一种线列成像位标器焦面调试设备的制作方法

本实用新型涉及一种线列成像位标器焦面调试设备，属于线列成像位标器装配调试工艺技术领域。

背景技术：

线列成像位标器的焦面位置对成像质量起着很关键的作用，如果焦面位置差，那么产品易处于离焦状态，在离焦状态下，像点的弥散斑也会相应的大，这在很大程度上降低了产品对空间的分辨率，降低了产品对目标的辨识能力，从而对整个导弹的指导精度也产生影响，因此，必须对线列成像位标器的焦面进行精确测量，然后进行精密的调试。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题是提供一种线列成像位标器焦面调试设备，该调试设备及其调试方法可快速将产品的焦面调整至一个合理的位置，提高调试效率，同时也提高了调试的精度。

为解决以上问题，本实用新型的具体技术方案如下：一种线列成像位标器焦面调试设备，在水平设置的滑轨上设有沿滑轨滑动的红外凸透镜，在滑轨的一端依次设有热丝光源和黑体辐射源，热丝光源通过直流稳压源提供电源；在滑轨的另一端设有三轴转台，三轴转台的上端通过旋转支架连接调试位标器，调试位标器的电源线和管路分别连接数据线连接示波器和产品供电供气装置。

所述的热丝光源结构为：在水平面设置支撑架，支撑架上连接矩形结构的热丝框，在热丝框的上下分别设有锁紧螺母Ⅰ，锁紧螺母Ⅰ将热丝的两端拉紧在热丝框的中部，热丝的位置与红外凸透镜的焦点位置对应，锁紧螺母Ⅰ上分别连接电源引线。

所述的旋转支架结构为；在支架上设有轴线水平的通孔，通孔内设有旋转件，旋转件的一端设有外螺纹，并穿过支架后与锁紧螺母Ⅱ连接锁紧；在支架的外表面设有基准刻线，在旋转件上设有角度刻度线，角度刻度线位置与基准刻度位置对应。

该线列成像位标器焦面调试设备采用黑体辐射源、热丝光源、红外凸透镜和调试位标器位于同一直线上，从而实现位标器焦面的检测。

热丝光源采用竖直光丝结构，便于调节位标器的列线方向。

旋转支架设置可旋转结构，并设置刻度线，便于在调试过程中，位标器进行角度旋转。

该调试方法简单易行，精度高，从而使产品的焦面调试精度高，在很大程度上提高了产品的性能。

附图说明

图1为线列成像位标器焦面调试设备的结构示意图。

图2为热丝光源的结构示意图。

图3为旋转支架的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，一种线列成像位标器焦面调试设备，在水平设置的滑轨4上设有沿滑轨滑动连接的红外凸透镜5，在滑轨4的一端依次设有热丝光源3和黑体辐射源1，热丝光源3通过直流稳压源2提供电源；在滑轨4的另一端设有三轴转台6，三轴转台6的上端通过旋转支架8连接调试位标器7，调试位标器7的电源线和管路分别连接数据线连接示波器9和产品供电供气装置10。

如图2所示，所述的热丝光源3结构为：在水平面设置支撑架16，支撑架上连接矩形结构的热丝框12，在热丝框12的上下分别设有锁紧螺母Ⅰ11，锁紧螺母Ⅰ11将热丝13的两端拉紧在热丝框12的中部，热丝13的位置与红外凸透镜5的焦点位置对应，锁紧螺母Ⅰ11上分别连接电源引线14。

如图3所示，所述的旋转支架8结构为；在支架22上设有轴线水平的通孔，通孔内设有旋转件21，旋转件21的一端设有外螺纹，并穿过支架22后与锁紧螺母Ⅱ23连接锁紧；在支架22的外表面设有基准刻线，在旋转件21上设有角度刻度线，角度刻度线位置与基准刻度位置对应。

采用线列成像位标器焦面调试设备进行调试的方法，其特征在于包括以下步骤：

1）确定线列方向：遮挡黑体辐射源1的出射孔，红外凸透镜5放置在调试位标器7焦点位置上，热丝光源3放置在黑体辐射源1的出射孔之前，直流稳压源2启动给热丝光源3供电，给调试位标器7供电供气，缓慢转动旋转支架8，观察示波器9，当调试位标器7中的线列探测器所有元均有响应，且幅值相等时，这时线列探测器的线列方向与热丝光源3方向一致；

2）验证线列方向：将确定好方向的调试位标器7通过旋转支架旋转90°，使线列探测器的线列方向与热丝光源3垂直，关闭并移除热丝光源3，去掉黑体辐射源1出射孔遮挡物，将黑体辐射孔放置在红外凸透镜5的焦点处，黑体辐射源1的出射孔调至合适大小，此时观察示波器，有某一个或两个元有响应，对好光后，水平摇动三轴转台6，观察示波器上所有元依次有响应，说明线列探测器的线列方向水平无误；

3）测量焦面位置：水平摇动三轴转台6，使线列探测器的某一个元有响应，停止摇动三轴转台6；前后推动红外凸透镜5，观察示波器上一个元响应幅度变化，找到响应最大点，测量黑体辐射源1与距透镜焦点位置的长度，并记录方向，通过该长度可算出调试位标器7离焦量的大小，并根据方向判断出离焦的方向；

4）焦面调整：根据计算出的离焦量，给调试位标器7增减响应数值的调整垫片，即可将产品的焦面调整至一个合理的位置，精度达到±0.01mm。

本发明中，滑轨的作用是使红外凸透镜在直线方向移动，要求滑轨直线度要好，且产品光轴、红外凸透镜、黑体出射孔和热丝在同一直线上，且高度相等，确保光路系统对产品测试精度。