专利名称：滚动码产生系统与产生方法
技术领域：
本发明涉及用于集成电路元件测试的滚动码产生系统与产生方法，特别是有关于 一种可以直接在测试机(tester)中的载体随机存取内存(vector ram)上直接进行操作的 滚动码产生系统与产生方法。
背景技术：
现有行技术中，在整片晶片中的集成电路元件上的编号都为同一编码，因此在后 段工艺中，若有任一单一集成电路元件有异常时，只能查询到它是属于哪一片晶片，但不知 道此异常的集成电路元件现有作过何种测试，测试结果或信息为何，亦不清楚是从哪一家 测试厂商进行测试、制作或包装等问题。此外，前述的在集成电路元件上编码的操作方式也有许多缺点，一般来说要将所 有需要写入集成电路元件上的模板(pattern)，一次都准备好，并下载至测试机的载体随机 存取内存中，因为载体随机存取内存主要是放置测试集成电路元件数据之处，之后在进行 测试时，需依据不同种类的测试方式来选择不同的模板并执行写入的动作。虽然此作法可 以达到写入编码的目的，但因为早期欲写入的编码数据少，且需要写入的编码数据是很固 定的，因此不需要占用大量、昂贵的载体随机存取内存的资源。但若是欲写入的编码数据 多，则测试机的载体随机存取内存无法提供足够的空间供写入。又若是遇到复杂需要计算 的模板，例如要写入的编码数据是测试完成后的信息，则此测试完成后的信息为不固定数 据且需要再经过计算，则此种情况，将因无法事先可以备妥固定的模板，而无法进行写入编 码的操作。
发明内容
为了解决上述现有技术不尽理想之处，本发明提供一种滚动码产生系统，包含一 载体随机存取内存、数据下载模块、第一运算模块、修正模块、执行模块、确认模块、纪录检 索模块、第二运算模块及验证模块。通过上述滚动码产生系统，可产生一滚动码，且进一步 可将上述的滚动码写入测试中的集成电路元件中。一种滚动码产生系统，用于集成电路元件测试的测试机中，以产生一滚动码，且将 该滚动码写入测试中的一集成电路元件中，其中，该滚动码产生系统包括一载体随机存取内存；—数据下载模块，用以读取一测试模板、一比较模板以及一写入数据，并将该测试模板与该比较模板下载至该载体随机存取内存中，其中该测试模板包含一空白区，以供写入一滚动码；一第一运算模块，将该写入数据进行运算而得到一滚动码；一修正模块，将该滚动码写入至该测试模板的空白区，藉以形成一修正模板；一执行模块，将该修正模板写入至测试中的集成电路元件，并自该集成电路元件 内的修正模板输出至该载体随机存取内存内，以形成一写入范本；
一确认模块，自该集成电路元件的修正模板中取得该滚动码；一纪录检索模块，检索该写入模板与该比较模板二者比较的差异，以产生的一修 正纪录；一第二运算模块，将该修正纪录进行反运算，以获得一反运算滚动码；以及一验证模块，将该确认模块取得的滚动码及反运算滚动码的内容进行验证比对， 以确认该滚动码为正确。因此，本发明的主要目的在于提供一种滚动码产生系统，可同时对多个集成电路 元件写入不相同的滚动码，因此各集成电路元件具有单一性及加密性。本发明的次要目的在于提供一种滚动码产生系统，可同时对多个集成电路元件写 入不相同的滚动码，因此具有较大的操作弹性。本发明的另一目的在于提供一种滚动码产生系统，可写入各种复杂的滚动码程 序，因此具有较大的操作弹性。本发明的另一目的在于提供一种滚动码产生系统，通过直接将滚动码写入载体随 机存取内存中，所以写入的速度快，且不会损失测试机的效能。本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生系统，操作时不需要把所有的范本皆 下载至载体随机存取内存中，因此可以减少载体随机存取内存的使用量。本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生系统，其中具有一验证模块，可防止 写入错误的滚动码。此外，本发明进一步提供一种滚动码产生方法，包含以下步骤提供一载体随机存取内存；自数据下载模块中，读取测试模板、比较模板以及写入数据；下载上述的测试模板与比较模板至载体随机存取内存中，其中测试模板包含一空 白区，以供写入滚动码；下载上述的写入数据至第一运算模块中，进行运算后得到滚动码；自修正模块将上述的滚动码写入至测试模板的空白区，以形成一修正模板；将修正模板写入至测试中的集成电路元件上；自集成电路元件内的修正模板输出至载体随机存取内存内，以形成一写入范本；自集成电路元件的修正模板中取得滚动码至确认模块中；自纪录检索模块中取得修正纪录，上述的修正纪录系比较写入模板与比较模板的 差异得以产生；将修正纪录进行反运算，以计算出一反运算滚动码；以及将自确认模块取得的滚动码及反运算滚动码的内容进行验证比对，以确认滚动码 为正确。本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法，可同时对多个集成电路元件写 入不相同的滚动码，因此各集成电路元件具有单一性及加密性。本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法，可同时对多个集成电路元件写 入不相同的滚动码，因此具有较大的操作弹性。本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法，可写入各种复杂的滚动码程 序，因此具有较大的操作弹性。
本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法，通过直接将滚动码写入载体随 机存取内存中，所以写入的速度快，且不会损失测试机的效能。本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法，不需要把所有的范本皆下载至 载体随机存取内存中，因此可以减少载体随机存取内存的使用量。本发明的再一目的在于提供一种滚动码产生方法，因其中具有一验证步骤，因此 可防止写入错误的滚动码。
图1为一示意图，是根据本发明提出的第一较佳实施例，为一种滚动码产生系统；图2为一流程图，是根据本发明提出的第二较佳实施例，为一种滚动码产生方法。主要元件符号说明
滚动码产生系统100集成电路元件300
数据下载模块1测试模板30
第一运算模块2空白区301
修正模块3比较模板31
执行模块4写入数据32
确认模块5修正模板33
纪录检索模块6写入范本34
第二运算模块7修正纪录35
验证模块8滚动码AA
载体随机存取内存200反运算滚动码AA，
滚动码产生的步骤11、12、13、14、15、16、17、18、19、20、2具体实施例方式由于本发明系揭露一种滚动码产生系统与产生方法，用于集成电路元件测试，其 中使用的集成电路元件测试原理，已为相关技术领域具有通常知识者所能明了，故以下文 中的说明，不再作完整描述。同时，以下文中所对照的图式，表达与本发明特征有关的结构 示意，并未亦不需要依据实际尺寸完整绘制，在先说明。首先请参考图1，是本发明提出的第一较佳实施例，为一种滚动码产生系统100， 为用于积体元件测试的测试机中，以产生一滚动码AA，且将滚动码AA写入测试中的一集成 电路元件300中。此滚动码产生系统100包括载体随机存取内存200、数据下载模块1、第 一运算模块2、修正模块3、执行模块4、确认模块5、纪录检索模块6、第二运算模块7与验证 模块8。请继续参考图1，其中图1上的实线表示流程顺序、虚线表示硬件动作、细链线表 示流程触发硬件的动作等意涵。首先，数据下载模块1读取外部的测试模板30、比较模板31 以及一写入数据32。之后，再将测试模板30及比较模板31下载至载体随机存取内存200 中，而其中的测试模板30内包含一空白区301，此空白区301的用途为提供滚动码AA写入 之用。接续上述，写入数据32 —般为厂商或客户等提供，且写入资料32并无限定任何格式， 可以是固定的档案(files)或规则(rule)等。通过第一运算模块2对写入数据32中进行特定运算之后，会得到滚动码AA。修正模块3将前述得到的滚动码AA写入至测试模板30 的空白区，藉以形成修正模板33。执行模块4则会将修正范本33写入至测试中的集成电路元件300中。待写入完 成后，集成电路元件300内的修正模板33将输出至载体随机存取内存200内，以形成写入 范本34 ；确认模块5至集成电路元件300的修正模板33中取得滚动码AA。而记录检索模 块6检索修正纪录35，而此修正纪录35比较写入模板34与比较模板31 二者的差异后，所 产生的纪录。再者，第二运算模块7再将由记录检索模块6提供的修正纪录35进行反运算，以 获得一反运算滚动码AA’。最后验证模块8将确认模块5取得的滚动码AA及第二运算模 块7获得的反运算滚动码AA’ 二者的内容进行验证比对。若AA’相同于AA，则确认写入集 成电路元件300中的滚动码AA为正确。若确认结果为正确，则可再回复到第一运算模块2， 对其他的集成电路元件300进行写入滚动码AA的动作。若AA’不同于AA，确认结果为不正 确，则停止此写入滚动码AA的执行，再去寻找原因进行修正。因此，本发明可以防止写入错 误的滚动码AA。要特别说明的是，写入集成电路元件300上的滚动码AA可以是连续的编号 (series number)、序号(lot immber)、批号、刻号、晶片编号(waferlD)、或测试的信息等任 一种或上述的组合皆可。其中测试的信息，可以是测试的结果，或是想要验证测试的结果的 答案皆可，因此只要是想要写入集成电路元件300上的任一种编号皆可。并且写入时的顺 序并无任何限制，因此滚动码AA具有单一性及加密性。并且，重要的是，此滚动码产生系 统100可同时对多个集成电路元件写入相异的滚动码AA，例如可以对整片晶片上的集成 电路元件写入相异的滚动码AA，或同时对多个集成电路元件写入相同的滚动码AA。此外， 因为是直接在测试机上的载体随机存取内存200中操作，因此可写入各种复杂的滚动码程 序，故具有较大的操作弹性。而且针对各种复杂的滚动码程序或是需要计算的滚动码，因为 本发明不需要把所有的范本皆下载至载体随机存取内存200中，因此可以减少载体随机存 取内存200的使用量。并且因为是直接将滚动码AA写入载体随机存取内存200中，所以写 入的速度快，因此不论是写入单颗或多颗的集成电路元件300的效率都是一样，且不会损 失测试机的效能，而且实际操作方式简易，因此也容易对测试机进行维护。请参考图2，是本发明步提出的第二较佳实施例，为一种滚动码产生方法的流程 图，包含以下步骤步骤11 提供一载体随机存取内存200 ；步骤12 由数据下载模块1读取测试模板30、比较模板31以及写入数据32 ；步骤13 下载测试模板30与比较模板31至载体随机存取内存200中，其中测试 模板30包含一空白区301，以供写入滚动码AA ；步骤14 下载写入数据32至第一运算模块2中，运算后得到滚动码AA ；步骤15 由修正模块3将滚动码AA写入至测试模板30的空白区301，藉以形成修 正模板33 ；步骤16 将修正范本33写入至测试中的集成电路元件300 ；步骤17 将集成电路元件300内的修正模板33输出至载体随机存取内存200内， 以形成写入范本34;
步骤18 自集成电路元件300的修正模板33中取得滚动码AA，传输至确认模块 5 ；步骤19 由纪录检索模块6取得修正纪录35，此修正纪录35比较写入模板34与 比较模板31 二者的差异得以产生；步骤20 将修正纪录35进行反运算，以计算出反运算滚动码AA’ ；以及步骤21 将自确认模块5取得的滚动码AA及反运算滚动码AA’的内容进行验证 比对，以确认滚动码AA为正确。要特别说明的是，写入集成电路元件300上的滚动码AA可以是连续的编号 (series number)、序号(lot immber)、批号、刻号、晶片编号(waferlD)、或测试的信息等任 一种或上述的组合皆可，其中测试的信息，可以是测试的结果，或是想要验证测试的结果的 答案皆可，因此只要是想要写入集成电路元件300上的任一种编号皆可。并且写入时的顺 序并无任何限制，因此滚动码AA具有单一性及加密性。并且，重要的是，此滚动码产生系 统100可同时对多个集成电路元件写入相异的滚动码AA，例如可以对整片晶片上的集成 电路元件写入相异的滚动码AA，或同时对多个集成电路元件写入相同的滚动码AA。此外， 因为是直接在测试机上的载体随机存取内存200中操作，因此可写入各种复杂的滚动码程 序，因此具有较大的操作弹性。而且针对各种复杂的滚动码程序或是需要计算的滚动码，因 为本发明不需要把所有的范本皆下载至载体随机存取内存200中，因此可以减少载体随机 存取内存200的使用量。并且因为是直接将滚动码AA写入载体随机存取内存200中，所以 写入的速度快，因此不论是写入单颗或多颗的集成电路元件300的效率都是一样，且不会 损失测试机的效能，而且实际操作方式简易，因此也容易对测试机进行维护。以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用以限定本发明的申请专利权利；同时 以上的描述，对于熟知本技术领域的专门人士应可明了及实施，因此其它未脱离本发明所 揭示的精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含在申请专利范围中。
权利要求
1.一种滚动码产生系统，用于集成电路元件测试的测试机中，以产生一滚动码，且将该 滚动码写入测试中的一集成电路元件中，其特征在于，该滚动码产生系统包括一载体随机存取内存；一数据下载模块，用以读取一测试模板、一比较模板以及一写入数据，并将该测试模板 与该比较模板下载至该载体随机存取内存中，其中该测试模板包含一空白区，以供写入一 滚动码；一第一运算模块，将该写入数据进行运算而得到一滚动码； 一修正模块，将该滚动码写入至该测试模板的空白区，藉以形成一修正模板； 一执行模块，将该修正模板写入至测试中的集成电路元件，并自该集成电路元件内的 修正模板输出至该载体随机存取内存内，以形成一写入范本； 一确认模块，自该集成电路元件的修正模板中取得该滚动码； 一纪录检索模块，检索该写入模板与该比较模板二者比较的差异，以产生的一修正纪录；一第二运算模块，将该修正纪录进行反运算，以获得一反运算滚动码；以及 一验证模块，将该确认模块取得的滚动码及反运算滚动码的内容进行验证比对，以确 认该滚动码为正确。
2.依据权利要求1所述的滚动码产生系统，其特征在于，所述写入该集成电路元件上 的滚动码选自于由连续的编号、序号、批号、刻号、晶片编号和测试的信息所构成的群组。
3.依据权利要求2所述的滚动码产生系统，其特征在于，该滚动码产生系统同时对多 个集成电路元件写入相异的滚动码。
4.依据权利要求2所述的滚动码产生系统，其特征在于，该滚动码产生系统同时对多 个集成电路元件写入相同的滚动码。
5.一种滚动码产生方法，用于集成电路元件的测试中，以产生一滚动码，且将该滚动码 写入测试中的集成电路元件中，其特征在于，该滚动码产生方法包括提供一载体随机存取内存；自一数据下载模块中，读取一测试模板、一比较模板以及一写入数据；下载该测试模板与 该比较模板至该载体随机存取内存中，其中该测试模板包含一空白区，以供写入一滚动码； 下载该写入数据至一第一运算模块中，进行运算后得到一滚动码； 自该修正模块将该滚动码写入至该测试模板的空白区，藉以形成一修正模板； 将该修正范本写入至测试中的集成电路元件上；自该集成电路元件内的修正模板输出至该载体随机存取内存内，以形成一写入范本； 自该集成电路元件的修正模板中取得该滚动码至该确认模块中； 自该纪录检索模块中取得一修正纪录，该修正纪录比较该写入模板与该比较模板二者 的差异得以产生；将该修正纪录进行反运算，以计算出一反运算滚动码；以及将自该确认模块取得的滚动码及该反运算滚动码的内容进行验证比对，以确认该滚动 码为正确。
6.依据权利要求5所述的滚动码产生方法，其特征在于，该写入该集成电路元件上的 滚动码选自于由连续的编号、序号、批号、刻号、晶片编号和测试的信息所构成的群组。
全文摘要
本发明公开了一种滚动码产生系统与产生方法，其中滚动码产生系统包含一载体随机存取内存(vector ram)、数据下载模块、第一运算模块、修正模块、执行模块、确认模块、纪录检索模块、第二运算模块及验证模块。通过上述滚动码产生系统，可产生一滚动码，且进一步可将上述滚动码写入测试中的集成电路元件中。
文档编号H01L21/66GK101996854SQ20091016341
公开日2011年3月30日 申请日期2009年8月19日 优先权日2009年8月19日
发明者张家宪, 陈福泰 申请人:京元电子股份有限公司