专利名称：扩展微型电信计算架构的方法、系统和设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及通信领域，特别涉及一种扩展微型电信计算架构的方法、系
统和i殳备。
背景技术：
MicroTCA是周边元件扩展接口 (PCI)工业计算机厂商协会(PICMG， PCI Industrial Computer Manufacturers Group)制定的平台夫见范，MicroTCA 采用先进夹层卡(AMC， Advanced Mezzanine Card )来构建小容量低成本的 模块化通信平台，主要应用于诸如中央机房的小型电信设备或企业级通信设 备。目前的标准规范版本为PICMG MicroTCA.O R1.0版本。
MicroTCA可以有多种产品形态，根据不同的业务需求，MicroTCA系 统可以配置不同的MicroTCA秀(载板汇聚器(MCH， MicroTCA Carrier Hub ) 和AMC的尺寸和数量。适用于300mm深机拒，也可以采用背靠背的配置 方式力文置在600mm深机拒。
如图l所示， 一个MicroTCA系统中，主要功能模块包括机框、电源 模块(PM， Power Module) 、 MCH、以及AMC。机框中与MCH、 AMC以 及PM连接的部分为背板，MCH、 AMC以及PM通过背板中的线路进行连 接和数据交换。其中，MCH是MicroTCA系统的中心模块，提供MicroTCA 系统的管理、交换、时钟和测试功能。
另外， 一个MicroTCA系统中还需要设置有联合测试行动小组(JTAG, Joint Test Action Group)测试单元，JTAG是一种国际标准测试协议，在 MicroTCA系统中主要应用于互联测试，例如板卡间的数据连接故障测试、 芯片间的互联故障等，能够对MicroTCA系统中的数据连接、时钟连接进行测试。MicroTCA系统中设置的JTAG测试单元提供测试端口 ，与系统中的 被测试单元连接。JTAG测试单元的主要构成为汀AG交换模块(JSM, JTAG Switch Module )，通常JTAG测试单元由在JTAG槽位中插入JSM实现， 该JTAG槽位提供JTAG测试单元的连接器，该JTAG测试单元的连接器包 含与被测试单元和JTAG控制单元的连接端口 ，以及与负载电源的连接端口 。 其连接关系可以如图2所示，也就是说，JSM与JTAG控制单元和被测试单 元之间的连接采用星型拓朴结构。其中，JTAG控制单元可以设置在MCH 中，也可以通过外部测试工具实现；被测试单元通常为AMC。
图3为JSM的功能框图，如图3所示，该JSM主要包括第一交换模块 (Primary switch )、端口交换才莫块(Port switch )和供电才莫块(Power Supply Module)。第一交换模块用于连接JTAG测试单元的连接器上与JTAG控制 单元的连接端口，通常与MCH连接或外部测试工具连接。第二交换模块用 于连接JTAG测试单元的连接器上与被测试单元的连接，通常与AMC连接。 供电模块用于连接JTAG测试单元的连接器上提供负载电源的连接端口 ，并 提供JTAG测试单元的负载电源。其中，在与AMC连接的端口可以包括 测试数据输出(TDO)端口，用于将JSM的数据输出到AMC;测试数据输 入(TDI)端口 ，用于将AMC的数据输入到JSM;测试时钟输入(TCK ) 端口，用于测试时钟输入；测试模式选择(TMS)端口 ，用于设置JTAG端 口处于某种特定的测试模式；测试复位(TRST)端口 ，用于进行测试复位， 低电平有效。其中，MCH与JSM的连接已在MicroTCA.ORl.O标准中进行 了定义。
现有技术中，通常在背板上另外设置一个JTAG槽位，该JTAG槽位占 据独立的背板空间，但由于JTAG槽位只在MicroTCA系统出厂前插入JSM 进行产品生产过程的测试，在出厂后该JTAG槽位便处于空闲状态，并且， MicroTCA系统背板上需要提供MicroTCA系统中其它单元的槽位，空间十 分有限，另外设置一个JTAG槽位占据独立的背板空间，显然造成了背板空 间的浪费。
发明内容
本发明实施例提供了一种扩展MicroTCA的方法、系统和设备，以便于 更加节约背板空间。
一种扩展微型电信计算架构MicroTCA的方法，该方法包括
在MicroTCA系统背板上，至少一个先进夹层卡AMC槽位中设置AMC 连接器和联合行动测试小组汀AG测试单元的连接器。
一种MicroTCA系统，MicroTCA系统包括背板上的至少一个AMC槽 位，所述至少一个AMC槽位中设置有AMC连接器及JTAG测试单元的连 接器。
本发明实施例提供的方法和系统，通过在MicroTCA系统背板上，至少 一个AMC槽位中设置AMC连接器和JTAG测试单元的连接器。利用已有 的AMC槽位设置JTAG测试单元的连接器，避免了另外设置一个JTAG槽 位占据独立的背板空间，从而节约了背板空间。并且，在测试完毕后，还可 以继续插入AMC，不影响AMC的正常使用。
图1为现有技术中的MicroTCA系统的组成框架图； 图2为现有技术中的JTAG测试单元的连接拓朴图； 图3为现有技术中的JSM功能框图4a为本发明实施例提供的全高单宽AMC的槽位区域分布图； 图4b为本发明实施例提供的半高双宽AMC的槽位区域分布图； 图4c为本发明实施例提供的全高双宽AMC的槽位区域分布图； 图5为本发明实施例提供的JTAG测试单元的连接器提供的一种连接关 系图6为本发明实施例在全高双宽AMC槽位中设置JTAG测试单元的槽 位的连接关系图7为本发明实施例提供的另一种连接关系6意图9为本发明实施例提供的MicroTCA系统组成示意图。
具体实施例方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图和具体 实施例对本发明进行详细描述。
本发明实施例提供的方法主要为在MicroTCA系统背板上，至少一个 AMC槽位中设置AMC连接器和JTAG测试单元的连接器。
其中，JTAG测试单元的连接器可以设置在该AMC槽位中AMC连接 器以外的区域。
由于MicroTCA系统中的AMC可以冲艮据实际需求配置成不同的规格， AMC卡可以分为双宽AMC和单宽AMC，配置成一层的AMC为单宽AMC， 配置成两层的AMC成为双宽AMC。 AMC卡也可以分为全高AMC和半高 AMC,全高AMC的高度通常为6HP，其中，1HP相当于0.2英寸，半高 AMC的高度通常为3HP， 一个全高AMC的槽位可以插入两个半高AMC。 图4a为全高单宽AMC的槽位区域分布图，图4b为半高双宽AMC的槽位 区域分布图，图4c为全高双宽AMC的槽位区域分布图。通常在AMC的槽 位中，AMC的连接器通常只占据其中一个区域，其它区域均处于空闲状态， 所以，可以利用AMC槽位中的空闲区域设置JTAG测试单元的连接器。如 图4a所示，通常AMC连接器设置在区域1，则可以将JTAG测试单元的连 接器设置在全高单宽AMC槽位的区域2。如图4b所示，AMC的连接器设 置在区域1 ，可以将JTAG测试单元的连接器设置在半高双宽AMC的区域3 。 如图4c所示，AMC的连接器设置在区域1,可以将JTAG测试单元的连接 器设置在全高双宽AMC的区域4，也可以设置在区域2或区域3。需要说 明的是，可以将JTAG测试单元的连接器设置在任意的AMC槽位中。
下面举一个实施例对JTAG测试单元的连接器的设置进行详细描述，图5为本发明实施例提供的JTAG测试单元的连接器提供的一种连接关系图， 如图5所示，在MicroTCA系统的一个全高单宽AMC的区域2中设置JTAG 测试单元的连接器，该JTAG测试单元的连接器提供与MicroTCA系统中的 各AMC和MCH的星型拓朴连接，也就是说，背板中各单元之间的连接走 线为星型拓朴，插入JSM后，该JSM处于星型拓朴连接的中心节点。
图5中采用主备冗余MCH,即采用MCH1和MCH2两个MCH，可以 将控制JTAG测试单元的JTAG控制单元设置在MCH中，也可以通过外部 的测试工具实现JTAG控制单元的控制功能。图5采用将JTAG控制单元设 置在MCH中，通过MCH完成对系统JTAG测试的管理和控制，并实现对 系统中的AMC进行测试和软件加载。也可以通过外部的测试工具实现测试 和力口载。
如图3所示，MCH通过JSM的第 一交换模块与端口交换模块交换信息， JSM的端口交换模块通过TDO、 TDI、 TCK、 TMS和TRST端口与各AMC 连接。其中，JSM连接器的每一个端口提供的与MCH和AMC的连接都可 以是星型连接。
JSM连接器提供的负载电源连接可以直接来源于MCH的负载电源连 接，也就是说，在PM对MCH进行上电的同时，利用该对MCH提供的负 载电源连接同时对JSM上电。当然，也不排除通过PM对JSM直接上电的 方法。由于JSM不需要管理电源，所以，不需要在JTAG测试单元的连接 器上配置管理电源连接。
在对MicroTCA系统进行JTAG测试时，在上述扩展的AMC槽位中插 入JSM，进行系统测试和软件加载，当JTAG测试完成后，拔出JSM，该扩 展的AMC槽位可以插入AMC卡，对AMC槽位并没有任何影响。
图5是以全高单宽AMC为例进行的说明，其它规格的AMC中设置的 JTAG测试单元的连接器提供的连接也可以采用上述方式，例如，图6为本 发明实施例在全高双宽AMC槽位中设置JTAG测试单元的槽位的连接关系 图，在全高双宽AMC槽位中的第3区域设置JTAG测试单元的连接器，JTAG测试单元的连接器提供的与MCH以及AMC的连接采用星型拓朴连接。
JTAG测试单元的连接器提供的连接除了上述的星型拓朴连接外，还可 以采用总线和星型拓朴混合的连接方式。此时JTAG测试单元包含测试总线 控制器。下面以全高双宽AMC槽位中设置JTAG测试单元的连接器为例进
行说明。
图7为本发明实施例提供的另一种连接关系图，如图7所示，在全高双 宽AMC槽位中的第3区域设置JTAG测试单元的连接器，JTAG测试单元 的连接器提供的与MCH以及AMC的连接主要采用总线型的拓朴连接，但 有部分端口采用星型拓朴连接。其具体的端口连接可以如图8所示，测试总 线控制器的TCK连接、TRST连接、TDI连接和TDO连接可以采用总线形 式，相应的，JTAG测试单元的连接器的TCK端口 、 TRST端口 、 TDI端口 和TDO端口提供总线形式的连接。但是，由于在JTAG测试过程中，各个 被测试单元没有侦听背板测试总线的功能，无法检测寻址信号，只能通过 TMS信号设置每个被测试单元的测试模式，所以，测试总线控制器提供的 TMS端口与MCH以及AMC的连接需要采用点到点的星型拓朴连接。
在图7所示的实施例中，控制JTAG测试单元的JTAG控制单元可以设 置在MCH中，也可以通过外部的测试工具实现。测试总线控制器提供的负 载电源连接可以直接来源于MCH的负载电源连接，也就是说，在PM对 MCH上电的同时，利用该对MCH提供的负载电源连接同时对测试总线控 制器上电。
对本发明实施例提供的MicroTCA系统进行描述。如图9所示，该MicroTCA 系统主要包括背板卯0上的至少一个AMC槽位，该至少一个AMC槽位 中设置有AMC连接器910以及JTAG测试单元的连接器920。
JTAG测试单元的连接器920可以设置在背板900上至少一个AMC槽 位中AMC连接器910以外的区域。其具体设置方法可以采用图4a、图4b 或图4c的方式。该系统还可以包括:JTAG测试单元930。
J丁AG测试单元930通过JTAG测试单元的连接器920对MicroTCA系 统进行测试。例如，可以对被测试单元940进行测试。
该被测试单元940可以是通过AMC连接器与JTAG测试单元930连接 的AMC,也可以是PM。
其中，JTAG测试单元930包括JSM或测试总线控制器931和JTAG控 制单元932。
JSM或测试总线控制器931,用于对被测试单元940进行JTAG测试处理。 JTAG控制单元932，用于管理和控制JSM或测试总线控制器931完成所
述JTAG测试处理。
当JTAG测试单元与被测试单元采用星型拓朴结构时，可以采用JSM;当
JTAG测试单元与被测试单元采用星型与总线型混合的拓朴结构时，可以采用
测试总线控制器。
其中，JTAG控制单元932可以设置在MicroTCA系统的MCH中，也 可以为MicroTCA系统的外部测试工具。
JTAG测试单元的连接器920提供的JTAG测试单元930与被测试单元 940的连接可以是星型拓朴连接，JTAG测试单元930的JSM 931处于星型 拓朴连接的中心，如果JTAG控制单元932设置在两个MCH中，则JSM 931 与两个MCH为点到点的星型拓朴连接，其与各被测试单元940也可以为点 到点的星型拓朴连接。JTAG测试单元的连接器920提供的JTAG测试单元 930与被测试单元940的连接也可以是星型与总线型拓朴连接。其中，JTAG 测试单元的930提供的TSM端口与被测试单元940的连接为点到点的星型 拓朴连接，其它端口与被测试单元以及MCH的连接可以为总线型拓朴连接。 其具体连接可以如图7和图8所示。
该MicroTCA系统还可以包括PM 950,用于使用提供给MCH的负载电 源对JTAG测试单元930进行供电。
由以上描述可以看出，本发明实施例提供的方法和系统，通过在MicroTCA系统背板上，至少一个AMC槽位中设置AMC连接器和JTAG测 试单元的连接器。利用已有的AMC槽位设置JTAG测试单元的连接器，避 免了另外设置一个JTAG槽位占据独立的背板空间，从而节约了背板空间。 并且，在测试完毕后，还可以继续插入AMC,不影响AMC的正常使用。
并且，本发明实施例还提供了一种JTAG测试单元与被测试单元以及 MCH的星型与总线型混合的拓朴连接，与现有技术中的星型拓朴连接，简 化背板的布线密度。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本 发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在 本发明保护的范围之内。
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权利要求
1、一种扩展微型电信计算架构MicroTCA的方法，其特征在于，该方法包括在MicroTCA系统背板上，至少一个先进夹层卡AMC槽位中设置AMC连接器和联合行动测试小组JTAG测试单元的连接器。
2、 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述JTAG测试单元的连接 器设置在AMC连接器以外的区域。
3、 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，控制所述JTAG测试单元的 JTAG控制单元设置在MicroTCA系统的MicroTCA承载板汇聚器MCH中，或 者通过外部的测试工具实现。
4、 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述JTAG测试单元的连接 器提供的与MicroTCA系统中各被测试单元以及MCH的连接为星型拓朴连接， 所迷JTAG测试单元包括JTAG交换模块JSM;或者，所述JTAG测试单元的连接器提供的与MicroTCA系统中各被测试单元以 及MCH的连接为星型与总线型混合的拓朴连接，所述JTAG测试单元包括测 试总线控制器。
5、 根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述星型与总线型混合的拓 朴连接为所述JTAG测试单元的连接器提供的测试模式选择TMS端口与被测 试单元以及MCH的连接为星型拓朴连接，其它端口与被测试单元以及MCH的 连接为总线型拓朴连接。
6、 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述JTAG测试单元的连接 器提供的负载电源来源于MicroTCA系统的MCH负载电源连接。
7、 一种MicroTCA系统，其特征在于，MicroTCA系统包括背板上的至少 一个AMC槽位，所述至少一个AMC槽位中设置有AMC连接器及JTAG测试 单元的连接器。
8、 根据权利要求7所述的MicroTCA系统，其特征在于，该系统还包括JTAG测试单元；所述JTAG测试单元，用于通过所述JTAG测试单元的连接器对所述 MicroTCA系统进4亍测试。
9、 根据权利要求8所述的MicroTCA系统，其特征在于，所述JTAG测试 单元包括JTAG控制单元，和JSM或测试总线控制器；所述JSM或测试总线控制器，用于对所述被测试单元进行JTAG测试处理； 所述JTAG控制单元，用于管理和控制所述JSM或测试总线控制器完成所 述JTAG测试处理。
10、 根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述JTAG测试单元的连 接器设置在AMC连接器以外的区域。
全文摘要
本发明提供了一种扩展微型电信计算架构(MicroTCA)的方法和MicroTCA系统，在MicroTCA系统背板上，至少一个先进夹层卡(AMC)槽位中设置AMC连接器和联合测试小组(JTAG)测试单元的连接器。利用已有的AMC槽位设置JTAG测试单元的连接器，避免了另外设置一个JTAG槽位占据独立的背板空间，从而节约了背板空间。并且，在测试完毕后，还可以继续插入AMC，不影响AMC的正常使用。
文档编号H04L12/56GK101459587SQ200710195339
公开日2009年6月17日 申请日期2007年12月10日 优先权日2007年12月10日
发明者李善甫, 峰 洪, 成 陈, 饶龙记 申请人:华为技术有限公司