电子设备、控制装置以及记录介质的制作方法

本发明涉及电子设备、控制装置以及记录有控制程序的计算机可读取的记录介质。

背景技术：

以往，存在如下技术：根据智能手机等电子设备具备的传感器的检测结果，决定由电子设备执行的处理。专利文献1中，公开了具备有接触传感器的信息处理装置，该接触传感器经由设置在握住了把持部的用户的手所接触的位置上的电极，来判断所述用户的手与所述电极的接触。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本公开专利公报“特开2015-211455号公报(2015年11月24日公开)”

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题

此处，如专利文献1所述，检测伴随着物体的接触而变化的物理量的值的传感器(接触传感器)中，根据周围环境的变化，有时未接触物体时的物理量的值发生变化。例如存在如下问题：由于落下、按压或老化而壳体产生变形，使得接触传感器处于持续受压的状态并持续输出超过了预定阈值的输出，从而无论是否握住终端，接触传感器可能会保持产生了反应的状态。

本发明的一个方式是为解决上述问题点而完成的，其目的在于，实现一种电子设备等，其即使在物体未接触而接触检测装置也保持反应的情况下，也能够适当地检测物体的接触。

解决问题的方法

为了解决上述问题，本发明的一个方式涉及的电子设备为具备有检测物体的接触的至少一个接触检测装置，和控制所述接触检测装置的动作的控制装置，且为如下构成：所述控制装置判断是否满足了如下条件：所述接触检测装置的输出值超过规定的接触阈值，并且所述输出值超过了所述接触阈值之后的规定期间内的所述输出值的变动收敛于规定范围内，在判断为已满足所述条件的情况下，执行校正所述接触检测装置输出的输出值的处理、以及变更所述接触阈值的处理的至少任一个，以不通过在所述规定的期间输出的大小的输出值检测为物体已接触。

另外，为了解决上述问题，本发明的一个方式涉及的控制装置为具备有检测物体的接触的至少一个接触检测装置的电子设备的控制装置，且为如下构成：所述控制装置包括：判断部，其判断是否满足了如下条件：所述接触检测装置的输出值超过规定的接触阈值，并且所述输出值超过了所述接触阈值之后的规定期间内的所述输出值的变动收敛于规定范围内；以及校正部，其在判断为已满足所述条件的情况下，执行校正所述接触检测装置输出的输出值的处理、以及变更所述接触阈值的处理的至少任一个，以不通过在所述规定的期间输出的大小的输出值检测为物体已接触。

发明效果

根据本发明的一个方式，能够起到如下效果：即使在物体未接触而接触检测装置也保持反应的情况下，也能够适当地检测物体的接触。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式涉及的电子设备的概要构成的框图。

图2是表示上述电子设备的外观的图。

图3是用于说明上述电子设备的动作的图。

图4是表示上述电子设备的动作的流程的一个示例的流程图。

图5是表示上述电子设备的动作的流程的另一示例的流程图。

图6是用于说明上述电子设备的动作的图。

图7是表示上述电子设备的动作的流程的又一示例的流程图。

具体实施方式

〔实施方式一〕

以下，详细地说明本发明的实施方式。

对于以下的特定的项目(实施方式)中的构成，在其与其他项目中说明的构成相同的情况下，有时省略说明。另外，为了便于说明，对具有与各项目所示的部件相同功能的部件，标注相同的附图标记，并适当省略其说明。

另外，作为以下说明的电子设备，只要是具有人握住的部件的设备则可以是任意设备。作为这样的电子设备，例如能够列举智能手机、移动电话、平板终端、遥控器、干燥器、吸尘器等。

〔电子设备〕

以下，以电子设备10为智能手机为例进行说明，但电子设备10并不限定于这样的方式。如图1所示，电子设备10具备接触检测装置1、控制装置2、计时器3、存储装置4、显示装置5以及加速度检测装置6。

接触检测装置1为主要能够检测人已握住的装置。作为接触检测装置1，例如考虑了检测施加了多少压力的装置，或检测因压力变化而导致的电子设备10的变形或翘曲的装置。更具体而言，作为接触检测装置1，能够例示压力传感器、压电传感器以及静电传感器(3d力传感器)等检测用户的手等的物体的接触的传感器。

控制装置2是总括控制电子设备10的各部分的装置，在本实施方式中，特别是具备检测装置控制部(判断部)21以及校准处理部(校正部)22。关于检测装置控制部21以及校准处理部22的功能的详情将后述。

计时器3是用于测量时间的装置。计时器3可以通过例如时间测量用的实时时钟(rtc)ic(集成电路)来实现。另外，示例性的，计时器3根据检测装置控制部21的指示从开始时间的测量开始而经过了规定的时间时，将通知信号(报警)输出到检测装置控制部21。

存储装置4是存储各种数据及程序的装置。存储装置4例如能够由非易失性存储装置即硬盘、闪存以及rom等构成。存储装置4例如预先存储有如下数据：物体等未接触时的接触检测装置1的输出值即基准水平值、接触检测装置1的输出值涉及的接触阈值、加速度检测装置6的输出值涉及的加速度阈值、接触检测装置1的输出值的微分值涉及的微分阈值等。检测装置控制部21能够从存储装置4读写这些存储的值。

基准水平值是用于表示壳体未被用户握住时的传感器值的值。另外，接触阈值是用于判断物体对接触检测装置1的接触的阈值，并且基于上述基准水平值来设定。另外，加速度阈值是用于判断例如电子设备10的落下或异物对电子设备10的冲撞等急剧的速度变化的阈值。微分阈值是用于判断电子设备10的落下或异物对电子设备10的冲撞等急剧的输出值的变化的阈值。

显示装置5例如使用液晶面板。但是，显示装置5中所使用的显示面板并不限定于液晶面板，也可以是有机el(电致发光)面板、无机el面板以及等离子面板等。加速度检测装置6是检测作用于电子设备10的加速度的装置。

检测装置控制部21是控制接触检测装置1以及加速度检测装置6的动作的装置，特别是判断是否满足了以下的(1)以及(2)的条件。

(1)接触检测装置1的输出值是否超过了规定的接触阈值。

(2)上述输出值超过了所上述接触阈值之后的上述输出值的变动是否收敛于规定期间内的规定范围内。

此外，如图3的(a)所示，规定的范围内是指输出值包含在从具有规定的值的变动幅度下限到高变动幅度d的值的范围内。

在判断为满足了上述(1)且(2)的条件的情况下，校准处理部22校正上述接触检测装置的输出值的基准水平值(执行校准)。

校准处理部22进行基准水平值的校准(校正)。更具体而言，在因壳体的变形而处于接触压力持续施加在接触检测装置1上的状态的情况下，校准处理部22更新基准水平值以使该状态下的接触检测装置1的输出值变为零或大致为零，并校正接触检测装置1的输出值。

换言之，校准处理部22将因壳体的变形等产生的接触检测装置1的输出值重新调整为基准水平值(未施加压力的状态)。由此，在该重新调整结束之后，能够如之前一样检测物体的接触。

在满足了上述(1)且(2)的条件的情况下，考虑例如持续施加如电子设备10的壳体的变形等物理压力的状态而不是人握住电子设备10的状态。在这种情况下，能通过校正接触检测装置1的输出值，即使在物体未接触接触检测装置1也产生了反应的情况下，也能够适当地检测物体的接触。

控制装置2也可以在通过加速度检测装置6检测到大于规定的加速度阈值的加速度的情况下，开始判断接触检测装置1的输出值是否超过了规定的接触阈值。另外，控制装置2也可以在接触检测装置1的输出值的微分值大于规定的微分阈值的情况下，开始判断接触检测装置1的输出值是否超过了规定的接触阈值。通过这些的任一种构成，能够在例如电子设备的落下或异物对电子设备的冲撞等发生的可能性高的情况下，根据需要进行适当的校正处理，能够适当地检测物体的接触。

另外，在进行了校正接触检测装置1输出的输出值的处理的情况下，校准处理部22也可以将接触阈值变更为更低的值。由此，能够减少无论接触物体与否接触检测装置都难以产生反应的情况，且能够适当地检测物体的接触。

在接触检测装置1的输出值超过规定的接触阈值，并且在上述输出值超过了上述接触阈值之后的规定期间内上述输出值的变动收敛于规定的范围内的情况下，考虑例如通过电子设备10的壳体7的变形等持续向接触检测装置1施加物理压力的状态，而不是人握住电子设备10的状态。因此，根据上述构成，在这种状态下，为如下构成：执行校正接触检测装置1输出的输出值的处理以及变更接触阈值的处理的至少任一个，以不通过在所述规定的期间输出的大小的输出值检测为物体已接触。由此，即使在上述的状态下也能够适当地检测物体的接触。

图2是表示本实施方式涉及的电子设备10的外观的概略图。电子设备10在壳体的至少一个面上具备显示装置5(触摸面板等)。此外，如图2的(a)所示，将具备显示装置5的面称为电子设备10的“正面”。另外，电子设备10在握住了电子设备10的用户的手与电子设备10所接触的位置上具备接触检测装置1。

例如，如图2的(a)以及(b)所示，电子设备10在与上述正面的长边相邻的两个面(将该两个面称为电子设备10的“侧面”)上分别具备一个接触检测装置1。此外，接触检测装置1的数量以及接触检测装置1所配置的范围并不限定于如图2的(a)以及(b)所示的示例，例如接触检测装置1可以在上述各侧面上配置多个，接触检测装置1也可以配置于整个侧面。

另外，接触检测装置1可以向壳体外露出，也可以配置在如图2的(c)所示的壳体7之中。换言之，接触检测装置1只要设置在与握住了壳体7的用户的手的位置对应的位置上即可。另外，除了上述以外，接触检测装置1的配置也考虑了例如在电源键/音量键/主页键(未图示)等的下侧，或显示面板(触摸面板)的下侧等。

图3的(a)是表示接触检测装置1的输出值与时间之间的关系的图表。阈值l1为用于判断物体对接触检测装置1的接触的接触阈值的示例。持续预备时间t0为用于判断接触检测装置1的输出值的变动是否已收敛的期间，若在该时间内接触检测装置1的输出值的变动收敛于变动幅度d内，则判断接触检测装置1的输出值的变动已收敛。

其次，持续时间t为用于判断人是否握住了电子设备10的期间，若在该时间内接触检测装置1的输出值的变动在变动幅度d内，则判断人未握住电子设备10。另一方面，在存在有上述持续时间t的期间内超过变动幅度d的接触检测装置1的输出值的变动的情况下，判断人握住着电子设备10。这是因为，当人体触碰到接触检测装置1(人握住着电子设备10)时，认为总是会产生特定值以上的输出值的变动。即，在接触检测装置1的输出值超过预先设定的阈值l1(接触阈值)，并且为一定变动以上的输出值的变动持续了一定时间的情况下，能够判断为人握住着电子设备10。

图3的(b)示出校准(校正)前的接触检测装置1的输出值的最大值、阈值l1、变动幅度的范围以及接触检测装置1的输出值的最小值的关系。另一方面，图3的(c)示出校准(校正)后的接触检测装置1的输出值的最大值、变更后的阈值l2以及接触检测装置1的输出值的最小值的关系。

〔电子设备的动作例(其一)〕

接着，基于图4的流程图说明电子设备1的动作例(其一)。首先，开始使用电子设备10，进入步骤s(以下，省略“步骤”)101。

s101中，检测装置控制部21判断接触检测装置1的输出值(以下，称为传感器值)是否超过了阈值l1。这与判断是否握住了电子设备10(终端)相对应。此时，在传感器值超过了阈值l1的情况下，进入s102。另一方面，在传感器值为阈值l1以下的情况下，返回至s101。

s102中，检测装置控制部21判断传感器值是否连续(持续预备时间t0的期间)地收敛于变动幅度d内。这与判断传感器值的变动是否已收敛相对应。此时，在传感器值在持续预备时间t0的期间内持续地收敛于变动幅度d内的情况下，进入s103。另一方面，在超过变动幅度d的传感器值的变动产生在持续预备时间t0的期间内的情况下，返回至s101。s103中，检测装置控制部21启动计时器3，进入s104。

s104中，检测装置控制部21判断在传感器值的变动在一定时间(持续时间t)内，是否收敛于变动幅度d内。这与判断人是否握住着电子设备10相对应。此时，传感器值的变动在一定时间(持续时间t)内收敛于变动幅度d内的情况下，进入s106。另一方面，在超过变动幅度d的传感器值的变动产生在持续时间t的期间内的情况下，进入s105。s105中初始化计时器3，并返回至s101。

s106中，校准处理部22执行校准(校正)。具体而言，通过变更接触检测装置1的基准水平值来对传感器值进行校正，并进入s107。例如，校准处理部22也可以计算出持续时间t内的传感器值的平均值，将其平均值作为新的基准水平值。s107中，基于执行校准时的传感器值，计算出阈值l2，并将该阈值l2作为新的接触阈值。由此，完成图示的处理。

此外，s107的处理(阈值的变更)不是必需的，但在进行校正的情况下，由于处于对接触检测装置1一直施加压力的状态下，因此优选变更为小于初始阈值l1的阈值。另外，变更后的阈值l2的值也可以为随着执行校准时的传感器值越高而越小的值。

〔电子设备的动作例(其二)〕

接着，基于图5的流程图说明电子设备10的动作例(其二)。本流程图与图4所示的流程图的不同之处在于，在与图4所示的流程图中的s101的动作相对应的s202之前，追加了s201。此外，由于s202至s208的动作分别与图4所示的流程图的s101至s107的动作对应，因此此处省略其说明，仅说明s201的动作。

s201中，检测装置控制部21基于加速度检测装置6的输出值(加速度是否超过了规定的加速度阈值)判断是否检测到急剧转变(落下等)。这与通过加速度检测装置6(落下检测部)判断是否存在电子设备10的落下等相对应。此时，在检测到电子设备10的急剧转变的情况下，进入s202。另一方面，在没有检测到电子设备10的急剧转变的情况下，返回至s201。

〔电子设备的动作例(其三)〕

接着，图6是表示压力变化的示意图。如图6的(a)及(b)所示的图表示出接触检测装置1的输出值与时间之间的关系。如如图6的(a)所示的图表示出人用手握住电子设备10时的压力变化。另一方面。如如图6的(b)所示的图表示出因电子设备10的落下或异物对电子设备10的碰撞而产生的压力变化。

在图6的(a)所示的图表中接触检测装置1的输出值超过阈值l(接触阈值)后的输出值的变化比较缓和。另一方面，在图6的(b)所示的图表中接触检测装置1的输出值超过阈值l(接触阈值)后的输出值的变化比较急剧。因此，如果计算出接触检测装置1的输出值的微分值，则能够根据该微分值的大小，对人握住电子设备10时的状态、或存在有电子设备10的落下或者异物对电子设备10的碰撞时的状态进行判别。

接着，基于图7的流程图说明电子设备10的动作例(其三)。本流程图与图4所示的流程图的不同之处在于，在与图4所示的流程图中的s101的动作相对应的s302之前，追加了s301。此外，由于s302至s308的动作分别与图4所示的流程图的s101至s107的动作对应，因此此处省略其说明，仅说明s301的动作。

s301中，检测装置控制部21计算出接触检测装置1的输出值的微分值，并基于传感器值是否有急剧变化(微分值超过规定的微分阈值)判断是否检测到急剧转变(落下等)。这与根据接触检测装置1的传感器值的急剧变化来判断是否有电子设备10的落下等相对应。此时，在检测到电子设备10的急剧转变的情况下，进入s302。另一方面，在没有检测到电子设备10的急剧转变的情况下，返回至s301。

〔实施方式二〕

校准处理部22也可以进行变更接触阈值的处理，以替代通过变更基准水平值来对接触检测装置1输出的输出值进行校正。对于接触阈值，针对图3的(a)所示的持续时间t输出的大小的输出值而变更为未检测到接触物体那样的值。由此，与所述实施方式同样地，即使在对接触检测装置1持续施加物理性的压力的状态下，也能够适当地检测物体的接触。例如，校准处理部22也可以计算出持续时间t内的传感器值的平均值，使该平均值和与上述实施方式同样计算出来的阈值l2的值相加，以作为新的接触阈值。

〔实施方式三：通过软件的实现例〕

电子设备10的控制装置2的控制块(尤其是检测装置控制部21及校准处理部22)可以由形成在集成电路(ic芯片)等中的逻辑电路(硬件)实现，或者可以通过软件来实现。

在后者的情况下，控制装置器2包括计算机，其用于实现各功能的软件即执行程序的命令。该计算机例如至少包括一个处理器(控制装置)，同时至少包括一个用于存储所述程序的、并且计算机可读取的记录介质。并且，上述计算机中，通过上述处理器从上述记录介质中读取上述程序并执行程序来实现本发明的目的。作为上述处理器，例如可使用cpu(centralprocessingunit)。作为记录介质，可以使用例如rom(readonlymemory)等的“非暂时性有形介质”之外，还可以使用磁带、磁盘、卡、半导体存储器、可编程逻辑电路等。此外，进一步包括用于展开上述程序的ram(randomaccessmemory)等。此外，上述程序可以经由能够发送该程序的任意传输介质(通信网络，广播波等)提供给计算机。并且，本发明的一个方面也可以以上述程序通过电子传输来具体化、并嵌入在载波中的数据信号的形式来实现。

〔总结〕

本发明的方式一涉及的电子设备(10)为具备有检测物体的接触的至少一个接触检测装置(1)，和控制所述接触检测装置的动作的控制装置(2)，且为如下构成：所述控制装置判断是否满足了如下条件：所述接触检测装置的输出值超过规定的接触阈值，并且所述输出值超过了所述接触阈值之后的规定期间内的所述输出值的变动收敛于规定范围内，在判断为已满足所述条件的情况下，执行校正所述接触检测装置输出的输出值的处理、以及变更所述接触阈值的处理的至少任一个，以不通过在所述规定的期间输出的大小的输出值检测为物体已接触。

在接触检测装置的输出值超过规定的接触阈值，并且输出值超过了接触阈值之后的规定期间内的所述输出值的变动收敛于规定范围内的情况下，考虑例如对接触检测装置持续施加电子设备的壳体的变形等物理压力的状态而不是人握住电子设备的状态。因此，根据上述构成，在这种状态下，执行校正接触检测装置输出的输出值的处理、以及变更接触阈值的处理的至少任一个，以不通过在所述规定的期间输出的大小的输出值检测为物体已接触。由此，即使在如上述的状态下也能够适当地检测物体的接触。

本发明的方式二涉及的电子设备在所述方式一中，具备检测作用在所述电子设备上的加速度的加速度检测装置(6)，所述控制装置也可以在通过所述加速度检测装置检测到大于规定的加速度阈值的加速度的情况下，开始判断所述接触检测装置的输出值是否超过了规定的接触阈值。根据上述构成，即使在因例如电子设备的落下或异物对电子设备的冲撞等而给电子设备造成某种损坏的情况下，也能够适当地检测物体的接触。

本发明的方式三涉及的电子设备在所述方式一中，所述控制装置也可以在所述接触检测装置的输出值的微分值大于规定的微分阈值的情况下，开始判断所述接触检测装置的输出值是否超过了规定的接触阈值。根据上述构成，即使在因例如电子设备的落下或异物对电子设备的冲撞等而给电子设备造成某种损坏的情况下，也能够适当地检测物体的接触。

本发明的方式四涉及的电子设备在所述方式一至方式三的任一个中，所述控制装置也可以在进行了校准所述接触检测装置输出的输出值的处理的情况下，将所述接触阈值变更为更低的值。根据上述构成，能够减少无论接触物体与否接触检测装置都难以产生反应的情况，且能够适当地检测物体的接触。

本发明的方式五涉及的控制装置(2)为具备有检测物体的接触的至少一个接触检测装置(1)的电子设备(10)的控制装置，且为如下构成：所述控制装置包括：判断部(检测装置控制部21)，其判断是否满足了如下条件：所述接触检测装置的输出值超过规定的接触阈值，并且所述输出值超过了所述接触阈值之后的规定期间内的所述输出值的变动收敛于规定范围内；以及校正部(校准处理部22)，其在判断为已满足所述条件的情况下，执行校正所述接触检测装置输出的输出值的处理、以及变更所述接触阈值的处理的至少任一个，以不通过在所述规定的期间输出的大小的输出值检测为物体已接触。

本发明的各方式的控制装置也可以由计算机实现，在这种情况下，通过使计算机作为上述控制装置所具备的各部分(软件要素)进行操作从而利用计算机实现上述控制装置的控制程序以及储存有该程序的计算机可读取的记录介质也包含于本发明的范围之内。

〔附记事项〕

本发明不限于上述各实施方式，能在权利要求所示的范围中进行各种变更，将不同的实施方式中分别公开的技术手段适当组合得到的实施方式也包含于本发明的技术范围。

而且，能够通过组合各实施方式分别公开的技术方法来形成新的技术特征。

附图标记说明

1接触检测装置

2控制装置

3计时器

4存储装置

5显示装置

6加速度检测装置

7壳体

10电子设备

21检测装置控制部(判断部)

22校准处理部(校正部)