检测电路的制作方法

本实用新型涉及电子技术领域，具体地，涉及一种检测电路。

背景技术：

发射系统是一种可以将信号按一定频率发射出去的装置，其广泛应用于电视、广播、雷达等各种民用和军用设备。发射系统通常由电源模块和与电源模块依次连接的电源管理模块、驱动放大器和功率放大器构成，其中，组成功率放大器的射频功率管是发射系统的核心器件。

由于射频功率管价格昂贵且较脆弱，功率放大器的壳体温度过高、驱动放大器的输出电压过压、功率放大器的射频输入欠激励或者输出失配等等都会导致射频功率管失效，因此需要对发射系统的各种故障进行检测和判定，快速定位找出射频功率管的失效原因，以便技术人员及时解决对故障进行维修，有效保护发射功率管的安全。

随着科技的发展，越来越多机内检测(Built-in Test，BIT)技术应用于发射系统中。相关技术中的机内检测技术只能实现对单项故障的检测，因而可能会出现系统隐藏故障误漏检、漏检、故障判定困难等。

技术实现要素：

为了实现上述目的，本实用新型提供一种检测电路，应用于发射系统，所述发射系统包括驱动放大器、与所述驱动放大器连接的功率放大器以及与所述功率放大器连接的温度传感器，其特征在于，所述检测电路包括：

温度检测模块，与所述温度传感器连接，用于在所述温度传感器采集到的所述功率放大器的壳体温度超过预设温度阈值时输出过温信号；

末级电压检测模块，与所述驱动放大器的输出端连接，用于获取所述驱动放大器的输出电压，在所述驱动放大器的输出电压超过第一预设电压阈值时输出末级过压信号；

第一逻辑处理模块，分别与所述温度检测模块和所述末级电压检测模块连接，用于在接收到所述过温信号和/或所述末级过压信号时输出第一故障指示信号。

可选地，所述发射系统还包括电源模块以及分别与所述电源模块和所述驱动放大器连接的电源管理模块，其特征在于，所述检测电路还包括：

记忆存储模块，与所述第一逻辑处理模块连接，用于将所述第一逻辑处理模块接收到的所述过温信号和/或所述末级过压信号存储后输出一控制信号至所述电源管理模块，所述控制信号用于指示所述电源管理模块将所述电源模块与所述驱动放大器之间的通路断开。

可选地，所述检测电路还包括：

前级电压检测模块，与所述驱动放大器的输入端连接，用于获取所述驱动放大器的输入电压，在所述驱动放大器的输入电压小于第二预设电压阈值时输出前级欠压信号，以及在所述驱动放大器的输入电压大于第三预设电压阈值时输出前级过压信号；

第二逻辑处理模块，与所述前级电压检测模块和所述末级电压检测模块连接，用于在接收到所述前级欠压信号、所述前级过压信号和所述末级过压信号中的一者或多者时，输出电压故障指示信号。

可选地，所述检测电路还包括：

功率检测模块，分别与所述功率放大器的输入端和输出端连接，用于获取所述功率放大器的耦合输入射频信号的功率和耦合输出射频信号的功率，在所述耦合输入射频信号的功率小于第一预设功率阈值时输出射频输入异常信号，以及在所述耦合输出射频信号的功率小于第二预设功率阈值时输出射频输出异常信号；

第三逻辑处理模块，与所述功率检测模块连接，用于在接收到所述射频输出异常信号时输出射频输出故障指示信号。

可选地，所述检测电路还包括：

第四逻辑处理模块，分别与所述第一逻辑处理模块、所述第二逻辑处理模块和所述功率检测模块连接，用于在接收到所述电压故障指示信号、所述射频输入异常信号和所述射频输出异常信号中的一者且所述第一逻辑处理模块未输出所述第一故障指示信号时输出总故障指示信号。

可选地，所述第一逻辑处理模块包括：二极管V1、二极管V3、驱动器D4E、驱动器D4F和光电耦合器S3；

所述二极管V1的正极与所述温度检测模块连接，所述二极管V1的负极分别与所述驱动器D4E的输入端和所述二极管V3的负极连接；

所述二极管V3的正极与所述末级电压检测模块连接；

所述驱动器D4E的输出端分别与所述驱动器D4F的输入端和所述光电耦合器S3的输入端连接。

可选地，所述记忆存储模块包括：非门D2B、触发器D3、二极管V2和驱动器D4G；

所述非门D2B的输入端分别与所述二极管V1的负极和所述二极管V3的负极连接，所述非门D2B的输出端与所述触发器D3的第一输入端连接；

所述触发器D3的输出端分别与所述二极管V2的正极和所述驱动器D4G的输入端连接；

所述二极管V2的负极与所述驱动器D4E的输入端连接。

可选地，所述记忆存储模块包括：非门D2B、触发器D3、二极管V2和驱动器D4G；

所述非门D2B的输入端分别与所述二极管V1的负极和所述二极管V3的负极连接，所述非门D2B的输出端与所述触发器D3的第一输入端连接；

所述触发器D3的输出端分别与所述二极管V2的正极和所述驱动器D4G的输入端连接；

所述二极管V2的负极与所述驱动器D4E的输入端连接。

可选地，所述第三逻辑处理模块包括：驱动器D4B、驱动器D4D和光电耦合器S2；

所述驱动器D4B的输入端与所述功率检测模块连接，所述驱动器D4B的输出端分别与所述驱动器D4D的输入端和所述光电耦合器S2的输入端连接。

可选地，所述第四逻辑处理模块包括：驱动器D4A、异或门D5、与门D6D和二极管V8；

所述驱动器D4A的输入端与所述功率检测模块连接，所述驱动器D4A的输出端与所述异或门D5的第一输入端连接；

所述异或门D5的第二输入端与所述驱动器D4B的输出端连接；

所述与门D6D的第一输入端与所述异或门D5的输出端连接，所述与门D6D的第二输入端与所述与门D2E的输出端连接，所述与门D6D的输出端与所述二极管V8的正极连接；

所述二极管V8的负极与所述驱动器D4E的输入端连接。

通过本实用新型实施例的技术方案，将功率发射器的壳体温度和驱动放大器的输出电压两项故障检测进行有效地组合，提高了发射系统故障检测的准确率和效率。

本实用新型的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本实用新型，但并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1是根据一示例性实施例输出的一种用于发射系统的检测电路的结构示意图；

图2是根据另一示例性实施例输出的一种用于发射系统的检测电路的结构示意图；

图3是根据一示例性实施例示出的一种检测电路的电路原理图；

图4是根据另一示例性实施例示出的一种检测电路的电路原理图；

图5是根据另一示例性实施例示出的一种检测电路的电路原理图；

图6a和图6b是根据一示例性实施例示出的一种功率检测模块的电路原理图；

图7是根据一示例性实施例示出的一种电压处理电路的原理图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限制本实用新型。

图1是根据一示例性实施例示出的一种用于发射系统的检测电路的结构示意图。如图1所示，发射系统包括驱动放大器140、功率放大器150和温度传感器160。其中，驱动放大器140在输入电压的作用下驱动功率放大器150工作；温度传感器160与功率放大器150连接，可以采集功率放大器150的壳体温度并将壳体温度转化为相应的温度电压信号。

参见图1，检测电路110包括：温度检测模块111、末级电压检测模块112和第一逻辑处理模块113。

温度检测模块111与温度传感器160连接，用于在温度传感器160采集到的功率放大器150的壳体温度超过预设温度阈值时输出过温信号。

末级电压检测模块112与驱动放大器140的输出端连接，用于获取驱动放大器140的输出电压，在驱动放大器140的输出电压超过第一预设电压阈值时输出末级过压信号。

第一逻辑处理模块113分别与温度检测模块111和末级电压检测模块112连接，用于在接收到过温信号和/或末级过压信号时输出第一故障指示信号。该第一故障指示信号可以输出到发射系统的预设功能模块(如发射系统中的监控模块)，以指示发射系统的预设功能模块发出第一故障报警信息，第一故障报警信息的形式可以例如包括声音、灯光或者两者的组合形式，以提示技术人员注意当前驱动放大器的输出电压过压或者功率放大器的壳体温度过高。

在另一个实施例中，如图2所示，发射系统还包括电源模块120以及分别与电源模块120和驱动放大器140连接的电源管理模块130，电源模块120输出的电压经电源管理模块130处理后为驱动放大器140和检测电路110供电。检测电路110还包括：记忆存储模块114。其中，记忆存储模块114与第一逻辑处理模块113连接。

在第一逻辑处理模块113接收到过温信号和/或末级过压信号时，将过温信号和/或末级过压信号存储，使得第一逻辑处理模块113保持输出第一故障指示信号，同时输出一控制信号至电源管理模块130，电源管理模块130接收到控制信号后将电源模块120和驱动放大器140之间的通路断开，使驱动放大器140和功率放大器150处于断电状态，从而可以避免危害性较大的过温故障和末级过压故障长时间存在对功率放大器中的射频功率管造成的损伤，确保射频功率管安全工作。

此外，记忆存储模块114接收到外部复位触发信号后可将存储的过温信号和/或末级过压信号清除，以解除对过温信号和/或末级过压信号的记忆。

在另一个实施例中，如图2所示，检测电路110还包括：前级电压检测模块115和第二逻辑处理模块116。

前级电压检测模块115与驱动放大器140的输入端连接，可获取驱动放大器140的输入电压，将驱动放大器140的输入电压分别与第二预设电压阈值和第三预设电压阈值进行比较，在驱动放大器140的输入电压小于第二预设电压阈值时输出前级欠压信号，以及在驱动放大器140的输入电压大于第三预设电压阈值时输出前级过压信号。

第二逻辑处理模块116与前级电压检测模块115和末级电压检测模块112，用于在接收到前级欠压信号、前级过压信号和末级过压信号中的一者或多者时输出电压故障指示信号。该电压故障指示信号可以输出到发射系统的预设功能模块(如发射系统中的监控模块)，以指示发射系统的预设功能模块发出电压故障报警信息，电压故障报警信息的形式可以例如包括声音、灯光或者两者的组合形式，以提示技术人员注意当前驱动放大器的输入电压异常(欠压或过压)或驱动放大器的输出电压异常(过压)。

在另一个实施例中，如图2所示，检测电路110还包括：功率检测模块117和第三逻辑处理模块118。

功率检测模块117分别与功率放大器150的输入端和输出端连接，用于获取功率放大器150的耦合输入射频信号的功率和耦合输出射频信号的功率，在耦合输入射频信号的功率小于第一预设功率阈值时输出射频输入异常信号，以及在耦合输出射频信号的功率小于第二预设功率阈值时输出射频输出异常信号。

第三逻辑处理模块118与功率检测模块117连接，用于在接收到射频输出异常信号时输出射频输出故障指示信号。该射频输出故障指示信号可以输出到发射系统的预设功能模块(如发射系统中的监控模块)，以指示发射系统的预设功能模块发出功放输出故障报警信息，射频输出故障报警信息的形式可以例如包括声音、灯光或者两者的组合形式，以提示技术人员注意当前功率放大器的射频输入功率异常(欠激励)或功率放大器的射频输出功率异常(输出失配)。

在另一个实施例中，如图2所示，检测电路110还包括：第四逻辑处理模块119。

第四逻辑处理模块119分别与第一逻辑处理模块113、第二逻辑处理模块6和功率检测模块117连接，用于在接收到电压故障指示信号、射频输入异常信号和射频输出异常信号中的一者且第一逻辑处理模块113未输出第一故障指示信号时输出总故障指示信号。该总故障指示信号可以输出到发射系统的预设功能模块(如发射系统中的监控模块)，以指示发射系统的预设功能模块发出总故障报警信息，总故障报警信息的形式可以例如包括声音、灯光或者两者的组合形式，以提示技术人员注意当前发射系统异常。

图3是根据一示例性实施例示出的一种检测电路的电路原理图。如图3所示，检测电路包括：温度检测模块111、末级电压检测模块112和第一逻辑处理模块113。

其中，温度检测模块111由非门D2A、对温度传感器起限流作用的偏置电阻R16、为反相器D2A提供分压的电阻R18和电阻R19，以及起滤波作用的电容C21、电容C37、电容C38构成。

温度采集模块160在偏置电阻R16的限流作用下正常工作，将采集到的功率放大器的壳体温度转换为相应的温度电压信号通过电阻R18和电阻R19分压后输出到反相器D2A。

例如，当功率放大器的壳体温度位于正常温度范围内时，温度传感器160输出高电平的温度电压信号，经反相器D2A反相后输出低电平信号；当功率放大器的壳体温度超过设定的温度阈值时，温度传感器160输出低电平的内部温度电压信号，经由反相器D2A输出高电平的过温信号。

末级电压检测模块112由电阻R60，电阻R25和运算放大器N3B组成的第一射随器，比较器N4C，对驱动放大器的输出电压起分压作用的电阻R57和电阻R58，对比较器N4C的正相输入端和反相输入端其分压作用的电阻R52、电阻R54、电阻R51和电阻R53，上拉电阻R50以及起滤波作用的电容C34、C35和C36。

驱动放大器的输出电压V2(如36V的正电压)经电阻R57和电阻R58分压降压后输入经由第一射随器输出精度较高的第一比较电压。第一比较电压经电阻R52和电阻R54分压后输出到比较器N4C的正相输入端作为末级过压报警输入电压，与电阻R51和电阻R53的分压(即第一预设电压阈值)作比较。当末级过压报警输入电压上升百分之十时，比较器N4C输出高电平的末级过压信号；反之，比较器N4C输出低电平信号。

第一逻辑处理模块113由二极管V1、二极管V3、驱动器D4E和光电耦合器S3构成。其中，二极管V1的正极与温度检测模块111(即反相器D2A的输出端)连接，二极管V1的负极分别与驱动器D4E的输入端和二极管V3的负极连接；二极管V3的正极与末级电压检测模块112连接；驱动器D4E的输出端分别与驱动器D4F的输入端连接和光电耦合器S3的输入端连接。

第一逻辑处理模块113中各元件的工作状态以及输出电平高低状态如表1所示。

表1

根据表1可知，当过温故障和末级过压故障均为出现时，检测电路无第一故障指示信号输出，此时光电耦合器S2导通，检测电路输出正常回馈信号至发射系统的预设功能模块(如发射系统的监控模块)，以指示发射系统的预设功能模块输出正常提示信息，正常提示信息的形式包括声音、灯光以及两者的组合形式，以提示用户当前发射功率管的壳体温度和驱动放大器的输出电压均正常。

但只要危害性较大的过温故障和末级过压故障中有一个出现时，检测电路均会输出第一故障指示信号。

由此，可以实现对发射功率管危害性较大的发射系统内部温度过高和驱动放大器的输出电压过压两种故障的检测，可以提高发射系统故障检测的准确率，避免只对单项故障检测导致的误检和漏检等问题。

此外，温度检测模块还可以实现宽温、大动态功率检测。

在另一个实施例中，如图4所示，检测电路还包括记忆存储模块114。记忆存储模块114具体包括：非门D2B，由与非门D3A和与非门D3B构成的触发器D3，二极管V2和驱动器D4G。

其中，非门D2B的输入端分别与二极管V1的负极和二极管V3的负极连接，与非门D2B的输出端与触发器D3的第一输入端(与非门D3A的第一输入端)连接；触发器D3的输出端分别与二极管V2的正极和驱动器D4G的输入端连接；二极管V2的负极与驱动器D4E的输入端连接。

触发器D3的第二输入端(即与非门D3B的第二输入端)保持高电平状态。由表1可知当第一逻辑处理子模块113接收到过温信号和/或末级过压信号时，二极管V1的负极与二极管V3的负极连接处(即非门D2B的输入端)为高电平状态，非门D2B输出低电平信号，由于触发器D3具有记忆功能，可保持输出端为高电平状态，此时第一逻辑处理模块113输出高电平的故障指示信号，且同时经驱动器D4G后输出低电平的控制信号，该控制信号用于控制电源管理模块将电源模块与驱动放大器之间的通路断开。

此外，当触发器D3的第二输入端接收到低电平的外部复位触发信号时，触发器D3复位，此时触发器D3输出低电平信号，第一逻辑处理子模块113无第一故障指示信号输出，而输出高电平的正常反馈信号给发射系统的相关功能模块。

在一个实施例中，如图4所示，触发器D3接收到的外部复位触发信号可来自于复位模块120。该复位模块120由光电耦合器S1、电容C28、反相器D2C、反相器D2D、与门D6A、电阻R22、电阻R23、电阻R24、电阻R25以及二极管V4构成。

上电瞬间，电容C28充电，其正极为低电平状态，经串联的反相器D2C和反相器D2D后输出低电平信号至与门D6A的第一输入端，此时与门D6A输出低电平的复位触发信号至触发器D3的第二输入端(即与非门D3B的第二输入端)，使得触发器D3复位。

当电容C28充电完成后，其正极为高电平状态，经串联的反相器D2C和反相器D2D后输出高电平信号至与门D6A的第一输入端，此时若光电耦合器S1的输入端无高电平的外部触发信号输入，光电耦合器S1截止，与门D6A的第二输入端为高电平状态，与门D6A输出高电平信号至触发器D3的第二输入端，触发器D3的输出端保持高电平状态；若光电耦合器S1的输入端有高电平的外部触发信号输入时，光电耦合器S1导通，与门D6A的第一输入端为低电平状态，与门D6A输出低电平的复位触发信号至触发器D3的第二输入端，触发器D3复位。

在另一个实施例中，如图5所示，检测电路还包括前级电压检测模块115和第二逻辑处理模块116。其中，前级电压检测模块115包括电阻R43、电阻R40和运算放大器N3A组成的第二射随器，比较器N4A，比较器N4B，对驱动放大器的输入电压V1起分压作用的电阻R27和电阻R28，对比较器N4A的正相输入端和反相输入端起分压作用的电阻R30、电阻R31、电阻R32和电阻R33，对比较器N4B的正相输入端和反相输入端起分压作用的电阻R34、电阻R35、电阻R36和电阻R37，上拉电阻R38，上拉电阻R39，上拉电阻R40以及起滤波作用的电容C23、C26、C29、C30和C31。

驱动放大器的输入电压V1(如33V的正电压)经电阻R27和电阻R28分压降压后输入第二射随器输出精度较高的第二比较电压。

其中，一路第二比较电压经电阻R33和电阻R32分压后输出到比较器N4A的反相输入端作为前级欠压报警输入电压，与电阻R30和电阻R31的分压参考(即第二预设电压阈值)做比较。当前级欠压报警输入电压下降百分之十时，比较器N4A输出高电平信号的前级欠压信号；反之，比较器N4A输出低电平信号。

另一路第二比较电压经电阻R36和电阻R37分压后输出到比较器N4B的正相输入端作为前级过压报警输入电压，与电阻R34和电阻R35的分压(即第三预设电压阈值)作比较。当前级过压报警输入电压上升百分之十时，比较器N4B输出高电平信号的前级过压信号；反之，比较器N4B输出低电平信号。

第二逻辑处理模块116包括二极管V5、二极管V6、二极管V7、非门D2E和驱动器D4H。二极管V5的正极与前级电压检测模块115中比较器N4A的输出端连接，二极管V5的负极与非门D2E连接；二极管V7的正极与前级电压检测模块115中比较器N4B的输出端连接，二极管V7负极与二极管V5的负极连接；二极管V6的正极与末级电压检测模块112中比较器N4C的输出端连接，二极管V6的负极分别与二极管V5的负极和二极管V7的负极连接；非门D2E的输出端与驱动器D4H的输入端连接。

第二逻辑处理模块116中各元件的工作状态以及输出电平高低状态如表2所示。

表2

根据表2可知，只要第二逻辑处理模块116接收到前级欠压信号、前级过压信号和末级过压信号中的一者时，第二逻辑处理模块116就会输出电压故障指示信号。

在另一个实施例中，如图5所示，检测电路还包括：功率检测模块117和第三逻辑处理模块118。

其中，如图6a所示，功率检测模块117包括：隔直电容C1，由电阻R1、电阻R2和电阻R3构成的第一可调衰减器，由电容C19、电容C2和电阻R4构成的第一匹配器，检波器N1A，比较器N2A，分压电阻R5，分压电阻R6，脉冲展宽器D1A以及电容C3，电容C4，电容C5，电容C6，电容C7，电容C8，电容C9，电阻R7以及电阻R8，可以检测功率放大器的耦合输入射频信号的功率。

此外，如图6b所示，功率检测模块117还包括：隔直电容C10，由电阻R9、电阻R10和电阻R11构成第二可调衰减器，，由电容C20、电容C11和电阻R12构成的第二匹配器，检波器N1B，比较器N2B，分压电阻R13，分压电阻R14，脉冲展宽器D1B以及电容C12，电容C13，电容C14，电容C15，电容C16，电容C17，电容C18，电阻R15以及电阻R16，可以检测功率放大器的耦合输出射频信号的功率。

功率检测模块117获取到的功率放大器的耦合输入射频信号经隔直电容C1后被第一可调衰减器1171将其功率调整至检波器N1A的工作范围，检波后得到的电平送入比较器N2A作为比较电压同分压电阻R5和分压电阻R6组成的固定分压值V_th1进行比较。当耦合输入射频信号的功率大于第一预设功率阈值时，检波器N1A输出的电平大于固定分压V_th1，比较器N2A输出低电平信号；当耦合输入射频信号的功率小于第一预设功率阈值时，检波器N1A输出的电平小于固定分压V_th1，比较器N2A输出高电平信号，经脉冲展宽器D1A后输出同相的高电平射频输入异常信号。

功率检测模块117获取到的功率放大器的耦合输出射频信号经隔直电容C10后被第二可调衰减器将其功率调整至检波器N1B的工作范围，检波后得到的电平送入比较器N2B作为比较电压同分压电阻R13和分压电阻R14组成的固定分压值V_th2进行比较。当耦合输出射频信号的功率大于第二预设功率阈值时，检波器N1B输出的电平大于固定分压V_th2，比较器N2B输出低电平信号；当耦合输出射频信号的功率小于第二预设功率阈值时，检波器N1B输出的电平小于固定分压V_th2，比较器N2B输出高电平信号，经脉冲展宽器D1B后输出同相的高电平射频输出异常信号。

第三逻辑处理模块118包括：驱动器D4B、驱动器D4D和光电耦合器S2。其中，驱动器D4B的输入端与功率检测模块117连接，驱动器D4B的输出端与驱动器D4D的输入端和光电耦合器S2的输入端连接。

当功率检测模块117输出高电平射频输出异常信号时，低电平的射频输出异常信号经串联的驱动器D4B和驱动器D4D后输出高电平的射频输出故障指示信号。此时，光电耦合器S2截止，其输出端无正常回馈信号输出。

在另一个实施例中，如图5所示，检测电路还包括：第四处理子模块119。驱动器D4A、异或门D5、与门D6D和二极管V8。其中，驱动器D4A的输入端与功率检测模块117连接，驱动器D4A的输出端与异或门D5的第一输入端连接；异或门D5的第二输入端与驱动器D4B的输出端连接；与门D6D的第一输入端与异或门D5的输出端连接，与门D6D的第二输入端与与门D2E的输出端连接，与门D6D的输出端与二极管V8的正极连接；二极管V8的负极与所述驱动器D4E的输入端连接。

功率放大器的壳体温度和驱动放大器的输出电压均正常时，第一逻辑处理模块113无第一故障指示信号输出，也就是二极管V8的负极为低电平状态，此时射频输入异常信号和射频输出异常信号经异或门D5后输出的电平信号同第二逻辑处理模块116中非门D2E输出的电平信号相与后，经有或门作用的二极管V8后输出至驱动器D4E的输入端。

当功率放大器的耦合输入射频信号的功率、功率放大器的耦合输出射频信号的功率、驱动放大器的输入电压和输出电压中有一个异常时，驱动器D4E的输入端为高电平状态，驱动器D4E输出低电平信号经驱动器D4F反相后输出高电平的总故障指示信号，光电耦合器S3截止。

通过本实施例的技术方案，对驱动放大器的输入电压和输出电压、功率放大器的耦合输入射频信号的功率和耦合输出射频信号的功率以及射频功率管的壳体温度进行了采样比较，并相互组合后输出相应的故障指示信号，实现了对发射系统内驱动放大器和功率放大器等各个部分的实时监控，使得技术人员可结合总故障指示信号、电压故障指示信号和射频输出故障指示信号对发射系统的故障进行快速判定，缩短了故障判定时间，大大提高了设备的故障检修效率，提高了发射系统的稳定性。

此外，在检测电路的输出端使用光电耦合器，利用光电耦合器的隔离特性，可以对所有输出信号实现较好的抗干扰性能，确保了检测电路在电磁环境较为复杂的发射系统中可靠工作。

需要说明的是，电源模块输出的电压经图7示出的电压处理电路处理后分别输出+5V的参考电压以及低电平信号(LO)至本实用新型实施例的检测电路。

本实用新型实施例提供的技术方案通用性强，成本低，可应用于大多数发射系统中，实现了检测电路的标准化设计及应用。

以上结合附图详细描述了本实用新型的优选实施方式，但是，本实用新型并不限于上述实施方式中的具体细节，在本实用新型的技术构思范围内，可以对本实用新型的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本实用新型的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本实用新型对各种可能的组合方式不再另行说明。

此外，本实用新型的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本实用新型的思想，其同样应当视为本实用新型所公开的内容。