一种pon子卡测试方法
【专利摘要】本发明涉及通信领域，尤其涉及一种PON子卡测试方法，包括以下步骤：首先向测试治具下发上电指令，控制治具对应的开关插口上电，从而使测试产品上电，开始启动，同时开始计时；当上电时间等于启动时间时，向测试产品下发PING指令，判断产品是否正常启动完成，若产品PING通正常，则进行下一步测试，否则判定产品不良，退出测试。本发明通过开关治具来进行测试，既能迅速验证出产品上电不良的故障，又能最大限度的节省测试时间和使用电能，避免了资源的浪费，而且测试完成后可以自动断电，避免产线员工测试时热插拔产品，造成产品故障。
【专利说明】一种PON子卡测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及通信领域，尤其涉及一种PON子卡测试方法。
【背景技术】
[0002]随着社会的发展，工人的最低工资水平不断提高，社会竞争不断加剧，对生产型企业带来巨大挑战，如何最大限度的控制生产成本是每一个企业都要面临的问题，同时社会上推行的节能减排意识不断深化，作为社会的一份子，企业更是担负着节能的重任。
[0003]通信产品中的PON子卡在测试时，产品从通电到系统完全启动需要一定的时间，也就是我们平时说的启动时间，每一种产品都有固定的启动时间，如果超过启动时间产品还没有启动成功的话，则说明产品发生了故障，需要进行修复。而对于通信产品，一般都有固定IP，产线对于产品是否启动成功的判断依据就是PING产品的IP，如果可以正常PING通，则说明产品启动完成，反之启动失败。因此我们可以通过控制启动时间，当上电时间超过启动时间后，通过PING设备来判断设备是否良品，减少不必要的测试，提供测试效率，节约能源。
[0004]但是目前通信产品中，PON子卡一般不支持热插拔，而当测试结束后，员工有时容易疏忽在没有断电的情况下拔去产品，造成产品损坏。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种PON子卡测试方法，解决了目前对PON子卡的测试过程中容易出现热拔插的情况，导致产品损坏的问题。
[0006]为解决上述问题，本发明所采取的技术方案是:
[0007]一种PON子卡测试方法，包括以下步骤:
[0008]步骤一，首先向测试治具下发上电指令，控制治具对应的开关插口上电，从而使测试产品上电，开始启动，同时开始计时；
[0009]步骤二，当上电时间等于启动时间时，向测试产品下发PING指令，判断产品是否正常启动完成，若产品PING通正常，则进行下一步测试，否则判定产品不良，退出测试。
[0010]更进一步的技术方案是，所述测试治具是嵌入式单片机，通过单片机上的GP1端口来控制电源开关，从而实现控制测试产品的上电与断电。
[0011 ] 更进一步的技术方案是，所述测试治具上的GP1端口至少连接有两个寄存器，分别为用于控制的一个做控制用的通用I/o端口控制寄存器，一个为用于存放数据的通用I/O端口数据寄存器，其中所述通用I/O端口控制寄存器和GP1的硬件引脚对应连接，所述通用I/o端口控制寄存器控制数据传递方向，通过控制引脚输出高低电平来实现开关的断开。
[0012]采用上述技术方案所产生的有益效果在于:
[0013]本发明通过开关治具来进行测试，既能迅速验证出产品上电不良的故障，又能最大限度的节省测试时间和使用电能，避免了资源的浪费，而且测试完成后可以自动断电，避免产线员工测试时热插拔产品，造成产品故障。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1是本发明一种PON子卡测试方法一个实施例的流程示意图。
【具体实施方式】
[0015]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0016]图1示出了本发明一种PON子卡测试方法的一个实施例:一种PON子卡测试方法，包括以下步骤:
[0017]步骤一，首先向测试治具下发上电指令，控制治具对应的开关插口上电，从而使测试产品上电，开始启动，同时开始计时；
[0018]步骤二，当上电时间等于启动时间时，向测试产品下发PING指令，判断产品是否正常启动完成，若产品PING通正常，则进行下一步测试，否则判定产品不良，退出测试。
[0019]根据本发明一种PON子卡测试方法的一个优选实施例，所述所述测试治具是嵌入式单片机，通过单片机上的GP1端口来控制电源开关，从而实现控制测试产品的上电与断电。
[0020]根据本发明一种PON子卡测试方法的另一个优选实施例，所述测试治具上的GP1端口至少连接有两个寄存器，分别为用于控制的一个做控制用的通用I/O端口控制寄存器，一个为用于存放数据的通用I/o端口数据寄存器，其中所述通用I/O端口控制寄存器和GP1的硬件引脚对应连接，所述通用I/O端口控制寄存器控制数据传递方向，通过控制引脚输出高低电平来实现开关的断开。
[0021]尽管这里参照本发明的多个解释性实施例对本发明进行了描述，但是，应该理解，本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式，这些修改和实施方式将落在本申请公开的原则范围和精神之内。更具体地说，在本申请公开、附图和权利要求的范围内，可以对主题组合布局的组成部件和/或布局进行多种变型和改进。除了对组成部件和/或布局进行的变形和改进外，对于本领域技术人员来说，其他的用途也将是明显的。
【权利要求】
1.一种PON子卡测试方法，其特征在于包括以下步骤: 步骤一，首先向测试治具下发上电指令，控制治具对应的开关插口上电，从而使测试产品上电，开始启动，同时开始计时； 步骤二，当上电时间等于启动时间时，向测试产品下发PING指令，判断产品是否正常启动完成，若产品PING通正常，则进行下一步测试，否则判定产品不良，退出测试。
2.根据权利要求1所述的一种PON子卡测试方法，其特征在于:所述测试治具是嵌入式单片机，通过单片机上的GP1端口来控制电源开关，从而实现控制测试产品的上电与断电。
3.根据权利要求2所述的一种PON子卡测试方法，其特征在于:所述测试治具上的GP1端口至少连接有两个寄存器，分别为用于控制的一个做控制用的通用I/O端口控制寄存器，一个为用于存放数据的通用I/O端口数据寄存器，其中所述通用I/O端口控制寄存器和GP1的硬件引脚对应连接，所述通用I/O端口控制寄存器控制数据传递方向，通过控制引脚输出高低电平来实现开关的断开。
【文档编号】H04L12/26GK104202217SQ201410462345
【公开日】2014年12月10日 申请日期:2014年9月12日 优先权日:2014年9月12日
【发明者】孙金超, 徐乐根, 黄亮 申请人:太仓市同维电子有限公司