用于捕获并且使得能够分析来自射频数据包信号收发器的测试数据包的系统和方法与流程

本发明涉及测试射频(RF)数据包信号收发器受测装置(DUT)，并且具体而言，涉及在DUT继续传输另外的数据包时，在侦测到所接收信号特性改变后，使得能够分析先前接收以及捕获的测试数据包。

许多现今的电子装置使用无线技术用于连接性和通信两种目的。因为无线装置传输以及接收电磁能量，并且因为两个或更多个无线装置可能因其信号频率和功率频谱密度而干扰彼此的运作，这些装置及其无线技术必须遵循各种无线技术标准规格。

在设计此类无线装置时，工程师附加注意要确保此类装置会符合或优于根据其所包括的无线技术所规定标准的每一项规格。此外，当这些装置之后进入量产时，其会经过测试以确保制造缺陷不会导致不适当的运作，此测试也包括是否遵循所包括的基于无线技术标准的规格。

为了在制造和装配之后测试这些装置，目前无线装置测试系统采用子系统以分析从各装置接收的信号。此类子系统一般包括用于提供待传输至待测装置的来源信号的诸如向量信号产生器(VSG)的至少RF数据包信号发射器、以及用于接收并分析DUT所产生信号的诸如向量信号分析器(VSA)的RF数据包信号接收器。VSG对于测试信号的产生以及VSA所执行的信号分析通常是可编程的，以便允许将各自都用于测试各种装置是否遵循各种具有不同频率范围、带宽、以及信号调变特性的无线技术标准。

当测试此类装置时，通常使用触发来发起后续测试事件的动作。例如，在传送测试包(例如，由DUT传送至测试器)前，触发将警示测试器准备进行传送。然而，此必然需要测试器及时地预先知道何时应捕获所传输的序列数据包中的一个或多个部分，以及何时应发起测试(例如，分析)所捕获的数据包。半导体集成电路(IC)在所传送的序列测试数据包中间穿插非确定性自我校准的倾向，使此做法更加复杂。捕获和分析此类事件(例如，数序列的自我校准数据包)很少或未提供有价值的测试数据并且通常是测试错误报告的原因。

触发通常是响应于一个或多个信号特性的改变而发生，其后接着对后续事件采取行动。此意谓受测装置或系统必须知道何时为应该响应且开始捕获包的正确时间。在许多芯片组中，会采用某种程度的非确定性自我校准，这可能会错误地被认为是一个其中适当响应是开始捕获包的事件。因此，需要侦测这些间隔的自我校准，并且一旦已完成自我校准，即接着开始处理(例如，捕获或计数)包。

技术实现要素：

根据所主张的本发明，提供一种用于捕获并且使得能够分析来自射频(RF)数据包信号发射器受测装置(DUT)的一个或多个测试数据包的系统和方法。从所接收的RF数据包信号最近捕获的数据包被保留，以用于在确认所捕获的数据包括潜在有效测试数据包后进行分析。此类确认是通过确认而实现的。

根据所主张的本发明的实施方案，一种用于捕获并且使得能够分析来自射频(RF)数据包信号发射器受测装置(DUT)的多个测试数据包的系统包括：

数据包捕获电路系统，其响应于接收到RF数据包信号而捕获多个第一数据包中的至少一个数据包并且确立(assert)触发信号，该RF数据包信号包括具有该多个第一数据包的至少一个数据包序列，该多个第一数据包具有通过各自第一包间间隔来互相分开的各自第一包持续时间，该触发信号是在下列情况中确立的：

所述多个第一数据包包括由至少所述第一包持续时间和包间间隔限定的重复的第一数据包模式，以及

所述RF数据包信号进一步包括，在所述多个第一数据包之后，

不同于所述第一包间间隔并且不具有数据包的时间间隔，或

多个第二数据包，所述多个第二数据包具有通过各自第二包间间隔互相分开的各自第二包持续时间，其中所述第二包持续时间和包间间隔限定第二数据包模式，所述第二数据包模式不同于所述第一数据包模式；和

数据包分析电路系统，其耦接至该数据包捕获电路系统，并且响应于所述经确立的触发信号而分析所述多个第一数据包中的所述经捕获的至少一个数据包。

根据所主张的本发明的另一实施方案，一种用于捕获并且使得能够分析来自射频(RF)数据包信号发射器受测装置(DUT)的多个测试数据包的方法包括：

响应于RF数据包信号的接收而捕获多个第一数据包中的至少一个数据包并且确立触发信号，所述RF数据包信号包括具有所述多个第一数据包的至少一个数据包序列，所述多个第一数据包具有通过各自第一包间间隔来互相分开的各自第一包持续时间，所述触发信号是在下列情况中确立的：

所述多个第一数据包包括由至少所述第一包持续时间和包间间隔限定的重复的第一数据包模式，以及

所述RF数据包信号进一步包括，在所述多个第一数据包之后，

不同于所述第一包间间隔并且不具有数据包的时间间隔，或

多个第二数据包，所述多个第二数据包具有通过各自第二包间间隔来互相分开的各自第二包持续时间，其中所述第二包持续时间和包间间隔限定第二数据包模式，所述第二数据包模式不同于所述第一数据包模式；及

响应于所述经确立的触发信号而分析所述多个第一数据包中的所述经捕获的至少一个数据包。

附图说明

图1描绘用于RF数据包信号收发器的典型测试环境。

图2描绘由DUT传输用于根据所主张本发明的示例性实施方案的测试器分析的示例性数序列的循序数据包。

图3描绘根据所主张本发明的示例性实施方案的测试流程。

图4描绘用于在根据所主张本发明的示例性实施方案的测试器内实施的数据包捕获和分析电路系统的示例性实施方案。

图5描绘用于在根据所主张本发明的示例性实施方案的测试器内实施的数据包捕获电路系统的另一示例性实施方案。

图6描绘用于在根据所主张本发明的示例性实施方案的测试器内实施的数据包分析电路系统的另一示例性实施方案。

具体实施方式

下列详细说明参照附图的所主张本发明的示例性实施方案。这些说明意欲为说明性的而非限制本发明的范围。此类实施方案以足够细节被说明使得本领域的普通技术人员得以实施本发明，并且应理解，在不脱离本发明的实质或范围的情况下，可以某些改变来实施其他实施方案。

在本公开各处，如无相反于本文的明确指示，可理解所描述的个别电路元件在数目上可为单数或复数。例如，术语“电路”和“电路系统”可包括单个或多个部件，可为有源和/或无源的，并且经连接或以其他方式耦接在一起(例如，作为一个或多个集成电路芯片)以提供所述的功能。另外，术语“信号”可指一个或多个电流、一个或多个电压或数据信号。在说明书附图中，类似的或相关的元件会有类似的或相关的字母、数字或字母数字混合标志符。此外，尽管本发明是在使用离散电子电路系统(优选的是以一个或多个集成电路芯片的形式)进行实施的情境中进行讨论，但取决于待处理的信号频率或数据率，仍可替代地使用一个或多个经适当编程的处理器来实施此类电路系统的任何部分的功能。此外，如果说明书附图示出各种实施方案的功能框图，此类功能框不一定表示硬件电路系统之间的区分。

当DUT正利用测试器进行TX测试时(在此期间，测试器接收和捕获来自DUT的数据包以用于分析)，DUT将发送一个测试包或序列测试包至测试器。通常，测试器需要知道何时应进行适用于测试的包的传输，且在该传输前会有一触发(例如，来自DUT或另一来源，诸如外部控制器)，因而预备好该测试器以捕获后续的包序列。如下文的更详细论述，根据所主张本发明的示例性实施方案，触发是发生在包串行传输后，而非发生在包串行传输前，并且触发的发生取决于系统已知所传输数据包信号的特性(例如，一种或多种模式)。此做法的优点是能避免可发生在包序列一开始时的误侦测，该误侦测之后的后续包捕获及其他包处理会变成有时间偏差。例如，如果在接近包序列一开始时发起并执行自我校准程序，可能会传输非确定性数目个包，因此难以识别待捕获或处理的所需包。替代地或此外，包序列的标称功率电平可能尚未稳定，因此难以在波动的包功率电平中捕获所需包。然而，根据所主张的本发明，可有利地使用包序列的结尾(其经清楚限定且不取决于发起包序列条件)来触发包捕获和处理。

如下文的更详细论述，根据所主张本发明的示例性实施方案，为了使测试器能够避免捕获非测试相关的事件(诸如自我校准)，并且避免捕获具有过度可变功率电平的包，使用触发来提示测试器捕获并分析过去事件，而非未来事件。传入测试包被捕获且保留在存储器中，使得在任何时刻都将有先前已发送且暂时存储于该存储器中的某数目个最新近包。存储器充当缓冲器，以实际上提供先前已发送数目个包的移动窗口(rolling window)，该数目由所选用存储器容量决定。

参考图1，根据所主张本发明的示例性实施方案，测试环境10包括测试器12(例如，包括VSG和VSA，如上文所论述)、DUT 14和控制器18，其全部如图所示实质上互连。控制器18经由控制器18与DUT 14之间的控制信号接口19a以及控制器18与测试器12之间的控制信号接口19b交换测试命令和数据。控制器18可在测试器12和DUT14外部并且与其分开，如此处所描绘，或替代地，控制器18可部分或全部包括在测试器12内。

测试器12与DUT 14之间的测试信号接口16一般为传导信号路径(诸如RF同轴缆线)和连接器17a、17b，或替代地为无线信号路径16而充当与测试器12和DUT 14相关联的天线17a、17b之间的通信介质。根据熟知原理，此信号路径16用来传输源自测试器12和DUT 14的数据包信号13、15。

参考图2，在DUT 14的传输(TX)信号测试期间，通过DUT 14传输多个循序数据包序列201、202、204、206、207、…作为TX信号15，用于测试器12接收和分析。这些数据包序列通常包括自我校准序列201、206和测试数据包序列202、204、207，并且包括具有通过各自包间间隔19来互相分开的各自包持续时间的包。这些包序列201、202、204、206、207、…通过序列间间隔17、203、205、21、208、…而进一步互相分开。测试数据包序列202、204、207可处于相同的频率(或信道)或处于不同频率。自我校准序列201、206可发生在各种信号事件后，包括但不限于预定数目个TX数据包的传输、TX信号频率或功率改变，或定时事件。

如此处对于此示例性序列的数据包所描绘，在此系列循序数据包序列内的某处，发起自我校准，由此引入自我校准数据包传输201，之后，在序列间间隔17后，传输测试数据包序列202、204(其由另一序列间间隔203分开)。如图所示，自我校准数据包序列包括具有变动的信号特性(诸如信号功率电平和数据速率)的数据包传输，并且如本领域技术人员所了解，此类数据包传输不以其他方式与由特定DUT14所预期接收的数据包一致或相关联，以确保正确数据接收的目的。

如图所示，在新作用中的信号发射器电路系统稳定化期间，这些测试数据包序列202、204内的测试数据包(其接在其先前序列间间隔17、203(在这些间隔期间信号发射器电路系统为闲置，例如，关闭)之后)最初具有变动的信号功率电平，其后，数据包信号电平稳定于所需的标称信号功率电平。这些测试数据包序列202、204中的一者或两者的重复的包持续时间和包间间隔共同限定数据包模式。

在另一序列间时间间隔205后，DUT 14芯片组可发起和传输另一自我校准数据包序列206，其包括不同包持续时间和/或包间间隔，由此限定另一数据包模式，其不同于由先前测试数据包序列202、204所限定的模式。此外，自我校准数据包序列206不具有包持续时间和包间间隔的重复模式。这些先前与后续(例如，相邻)数据包模式之间的此差异充当触发事件。因此，触发先前序列202、204的测试数据包中的一者或多者的捕获和分析。

此自我校准数据包序列206后续接着另一序列间间隔21，再来是下一测试数据包序列207。然而，由于自我校准数据包序列206并不具有包持续时间和包间间隔的重复模式，所以不比较下一测试数据包序列207的数据包模式与自我校准数据包模式，以用于判定是否应触发任何数据包的捕获和分析的目的。

接下来，在下一数据包序列207(其包括重复包持续时间和包间间隔)和后续时间间隔208后，监测后续数据包模式以判定是否以及何时进一步触发事件发生，由此发起接在彼等之前的此序列207的一个或多个先前测试数据包的捕获和分析。

参考图3，如图所示进行根据所主张本发明的示例性实施方案的测试流程40。在侦测到TX数据包信号的发起42后，监测信号以侦测重复的数据包模式44，该模式可基于各种信号特性而限定，此类信号特性包括但不限于数据包持续时间、包间间隔或包功率电平。如果未侦测到重复的数据包模式43(例如，如上文所述)，则继续此监测44直到侦测到重复数据包模式的时间(或已超过超时时间间隔)。

如果侦测到重复的数据包模式45，则启用传入数据包的捕获46。随着传入数据包被捕获，继续监测传入数据包是否有重复的数据包模式48。只要继续侦测到重复的数据包模式47，此监测就继续进行。当不再侦测到重复的数据包模式49时，预定数目N个最新近捕获的数据包被识别且传输至适当资源或以其他方式使其可由适当资源存取以用于分析50。如果测试被视为完成53，此测试流程即结束。如果测试未视为完成51，则重复此测试流程40。

因此，最终在以下两个事件的任一者后，发起预定数目个最新近捕获的数据包的分析：(1)接收一个或多个重复的数据包模式，其后续接着的时间间隔不同于(例如，长于)先前包间间隔且在此时间间隔期间未接收到数据包；或(2)接收不同于先前重复的数据包模式的数据包模式(例如，数据包模式具有不同数据包持续时间、不同包间间隔或不同包功率电平中的一者或多者)。

参考图4，用于如上文所论述捕获及分析测试数据包的电路系统100可共置在测试器12内，或替代地，根据熟知技术，可部分定位在测试器12内且部分定位在其他处(例如，数据包捕获电路系统102定位在测试器12内，而分析电路系统104定位在其他处且可经由网络通信存取)。如上文所论述，在数据包捕获电路系统102内捕获测试数据包序列15。在触发发生后，如上文所论述，通过分析电路系统104分析指定数据包103以产生测试结果105。

参考图5，根据示例性实施方案，捕获电路系统102可实施为接收电路系统122，其能够提供数据包序列15的任何必要信号转换(例如，信号降频转换、模拟转数字信号转换等)，以提供数字信号数据123a以用于存储于存储器电路系统124中。还通过侦测电路系统126来监测此数字信号数据123b，以识别触发事件的发生(如上文所论述)。在通过侦测电路系统126侦测到触发事件后，提供一个或多个控制信号103b给分析电路系统104(图3)，响应于此，分析电路系统104将存取预定数目个测试数据包103a以用于分析。

替代地，通过侦测电路系统126监测所存储数据127a，以侦测触发事件的发生(如上文所论述)。响应于触发事件，侦测电路系统126提供一个或多个控制信号127b至存储器电路系统124，以提供预定数目个数据包103a，用于分析电路系统104进行处理。替代地，侦测电路系统126可提供一个或多个控制信号103b至分析电路系统104，指出已识别触发事件，响应于此，分析电路系统104可提供一个或多个控制信号125至存储器电路系统124，以存取所需数目个测试数据包103a。

参考图6，根据进一步示例性实施方案，可实施分析电路系统104以包括存储器电路系统142、侦测电路系统144和处理电路系统146。可实施捕获电路系统102(图3)以提供数据包序列15的任何必要转换(例如，信号降频转换、模拟转数字信号转换等)，以提供数字信号数据103以用于存储于存储器电路系统142中。通过侦测电路系统144监测此数字数据145a，以侦测触发事件的发生(如上文所论述)。响应于触发事件，侦测电路系统144提供一个或多个控制信号145b至存储器电路系统142，以提供预定数目个数据包143用于处理电路系统146处理。替代地，侦测电路系统144可提供一个或多个控制信号145c至处理电路系统146，指出已识别触发事件，响应于此，处理电路系统146可提供一个或多个控制信号147至存储器电路系统142，以存取所需数目个测试数据包143。

本发明的结构和操作方法的各种其他修改形式和替代形式在不背离本发明的实质与范围的情况下，对本领域技术人员而言是显而易见的。尽管已通过特定优选实施方案说明本发明，应理解所主张的本发明不应过度地受限于这些特定实施方案。我们意欲以下列权利要求书限定本发明的范围且意欲从而涵盖这些权利要求书的范围内的结构与方法以及其等同形式。