校准机构及终端测试系统的制作方法

本实用新型属于终端测试设备技术领域，更具体地说，是涉及一种校准机构及终端测试系统。

背景技术：

手机、平板等移动终端在日常生活中随处可见，且适用于各个年龄阶段的人群，市场的移动终端需求量很大。为了保证终端出厂的质量，通常在组装完成后对终端进行光感、重力、加速度、相机等一系列的测试，在测试过程中需要将测试信息从终端反馈至检测的电脑端或者其他外部测试端，判断终端的各个检测项目是否合格。

目前光感、距离感应、无线充电等测试均是在一条测试线上的不同工位依次完成的，每一项测试均需要一定的测试时间，一台终端测试完所有的项目所需的时间较长，测试效率较低。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种校准机构，以解决现有技术中存在的终端检测的测试效率较低的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：提供一种校准机构，包括：

治具，用于承载终端；

第一校准结构，设于所述终端的正面，所述第一校准结构包括距感校准结构、光感校准结构中的至少一个；

耦合测试结构，设于所述终端的背面，所述耦合测试结构包括近场通信测试卡、无线充电测试卡中的至少一个。

进一步地，所述距感校准结构包括三个平行设置的测试卡组件、以及一一对应驱动三个所述测试卡组件在水平方向上移动的三个测试卡驱动件。

进一步地，所述测试卡组件包括由所述测试卡驱动件驱动的色卡滑块、与色卡滑块固定连接的色卡固定件、以及固定于所述色卡固定件面向所述终端一侧的色卡。

进一步地，所述距感校准结构包括竖直设置的调节板，三个所述测试卡驱动件均固定于所述调节板的一侧，所述调节板开设有用于调节所述测试卡驱动件及所述测试卡组件高度的长条形调节孔。

进一步地，所述校准机构还包括用于驱动所述距感校准结构在水平方向上移动的丝杠，所述调节板固定于所述丝杠上。

进一步地，所述耦合测试结构包括所述近场通信测试卡时，所述近场通信测试卡设于所述治具的底部。

进一步地，所述校准机构还包括设于所述治具一侧且用于校准加速度和重力的第二校准结构，所述第二校准结构包括校准平台，所述校准平台具有容纳所述终端的腔体。

进一步地，所述第二校准结构还包括设于所述校准平台一侧的数据线插拔结构，所述数据线插拔结构包括驱动气缸以及数据插头，所述数据插头用于插入所述终端内且由所述驱动气缸驱动，所述驱动气缸设于所述校准平台的底部。

进一步地，所述校准机构还包括用于将终端在所述治具和所述校准平台之间转移的移载结构，所述移载结构包括滑轨、与所述滑轨滑动连接的悬臂架、以及固定于手机悬臂架且用于转移终端的转移件。

本实用新型的另一目的在于提供一种终端测试系统，包括上述的校准机构

本实用新型提供的校准机构的有益效果在于：与现有技术相比，本实用新型校准机构中的第一校准结构包括距感校准结构、光感校准结构中的至少一个，耦合测试结构包括近场通信测试卡、无线充电测试卡中的至少一个，而且第一校准结构和耦合测试结构分别设于终端的正面和背面，使得该校准机构在校准距感或者光感的同时可以进行近场通信(NFC)测试或者无线充电的测试，保证同时有两项测试共同进行，提高测试的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的校准机构的结构示意图一；

图2为本实用新型实施例提供的校准机构的结构示意图二；

图3为本实用新型实施例提供的距感校准结构的立体结构图一；

图4为本实用新型实施例提供的距感校准结构的立体结构图二；

图5为本实用新型实施例提供的光感校准结构的立体结构图；

图6为本实用新型实施例提供的第二校准结构的立体结构图；

图7为本实用新型实施例提供的平移结构及治具的立体结构图；

图8为本实用新型实施例提供的平移结构的立体结构图；

图9为本实用新型实施例提供的移载结构的立体结构图。

其中，图中各附图标记：

201-第一校准结构；21-治具；22-光感校准结构；221-光源固定板；222- 光源；223-光源调节件；2231-竖直调节部；22310-竖直长孔；2232-水平调节部；22320-水平长孔；23-距感校准结构；231-测试卡驱动件；232-测试卡组件； 2321-色卡滑块；2322-色卡固定件；23221-竖直板；23222-水平板；2323-色卡； 233-调节板；2330-调节孔；24-第二校准结构；241-校准平台；242-数据线插拔结构；2421-驱动气缸；2422-数据插头；243-水平校准仪器；25-丝杠；26- 移载结构；261-滑轨；262-悬臂架；263-可伸缩结构；264-转移件；27-平移结构；271-皮带；28-无线充电测试卡；29-NFC卡；291-磁卡调节结构。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

请一并参阅图1至图9，现对本实用新型提供的校准机构进行说明。该校准机构，包括治具21、第一校准结构201以及耦合测试结构。治具21用于承载终端，治具21内设有用于容纳手机、平板等类型的终端腔，可选地，终端腔的内壁与终端过盈配合，终端可直接固定于终端腔中，无需其他定位结构。治具21的作用在于承载和保护终端，也更便于在各个测试机构之间转移终端。终端的正面为具有屏幕一面，终端的背面为电池盖一面。在进行距离感应、光感应等实际测试之前，一般需要先对终端进行距感校准和光感校准，使终端内的距离传感器和光感传感器处于标准状态。第一校准结构201包括距感校准结构 23、光感校准结构22中的至少一种，具体为：第一校准结构201为距感校准结构23；第一校准结构201为光感校准结构22；第一校准结构201为距感校准结构23和光感校准结构22的组合。距感校准结构23用于校准距离传感器，光感校准结构22用于校准光感传感器。由于距离传感器和光感传感器都设于终端的正面，所以第一校准结构201设于终端的正面，且与终端的正面具有间距，便于校准距感和光感。耦合测试结构包括近场通信测试卡、无线充电测试卡28 中的至少一个，具体为：耦合测试结构为近场通信测试(NFC)卡；耦合测试结构为无线充电测试卡28；耦合测试结构为NFC卡29和无线充电测试卡28的组合。NFC卡29用于检测终端的NFC功能是否正常，无线充电测试卡28用于检测终端的无线充电功能是够正常。NFC卡29设置于终端近场范围内的任何区域内均可以检测终端的NFC功能是否正常，无线充电测试卡28设于终端的底部时才能检测无线充电功能是否正常，近场通信测试卡、无线充电测试卡28设于终端的底部均能满足测试要求。如此，在终端的正面进行光感或者距感校准时，在终端的背面可同时进行NFC或者无线充电功能测试，节约总体的测试时间。

本实用新型提供的校准机构，与现有技术相比，本实用新型校准机构中的第一校准结构201包括距感校准结构23、光感校准结构22中的至少一个，耦合测试结构包括近场通信测试卡、无线充电测试卡28中的至少一个，而且第一校准结构201和耦合测试结构分别设于终端的正面和背面，使得该校准机构在校准距感或者光感的同时可以进行近场通信(NFC)测试或者无线充电的测试，保证同时有两项测试共同进行，提高测试的效率。

请参阅图3，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，距感校准结构23包括三个平行设置的测试卡组件232、以及一一对应驱动三个测试卡组件232在水平方向上移动的三个测试卡驱动件231。每个测试卡驱动件231 对应驱动一个测试卡组件232，三个测试卡驱动件231独立控制。在初始状态时，三个测试卡组件232均水平设置，而且三个测试卡组件232的水平位置相同，均设于终端的侧面，使用其中一个测试卡组件232时，启动对应的测试卡驱动件231，驱动该测试卡组件232移动至终端的上方，测试完毕后再退回原位。各个测试卡组件232和测试卡驱动件231的结构可选为相同。可选地，测试卡驱动件231为气缸，气缸的输出端推动测试卡组件232在水平方向上移动。

请继续参阅图3及图4，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，测试卡组件232包括由测试卡驱动件231驱动的色卡滑块2321、与色卡滑块2321固定连接的色卡固定件2322、以及固定于色卡固定件2322面向终端一侧的色卡2323。色卡滑块2321与测试卡驱动件231的输出端固定连接，且与测试卡驱动件231的本体滑动连接，使得测试卡驱动件231在工作时，色卡滑块2321与测试卡驱动件231产生相对滑动，并带动色卡固定件2322和色卡 2323一同移动。更具体地，色卡滑块2321呈盒状，测试卡驱动件231滑动设于色卡滑块2321内。色卡固定件2322与色卡滑块2321固定连接，优选色卡固定件2322固定于色卡滑块2321的竖直一侧。可选地，色卡固定件2322包括水平设置的水平板23222，竖直设置的竖直板23221，水平板23222和竖直板23221 垂直连接，水平板23222设置于终端的上方，色卡2323固定于水平板23222 面向终端一侧。竖直板23221固定于色卡滑块2321的竖直一侧，竖直板23221 可通过螺钉、螺栓等紧固件固定于色卡滑块2321上。水平板23222的尺寸大于或者等于色卡2323的尺寸。每个色卡2323与终端正面之间的距离可调，以适应各种厚度不同的机型。在其中一个实施例中，三个色卡2323的尺寸选为 300mm*90mm，色卡2323可覆盖两个并排放置的终端，两个终端共用上述色卡 2323。三个色卡2323分别为一个黑卡和两个灰卡。黑卡的型号可选为BKF-12，与可为其他与该型号性能相同的黑卡。灰卡的型号可选为kodak R-27，反射率为18％，也可选为其他与该型号性能相同的灰卡。灰卡和黑卡的安放次序此处不做限定，可根据具体的距离校准要求选择。

请参阅图3及图4，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，距感校准结构23包括竖直设置的调节板233，三个测试卡驱动件231均固定于调节板233的一侧，调节板233开设有用于调节测试卡驱动件231及测试卡组件232高度的长条形调节孔2330。调节板233的作用在于将三个测试卡驱动件 231固定于同一个零件上，便于同时调节三个测试卡驱动件231及测试卡组件 232的位置。三个色卡2323的高度调节范围在5mm至100mm之间。具体地，调节板233竖直设置，测试卡驱动件231从上至下依次设于调节板233的侧面。调节板233上开设有长条形调节孔2330，调节孔2330的长度方向为竖直方向，从而可以调节测试卡驱动件231的高度位置，适用于不同厚度的机型。更具体地，测试卡驱动件231通过紧固件穿过调节孔2330固定与调节板233上，手动调节紧固件在调节孔2330中的位置即可调节各个测试卡驱动件231的高度。调节孔2330的数量优选为多个，使得测试卡驱动件231和调节板233的连接更稳定。在其他实施例中，测试卡驱动件231的高度也可通过滑块滑动、气缸推动等自动调节方式调节，其具体调节方式此处不做限定。

请参阅图1及图2，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，校准机构还包括用于驱动距感校准结构23在水平方向上移动的丝杠25，调节板233固定于丝杠25上。丝杠25的作用在于驱动整个距感校准结构23在水平方向上移动，便于整体移动距离校准结构。在距感测试过程中，丝杠25内部的丝杆转动推动丝杆外部移动，从而带动整个距感校准结构23朝向终端方向水平移动，移动预定距离后，丝杠25停止运动，此时色卡2323未遮挡终端，将需要使用的测试卡组件232通过测试卡驱动件231继续朝向终端方向水平移动，直至色卡2323完全遮挡于终端的正面，开始测试，各个测试卡组件232测试完成后，依次通过测试卡驱动件231和丝杠25将距感校准结构23移动至初始位置，以免影响其他的测试。测试卡驱动件231可选为小行程驱动件，色卡2323 大部分的水平位移可由丝杠25实现。在其他实施例中，也可采用滑块在滑轨 261上移动的方式移动整个距感校准结构23。

请参阅图5，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，光感校准结构22也设于终端的上方，光感校准结构22包括光源222和光源固定板 221。光源固定板221水平设置，光源222固定于光源固定板221面向终端一侧，光源222为面光源，光源固定板221的尺寸大于光源222的尺寸。在其中一个实施例中，光源222的光强为5500K，光源222的尺寸为400mm*180mm，该光源 222的下方可设置两个终端，这两个终端在光感测试时共用该光源222。光源 222可设于终端的正上方。当然，光源222的位置可调，以便适应不同的终端机型。具体地，光感校准结构22还包括光源调节件223，光源调节件223固定于光源固定板221的侧面，光源调节件223呈L形，包括相互垂直连接的竖直调节部2231和水平调节部2232。竖直调节部2231开设有竖直长孔22310，通过手动调节紧固件的位置微调光源222的高度位置，其调节范围在5mm至10mm 之间，竖直调节部2231上还可设刻度，便于用户按照刻度调节所需的高度。水平调节部2232上开设有水平长孔22320，通过手动调节紧固件的位置微调光源 222的水平位置。

请参阅图1及图2，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，当第一校准结构201为距感校准结构23和光感校准结构22的组合时，距感校准结构23与终端的距离小于光感校准结构22与终端的距离，即光感校准结构 22设于距感校准结构23的上方。在终端进行光感和距感校准时，光感校准结构22初始位置即在终端的上方，首先进行光感校准，光感校准完成后，再使丝杠25转动，带动距感校准结构23水平方向移动，移动至预定位置后，其中一个测试卡驱动件231驱动测试卡组件232继续移动至终端的上方，开始距感校准，切换不同的测试卡组件232且距感校准完成后，测试卡驱动件231和丝杠 25带动距感校准结构23移动至初始位置。

请参阅图6，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，校准机构还包括设于治具21一侧且用于校准加速度和重力的第二校准结构24，第二校准结构24包括校准平台241，校准平台241具有容纳终端的腔体。第二校准结构24用于重力校准和加速度校准，在进行上述校准时，终端需位于水平度更高的校准平台241上，校准平台241的水平度要求小于或者等于0.5°。校准平台241上设置有水平校准仪器243，可精确校准终端的水平度。在其中一个实施例中，水平校准仪器243的尺寸为70mm*70mm*23mm。

请参阅图6，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，第二校准结构24还包括设于校准平台241一侧的数据线插拔结构242，数据线插拔结构242包括驱动气缸2421以及数据插头2422，数据插头2422用于插入终端内且由驱动气缸2421驱动，驱动气缸2421设于校准平台241的底部。在进行加速度和重力校准时，终端需要将校准结果输出，所以终端位于校准平台241 上时，终端需与数据插头2422插接，将校准结果输出至外部测试端。数据线插拔结构242的设置实现了数据插头2422与终端的自动插拔，无需人工操作。具体地，由驱动气缸2421带动数据插头2422插拔。驱动气缸2421设于校准平台 241底部时，可减小第二校准结构24所占的空间，缩小整个机构的体积。

请参阅图9，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，校准机构还包括用于将终端在治具21和校准平台241之间转移的移载结构26，移载结构26包括滑轨261、与滑轨261滑动连接的悬臂架262、以及固定于手机悬臂架262上且用于转移终端的转移件264。悬臂架262的一端与滑轨261滑动连接，滑轨261水平设置，使得悬臂架262可在水平方向上移动，将终端从治具21中转移至校准平台241，或者将终端从校准平台241转移至治具21中。悬臂架262上还固定有可伸缩结构263，转移件264固定于可伸缩结构263上，当转移件264通过悬臂架262水平移动至终端的上方时，可伸缩结构263伸长，使得连接件下移至与终端接触，并将终端固定于转移件264，通过悬臂架262 及可伸缩结构263转移至所需的位置。可伸缩结构263可为气缸或者滑座和滑块的组合，其长度可伸缩即可，具体结构此处不做限定。转移件264可为机械手、吸盘等。

请参阅图7及图8，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，该校准机构还包括平移结构27，平移结构27设于治具21的下方，用于承载和运输治具21。可选地，平移结构27包括皮带271，治具21放置于皮带271上，皮带271传动时，治具21跟随皮带271向前移动至其他测试工位中，实现终端在各个测试工位之间的自动流转。在终端位于治具21中时，终端也需要与外界测试端连接，治具21上设有与终端电连接的数据接口，外界测试端可直接与治具21的数据接口相连接。可选地，治具21的数据接口一侧也可设置数据线插拔结构，该数据线插拔结构可与第二校准结构24中的数据线插拔结构242相同。

请参阅图6，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，当耦合测试结构为无线充电测试卡28时，无线充电测试卡28可设于校准平台241 腔体的底壁或者设于治具21的终端腔的底壁。当耦合测试结构为NFC卡29时， NFC卡29可设于治具21的底部或者校准平台241的底部。

请参阅图8，作为本实用新型提供的校准机构的一种具体实施方式，当耦合测试结构为无线充电测试卡28和NFC卡29的组合时，NFC卡29设于治具21 的底部，无线充电测试卡28设于校准平台241腔体的底壁。治具21的底部还设有磁卡调节结构291，用于调节NFC卡29的高度，调节NFC卡29与终端背面之间的距离，高度调节的范围在1cm至5cm之间。磁卡调节结构291可选为气缸，气缸驱动NFC卡29在竖直方向上移动。在该实施例中，校准机构的测试步骤为：治具21位于平移结构27上时，光感校准结构22或者距感校准结构 23对终端校准，终端下方的NFC测试同步进行；终端上方和下方的测试完成后，使用移载结构26将终端移动至校准平台241，第二校准结构24对终端进行加速度和重力校准，同时终端下方进行无线充电测试；测试完毕后，移载结构26 将终端移动至治具21中。

本实用新型还提供一种终端测试系统，该终端测试系统包括上述任一实施例中的校准机构。

本实用新型提供的终端测试系统，采用了可同时进行多项测试的校准机构，其中校准机构中的第一校准结构201包括距感校准结构23、光感校准结构22 中的至少一个，耦合测试结构包括近场通信测试卡、无线充电测试卡28中的至少一个，而且第一校准结构和耦合测试结构分别设于终端的正面和背面，使得该校准机构在校准距感或者光感的同时可以进行NFC测试或者无线充电的测试，保证同时有两项测试共同进行，提高测试的效率。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。