输入系统以及控制方法与流程

文档序号:34173214发布日期:2023-05-15 05:34阅读:39来源:国知局
输入系统以及控制方法与流程

本公开一般涉及输入系统以及控制方法,更详细地,涉及具备静电电容式的输入设备的输入系统以及该输入系统的控制方法。


背景技术:

1、专利文献1中公开了一种输入装置。该输入装置具备第1按压检测部、第2按压检测部、点击检测部。第1以及第2按压检测部对作用于按压面的按压力进行检测。点击检测部对点击部的弹性变形(点击感的发生)进行检测。第1以及第2按压检测部、以及点击检测部均是静电电容式的压力传感器。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:国际公开第2019/230510号


技术实现思路

1、然而,输入装置(输入设备)与控制系统连接,控制系统基于来自输入装置的输出,对输入装置的状态变化进行检测(监视)。控制系统能够包含静电传感器,该静电传感器与上述压力传感器连接,并执行用于检测其静电电容的变化的传感动作(向压力传感器的电极的电压施加)。该情况下,控制系统为了监视状态变化,需要一直将静电传感器设为开启状态并使其执行传感动作,其结果,担心静电传感器的消耗电力的增加。

2、本公开的一方式的输入系统具备输入设备、静电传感器、导通传感器、控制部、判断部。所述输入设备具有可动触点体、第1电极、第2电极、第3电极、第4电极。所述静电传感器与所述第1电极连接。所述导通传感器与所述第3电极连接。所述控制部将所述静电传感器的传感动作切换至开启状态或者关闭状态。所述判断部与所述静电传感器连接,基于所述静电传感器的输出来判断所述可动触点体是否被按压。所述输入设备构成为:若所述可动触点体被按压,则所述第1电极与所述第2电极之间的静电电容变化,在所述静电电容变化之后,若所述可动触点体进一步被按压,则所述第3电极与所述第4电极导通。所述导通传感器对所述第3电极与所述第4电极的导通进行检测。所述控制部在所述导通传感器检测到所述第3电极与所述第4电极的导通之后,将所述静电传感器的所述传感动作从所述关闭状态设为所述开启状态。所述静电传感器在所述开启状态时,输出与所述第1电极与所述第2电极之间的所述静电电容有关的检测值。所述静电传感器输出的所述检测值被输入到所述判断部。

3、本公开的一方式的控制方法是输入系统中的控制方法。所述输入系统具有输入设备、静电传感器、导通传感器、控制部、判断部。所述输入设备具有可动触点体、第1电极、第2电极、第3电极、第4电极。所述静电传感器与所述第1电极连接。所述导通传感器与所述第3电极连接。所述控制部将所述静电传感器的传感动作切换至开启状态或者关闭状态。所述判断部与所述静电传感器连接,基于所述静电传感器的输出来判断所述可动触点体是否被按压。所述输入设备构成为:若所述可动触点体被按压,则所述第1电极与所述第2电极之间的静电电容变化,在所述静电电容变化后,若所述可动触点体进一步被按压,则所述第3电极与所述第4电极导通。所述控制方法具备导通检测步骤、切换步骤、静电检测步骤、输入步骤。在所述导通检测步骤中,所述控制部使所述导通传感器检测所述第3电极与所述第4电极的导通。在所述切换步骤中,所述控制部在所述导通传感器检测到所述第3电极与所述第4电极的导通之后,将所述静电传感器的所述传感动作从所述关闭状态切换至所述开启状态。在所述静电检测步骤中,所述控制部将所述静电传感器的所述传感动作从所述关闭状态设为所述开启状态之后,使所述静电传感器输出与所述第1电极与所述第2电极之间的所述静电电容有关的检测值。在所述输入步骤中,所述控制部使由所述静电传感器输出的所述检测值输入到所述判断部。

4、根据本公开,具有能够实现静电传感器的消耗电力的减少这一优点。



技术特征:

1.一种输入系统,具备:

2.根据权利要求1所述的输入系统,其中,

3.根据权利要求1所述的输入系统,其中,

4.根据权利要求3所述的输入系统,其中,

5.根据权利要求1~4的任一项所述的输入系统,其中,

6.根据权利要求5所述的输入系统,其中,

7.根据权利要求5或者6所述的输入系统,其中,

8.根据权利要求5或者6所述的输入系统,其中,

9.一种控制方法,是输入系统中的控制方法,

10.根据权利要求9所述的控制方法,其中,

11.根据权利要求9所述的控制方法,其中,


技术总结
输入系统具备:输入设备、静电传感器、导通传感器、控制部、判断部。输入设备构成为:若可动触点体被按压,则第1电极与第2电极之间的静电电容变化,在静电电容变化之后,若可动触点体进一步被按压,则第3电极与第4电极导通。导通传感器对第3电极与第4电极的导通进行检测。控制部在导通传感器检测到第3电极与第4电极的导通之后,将静电传感器的传感动作从关闭状态设为开启状态。静电传感器在开启状态时,输出与第1电极与第2电极之间的静电电容有关的检测值。

技术研发人员:中江龙,屋内康典,南良武彦,斋藤勇太
受保护的技术使用者:松下知识产权经营株式会社
技术研发日:
技术公布日:2024/1/12
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