本发明涉及高速连接器阻抗补偿领域,更为具体的,涉及一种连接器阻抗补偿方法、ddr模块连接器及装置。
背景技术:
1、目前,内存模块的运行速度越来越高。ddr5内存模块的运行速度可达6400mhz,这意味着讯号的上升时间变得更快。
2、jedec加强“ddr5 288针u/r/lr dimm连接器性能标准(ps-005)”第8章节-讯号完整性要求内的时域要求。它指定ddr5连接器阻抗要求,时域反射从基板ddr5连接器至模块板,标准为50ω参考阻抗±5ω。
3、鉴于以上技术发展需求,提高讯号完整性成为本领域亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种连接器阻抗补偿方法、ddr模块连接器及装置,能够补偿ddr模块连接器引脚的电感性部分,并且能够最小化金手指的电容性部分,从而最小化阻抗波动,达到提高讯号完整性的效果。
2、本发明的目的是通过以下方案实现的:
3、一种连接器阻抗补偿方法,涉及连接器引脚、金手指、模块板外层layer1和模块板内层参考层layer2及layer3之间的pcb电介质厚度h1+h2;连接器引脚产生电感l1和l2,金手指产生电容c1和c2;还包括以下步骤:
4、在金手指位置底下放置参考层作为附加参考层w3,利用附加参考层产生电容c3’来补偿连接器引脚产生电感l1和l2,利用增大电介质厚度的参考层h1+h2来补偿电容c1和电容c2。
5、进一步地,还包括如下步骤:通过调整金手指与参考层的之间的电介质厚度来调整电容值。
6、进一步地,所述附加参考层w3可分为两片或多片金属。
7、进一步地,所述在金手指位置底下具体在连接器引脚与金手指接触的位置。
8、进一步地,所述连接器包括ddr模块连接器。
9、一种ddr模块连接器,包括:连接器引脚、金手指、模块板外层layer1和模块板内层参考层layer2及layer3之间的pcb电介质厚度h1+h2;连接器引脚产生电感l1和l2,金手指产生电容c1和c2;还包括:附加参考层w3,所述附加参考层设置在金手指位置底下,利用附加参考层产生电容c3’来补偿连接器引脚产生电感l1和l2,利用增大电介质厚度的参考层h1+h2来补偿电容c1和电容c2。
10、进一步地,还包括调整单元,用于调整金手指与参考层的之间的电介质厚度来调整电容值。
11、进一步地,所述附加参考层可分为两片或多片金属。
12、进一步地,所述在金手指位置底下具体在连接器引脚与金手指接触的位置。
13、一种电子装置,包括如上任一项所述的ddr模块连接器。
14、本发明的有益效果包括:
15、本发明能够补偿ddr模块连接器引脚的电感性部分,并且能够最小化金手指的电容性部分,从而最小化阻抗波动,达到提高讯号完整性的效果。
1.一种连接器阻抗补偿方法,其特征在于,涉及连接器引脚、金手指、模块板外层layer1和模块板内层参考层layer2及layer3之间的pcb电介质厚度h1及h1+h2;连接器引脚产生电感l1和l2,金手指产生电容c1和c2;还包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的连接器阻抗补偿方法,其特征在于,还包括如下步骤:
3.根据权利要求1所述的连接器阻抗补偿方法,其特征在于,所述附加参考层w3可分为两片或多片金属。
4.根据权利要求1所述的连接器阻抗补偿方法,其特征在于,所述在金手指位置底下具体在连接器引脚与金手指接触的位置。
5.根据权利要求1所述的连接器阻抗补偿方法,其特征在于,所述连接器包括ddr模块连接器。
6.一种ddr模块连接器,其特征在于,包括:连接器引脚、金手指、模块板外层layer1和模块板内层参考层layer2及layer3之间的pcb电介质厚度h1+h2;连接器引脚产生电感l1和l2,金手指产生电容c1和c2;还包括:附加参考层w3,所述附加参考层设置在金手指位置底下,利用附加参考层产生电容c3’来补偿连接器引脚产生电感l1和l2,利用增大电介质厚度的参考层h1+h2来补偿电容c1和电容c2。
7.根据权利要求6所述的ddr模块连接器,其特征在于,还包括调整单元,用于调整金手指与参考层的之间的电介质厚度来调整电容值。
8.根据权利要求6所述的ddr模块连接器,其特征在于,所述附加参考层w3可分为两片或多片金属。
9.根据权利要求6所述的ddr模块连接器,其特征在于,所述在金手指位置底下具体在连接器引脚与金手指接触的位置。
10.一种电子装置,其特征在于,包括权利要求6~9中任一项所述的ddr模块连接器。