防呆保护电路的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及保护电路，公开了一种防呆保护电路。本实用新型中，包含：控制引脚、第一控制电路、第二控制电路、开关电路与电源，其中，开关电路为电源开关。第一控制电路包含两个输入端和一个输出端；第一控制电路的两输入端均输入高电平信号时，输出端输出低电平信号；第一控制电路的两个输入端分别输入高电平信号、低电平信号时，输出端输出高电平信号；控制引脚与测试夹具的一个固定金属探针、第一控制电路的一个输入端均相连；第二控制电路接收第一控制电路输出的低电平信号时断开开关电路，反之，导通开关电路。与现有技术相比，本实用新型使得可以方便地避免测试的产品（如芯片）错误放置时被烧毁。
【专利说明】防呆保护电路
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及芯片检测技术，特别涉及芯片检测中的保护电路。
【背景技术】
[0002]目前的芯片、集成电路模块多采用类似正方形或长方形的对称设计，这种设计无法从外形上直接识别芯片或集成电路模块的第一脚位置。通常采用在产品的封装表面通过印刷标示符号来识别，但这种方法需仔细查看产品表面丝印，对于封装较小的器件还需要使用放大镜。
[0003]这就给产线的后端测试带来不便。通常产线会针对某一产品制作测试夹具，将产品放入夹具中，通过夹具连接外围电路进行测试。对于引脚分布比较密集的产品来说，通常是采用很精密的金属探针与产品连接。由于产品外形采用对称设计，表面丝印又不易查看，所以很多情况下会由于操作人员的疏忽将产品放反。而电源是通过金属探针连接到产品的，并且电源是一直供电的，因此，如果模块方向放置错误，那么由于产品的引脚分布并不是对称设计的，所以电源就会连接到其他引脚上，容易烧毁产品。
[0004]目前较多的保护电路多是防止电源接反的。针对芯片或集成电路模块产品的防呆保护大部分是针对产品外形的设计。
实用新型内容
[0005]本实用新型的目的在于提供一种防呆保护电路，使得可以方便地避免测试的产品(如芯片)错误放置时被烧毁。
[0006]为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种防呆保护电路，包含:控制引脚、第一控制电路、第二控制电路、开关电路与电源；
[0007]其中，所述开关电路为电源开关；
[0008]所述第一控制电路包含两个输入端和一个输出端；所述输出端根据两输入端输入的信号输出信号至所述第二控制电路；
[0009]所述第一控制电路的两输入端均输入高电平信号时，所述输出端输出低电平信号；所述第一控制电路的一个输入端输入高电平信号、另一个输入端输入低电平信号时，所述输出端输出高电平信号；
[0010]所述控制引脚与测试夹具的一个固定金属探针、所述第一控制电路的一个输入端均相连；所述第一控制电路的输出端与所述第二控制电路的输入端相连；所述第二控制电路的输出端与所述开关电路的第一端口相连；所述开关电路的第二端口、第三端口分别与所述电源的正、负极相连；
[0011 ] 所述第二控制电路接收所述第一控制电路输出的低电平信号时断开所述开关电路；所述第二控制电路接收所述第一控制电路输出的高电平信号时导通所述开关电路。
[0012]本实用新型实施方式相对于现有技术而言，测试芯片正确放置时，测试夹具的一个固定金属探针与测试芯片的地引脚相连，同时，该固定金属探针与控制引脚相连，这样，与控制引脚相连的第一控制电路的输入端输入低电平信号，另一个输入端输入高电平信号，第一控制电路的输出端输出高电平信号至第二控制电路。只有输入第二控制电路的信号为高电平信号时，第二控制电路才导通并输出低电平信号至开关电路。开关电路只有在输入低电平信号时才导通，即导通电源开关，电源导通，可测试芯片。测试芯片错误放置时，上述固定金属探针不与测试芯片的地引脚相连，第一控制电路的两个输入端均输入高电平信号，这样，第一控制电路的输出端输出低电平信号至第二控制电路。输入第二控制电路的信号为低电平信号时，第二控制电路截止，且其输出端为高电平，即开关电路的第一端口为高电平。开关电路的第一端口为高电平时，开关电路断开，即断开电源开关，电源被断开，使得可以避免测试的芯片被烧毁。
[0013]另外，还包含延时电路。延时电路用于防止电源尖峰。
[0014]另外，延时电路还包含第一电阻，用于保护第一控制电路。
[0015]另外，第二控制电路包含第三电阻，用于保护第二控制电路。
[0016]另外，开关电路还包含第四电阻，用于保护开关电路。
[0017]另外，还包含负载，用于保护电源。
【专利附图】
【附图说明】
[0018]图1是根据本实用新型第一实施方式的防呆保护电路的结构示意图；
[0019]图2是根据本实用新型第一实施方式中的测试芯片正确放置的实现方式示意图；
[0020]图3是根据本实用新型第一实施方式中的测试芯片错误放置的实现方式示意图；
[0021]图4是根据本实用新型第二实施方式的防呆保护电路的结构示意图。
【具体实施方式】
[0022]为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本实用新型各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。
[0023]本实用新型的第一实施方式涉及一种防呆保护电路，如图1所示，包含控制引脚、第一控制电路、延时电路、第二控制电路、开关电路、负载与电源。
[0024]其中，开关电路为电源开关。
[0025]具体地说,第一控制电路包含两个输入端和一个输出端，输出端根据两输入端输入的信号输出信号。其中，第一控制电路的两输入端均输入高电平信号时，输出端输出低电平信号；第一控制电路的一个输入端输入高电平信号、另一个输入端输入低电平信号时，输出端输出高电平信号。
[0026]控制引脚与测试夹具的一个固定金属探针(未不出)相连；第一控制电路的一个输入端与控制引脚相连，另一个输入端与测试芯片的其他功能脚相连(该输入端输入高电平信号)，第一控制电路的输出端与延时电路的输入端相连；延时电路的输出端与第二控制电路的输入端相连；第二控制电路的输出端与开关电路的第一端口相连；开关电路的第二端口与电源的正极相连，第三端口与负载的一端相连；负载的另一端与电源的负极相连。其中，负载用于保护电源。
[0027]第二控制电路通过对开关电路的控制，在第一控制电路输出的信号为低电平信号时，断开电源开关，切断电源；在第一控制电路输出的信号为高电平信号时，导通电源开关，电源导通。
[0028]下面以待测产品为芯片为例，进行具体说明。在本实施方式中，将测试芯片的一个地引脚引出作为控制脚。
[0029]测试芯片正确放置时，该测试芯片的控制脚与测试夹具的一个固定金属探针相连，该固定金属探针与防呆保护电路的控制引脚相连，具体实现方式如图2所示。I为测试夹具上的金属探针；2为金属探针连接的测试芯片4上的控制脚，该控制脚为测试芯片的地引脚。测试芯片放置方向正确时，I连接到测试芯片的地引脚；3为在测试芯片上和2引脚对称位置的引脚。
[0030]此时,与控制引脚相连的第一控制电路的输入端输入低电平信号，另一个输入端输入高电平信号，第一控制电路的输出端输出高电平信号至延时电路。
[0031]延时电路将接收的高电平信号延时后输出至第二控制电路，以避免因测试产品的抖动而产生的电源尖峰。
[0032]第二控制电路接收到高电平信号时导通，并输出低电平信号至开关电路。
[0033]开关电路接收低电平信号时导通，即电源开关导通，则电源导通，可测试产品。
[0034]但是，测试芯片错误放置时，测试芯片的控制脚不与上述测试夹具的固定金属探针相连，由于该固定金属探针与控制引脚相连，与控制引脚相连的不是测试芯片的地引脚，而是测试芯片的其他功能脚，具体实现方式如图3所示。当测试芯片方向放反时，金属探针I是接触到引脚3的，该引脚3不是地引脚。
[0035]在这种情况下，第一控制电路的两个输入端均输入高电平信号，第一控制电路的输出端输出低电平信号至延时电路。
[0036]延时电路将接收的低电平信号延时后输出至第二控制电路。
[0037]第二控制电路接收到低电平信号时截止。
[0038]第二控制电路截止时，开关电路中的第一端口为高电平，第二端口也为高电平，开关电路截止，则开关电路断开，即断开电源开关，则电源被切断，使得可以避免测试的产品因错误放置而被烧毁。
[0039]在本实施方式中，控制引脚与测试夹具的一个固定金属探针相连，当测试产品正确放置时，该固定金属探针与测试产品的地引脚相连，控制引脚是固定的低电平，电源开关导通，可测试产品；当测试产品错误放置时，该固定金属探针不与测试产品的地引脚相连，控制引脚不是低电平，电源开关断开，避免测试产品被烧毁。这样，就可以在测试产品的固定位置引出地引脚，与固定金属探针配合使用，使得可以方便地避免测试产品被烧毁，操作简单，容易实现。
[0040]本发明的第二实施方式涉及一种防呆保护电路。第二实施方式为第一实施方式的进一步细化。在第二实施方式中，防呆保护电路的具体结构如图4所示。
[0041]在本实施方式中，第一控制电路为与非门电路。与非门的两个输入端均输入高电平信号时输出端输出低电平信号；与非门的一个输入端输入低电平信号、另一个输入端输入高电平信号时，输出端输出高电平信号。[0042]延时电路包含第一电阻和电容；第一电阻的一端与第一控制电路的输出端相连，另一端与第二控制电路的输入端相连；电容一端与第二控制电路的输入端相连，另一端接地。其中，第一电阻用于保护第一控制电路。
[0043]第二控制电路包含NPN型三极管、第二电阻与第三电阻；NPN型三极管包含基极、发射极与集电极，基极为第二控制电路的输入端，发射极接地，集电极为第二控制电路的输出端；第二电阻的一端与NPN型三极管的基极相连，另一端与NPN型三极管的发射极相连；第三电阻R3的一端与延时电路的输出端相连，另一端与NPN型三极管的基极相连。其中，第二电阻用于建立NPN型三极管工作时基极与发射极之间固有的偏置电压。第三电阻用于保护第二控制电路。
[0044]开关电路包含P-MOS管与第四电阻；P_M0S管包含栅极、源极与漏极；栅极为开关电路的第一端口，源极为开关电路的第二端口，漏极为开关电路的第三端口；第四电阻一端与栅极相连，另一端与源极相连。
[0045]P-MOS管的栅极为低电平、源极为高电平时，P-MOS管导通，则开关电路导通防呆保护电路，可测试产品；但是，P-MOS管的栅极、源极均为高电平时，P-MOS管截止，则开关电路关断防呆保护电路，使得避免测试产品被烧毁。其中，第四电阻用于保护开关电路，并产生P-MOS管工作时栅极与源极之间固有的偏置电压。
[0046]本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本实用新型的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本实用新型的精神和范围。
【权利要求】
1.一种防呆保护电路，其特征在于，包含:控制引脚、第一控制电路、第二控制电路、开关电路与电源； 其中，所述开关电路为电源开关； 所述第一控制电路包含两个输入端和一个输出端；所述输出端根据两输入端输入的信号输出信号至所述第二控制电路； 所述第一控制电路的两输入端均输入高电平信号时，所述输出端输出低电平信号；所述第一控制电路的一个输入端输入高电平信号、另一个输入端输入低电平信号时，所述输出端输出高电平信号； 所述控制引脚与测试夹具的一个固定金属探针、所述第一控制电路的一个输入端均相连；所述第一控制电路的输出端与所述第二控制电路的输入端相连；所述第二控制电路的输出端与所述开关电路的第一端口相连；所述开关电路的第二端口、第三端口分别与所述电源的正、负极相连； 所述第二控制电路接收所述第一控制电路输出的低电平信号时断开所述开关电路；所述第二控制电路接收所述第一控制电路输出的高电平信号时导通所述开关电路。
2.根据权利要求1所述的防呆保护电路，其特征在于，还包含延时电路； 所述延时电路与所述第一控制电路、所述第二控制电路均相连； 所述延时电路的输入端接收所述第一控制电路输出的信号；所述延时电路的输出端将延时信号输出至所述第二控制电路。
3.根据权利要求1所述的防呆保护电路，其特征在于，所述第一控制电路为与非门电路； 所述非门电路包含两个输入端与一个输出端； 所述第一控制电路的输入端为所述与非门电路的输入端；所述第一控制电路的输出端为所述与非门电路的输出端。
4.根据权利要求2所述的防呆保护电路，其特征在于，所述第二控制电路包含NPN型三极管； 所述NPN型三极管包含基极、发射极与集电极； 所述基极为所述第二控制电路的输入端；所述发射极接地；所述集电极为所述第二控制电路的输出端。
5.根据权利要求4所述的防呆保护电路，其特征在于，所述第二控制电路还包含第二电阻R2 ； 所述第二电阻的一端与所述NPN型三极管的基极相连，另一端与所述NPN型三极管的发射极相连； 所述第二电阻建立所述基极与发射极之间固有的偏置电压。
6.根据权利要求4所述的防呆保护电路，其特征在于，所述第二控制电路还包含第三电阻R3 ； 所述第三电阻R3的一端与所述延时电路的输出端相连，另一端与所述NPN型三极管的基极相连。
7.根据权利要求2所述 的防呆保护电路，其特征在于，所述延时电路包含第一电阻R1和电容C ;所述第一电阻的一端与所述第一控制电路的输出端相连，另一端与所述第二控制电路的输入端相连； 所述电容一端与所述第二控制电路的输入端相连，另一端接地。
8.根据权利要求1所述的防呆保护电路，其特征在于，所述开关电路为P-MOS管； 所述P-MOS管包含栅极、源极与漏极； 所述栅极为所述开关电路的第一端口 ；所述源极为所述开关电路的第二端口 ；所述漏极为所述开关电路的第三端口。
9.根据权利要求8所述的防呆保护电路，其特征在于，所述开关电路还包含第四电阻R4 ; 所述第四电阻一端与所述栅极相连，另一端与所述源极相连； 所述第四电阻建立所述栅极与所述源极之间固有的偏置电压。
10.根据权利要求1所述的防呆保护电路，其特征在于，还包含负载； 所述负载一端与所述电源的负极相连，另一端与所述开关电路的第三端口相连。
【文档编号】H02H11/00GK203645321SQ201320724558
【公开日】2014年6月11日 申请日期:2013年11月15日 优先权日:2013年11月15日
【发明者】宋家林 申请人:希姆通信息技术（上海）有限公司