本申请涉及半导体测试设备的电源控制，尤其涉及电气自锁电路及其驱动方法、装置、测试设备及存储介质。
背景技术：
1、在半导体芯片测试领域，整机电源的通断控制通常依赖于机械式自锁按钮。传统的自锁按钮通过机械结构实现电路锁定，即按下按钮后，按钮保持锁定状态以维持电源接通，需再次按压才能解锁并切断电源。
2、然而，这种传统机械自锁模式存在着显著缺陷。在设备运行过程中，若操作人员或外部因素意外触碰到自锁按钮，会导致整机瞬间断电。对于半导体探针台等精密测试设备，此类断电将直接中断正在执行的测试流程，造成测试数据丢失，且重新启动设备、恢复测试需耗费大量时间与资源，严重影响生产效率。
3、因此，如何消除因误触机械式自锁按钮导致的非预期断电是目前亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本申请的主要目的在于提供电气自锁电路及其驱动方法、装置、测试设备及存储介质，旨在提高半导体测试设备电源通断控制的智能性。
2、为实现上述目的，本申请提供一种电气自锁电路，所述电气自锁电路包括：
3、非自锁按钮；
4、接触器，所述接触器包括主触头和电磁线圈，所述主触头与所述非自锁按钮并联，所述非自锁按钮与所述电磁线圈串联，所述接触器被设置为在所述非自锁按钮执行按钮按下操作时触发所述电磁线圈接入电源电压以通电，在所述电磁线圈为通电状态时触发所述主触头闭合，在确定所述非自锁按钮从所述按钮按下操作切换为按钮松开操作后，通过闭合的主触头使能所述电磁线圈持续维持通电状态。
5、在一实施方式中，所述非自锁按钮包括公共端、常开触头以及常闭触头；
6、所述公共端与电源端正极电连接，所述常开触头与所述电磁线圈的正极电连接，所述电磁线圈的负极与电源端负极电连接，所述常闭触头悬空。
7、在一实施方式中，所述主触头的出线端分别与所述电源端正极以及所述公共端电连接，所述主触头的进线端分别与所述常开触头以及所述电磁线圈的正极电连接。
8、在一实施方式中，所述按钮按下操作被设置为触发所述公共端与所述常开触头电连接。
9、在一实施方式中，所述按钮松开操作被设置为触发所述公共端与所述常闭触头电连接。
10、此外，为实现上述目的，本申请还提供一种电气自锁电路的驱动方法，所述电气自锁电路的驱动方法应用于如上述任一项所述的电气自锁电路，所述电气自锁电路的驱动方法包括：
11、在非自锁按钮执行按钮按下操作时触发接触器中的电磁线圈接入电源电压以通电，并在所述电磁线圈为通电状态时触发所述主触头闭合；
12、在确定所述非自锁按钮从所述按钮按下操作切换为按钮松开操作后，通过闭合的主触头使能所述电磁线圈持续维持通电状态。
13、在一实施方式中，在所述在所述电磁线圈为通电状态时触发所述主触头闭合的步骤之后，所述电气自锁电路的驱动方法包括：
14、检测所述非自锁按钮的公共端电连接的目标触头是否为常闭触头；
15、若所述公共端电连接的目标触头为所述常闭触头，则确定所述非自锁按钮从所述按钮按下操作切换为按钮松开操作；
16、若所述公共端电连接的目标触点为所述常开触头，则确定所述非自锁按钮继续执行所述按钮按下操作。
17、此外，为实现上述目的，本申请还提供一种电气自锁电路的驱动装置，所述电气自锁电路的驱动装置包括：
18、闭合模块，在非自锁按钮执行按钮按下操作时触发接触器中的电磁线圈接入电源电压以通电，并在所述电磁线圈为通电状态时触发所述主触头闭合；
19、自锁供电模块，用于在确定所述非自锁按钮从所述按钮按下操作切换为按钮松开操作后，通过闭合的主触头使能所述电磁线圈持续维持通电状态。
20、本申请电气自锁电路的驱动装置的各个功能模块在运行时实现如上所述的本申请电气自锁电路的驱动方法的步骤。
21、此外，为实现上述目的，本申请还提供一种半导体测试设备，所述半导体测试设备包括上述任一项所述的电气自锁电路；或者，
22、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电气自锁电路的驱动程序，所述处理器执行所述电气自锁电路的驱动程序时实现上述电气自锁电路的驱动方法的步骤。
23、此外，为实现上述目的，本申请还提供一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有电气自锁电路的驱动程序，所述电气自锁电路的驱动程序被处理器执行时实现上述的电气自锁电路的驱动方法的步骤。
24、本申请通过采用非自锁按钮与接触器组合的电气自锁电路设计，利用接触器的主触头与非自锁按钮并联，以及接触器的电磁线圈与非自锁按钮串联的拓扑结构，实现了仅需瞬时按压非自锁按钮即可建立自锁通电状态的技术效果。具体的，当按下非自锁按钮时(即当非自锁按钮执行按钮按下操作时)，接触器的电磁线圈得电并自动吸合主触头，此时即使松开非自锁按钮(非自锁按钮从按钮按下操作切换为按钮松开操作)，电流仍可通过已闭合的主触头维持电磁线圈供电，形成电气自锁，从而有效避免了机械式自锁按钮因误触导致的意外断电问题；同时，本申请设置的电气自锁电路通过纯电气逻辑替代机械锁定，显著提升了电路运行的稳定性，减少了因非自锁按钮松动或接触不良导致的意外故障，确保应用该电气自锁电路的半导体测试设备在测试过程中电源持续可靠供应，有效避免数据丢失及重启耗时问题，且基于现有电气元件的低成本设计简化了系统结构，兼具高可靠性与经济性优势。
1.一种电气自锁电路，其特征在于，所述电气自锁电路包括：
2.如权利要求1所述的电气自锁电路，其特征在于，所述非自锁按钮包括公共端、常开触头以及常闭触头；
3.如权利要求2所述的电气自锁电路，其特征在于，所述主触头的出线端分别与所述电源端正极以及所述公共端电连接，所述主触头的进线端分别与所述常开触头以及所述电磁线圈的正极电连接。
4.如权利要求2所述的电气自锁电路，其特征在于，所述按钮按下操作被设置为触发所述公共端与所述常开触头电连接。
5.如权利要求2所述的电气自锁电路，其特征在于，所述按钮松开操作被设置为触发所述公共端与所述常闭触头电连接。
6.一种电气自锁电路的驱动方法，其特征在于，所述电气自锁电路的驱动方法应用于如权利要求1至5任一项所述的电气自锁电路，所述电气自锁电路的驱动方法包括：
7.如权利要求6所述电气自锁电路的驱动方法，其特征在于，在所述在所述电磁线圈为通电状态时触发所述主触头闭合的步骤之后，所述电气自锁电路的驱动方法包括：
8.一种电气自锁电路的驱动装置，其特征在于，所述电气自锁电路的驱动装置包括：
9.一种半导体测试设备，其特征在于，所述半导体测试设备包括权利要求1至5任一项所述的电气自锁电路；或者，
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有电气自锁电路的驱动程序，所述电气自锁电路的驱动程序被处理器执行时实现如权利要求6至7任一项所述电气自锁电路的驱动方法的步骤。