导电膜与测试组件的制作方法

文档序号:37671587发布日期:2024-04-18 20:44阅读:15来源:国知局
导电膜与测试组件的制作方法

本揭露涉及一种导电膜与测试组件,尤其涉及一种可具有缓冲效果或可增加使用寿命的导电膜与测试组件。


背景技术:

1、电子装置或拼接电子装置已广泛地应用于通讯、显示、车用或航空等不同领域中。随电子装置蓬勃发展,电子装置朝向轻薄化开发,因此对于电子装置的可靠度或质量要求越高。


技术实现思路

1、本揭露是提供一种导电膜与测试组件,其可具有缓冲效果或可增加使用寿命。

2、根据本揭露的实施例,导电膜包括支撑层、线路层以及保护层。支撑层具有第一表面以及与第一表面相对的第二表面。支撑层支撑线路层。线路层包括第一突出部、第二突出部以及连接部。第一突出部设置在第一表面上。

3、第二突出部设置在第二表面上。连接部设置在第一突出部与第二突出部之间。

4、第一突出部通过连接部连接第二突出部。保护层覆盖第一突出部。

5、根据本揭露的实施例,测试组件包括电路板、接合垫以及导电膜。导电膜通过接合垫电性连接电路板。导电膜包括支撑层、线路层以及保护层。支撑层具有第一表面以及与第一表面相对的第二表面。支撑层支撑线路层。线路层包括第一突出部、第二突出部以及连接部。第一突出部设置在第一表面上。第二突出部设置在第二表面上。连接部设置在第一突出部与第二突出部之间。第一突出部通过连接部连接第二突出部。保护层覆盖第一突出部。



技术特征:

1.一种导电膜,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的导电膜,其特征在于,在所述支撑层的法线方向上,所述第一突出部的高度大于所述第二突出部的高度。

3.根据权利要求1所述的导电膜,其特征在于,所述第一突出部重叠所述第一表面而形成第一重叠区域,所述第二突出部重叠所述第二表面而形成第二重叠区域,所述第二重叠区域大于所述第一重叠区域。

4.根据权利要求1所述的导电膜,其特征在于,所述支撑层具有沟槽。

5.根据权利要求1所述的导电膜,其特征在于,所述支撑层为单层或多层。

6.一种测试组件,其特征在于,包括:

7.根据权利要求6所述的测试组件,其特征在于,在所述支撑层的法线方向上,所述第一突出部的高度大于所述第二突出部的高度。

8.根据权利要求6所述的测试组件,其特征在于,所述第一突出部重叠所述第一表面而形成第一重叠区域,所述第二突出部重叠所述第二表面而形成第二重叠区域,所述第二重叠区域大于所述第一重叠区域。

9.根据权利要求6所述的测试组件,其特征在于,所述支撑层具有沟槽。

10.根据权利要求6所述的测试组件,其特征在于,所述支撑层为单层或多层。


技术总结
本揭露提供一种导电膜与测试组件。导电膜包括支撑层、线路层以及保护层。支撑层具有第一表面以及与第一表面相对的第二表面。支撑层支撑线路层。线路层包括第一突出部、第二突出部以及连接部。第一突出部设置在第一表面上。第二突出部设置在第二表面上。连接部设置在第一突出部与第二突出部之间。第一突出部通过连接部连接第二突出部。保护层覆盖第一突出部。本揭露实施例的导电膜与测试组件可具有缓冲效果或可增加使用寿命。

技术研发人员:高克毅,樊光明,杨家麟,乐瑞仁,王茹立
受保护的技术使用者:群创光电股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/4/17
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