用于大功率芯片测试的冷却装置的制作方法

文档序号:37128129发布日期:2024-02-22 21:43阅读:38来源:国知局
用于大功率芯片测试的冷却装置的制作方法

本发明涉及芯片冷却领域,特别涉及一种用于大功率芯片测试的冷却装置。


背景技术:

1、芯片在老化测试会产生热量,过高的热量导致其性能受到影响。因此,芯片从设计到生产必须要采用老化板进行测试以保证芯片的可靠性。

2、在老化测试过程中,芯片的散热问题更是亟待解决的一个问题。对于芯片测试老化板散热,目前一般采用风冷的方式进行散热。所谓风冷,是指设置风机对芯片测试治具进行散热,通过风机转动带动空气流动,利用空气流动带走芯片散发出的热量,以达到降温散热的目的。

3、但对于大功率芯片来说,其芯片封装密度更高,产生的热功耗也更高,仅靠风冷已无法解决大功率芯片的热流问题。因此,亟需一种能较好解决大功率芯片测试老化板散热问题的散热装置。


技术实现思路

1、本发明的主要目的是提出一种用于大功率芯片测试的冷却装置,旨在解决大功率芯片测试老化板散热的问题。

2、为实现上述目的,本发明提出一种用于大功率芯片测试的冷却装置,该用于大功率芯片测试的冷却装置包括:

3、风冷柜体,开设有第一进风口和出风口;

4、导流组件,设置在所述风冷柜体的第一进风口处;

5、多个液冷组件,所述液冷组件包括液体入口和液体出口,所述液冷组件内部形成有冷却通道,所述冷却通道的两端与所述液体入口和液体出口连通,多个所述液冷组件可拆卸设置在所述风冷柜体中,所述液冷组件用于冷却芯片。

6、在一些实施例中,所述风冷柜体分层设有架体,用于承载多个所述液冷组件。

7、在一些实施例中,所述架体包括相对设置的第一支撑板和第二支撑板,所述第一支撑板设置在所述第一进风口处,所述第二支撑板设置在所述出风口处。

8、在一些实施例中,所述第一支撑板和第二支撑板一一对应,构成承载面以承载所述液冷组件。

9、在一些实施例中,所述导流组件包括导流板,所述导流板倾斜于所述风冷柜体的所述第一进风口处。

10、在一些实施例中,所述导流组件还包括两侧板,两所述侧板分别设置在导流板的两侧且与所述风冷柜体连接,用于固定所述导流板;

11、两所述侧板、导流板和风冷柜体共同构建出第二进风口。

12、在一些实施例中,所述风冷柜体还开设有置入口和柜门,所述置入口位于所述第一进风口和出风口之间,所述液冷组件通过所述置入口放置于所述风冷柜体中;所述柜门可拆卸设置在所述置入口。

13、在一些实施例中,所述液冷组件包括底板和上盖板,所述冷却通道开设于所述底板上,所述上盖板与底板配合以密封所述冷却通道。

14、在一些实施例中,所述底板开设有铣槽阵列,所述铣槽阵列相互连通,所述冷却通道穿过所述铣槽。

15、在一些实施例中,所述液冷组件的朝向所述置入口的一侧设有把手。

16、本发明技术方案,风机吹出冷风,冷风通过导流的折射,使得冷风均匀的导入至第一进风口中,而多个液冷组件设置在风冷柜体中,在液冷的同时,经过冷风带走液冷组件上的热量,从而进一步达到降温的目的。冷风带走液冷组件上的热量时,将从出风口排出。液冷和风冷的双重冷却,使得芯片测试效果更佳,而多个液冷组件与导流组件的配合使得老化测试的芯片数量增加,即提高芯片老化测试的效率。



技术特征:

1.一种用于大功率芯片测试的冷却装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的用于大功率芯片测试的冷却装置,其特征在于,所述风冷柜体分层设有架体,用于承载多个所述液冷组件。

3.根据权利要求2所述的用于大功率芯片测试的冷却装置,其特征在于,所述架体包括相对设置的第一支撑板和第二支撑板,所述第一支撑板设置在所述第一进风口处,所述第二支撑板设置在所述出风口处。

4.根据权利要求3所述的用于大功率芯片测试的冷却装置,其特征在于,所述第一支撑板和第二支撑板一一对应,构成承载面以承载所述液冷组件。

5.根据权利要求1所述的用于大功率芯片测试的冷却装置,其特征在于,所述导流组件包括导流板,所述导流板倾斜于所述风冷柜体的所述第一进风口处。

6.根据权利要求1所述的用于大功率芯片测试的冷却装置,其特征在于,所述导流组件还包括两侧板,两所述侧板分别设置在导流板的两侧且与所述风冷柜体连接,用于固定所述导流板;

7.根据权利要求1所述的用于大功率芯片测试的冷却装置,其特征在于,

8.根据权利要求1所述的用于大功率芯片测试的冷却装置,其特征在于,所述液冷组件包括底板和上盖板,所述冷却通道开设于所述底板上,所述上盖板与底板配合以密封所述冷却通道。

9.根据权利要求8所述的用于大功率芯片测试的冷却装置,其特征在于,所述底板开设有铣槽阵列,所述铣槽阵列相互连通,所述冷却通道穿过所述铣槽。

10.根据权利要求7所述的用于大功率芯片测试的冷却装置,其特征在于,所述液冷组件的朝向所述置入口的一侧设有把手。


技术总结
本发明公开一种用于大功率芯片测试的冷却装置,该用于大功率芯片测试的冷却装置包括风冷柜体、导流组件和多个液冷组件,风冷柜体开设有第一进风口和出风口;导流组件设置在所述风冷柜体的第一进风口处;所述液冷组件包括液体入口和液体出口,所述液冷组件内部形成有冷却通道,所述冷却通道的两端与所述液体入口和液体出口连通,多个所述液冷组件可拆卸设置在所述风冷柜体中,所述液冷组件用于冷却芯片。本发明技术方案,冷风依次经过导流组件、第一进风口、液冷组件和出风口,从而将液冷组件上的热量带走,风冷与液冷的双重配合使得冷却效果更佳。

技术研发人员:何瀚,孙成思,王灿,徐永刚,张鑫
受保护的技术使用者:成都态坦测试科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/2/21
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