用于l3层线路盘的自动化测试设备及方法

文档序号:7814085阅读:252来源:国知局
用于l3层线路盘的自动化测试设备及方法
【专利摘要】本发明公开了一种用于L3层线路盘的自动化测试设备及方法,涉及通信设备线路盘功能和性能测试领域。该设备包括测试子架、网络管理平台和集成仪表;测试子架内部设置有自动化测试单元,其包括电源模块、时钟模块、现场可编程门阵列FPGA模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块和接口电路模块;时钟模块、FPGA模块、接口电路模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块均与电源模块相连;时钟模块、接口电路模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块均与FPGA模块相连;所述单盘管理控制模块与以太网交换模块相连。本发明不仅测试的准确性和测试效率均较高,而且占用的测试环境资源较少,能够降低搭建成本,缩短搭建过程,便于人们使用。
【专利说明】用于L3层线路盘的自动化测试设备及方法

【技术领域】
[0001]本发明涉及通信设备线路盘功能和性能测试领域,具体涉及一种用于L3层线路盘的自动化测试设备及方法。

【背景技术】
[0002]IPRAN(IP Rad1 Access Network Carrier, IP 化无线回传承载网)通信设备主要应用于城域网内,IPRAN通信设备使用时,以基站回传为主,能够满足综合业务承载的路由解决方案。IPRAN通信设备的核心是L3(网络层)层线路盘,随着光通信的不断发展,L3层线路盘已经广泛应用于社会之中。对L3层线路盘进行生产测试和验证测试所采用的测试方法为:测试人员利用IPRAN的功能子架搭建复杂的点对点的测试平台,在测试平台中导入交叉配置、并进行复杂的光纤连接后进行测试。
[0003]但是,使用上述测试平台对L3层线路盘进行验证测试和生产测试时,存在以下缺陷:
[0004](I)现有的测试平台采用点对点测试,测试平台所需的标准配置为2块RCUOl (路由管理)盘、4块S⑶01 (交叉时钟)盘、2块电源盘、I块端子板、2块rop (PowerDistribut1n Protect,设备架顶电源分配子架)和2个功能子架。功能子架不仅体积较大,功耗较大,而且重量较重,占用场地较大,进而占用了大量的测试环境资源,搭建测试平台(尤其是搭建多套测试平台)时,提高了测试平台搭建的成本,延长了测试平台的搭建过程;对于搭建多套测试平台而言,不便于人们使用。
[0005](2)对L3层线路盘进行验证测试和生产测试时的功能测试项目为:业务对通测试、时钟功能测试、L3层静态业务测试、LSP (Label Switched Path,标签交换路径)1: 1、Bfd(Bidirect1nal Forwardding Detect1n,双向转发检测)、0AM(Operat1nAdministrat1n and Maintenance,操作、管理和维护)、MCC(Management Communicat1nChannel,管理通信通道)、S1 (同步状态标志)及时钟提取,功能测试项目较多,测试所有功能测试项目时,均需要人工拔插光纤、切换主备SCU01机盘和手动控制仪表收发包,其操作过程比较复杂。
[0006](3)现有的测试平台的光纤连接比较复杂,单块机盘测试时间为15分钟左右,测试效率较低。


【发明内容】

[0007]针对现有技术中存在的缺陷,本发明的目的在于提供一种用于L3层线路盘的自动化测试设备及方法,不仅测试的准确性和测试效率均较高,而且占用的测试环境资源较少,能够降低搭建成本,缩短搭建过程,便于人们使用。
[0008]为达到以上目的,本发明提供一种用于L3层线路盘的自动化测试设备,包括测试子架、网络管理平台和用于与网络层L3层线路盘的光口连接的集成仪表;所述测试子架包括若干测试板,每块测试板均开有串口、网口和L3层线路盘安装槽,所有测试板通过各自的串口相互连接,任意一块测试板的网口与网络管理平台相连;
[0009]所述测试子架内部设置有自动化测试单元,所述自动化测试单元包括电源模块、时钟模块、现场可编程门阵列FPGA模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块和接口电路模块;所述时钟模块、FPGA模块、接口电路模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块均通过测试板的背板与电源模块相连;所述时钟模块、接口电路模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块均与FPGA模块相连;所述单盘管理控制模块与以太网交换模块相连;
[0010]所述单盘管理控制模块包括扣板BMU,所述FPGA模块分别通过数据线、地址总线与BMU相连,所述BMU上设置有输入/输出端I/O端口;所述以太网交换模块包括以太网交换芯片;BMU与以太网交换芯片相连,以太网交换芯片与背板相连;
[0011]所述接口电路模块包括正转换芯片、逆正转换芯片和3个隔离芯片:第一隔离芯片、第二隔离芯片和第三隔离芯片;所述FPGA模块分别通过正转换芯片、逆正转换芯片、第一隔离芯片、第二隔离芯片、第三隔离芯片与背板相连;
[0012]所述自动化测试设备对L3层线路盘进行测试时,将所有需要测试的L3层线路盘与集成仪表相连,所有L3层线路盘通过光纤相互连接;通过网络管理平台的辅助测试软件设置集成仪表的测试参数;将所有需要测试的L3层线路盘插入测试板中,测试板告知辅助测试软件L3层线路盘的在位信息;
[0013]电源模块为时钟模块、FPGA模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块供电;每块测试盘将对应的L3层线路盘的特征码上报至BMU,BMU根据当前收到的特征码确定当前L3层线路盘的类型后,启动与当前L3线路盘的类型对应的测试主线程;
[0014]FPGA模块模拟低速信号,低速信号包括系统识别信号、告警总线信号、路由管理RCUOl盘的在位信号、以及交叉时钟S⑶01盘的主备控制信号;FPGA将在位信号和主备控制信号通过第一隔离芯片发送至背板,FPGA将系统识别信号通过第二隔离芯片发送至背板,FPGA将告警总线信号通过第三隔离芯片发送至背板;
[0015]背板根据收到的低速信号与当前L3层线路盘对应的低速信号,对当前L3层线路盘进行低速信号测试,若测试通过,在辅助测试软件的测试界面显示测试通过结果、对当前L3层线路盘进行开销总线测试,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,结束;
[0016]对当前L3层线路盘进行开销总线测试时,FPGA模块模拟S⑶01盘、并按照与开销总线格式对应的特定总线内容通过正转换芯片发送至当前L3层线路盘,FPGA模块通过逆转换芯片接收当前L3层线路盘返回的与当前特定总线内容对应的返回信息;FPGA模块根据发送的特定总线内容和接收的返回信息,对当前L3层线路盘进行开销总线测试,若测试通过,在测试界面显示测试通过结果,对当前L3层线路盘的系统时钟进行交互测试,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,结束;
[0017]对当前L3层线路盘的系统时钟进行交互测试时,时钟模块模拟SCUOl通过背板为当前L3层线路盘提供需要的主备系统时钟;时钟模块接收当前L3层线路盘输出的系统时钟,时钟模块根据主备系统时钟和当前L3层线路盘输出的系统时钟,对当前L3层线路盘的系统时钟进行交互测试,若测试通过,在测试界面显示测试通过结果,对当前L3层线路盘进行业务测试,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,结束;
[0018]对当前L3层线路盘进行业务测试时,BMU为当前L3层线路盘配置业务配置流,BMU将业务配置流通过以太网交换芯片下发至集成仪表,集成仪表根据当前业务配置流对当前L3层线路盘进行业务测试,BMU根据集成仪表返修的统计结果确定业务测试是否通过,若是,在测试界面显示测试通过结果,确定当前L3层线路盘全部测试通过,结束;否则在测试界面显示测试未通过结果,结束。
[0019]在上述技术方案的基础上,所述时钟模块包括晶体振荡器和时钟产生器,晶体振荡器与时钟产生器相连,时钟产生器通过两线式串行总线I2C与FPGA模块相连;所述晶体振荡器用于为时钟产生器提供本地时钟,所述时钟产生器用于为FPGA提供工作时钟。
[0020]在上述技术方案的基础上,所述单盘管理控制模块还包括异步传输标准RS232接口和数据传输RJ45串口,BMU通过RS232接口与RJ45串口相连;BMU上设置有CPU子板、内存条、变压器和基于DOS的文件系统TFFS模块。
[0021]在上述技术方案的基础上,所述以太网交换模块还包括RJ45网口和4个变压器:第一变压器、第二变压器、第三变压器、第四变压器,所述以太网交换芯片通过第一变压器与BMU的I/O端口相连;以太网交换芯片通过第二变压器与RJ45网口相连,以太网交换芯片分别通过第三变压器、第四变压器与背板相连。
[0022]在上述技术方案的基础上,所述测试子架还包括电源盘和和风扇单元,电源盘与电源模块相连;所述电源盘用于为测试子架和自动化测试单元提供电源,所述风扇单元用于为测试子架、L3层线路盘散热降温。
[0023]本发明还提供一种基于上述设备的用于L3层线路盘的自动化测试方法,包括以下步骤:
[0024]步骤一、将所有需要测试的L3层线路盘与集成仪表相连,所有L3层线路盘通过光纤相互连接;通过网络管理平台的辅助测试软件设置集成仪表的测试参数;将所有需要测试的L3层线路盘插入测试板中,测试板告知辅助测试软件L3层线路盘的在位信息;
[0025]步骤二、电源模块为时钟模块、FPGA模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块供电;每块测试盘将对应的L3层线路盘的特征码上报至BMU,BMU根据当前收到的特征码确定当前L3层线路盘的类型后,启动与当前L3线路盘的类型对应的测试主线程;
[0026]步骤三、FPGA模块模拟低速信号,低速信号包括系统识别信号、告警总线信号、RCUOl盘的在位信号、以及交叉时钟S⑶01盘的主备控制信号;FPGA将在位信号和主备控制信号通过第一隔离芯片发送至背板,FPGA将系统识别信号通过第二隔离芯片发送至背板,FPGA将告警总线信号通过第三隔离芯片发送至背板;
[0027]背板根据收到的低速信号与当前L3层线路盘对应的低速信号,对当前L3层线路盘进行低速信号测试,若测试通过,在辅助测试软件的测试界面显示测试通过结果、并转到步骤四,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,转到步骤七;
[0028]步骤四、FPGA模块模拟S⑶01盘、并按照与开销总线格式对应的特定总线内容通过正转换芯片发送至当前L3层线路盘,FPGA模块通过逆转换芯片接收当前L3层线路盘返回的与当前特定总线内容对应的返回信息;FPGA模块根据发送的特定总线内容和接收的返回信息,对当前L3层线路盘进行开销总线测试,若测试通过,在测试界面显示测试通过结果,转动步骤五,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,转到步骤七;
[0029]步骤五、时钟模块模拟S⑶01通过背板为当前L3层线路盘提供需要的主备系统时钟;时钟模块接收当前L3层线路盘输出的系统时钟,时钟模块根据主备系统时钟和当前L3层线路盘输出的系统时钟,对当前L3层线路盘的系统时钟进行交互测试,若测试通过,在测试界面显示测试通过结果,转动步骤六,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,转到步骤七;
[0030]步骤六:BMU为当前L3层线路盘配置业务配置流,BMU将业务配置流通过以太网交换芯片下发至集成仪表,集成仪表根据当前业务配置流对当前L3层线路盘进行业务测试,BMU根据集成仪表返修的统计结果确定业务测试是否通过,若是,在测试界面显示测试通过结果,当前L3层线路盘全部测试通过,结束;否则在测试界面显示测试未通过结果,转到步骤七;
[0031]步骤七:确定当前L3层线路盘测试未通过,结束。
[0032]在上述技术方案的基础上,步骤一具体包括以下步骤:将所有需要测试的L3层线路盘距离集成仪表最近的光口与集成仪表相连,每块L3层线路盘其余的光口通过光纤相互连接;打开集成仪表,集成仪表正常开启后,打开辅助测试软件,辅助测试软件自动设置集成仪表的测试参数;将每块需要测试的L3层线路盘插入一块测试板中,每块测试板将对应的L3层线路盘的在位信息告知辅助测试软件,辅助测试软件的测试界面显示启动状态。
[0033]在上述技术方案的基础上,步骤四中所述FPGA模块根据发送的特定总线内容和接收的返回信息,对当前L3层线路盘进行开销总线测试包括以下步骤:FPGA模块判断特定总线内容与返回信息是否一致,若是,则测试通过,否则测试未通过。
[0034]在上述技术方案的基础上,步骤六中所述业务测试包括操作、管理和维护OAM测试、管理通信通道MCC测试和业务通数据收发测试。
[0035]在上述技术方案的基础上,步骤七具体包括以下步骤:确定当前L3层线路盘测试未通过,记录显示测试未通过结果的测试项,结束。
[0036]与现有技术相比,本发明的优点在于:
[0037](I)本发明的自动化测试单元能够实时自动监控需要测试的L3层线路盘的工作状态、并自动对L3层线路盘进行测试,自动化测试单元将测试结果通过测试界面显示。因此,本发明能够自动对L3层线路盘进行测试,避免人为判断造成的测试结果不一致,不仅能够降低α (将错误结果误报为正确结果)和β (将正确结果误报为错误结果)风险,提高测试结果的准确性,而且测试时间较短,测试效率较高。
[0038](2)与现有技术中需要2块RCUOl盘、4块S⑶01盘、2块电源盘、I块端子板、2块PDP和2个功能子架的测试平台相比,本发明的测试子架不需要RCUOl盘、S⑶01盘和TOP盘。因此,本发明的测试环境固化,占用的测试环境资源较少,不仅能够降低搭建成本,缩短了搭建过程,而且测试环境美观,符合企业倡导的绿色生产的理念,便于人们使用。
[0039](3)与现有技术中人工拔插光纤、切换主备S⑶01机盘和手动控制仪表收发包相t匕,本发明通过自动化测试单元自动对L3层线路盘进行测试,测试过程中不需要手动更换光纤和操作仪表收发包,不仅减少了不必要的重复人工劳动,简化了操作过程,而且能够避免因人工操作的不一致性得出的错误测试结果,保证测试结果的准确性。

【专利附图】

【附图说明】
[0040]图1为本发明实施例中用于L3层线路盘的自动化测试设备的结构框图;
[0041]图2为本发明实施例中自动化测试单元的结构框图。

【具体实施方式】
[0042]以下结合附图及实施例对本发明作进一步详细说明。
[0043]参见图1所示,本发明实施例中的用于L3层线路盘的自动化测试设备,包括测试子架、网络管理平台(计算机)和用于与L3层线路盘的光口连接的集成仪表;测试子架包括若干测试板,每块测试板均开有串口、网口和L3层线路盘安装槽,所有测试板通过各自的串口相互连接,任意一块测试板的网口与网络管理平台相连。
[0044]测试子架内部设置有自动化测试单元,参见图2所示,自动化测试单元包括电源模块、时钟模块、FPGA(Field — Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块和接口电路模块。时钟模块、FPGA模块、接口电路模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块均通过测试板的背板与电源模块相连。时钟模块、接口电路模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块均与FPGA模块相连;单盘管理控制模块与以太网交换模块相连。
[0045]时钟模块包括晶体振荡器和时钟产生器,晶体振荡器与时钟产生器相连,时钟产生器通过I2C(Inter — Integrated Circuit,两线式串行总线)与FPGA模块相连。
[0046]单盘管理控制模块包括BMU (扣板)、RS232接口(异步传输标准接口)和RJ45 (数据传输)串口,FPGA模块分别通过数据线、地址总线与BMU相连,BMU通过RS232接口与RJ45串口相连。BMU上设置有CPU子板、内存条、变压器、TFFS (True Flash File System,基于DOS的文件系统)模块和I/O端口(输入/输出端口)。
[0047]以太网交换模块包括以太网交换芯片、RJ45网口和4个变压器:第一变压器、第二变压器、第三变压器、第四变压器。BMU通过SPI (Serial Peripheral Interface,串行外设接口)与以太网交换芯片相连,以太网交换芯片还通过第一变压器与BMU的I/O端口相连。以太网交换芯片通过第二变压器与RJ45网口相连,以太网交换芯片分别通过第三变压器、第四变压器与背板相连。
[0048]接口电路模块包括正转换芯片、逆正转换芯片和3个隔离芯片:第一隔离芯片、第二隔离芯片和第三隔离芯片。FPGA模块分别通过正转换芯片、逆正转换芯片、第一隔离芯片、第二隔尚芯片、第三隔尚芯片与背板相连。
[0049]参见图1所示,本发明实施例中的测试子架还包括电源盘和和风扇单元,电源盘与电源模块相连。电源盘能够为整个设备(测试子架、自动化测试单元)提供电源;对L3层线路盘进行测试时,L3层线路盘正常工作的核心芯片温度能够在短时间内达到80?100°C,风扇单元能够为整个测试设备(测试子架、L3层线路盘)散热降温。
[0050]本发明实施例提供的基于上述设备的用于L3层线路盘的测试方法,包括以下步骤:
[0051]S1:将所有需要测试的L3层线路盘距离集成仪表最近的光口与集成仪表相连,每块L3层线路盘其余的光口通过光纤相互连接。
[0052]S2:通过网络管理平台的辅助测试软件设置集成仪表的测试参数:打开集成仪表,集成仪表正常开启后,打开辅助测试软件,辅助测试软件自动设置集成仪表的测试参数。
[0053]S3:将每块需要测试的L3层线路盘插入一块测试板中,每块测试板将对应的L3层线路盘的在位信息告知辅助测试软件,辅助测试软件的测试界面显示启动状态。
[0054]S4:对L3层线路盘进行测试,其测试过程如下:
[0055]S401:通过电源盘为电源模块供电,电源模块为时钟模块、FPGA模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块供电。每块测试盘将对应的L3层线路盘的特征码上报至BMU,BMU根据当前收到的特征码确定当前L3层线路盘的类型后,启动与当前L3线路盘的类型对应的测试主线程。
[0056]S402 =FPGA模块模拟低速信号,低速信号包括系统识别信号(例如NMUI/AS⑶I/SYS1/SYS2)、告警总线信号(例如TRALM总线/FALM1-3/L0C)、RCUOl盘(路由管理盘)的在位信号、以及S⑶01盘(交叉时钟盘)的主备控制信号(例如X⑶SELA/B/SWI/FCTRL1-9/NMUI/AS⑶I)。FPGA将RCUOl盘的在位信号和S⑶01盘的主备控制信号通过第一隔离芯片发送至背板;FPGA将系统识别信号通过第二隔离芯片发送至背板,FPGA将告警总线信号通过第三隔离芯片发送至背板。
[0057]S403:背板根据收到的低速信号与当前L3层线路盘对应的低速信号,对当前L3层线路盘进行低速信号测试,若测试通过,在辅助测试软件的测试界面显示测试通过结果(本实施例中测试通过结果为“0K”)、并转到步骤S404,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果(本实施例中测试未通过结果为“ERROR”),转到步骤S408。
[0058]S404 =FPGA模块模拟SCUOl盘、并按照与开销总线格式(例如APS/S1/PPSBUS总线输出)对应的特定总线内容通过正转换芯片发送至当前L3层线路盘,FPGA模块通过逆转换芯片接收当前L3层线路盘返回的与当前特定总线内容对应的返回信息。FPGA模块根据发送的特定总线内容和接收的返回信息,对当前L3层线路盘进行开销总线测试:FPGA模块判断特定总线内容与返回信息是否一致,若是,则测试通过,在测试界面显示“0K”,转动步骤S405 ;否则测试未通过,在测试界面显示“ERROR”,转到步骤S408。
[0059]S405:时钟模块模拟S⑶01通过背板为当前L3层线路盘提供需要的主备系统时钟SCKA/B:晶体振荡器为时钟产生器提供本地时钟,时钟产生器为FPGA提供工作时钟,FPGA内部进行时钟分频,送往L3层线路盘。时钟模块接收当前L3层线路盘输出的系统时钟,时钟模块根据SCKA/B和当前L3层线路盘输出的系统时钟,对当前L3层线路盘的系统时钟进行交互测试,若测试通过,在测试界面显示“0K”,转动步骤S406 ;若测试未通过,在测试界面显示“ERROR”,转到步骤S408。
[0060]S406:BMU为当前L3层线路盘配置业务配置流,BMU将业务配置流通过以太网交换芯片下发至集成仪表,集成仪表根据当前业务配置流对当前L3层线路盘进行业务测试:0AM(Operat1n Administrat1n and Maintenance,操作、管理和维护)测试、MCC(Management Communicat1n Channel,管理通信通道)测试、以及业务通数据收发测试,BMU根据集成仪表返修的统计结果确定业务测试是否通过,若是,在测试界面显示“0K”,转动步骤S407 ;否则在测试界面显示“ERROR”,转到步骤S408。
[0061]S407:确定当前L3层线路盘全部测试通过,与当前L3层线路盘对应的测试板显示当前L3层线路盘显示全部测试通过的标识(当前测试板的绿灯由闪烁变为常亮,红灯熄灭),结束。
[0062]S408:确定当前L3层线路盘测试未通过,与当前L3层线路盘对应的测试板显示当前L3层线路盘显示测试未通过的标识(当前测试板的绿灯熄灭,红灯常亮),记录显示“ERROR”的测试项,以便对当前L3层线路盘进行故障定位,结束。
[0063]本发明不局限于上述实施方式,对于本【技术领域】的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也视为本发明的保护范围之内。本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
【权利要求】
1.一种用于L3层线路盘的自动化测试设备,包括测试子架、网络管理平台和用于与网络层L3层线路盘的光口连接的集成仪表;其特征在于:所述测试子架包括若干测试板,每块测试板均开有串口、网口和L3层线路盘安装槽,所有测试板通过各自的串口相互连接,任意一块测试板的网口与网络管理平台相连; 所述测试子架内部设置有自动化测试单元,所述自动化测试单元包括电源模块、时钟模块、现场可编程门阵列FPGA模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块和接口电路模块;所述时钟模块、FPGA模块、接口电路模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块均通过测试板的背板与电源模块相连;所述时钟模块、接口电路模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块均与FPGA模块相连;所述单盘管理控制模块与以太网交换模块相连; 所述单盘管理控制模块包括扣板BMU,所述FPGA模块分别通过数据线、地址总线与BMU相连,所述BMU上设置有输入/输出端I/O端口 ;所述以太网交换模块包括以太网交换芯片;BMU与以太网交换芯片相连,以太网交换芯片与背板相连; 所述接口电路模块包括正转换芯片、逆正转换芯片和3个隔离芯片:第一隔离芯片、第二隔离芯片和第三隔离芯片;所述FPGA模块分别通过正转换芯片、逆正转换芯片、第一隔尚芯片、第二隔尚芯片、第三隔尚芯片与背板相连; 所述自动化测试设备对L3层线路盘进行测试时,将所有需要测试的L3层线路盘与集成仪表相连,所有L3层线路盘通过光纤相互连接;通过网络管理平台的辅助测试软件设置集成仪表的测试参数;将所有需要测试的L3层线路盘插入测试板中,测试板告知辅助测试软件L3层线路盘的在位信息; 电源模块为时钟模块、FPGA模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块供电;每块测试盘将对应的L3层线路盘的特征码上报至BMU,BMU根据当前收到的特征码确定当前L3层线路盘的类型后,启动与当前L3线路盘的类型对应的测试主线程; FPGA模块模拟低速信号,低速信号包括系统识别信号、告警总线信号、路由管理RCUOl盘的在位信号、以及交叉时钟S⑶01盘的主备控制信号;FPGA将在位信号和主备控制信号通过第一隔离芯片发送至背板,FPGA将系统识别信号通过第二隔离芯片发送至背板,FPGA将告警总线信号通过第三隔离芯片发送至背板; 背板根据收到的低速信号与当前L3层线路盘对应的低速信号,对当前L3层线路盘进行低速信号测试,若测试通过,在辅助测试软件的测试界面显示测试通过结果、对当前L3层线路盘进行开销总线测试,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,结束; 对当前L3层线路盘进行开销总线测试时,FPGA模块模拟SCUOl盘、并按照与开销总线格式对应的特定总线内容通过正转换芯片发送至当前L3层线路盘,FPGA模块通过逆转换芯片接收当前L3层线路盘返回的与当前特定总线内容对应的返回信息;FPGA模块根据发送的特定总线内容和接收的返回信息,对当前L3层线路盘进行开销总线测试,若测试通过,在测试界面显示测试通过结果,对当前L3层线路盘的系统时钟进行交互测试,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,结束; 对当前L3层线路盘的系统时钟进行交互测试时,时钟模块模拟SCUOl通过背板为当前L3层线路盘提供需要的主备系统时钟;时钟模块接收当前L3层线路盘输出的系统时钟,时钟模块根据主备系统时钟和当前L3层线路盘输出的系统时钟,对当前L3层线路盘的系统时钟进行交互测试,若测试通过,在测试界面显示测试通过结果,对当前L3层线路盘进行业务测试,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,结束; 对当前L3层线路盘进行业务测试时,BMU为当前L3层线路盘配置业务配置流,BMU将业务配置流通过以太网交换芯片下发至集成仪表,集成仪表根据当前业务配置流对当前L3层线路盘进行业务测试,BMU根据集成仪表返修的统计结果确定业务测试是否通过,若是,在测试界面显示测试通过结果,确定当前L3层线路盘全部测试通过,结束;否则在测试界面显示测试未通过结果,结束。
2.如权利要求1所述的用于L3层线路盘的自动化测试设备,其特征在于:所述时钟模块包括晶体振荡器和时钟产生器,晶体振荡器与时钟产生器相连,时钟产生器通过两线式串行总线I2C与FPGA模块相连;所述晶体振荡器用于为时钟产生器提供本地时钟,所述时钟产生器用于为FPGA提供工作时钟。
3.如权利要求1所述的用于L3层线路盘的自动化测试设备,其特征在于:所述单盘管理控制模块还包括异步传输标准RS232接口和数据传输RJ45串口,BMU通过RS232接口与RJ45串口相连;BMU上设置有CPU子板、内存条、变压器和基于DOS的文件系统TFFS模块。
4.如权利要求1所述的用于L3层线路盘的自动化测试设备,其特征在于:所述以太网交换模块还包括RJ45网口和4个变压器:第一变压器、第二变压器、第三变压器、第四变压器,所述以太网交换芯片通过第一变压器与BMU的I/O端口相连;以太网交换芯片通过第二变压器与RJ45网口相连,以太网交换芯片分别通过第三变压器、第四变压器与背板相连。
5.如权利要求1至4任一项所述的用于L3层线路盘的自动化测试设备,其特征在于:所述测试子架还包括电源盘和和风扇单元,电源盘与电源模块相连;所述电源盘用于为测试子架和自动化测试单元提供电源,所述风扇单元用于为测试子架、L3层线路盘散热降温。
6.一种基于权利要求1至5任一项所述设备的用于L3层线路盘的自动化测试方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一、将所有需要测试的L3层线路盘与集成仪表相连,所有L3层线路盘通过光纤相互连接;通过网络管理平台的辅助测试软件设置集成仪表的测试参数;将所有需要测试的L3层线路盘插入测试板中,测试板告知辅助测试软件L3层线路盘的在位信息; 步骤二、电源模块为时钟模块、FPGA模块、单盘管理控制模块、以太网交换模块供电;每块测试盘将对应的L3层线路盘的特征码上报至BMU,BMU根据当前收到的特征码确定当前L3层线路盘的类型后,启动与当前L3线路盘的类型对应的测试主线程; 步骤三、FPGA模块模拟低速信号,低速信号包括系统识别信号、告警总线信号、RCUOl盘的在位信号、以及交叉时钟S⑶01盘的主备控制信号;FPGA将在位信号和主备控制信号通过第一隔离芯片发送至背板,FPGA将系统识别信号通过第二隔离芯片发送至背板,FPGA将告警总线信号通过第三隔离芯片发送至背板; 背板根据收到的低速信号与当前L3层线路盘对应的低速信号,对当前L3层线路盘进行低速信号测试,若测试通过,在辅助测试软件的测试界面显示测试通过结果、并转到步骤四,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,转到步骤七; 步骤四、FPGA模块模拟SCUOl盘、并按照与开销总线格式对应的特定总线内容通过正转换芯片发送至当前L3层线路盘,FPGA模块通过逆转换芯片接收当前L3层线路盘返回的与当前特定总线内容对应的返回信息;FPGA模块根据发送的特定总线内容和接收的返回信息,对当前L3层线路盘进行开销总线测试,若测试通过,在测试界面显示测试通过结果,转动步骤五,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,转到步骤七; 步骤五、时钟模块模拟SCUOl通过背板为当前L3层线路盘提供需要的主备系统时钟;时钟模块接收当前L3层线路盘输出的系统时钟,时钟模块根据主备系统时钟和当前L3层线路盘输出的系统时钟,对当前L3层线路盘的系统时钟进行交互测试,若测试通过,在测试界面显示测试通过结果,转动步骤六,若测试未通过,在测试界面显示测试未通过结果,转到步骤七; 步骤六:BMU为当前L3层线路盘配置业务配置流,BMU将业务配置流通过以太网交换芯片下发至集成仪表,集成仪表根据当前业务配置流对当前L3层线路盘进行业务测试,BMU根据集成仪表返修的统计结果确定业务测试是否通过,若是,在测试界面显示测试通过结果,当前L3层线路盘全部测试通过,结束;否则在测试界面显示测试未通过结果,转到步骤七; 步骤七:确定当前L3层线路盘测试未通过,结束。
7.如权利要求6所述的用于L3层线路盘的自动化测试方法,其特征在于,步骤一具体包括以下步骤:将所有需要测试的L3层线路盘距离集成仪表最近的光口与集成仪表相连,每块L3层线路盘其余的光口通过光纤相互连接;打开集成仪表,集成仪表正常开启后,打开辅助测试软件,辅助测试软件自动设置集成仪表的测试参数;将每块需要测试的L3层线路盘插入一块测试板中,每块测试板将对应的L3层线路盘的在位信息告知辅助测试软件,辅助测试软件的测试界面显示启动状态。
8.如权利要求6所述的用于L3层线路盘的自动化测试方法,其特征在于:步骤四中所述FPGA模块根据发送的特定总线内容和接收的返回信息,对当前L3层线路盘进行开销总线测试包括以下步骤=FPGA模块判断特定总线内容与返回信息是否一致,若是,则测试通过,否则测试未通过。
9.如权利要求6所述的用于L3层线路盘的自动化测试方法,其特征在于:步骤六中所述业务测试包括操作、管理和维护OAM测试、管理通信通道MCC测试和业务通数据收发测试。
10.如权利要求6至9任一项所述的用于L3层线路盘的自动化测试方法,其特征在于,步骤七具体包括以下步骤:确定当前L3层线路盘测试未通过,记录显示测试未通过结果的测试项,结束。
【文档编号】H04L12/26GK104253720SQ201410462422
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2014年9月11日 优先权日:2014年9月11日
【发明者】王翠英, 罗民富 申请人:烽火通信科技股份有限公司
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