一种光子忆阻器件及其制备方法

文档序号:37292408发布日期:2024-03-13 20:40阅读:10来源:国知局
一种光子忆阻器件及其制备方法

本发明涉及半导体,具体涉及一种光子忆阻器件及其制备方法。


背景技术:

1、随着蔡少棠教授提出忆阻器以来,利用忆阻器来模拟人脑中的突触结构,受到广泛的关注。人眼内的视网膜接收外界信息,并将信息通过光学神经传输到大脑的视觉皮层中。在视觉皮层中会处理接收到的信息。在视觉皮层中有大量的神经元,神经元与神经元之间通过突触释放的神经递质来传递信息。通过制作这种可以传输信息,并且响应光学激励的忆阻器件来模拟突触结构,有助于神经形态系统的研究。

2、随着大数据时代的到来及物联网和5g技术的发展,需要对海量的信息进行处理,这种集成感知、存储、计算于一体的器件逐渐成为研究热点。这种器件可以不受存储墙的限制,将存储功能和处理功能集成到一起,有助于突破冯诺依曼瓶颈,并且在神经形态计算领域具有很大的应用前景。

3、目前,具有光子忆阻能力的器件大多采用二维材料,有机材料等作为介质层,制备工艺复杂,可重复性较差,不利于调制器件的光控能力并且很难进行大规模制作,因此难以应用到实际的生产工艺中。


技术实现思路

1、本发明公开一种光子忆阻器件,包括:衬底;底电极,其为惰性金属,形成在所述衬底上;介质层,其为具有感光特性的氧化物,形成在所述底电极上;顶电极,其为透明电极,形成在所述介质层上。

2、本发明的光子忆阻器件中,优选为,所述底电极为pt,au或pd。

3、本发明的光子忆阻器件中,优选为,所述介质层为zno,nio或al2o3。

4、本发明的光子忆阻器件中,优选为,所述介质层的厚度为50-150nm。

5、本发明的光子忆阻器件中,优选为,所述顶电极为ito,fto,zto或azo。

6、本发明还公开一种光子忆阻器件制备方法,包括以下步骤:在衬底上形成惰性金属作为底电极;在所述底电极上形成具有感光特性的氧化物,作为介质层;在氮气氛围下进行退火处理;在所述介质层上形成透明电极作为顶电极。

7、本发明的光子忆阻器件制备方法中,优选为,所述底电极为pt,au或pd。

8、本发明的光子忆阻器件制备方法中,优选为,所述介质层为zno,nio或al2o3。

9、本发明的光子忆阻器件制备方法中,优选为,所述介质层的厚度为50-150nm。

10、本发明的光子忆阻器件制备方法中,优选为,所述顶电极为ito,fto,zto或azo。



技术特征:

1.一种光子忆阻器件,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的光子忆阻器件,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的光子忆阻器件,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的光子忆阻器件,其特征在于,

5.根据权利要求1所述的光子忆阻器件,其特征在于,

6.一种光子忆阻器件制备方法,其特征在于,

7.根据权利要求6所述的光子忆阻器件制备方法,其特征在于,所述底电极为pt,au或pd。

8.根据权利要求6所述的光子忆阻器件制备方法,其特征在于,所述介质层为zno,nio或al2o3。

9.根据权利要求6所述的光子忆阻器件制备方法,其特征在于,所述介质层的厚度为50-150nm。

10.根据权利要求6所述的光子忆阻器件制备方法,其特征在于,所述顶电极为ito,fto,zto或azo。


技术总结
本发明公开一种光子忆阻器件及其制备方法。该光子忆阻器件包括:衬底;底电极,其为惰性金属,形成在所述衬底上;介质层,其为具有感光特性的氧化物,形成在所述底电极上;顶电极,其为透明电极,形成在所述介质层上。

技术研发人员:陈琳,房雨晴,孟佳琳,王天宇,孙清清,张卫
受保护的技术使用者:复旦大学
技术研发日:
技术公布日:2024/3/12
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