一种基于铝钪氮的忆阻器、其制备方法及应用

文档序号:34419736发布日期:2023-06-08 19:51阅读:149来源:国知局
一种基于铝钪氮的忆阻器、其制备方法及应用

本发明涉及存储器领域,具体地说是一种基于铝钪氮的忆阻器、其制备方法及应用。


背景技术:

1、忆阻器,全称记忆电阻器(memristor)。它是表示磁通与电荷关系的电路器件。忆阻器具有电阻的量纲,但和电阻不同的是,忆阻器的阻值是由流经它的电荷确定。因此,通过测定忆阻器的阻值,便可知道流经它的电荷量,从而有记忆电荷的作用。忆阻器作为第四种基本电路元件,被广泛应用于信息存储、逻辑运算、神经网络、机器学习等众多领域,现今已经成为研究热点。

2、传统的忆阻器通常是采用从上至下依次为顶电极层、中间功能层(或称中间介质层)、底电极层的“三明治”结构,通常采用电子束蒸发、热蒸发、磁控溅射等真空气相沉积制备,通过调节两个金属电极层之间的电压来改变电阻,实现低阻态和高阻态。目前忆阻器的研究主要是基于氧化物材料的体系。基于氧化物的忆阻器的工作原理是氧空位在电场作用下的迁移,由于氧空位迁移速度缓慢,顶电极和底电极之间很难形成导电细丝,因此基于氧化物的忆阻器的低阻态较难实现,开关比较小,所需偏置电压较大,稳定性较差,随机性过强,这些不利因素很大程度上限制了氧化物忆阻器的发展。


技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种基于铝钪氮的忆阻器、其制备方法及应用,该忆阻器基于铝钪氮材料al0.73sc0.27n制备而成,所形成的忆阻器具有很好的稳定性,且能够用于生物神经元的模拟。

2、本发明是这样实现的:一种基于铝钪氮的忆阻器,其结构包括由下至上依次设置的si基底、sio2层、pt底电极层、al0.73sc0.27n功能层和pd顶电极层。

3、优选的,上述方案中,al0.73sc0.27n功能层的厚度为10nm~20nm,pd顶电极层的厚度为50nm~80nm。

4、优选的,上述方案中,pd顶电极层包括若干均匀分布在al0.73sc0.27n功能层上的直径为80~300μm的圆形电极。

5、本发明所提供的基于铝钪氮的忆阻器的制备方法,包括如下步骤:

6、(a)对基体进行预处理;所述基体由下至上依次包括si基底、sio2层、pt底电极层;

7、(b)将基体固定到磁控溅射设备腔体的衬底台上,将al0.73sc0.27n靶材固定到靶台上,并将腔体抽真空至2×10-4pa,向腔体内通入流量为50sccm的ar,调整插板阀使腔体内的压强维持1pa,打开控制al0.73sc0.27n靶材起辉的射频源,调整射频源功率,使al0.73sc0.27n靶材起辉,预溅射1~5min,之后正式溅射5min,在pt底电极层上镀上al0.73sc0.27n功能层;

8、(c)将掩膜版放置在形成了al0.73sc0.27n功能层的基体上,将腔体抽真空至2×10-4pa,向腔体内通入流量为20~30sccm的ar,调整节流阀使腔体内的压强维持1pa,打开控制pd靶材起辉的直流源,调整直流源功率使pd靶材起辉,预溅射1~2min,之后正式溅射10~12min,在al0.73sc0.27n功能层上形成pd顶电极层。

9、优选的,步骤(b)中调整射频源功率为150w;步骤(c)中调整直流源功率为10w。

10、优选的,所制备的al0.73sc0.27n功能层的厚度为10nm~20nm,pd顶电极层的厚度为50nm~80nm。

11、优选的,步骤(a)对基体进行预处理,具体是:将基体依次放入装有丙酮、酒精和去离子水的烧杯中用超声波清洗,之后取出用n2吹干。

12、本发明所制备的基于铝钪氮的忆阻器可以实现神经仿生的功能,以便于用来制备神经元仿生器件。

13、本发明al0.73sc0.27n陶瓷靶材属于市售商品。

14、本发明通过成分比例固定的al0.73sc0.27n陶瓷作为溅射靶材,形成了al0.73sc0.27n功能层,最终制成了基于铝钪氮的忆阻器。制备过程中,采用al0.73sc0.27n陶瓷靶材进行高能量射频直接溅射,形成了非晶薄膜,该制备工艺相比现有技术中反应溅射方式(氮气环境下,铝靶、钪靶同时溅射)具有工艺简单、制备条件容易操控的优点,且不会出现靶材中毒现象,薄膜中也不会形成aln和scn并存的现象,避免了反应溅射al、sc比例偏离,薄膜性能不高等诸多问题。

15、本发明制备的忆阻器由于使用了宽带隙铝钪氮优化器件性能,因此有别于传统使用氧化物制备的存储器件,性能表现良好,可以用于模拟生物神经元功能,使忆阻器模拟生物神经元的可塑性性能应用前景更为广阔。



技术特征:

1.一种基于铝钪氮的忆阻器,其特征是,其结构包括由下至上依次设置的si基底、sio2层、pt底电极层、al0.73sc0.27n功能层和pd顶电极层。

2.根据权利要求1所述的基于铝钪氮的忆阻器,其特征是,al0.73sc0.27n功能层的厚度为10nm~20nm,pd顶电极层的厚度为50nm~80nm。

3.根据权利要求1所述的基于铝钪氮的忆阻器,其特征是,pd顶电极层包括若干均匀分布在al0.73sc0.27n功能层上的直径为80~300μm的圆形电极。

4.一种基于铝钪氮的忆阻器的制备方法,其特征是,包括如下步骤:

5.根据权利要求4所述的基于铝钪氮的忆阻器的制备方法,其特征是,步骤(b)中调整射频源功率为150w;步骤(c)中调整直流源功率为10w。

6.根据权利要求4所述的基于铝钪氮的忆阻器的制备方法,其特征是,所制备的al0.73sc0.27n功能层的厚度为10nm~20nm,pd顶电极层的厚度为50nm~80nm。

7.根据权利要求4所述的基于铝钪氮的忆阻器的制备方法,其特征是,步骤(a)对基体进行预处理,具体是:将基体依次在丙酮、酒精和去离子水中用超声波清洗,之后取出用n2吹干。

8.权利要求1-3任一项所述基于铝钪氮的忆阻器在制备神经元仿生器件中的应用。


技术总结
本发明提供了一种基于铝钪氮的忆阻器、其制备方法及应用。通过成分比例固定的Al<subgt;0.73</subgt;Sc<subgt;0.27</subgt;N铝钪氮陶瓷作为溅射靶材,利用高能量射频溅射到Pt底电极层上,避免了反应溅射Al、Sc比例偏离、薄膜性能不高等问题。该忆阻器的制备方法如下:清洗、干燥基体;在Pt底电极层上通过磁控溅射法生长Al<subgt;0.73</subgt;Sc<subgt;0.27</subgt;N功能层;在Al<subgt;0.73</subgt;Sc<subgt;0.27</subgt;N功能层上生长Pd顶电极层。本发明所提供的忆阻器与传统记忆存储器件相比,提高了它们在人工中的潜在应用,在模拟神经元系统中开发实现新的生物神经元功能,其性能表现良好,是一种具有模拟生物神经元行为的潜力、存储性能佳、能耗低、应用前景更为广阔的记忆存储器。

技术研发人员:闫小兵,李悦荣
受保护的技术使用者:河北大学
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
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