质量以及老化的原因外，主要是平时在使用上不能善待硬盘，比如内存太少以致应用软件对硬盘频繁访问，对硬盘过分频繁地整理碎片，不适当的超频，电源质量不好，温度过高，防尘不良，震动等。
[0003]每一个刚出厂的新硬盘都或多或少的存在坏道，只不过他们被厂家隐藏在P表和G表中，用一般的软件访问不到它。G表，又称用户级列表，大约能存放几百个到一千左右的坏道#表，又称工厂级列表，能存放4000左右的坏道或更多。维修的时候，通常会使用软件对硬盘进行坏道扫描，扫描的时候出现全盘坏道的情况下通常不会是真正的全盘坏道，而是固件等故障导致硬盘出现不可访问的情况。
[0004]另外，在使用过程中，硬盘会出现响应速度十分缓慢，在修复上述问题的时候，人们通常会选择低格或者全盘清零的方式，当然此方式也是不能成功的，因为硬盘已经出现不可访问的情况。
[0005]名词解释:
[0006]UBA (Unit Block Address,单元块寻址)；
[0007]LITTLE-ENDIAN(小字节序、低字节序)，与之对应的是BIG_ENDIAN(大字节序、高字节序)。
【发明内容】
[0008]本发明针对现有技术的不足，提供了一种西数硬盘无法访问及运行缓慢的修复方法，能够有效解决西数硬盘固件区故障导致硬盘能够被识别，但数据不能被访问或者能够被访问，但访问的速度异常缓慢的问题。
[0009]为解决以上问题，本发明采用的技术方案如下:一种西数硬盘无法访问及运行缓慢的修复方法，包括以下步骤:
[0010]001针对硬盘出现全盘坏道，数据不能读取的情况进行修复；
[0011 ] 002针对步骤001修复硬盘后响应缓慢的情况进行再次修复。
[0012]作为优选，
[0013]001具体方法如下:
[0014]101获取硬盘的34号模块，34号模块为G表模块；
[0015]102打开G表模块，将G表模块清零，并将原校验码修改为新校验码；
[0016]103将修改之后的G表模块回写到硬盘上。
[0017]作为优选，
[0018]101具体方法如下:
[0019]1011读取G表模块，读取成功转到结束，否则转到1012 ；
[0020]1012找到一个型号和固件版本号都与故障盘相同的配件盘；
[0021]1013读取配件盘的G表模块。
[0022]作为优选，
[0023]102具体方法如下:
[0024]1021打开G表模块，定位到偏移地址0x06处，按照LITTLE-ENDIAN的方法取出2个字节，此值即为G表模块内容开始的地址；
[0025]1022从G表模块内容开始的地址到结束段数据全部清零；
[0026]1023从G表模块的OxOC地址开始的四个字节为G表模块的校验码，清零后生成新校验码，将新检验码写入此处。
[0027]作为优选，
[0028]002具体方法如下:
[0029]201获取硬盘的02号模块，02号模块为参数模块；
[0030]202打开参数模块，将参数模块日志区域段的内容清零，并将原校验码修改为新校验码；
[0031]203将修改之后的参数模块回写到硬盘上。
[0032]作为优选，
[0033]201具体方法如下:
[0034]2011读取参数模块，读取成功转到结束，否则转到2012 ；
[0035]2012找到一个型号和固件版本号都与故障盘相同的配件盘；
[0036]2013读取配件盘的参数模块。
[0037]作为优选，
[0038]202具体方法如下:
[0039]2021打开参数模块，定位到日志区域地址0x4F4444到0x010028 ；
[0040]2022将参数模块从0x4F4444到0x010028地址段内的数据清零，但不含两个端值；
[0041]2023参数模块的OxOC地址开始的四个字节为参数模块的校验码，清零后生成新校验码，将新检验码写入此处。
[0042]本发明的有益效果如下:
[0043]1.通过回写没有条目的G表模块以达到清除G表的作用，通过清除G表来解决硬盘能识别但是不能被访问的故障；
[0044]2.通过删除错误的日志信息来解决硬盘响应缓慢的问题。
【附图说明】
[0045]图1是硬盘修复的主流程图；
[0046]图2是修复全盘坏道的详细流程图；
[0047]图3是获取G表模块详细流程图；
[0048]图4是清除G表详细流程图；
[0049]图5是修复响应慢详细流程图；
[0050]图6是获取2号模块详细流程图；
[0051]图7是清除参数模块日志详细流程图。
【具体实施方式】
[0052]为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例，对本发明做进一步详细说明。
[0053]如图1所示:
[0054]一种西数硬盘无法访问及运行缓慢的修复方法，包括以下步骤:
[0055]001针对硬盘出现全盘坏道，数据不能读取的情况进行修复；
[0056]002针对步骤001修复硬盘后响应缓慢的情况进行再次修复。
[0057]实施例1:
[0058]如图2所示:
[0059]101获取硬盘的34号模块，34号模块为G表模块，西数硬盘出现全盘坏道的原因为G表溢出；
[0060]102通过16进制编辑软件打开G表模块，将G表模块的内容清零，并将原校验码修改为新校验码；
[0061]103将修改之后的G表模块回写到硬盘上。
[0062]如图3所示:
[0063]1011读取G表模块，读取成功转到结束，否则转到1012 ；
[0064]1012找到一个型号和固件版本号都与故障盘相同的配件盘；
[0065]1013读取配件盘的G表模块。
[0066]如图4所示:
[0067]1021通过16进制编辑软件打开G表模块，定位到偏移地址0x06处，按照LITTLE-ENDIAN的方法取出2个字节，此值即为G表模块内容开始的地址；
[0068]1022从G表模块内容开始的地址到结束段数据全部清零；
[0069]1023从G表模块的OxOC地址开始的四个字节为G表模块的校验码，清零后生成新校验码，将新检验码写入此处。
[0070]实施例2:
[0071]图5所示:
[0072]201获取硬盘的02号模块，02号模块为参数模块，西数硬盘出现响应慢的原因为此模块的日志出错；
[0073]202通过16进制编辑软件打开参数模块，将参数模块日志区域段的内容清零，并将原校验码修改为新校验码；
[0074]203将修改之后的参数模块回写到硬盘上。
[0075]图6所示:
[0076]2011读取参数模块，读取成功转到结束，否则转到2012 ；
[0077]2012找到一个型号和固件版本号都与故障盘相同的配件盘；
[0078]2013读取配件盘的参数模块。
[0079]图7所示:
[0080]2021通过16进制编辑软件打开参数模块，定位到日志区域地址0x4F4444到0x010028 (不含边界)；
[0081]2022将参数模块从0x4F4444到0x010028 (不含边界)地址段的数据清零；
[0082]2023参数模块的OxOC地址开始的四个字节为参数模块的校验码，清零后生成新校验码，将新检验码写入此处。
[0083]本领域的普通技术人员将会意识到，这里所述的实施例是为了帮助读者理解本发明的实施方法，应被理解为本发明的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。本领域的普通技术人员可以根据本发明公开的这些技术启示做出各种不脱离本发明实质的其它各种具体变形和组合，这些变形和组合仍然在本发明的保护范围内。
【主权项】
1.一种西数硬盘无法访问及运行缓慢的修复方法，其特征在于，包括以下步骤: OOl针对硬盘出现全盘坏道，数据不能读取的情况进行修复； 002针对步骤001修复硬盘后响应缓慢的情况进行再次修复。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，001具体方法如下: 101获取硬盘的34号模块，34号模块为G表模块； 102打开G表模块，将G表模块清零，并将原校验码修改为新校验码； 103将修改之后的G表模块回写到硬盘上。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，101具体方法如下: 1011读取G表模块，读取成功转到结束，否则转到1012 ； 1012找到一个型号和固件版本号都与故障盘相同的配件盘； 1013读取配件盘的G表模块。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，102具体方法如下: 1021打开G表模块，定位到偏移地址0x06处，按照LITTLE-ENDIAN的方法取出2个字节，此值即为G表模块内容开始的地址； 1022从G表模块内容开始的地址到结束段数据全部清零； 1023从G表模块的OxOC地址开始的四个字节为G表模块的校验码，清零后生成新校验码，将新检验码写入此处。
5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，002具体方法如下: 201获取硬盘的02号模块，02号模块为参数模块； 202打开参数模块，将参数模块日志区域段的内容清零，并将原校验码修改为新校验码； 203将修改之后的参数模块回写到硬盘上。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，201具体方法如下: 2011读取参数模块，读取成功转到结束，否则转到2012 ； 2012找到一个型号和固件版本号都与故障盘相同的配件盘； 2013读取配件盘的参数模块。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，202具体方法如下: 2021打开参数模块，定位到日志区域地址0x4F4444到0x010028 ； 2022将参数模块从0x4F4444到0x010028地址段内的数据清零，但不含两个端值；2023参数模块的OxOC地址开始的四个字节为参数模块的校验码，清零后生成新校验码，将新检验码写入此处。
【专利摘要】本发明公开了一种西数硬盘无法访问及运行缓慢的修复方法，属于数据恢复技术领域，包括以下步骤：001针对硬盘出现全盘坏道，数据不能读取的情况进行修复；002针对步骤001修复硬盘后响应缓慢的情况进行再次修复。本发明的有益效果如下：1.通过回写没有条目的G表模块以达到清除G表的作用，通过清除G表来解决硬盘能识别但是不能被访问的故障；2.通过删除错误的日志信息来解决硬盘响应缓慢的问题。
【IPC分类】G11C29-44
【公开号】CN104851465
【申请号】CN201510280354
【发明人】梁效宁
【申请人】四川效率源信息安全技术有限责任公司
【公开日】2015年8月19日
【申请日】2015年5月28日