本发明涉及半导体薄膜外延,尤其涉及一种发光二极管量子阱保护层的生长方法。
背景技术:
1、发光二极管(led,light emitting diode)是一种半导体发光器件,而量子阱是led器件的核心部分,它的生长方法是影响是长波段led光效的关键因素之一。量子阱是由ingan阱层,保护层以及gan势垒层组成。由于ingan阱层和gan势垒层之间存在巨大的晶格失配和热失配,随着in组分的增加,ingan阱层和gan势垒层之间的失配度加剧,在长波段下实现高质量发光有源区的难度明显增加。
2、在量子阱外延生长过程中,通常需要低温生长来获得高in组分,同时为了修复低温生长带来的相关缺陷,gan势垒层的生长温度要比ingan阱层的生长温度高约100-200℃。为了减少量子ingan阱层在升温过程中in发生分解、相分离等现象,通常需要在ingan阱层后生长一层盖层作为保护层。保护层的生长温度、组分、厚度及气压等对量子阱的质量和发光性能有很大的影响。
3、目前常用的量子阱保护层有gan保护层和algan保护层,许多的研究者发现algan保护层能够在高温垒生长过程中阻挡in分解和减少in组分波动,但是低温下生长algan保护层材料缺陷多,不利于提高长波段led的发光效率,高温下生长又容易促使ingan阱层中in发生分解,所以发明一种既能提高量子阱晶体质量又能阻挡高温下in的分解的保护层对量子阱的生长十分重要。
技术实现思路
1、本发明的目的在于提供一种发光二极管量子阱保护层的生长方法,通过采用渐变升温和al组分渐变减少的方式生长alxga1-xn保护层,在高温生长过程中有利于阻挡ingan阱层中in的分解以及提高量子阱的晶体质量,从而提高了长波段led的发光效率。
2、本发明的目的是这样实现的:
3、一种发光二极管量子阱保护层的生长方法,所述量子阱的单元结构自下而上包括ingan阱层,alxga1-xn保护层和gan势垒层,其特征在于包括以下生长步骤:
4、在t1温度下生长ingan阱层;
5、在生长alxga1-xn保护层过程中将温度从t1线性升高到t2,且使alxga1-xn保护层中al组分渐变减少;
6、升温至t3生长gan势垒层。
7、优选的,t1和t2的差值满足0℃<t2-t1≤100℃。
8、优选的,所述alxga1-xn保护层的线性升温时间为t1,30s≤t1≤50s。
9、优选的,所述alxga1-xn保护层在渐变升温过程中通过调控铝源流量和镓源流量使al组分渐变减少,且0.3≤x<1。
10、进一步的,使alxga1-xn保护层中al组分渐变减少的生长方法为镓源流量逐渐增加,铝源流量保持不变或逐渐减少。
11、进一步优选的,在生长alxga1-xn保护层过程中,所述镓源为三乙基镓,铝源为三甲基铝,三乙基镓的气流量从ingan阱层生长的m1 ml/min渐变增加到m2 ml/min,m2/m1≥2。
12、优选的,所述alxga1-xn保护层的厚度为h,10å<h<30å。
13、优选的,所述alxga1-xn保护层在生长过程中nh3,n2,以及生长气压与ingan阱层生长条件相同。
14、相较于现有技术,本发明实现的有益效果为:
15、相比较现有技术中单层的alxga1-xn保护层,采用递增温度和递减组分方式生长的alxga1-xn保护层,能阻挡高温下ingan阱层中的in的分解,提高ingan阱层的晶体质量,且有利于提高alxga1-xn保护层的晶体质量,为gan势垒的生长提供更好的界面,从而提高长波段led芯片的发光效率。
1.一种发光二极管量子阱保护层的生长方法,所述量子阱的单元结构自下而上包括ingan阱层,alxga1-xn保护层和gan势垒层,其特征在于包括以下生长步骤:
2.根据权利要求1所述的发光二极管量子阱保护层的生长方法,其特征在于: t1和t2的差值满足0℃<t2-t1≤100℃。
3.根据权利要求1所述的发光二极管量子阱保护层的生长方法,其特征在于:所述alxga1-xn保护层的线性升温时间为t1,30s≤t1≤50s。
4.根据权利要求1所述的发光二极管量子阱保护层的生长方法,其特征在于:所述alxga1-xn保护层在渐变升温过程中通过调控铝源流量和镓源流量使al组分渐变减少,且0.3≤x<1。
5.根据权利要求4所述的发光二极管量子阱保护层的生长方法,其特征在于:使alxga1-xn保护层中al组分渐变减少的生长方法为镓源流量逐渐增加,铝源流量保持不变或逐渐减少。
6. 根据权利要求5所述的发光二极管量子阱保护层的生长方法,其特征在于:在生长alxga1-xn保护层过程中,所述镓源为三乙基镓,铝源为三甲基铝,三乙基镓的气流量从ingan阱层生长的m1 ml/min渐变增加到m2 ml/min,m2/m1≥2。
7.根据权利要求1所述的发光二极管量子阱保护层的生长方法,其特征在于:所述alxga1-xn保护层的厚度为h,10å<h<30å。
8.根据权利要求1所述的发光二极管量子阱保护层的生长方法,其特征在于:所述alxga1-xn保护层在生长过程中nh3,n2,以及生长气压与ingan阱层生长条件相同。