基板处理装置、半导体装置的制造方法及程序与流程

文档序号:37378391发布日期:2024-03-22 10:30阅读:6来源:国知局
基板处理装置、半导体装置的制造方法及程序与流程

本发明涉及基板处理装置、半导体装置的制造方法及程序。


背景技术:

1、在半导体器件的制造工序中的基板的热处理中,例如使用纵型基板处理装置。在纵型基板处理装置中,利用基板保持件而将多个基板排列且保持于垂直方向,并将基板保持件搬入至处理室内。其后,在加热处理室的状态下将处理气体导入至处理室内,而对基板进行薄膜形成处理。例如被记载于专利文献1。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:日本特开2008-172204号公报


技术实现思路

1、发明所要解决的问题

2、本发明提供一种能够使基板加热的均匀性提升的技术。

3、用于解决课题的方案

4、根据本发明的一方案,提供一种技术,其具备:反应管,其具备突出部,且对基板进行处理;第一加热部,其加热反应管;第二加热部,其加热突出部;以及绝热部件,其设置于上述突出部。

5、发明效果

6、根据本发明,能够使基板加热的均匀性提升。



技术特征:

1.一种基板处理装置,其特征在于,具备:

2.根据权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,

3.根据权利要求1或2所述的基板处理装置,其特征在于,

4.根据权利要求2所述的基板处理装置,其特征在于,

5.根据权利要求3所述的基板处理装置,其特征在于,

6.根据权利要求1至5中任一项所述的基板处理装置,其特征在于,

7.根据权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,

8.一种半导体装置的制造方法,其特征在于,具有:

9.一种程序,其特征在于,利用计算机使基板处理装置执行以下步骤:


技术总结
本发明提供一种技术,其具备:反应管,其具有突出部,且对基板进行处理;第一加热部,其加热反应管;第二加热部,其加热突出部;以及绝热部件,其设置于突出部。

技术研发人员:大野健治,冈岛优作,山口天和,立野秀人,竹林雄二
受保护的技术使用者:株式会社国际电气
技术研发日:
技术公布日:2024/3/21
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