嵌入式设备检测方法、装置、设备及存储介质与流程

1.本发明涉及嵌入式设备领域，尤其涉及一种嵌入式设备检测方法、装置、设备及存储介质。


背景技术：

2.在嵌入式设备中开发、调试、运行过程中，一般需要能够实时跟踪或者模拟主cpu及外设的状态和执行情况。在市面上有专门的硬件监控设备，可以对嵌入式设备进行检测。
3.但现有的监控设备检测具有局限性，不能检测硬件环境场景，导致检测的效果不好。


技术实现要素：

4.基于此，有必要针对上述问题，提供一种嵌入式设备检测方法、装置、设备及存储介质。
5.第一方面，本发明实施例提供一种嵌入式设备检测方法，该方法包括：
6.获取嵌入式设备的当前工作数据；
7.将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果；
8.若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像；
9.根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。
10.可选的，在获取嵌入式设备的当前工作数据的步骤之前，还包括：
11.获取嵌入式设备设置的初始工作参数对应的第一工作数据；
12.若第一工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数进行调整，获取嵌入式设备调整后的工作参数对应的第二工作数据；
13.若第二工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数再次进行调整，获取嵌入式设备再次调整后的工作参数对应的工作数据，直至得到的工作数据符合预设范围，将最后得到的工作数据确定为标准工作数据。
14.可选的，获取嵌入式设备的目标监测图像，包括：
15.获取摄像头拍摄嵌入式设备得到的当前监测图像，对当前监测图像进行分析，得到分析结果；
16.当分析结果不满足预设要求时，则获取分析结果中的缺陷类型；
17.根据缺陷类型调整摄像头的工作参数；
18.基于调整后的工作参数重新对嵌入式设备进行拍摄，得到新的监测图像，将新的监测图像作为当前监测图像，进入对当前监测图像进行分析，得到分析结果的步骤，直至分析结果满足预设要求，将分析结果满足预设要求的监测图像作为目标监测图像。
19.可选的，将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果，包括：
20.获取当前工作数据与标准工作数据的比对差值；
21.若比对差值符合第一预设差值或第二预设差值，则判定为比对结果异常，第一预
设差值小于第二预设差值；否则判定为比对结果正常。
22.可选的，根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果，包括：
23.若检测到比对差值符合第一预设差值，并且检测到目标监测图像中嵌入式设备结构无异常现象，则判定检测结果为可调整；
24.否则判定检测结果为不可调整。
25.可选的，在根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果的步骤之后，还包括：
26.若对嵌入式设备的检测结果为可调整，则对嵌入式设备进行参数调整或重启；
27.若对嵌入式设备的检测结果为不可调整，则发出故障警报。
28.可选的，方法还包括：
29.接收维护人员的控制指令；
30.根据控制指令调整摄像头的工作参数，获取调整参数后的监测图像；
31.根据控制指令导出工作日志，使得维护人员根据调整参数后的监测图像和导出的工作日志的内容进行分析及维护。
32.通过上述嵌入式设备检测方法，通过检测嵌入式设备的工作数据以及嵌入式设备的当前的监测图像，结合运行状态以及外部结构情况综合判断，从而快速且准确的定位嵌入式设备出现的异常问题，并提供全面的异常信息，以便于进行维护。
33.第二方面，本发明实施例提供一种嵌入式设备检测装置，该装置包括：
34.第一获取模块，用于获取嵌入式设备的当前工作数据；
35.数据比对模块，用于将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果；
36.第二获取模块，用于若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像；
37.检测模块，用于根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。
38.通过上述嵌入式设备检测装置，实现了嵌入式设备检测方法，通过检测嵌入式设备的工作数据以及嵌入式设备的当前的监测图像，结合运行状态以及外部结构情况综合判断，从而快速且准确的定位嵌入式设备出现的异常问题，并提供全面的异常信息，以便于进行维护。
39.第三方面，本发明实施例提供一种嵌入式设备检测设备，包括处理器、存储器和摄像头组件，存储器中储存有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行如下步骤：
40.获取嵌入式设备的当前工作数据；
41.将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果；
42.若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像；
43.根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。
44.通过上述嵌入式设备检测设备中处理器执行储存的计算机程序，实现了嵌入式设备检测方法，通过检测嵌入式设备的工作数据以及嵌入式设备的当前的监测图像，结合运行状态以及外部结构情况综合判断，从而快速且准确的定位嵌入式设备出现的异常问题，并提供全面的异常信息，以便于进行维护。
45.第四方面，本发明实施例提供一种存储介质，储存有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行如下步骤：
46.获取嵌入式设备的当前工作数据；
47.将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果；
48.若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像；
49.根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。
50.通过上述存储介质中储存的计算机程序被处理器执行，实现了嵌入式设备检测方法，通过检测嵌入式设备的工作数据以及嵌入式设备的当前的监测图像，结合运行状态以及外部结构情况综合判断，从而快速且准确的定位嵌入式设备出现的异常问题，并提供全面的异常信息，以便于进行维护。
附图说明
51.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
52.其中：
53.图1为一个实施例中嵌入式设备检测方法的流程图；
54.图2为一个实施例中摄像头布局示意图；
55.图3为一个实施例中确定标准工作数据的流程图；
56.图4为一个实施例中确定目标监测图像的流程图；
57.图5为一个实施例中具体判定比对结果是否异常的流程图；
58.图6为一个实施例中根据比对结果和目标监测图像具体检测的流程图；
59.图7为一个实施例中维护人员进行控制查询异常情况的流程图；
60.图8为一个实施例中方案整体上具体实施的流程图；
61.图9为一个实施例中嵌入式设备检测装置的结构示意图；
62.图10为一个实施例中嵌入式设备检测设备的内部结构示意图。
具体实施方式
63.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
64.为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
65.如图1所示，在一个实施例中，提出一种嵌入式设备检测方法，该方法包括：
66.步骤102，获取嵌入式设备的当前工作数据。
67.其中，嵌入式设备是指区别于通用计算机的其他设备，它是集软硬件于一体的可
独立工作的“器件”。嵌入式处理器主要由一个单片机或微控制器(mcu)组成。相关支撑硬件包括显示卡、存储介质(rom和ram等)、通讯设备、ic卡或信用卡的读取设备以及其他机械结构。本实施例中嵌入式设备具体是指可以独立的基于本身操作系统和系统中的软件对其他机械结构进行控制，从而完成相应工作。当前工作数据是指在某个检测时间点嵌入式设备的工作数据，工作数据具体是指嵌入式设备项目执行的反应工作状态的数值，例如a/d值、信号值、模拟值等等。工作数据可以由嵌入式设备自行记录，再发送给检测设备，也可以通过检测设备直接进行采集。在另一个实施例中，也可以直接输入模拟的工作数据。检测设备内部的程序模块可以依托在嵌入式设备中的处理器中，也可以依托在上位工控机中，根据实际应用场景的需要合理进行设置。
68.步骤104，将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果。
69.其中，标准工作数据是指嵌入式设备执行每个项目的最佳输出情况，标准工作数据存储在检测设备的系统中，在获取到当前工作数据后，将其输入到系统中，与标准工作数据进行比对，即可得到相应的比对结果。
70.步骤106，若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像。
71.其中，比对结果异常是指当前工作数据与标准工作数据的差值超过了一定范围，会影响嵌入式设备之后的工作能力。目标监测图像是指设置在嵌入式设备周围的摄像头拍摄的包含当前嵌入式设备结构状态且满足分析要求的图像，图像包括单一的帧图和多个帧图形成的视频流。如图2所示，摄像头是基于嵌入式设备的观测点位置相应设置的，观测点指嵌入式设备容易发生故障的位置，对于每个观测点设置可以设置一个摄像头，也可以设置多个摄像头进行多角度拍摄。此外，摄像头组件还包括补光灯，便于在环境亮度较暗情况下能够进行拍摄。此外，在设置摄像头时，需考虑摄像头的体积大小，并且基于摄像头的体积大小预先在规划设计上保留足够的空间，使得能够容纳摄像头组件。当嵌入式设备出现数据异常时，可能是内容程序执行问题，比如执行错误，系统崩溃等等，也可能是外部结构问题，比如某个结构损坏、零件掉落等等。因此在检测到异常时，及时调取当前的图像，根据图像进行综合判断。
72.步骤108，根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。
73.其中，根据得到的比对结果和目标监测图像，可以对嵌入式设备进行基础性的检测，判断异常情况的程度，进而可以根据选择作出相应的操作。比如根据比对结果和目标监测图像检测出异常情况比较轻微，便可以直接通过内部进行调节，若异常情况比较严重，那么需要告知，等待人工修复。
74.通过检测嵌入式设备的工作数据以及嵌入式设备的当前的监测图像，结合运行状态以及外部结构情况综合判断，从而快速且准确的定位嵌入式设备出现的异常问题，并提供全面的故障信息，以便于进行维护。摄像头根据需求进行相应的设置，集中于易发观测点，提高了检测的灵活性，排除了其他观测点的干扰。此外，检测设备是内部的虚拟出的程序模块，不需要额外设置扩展接口，现有的扩展接口等小批量生产、造价高，因此通过直接在嵌入式或工控机内部虚拟程序模块，降低了检测成本。
75.如图3所示，在一个实施例中，在获取嵌入式设备的当前工作数据的步骤之前，还包括：
76.步骤302，获取嵌入式设备设置的初始工作参数对应的第一工作数据。
77.其中，上述提到标准工作数据是每个项目的较佳输出情况，嵌入式设备通过设定参数，从而基于设定的工作参数执行程序并完成项目，不同的参数对应的输出不同，因此需要不断调整工作参数并实时记录对应的输出情况，直至确定最佳的输出情况。在初始状态时，通过设置初始工作参数使得嵌入式设备开始工作，并记录该工作参数对应的第一工作数据。
78.步骤304，若第一工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数进行调整，获取嵌入式设备调整后的工作参数对应的第二工作数据。
79.其中，若得到的第一工作数据不符合预设范围，说明没有达到最佳的输出情况，因此根据第一工作数据分析其中需调整的地方，进而对嵌入式设备的工作参数进行调整，并记录调整后得到的第二工作数据。
80.步骤306，若第二工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数再次进行调整，获取嵌入式设备再次调整后的工作参数对应的工作数据，直至得到的工作数据符合预设范围，将最后得到的工作数据确定为标准工作数据。
81.其中，同样的，若得到工作数据依旧不符合预设范围，则继续分析、调整，直至得到的一组工作数据符合预设范围，则将此时的工作数据认定为标准工作数据，该认定的标准工作数据用于之后的异常判断的基准。
82.通过不断的调整、优化工作参数，从而得到满足预设范围的工作数据，使得得到的标准工作数据能够为异常与否的检测提供了较为准确和高适用性的判断标准。
83.如图4所示，在一个实施例中，获取嵌入式设备的目标监测图像，包括：
84.步骤402，获取摄像头拍摄嵌入式设备得到的当前监测图像，对当前监测图像进行分析，得到分析结果。
85.其中，目标监测图像具体是指满足预设要求的图像，预设要求又包括：清晰度、角度、亮度等等，只有获取到的监测图像满足预设要求时才能基于图像进行检测判断。但第一次获取到的监测图像不一定是满足预设要求的，因此需对获取到的图像进行分析，分析是否满足预设要求。
86.步骤404，当分析结果不满足预设要求时，则获取分析结果中的缺陷类型。
87.其中，当分析结果为不满足预设要求时，说明获取到的图像存在缺陷，如亮度不足，角度偏差，清晰度不够等等，进而获取分析结果中的缺陷类型，以便于调整。
88.步骤406，根据缺陷类型调整摄像头的工作参数。
89.其中，在获取到缺陷类型后，基于缺陷类型调整摄像头相应的参数，比如当分析出获取到的图像亮度较暗，则调整补光灯的光照强度；若分析出获取到的图像角度往右偏离，则调整摄像头的拍摄角度往左转动。
90.步骤408，基于调整后的工作参数重新对嵌入式设备进行拍摄，得到新的监测图像，将新的监测图像作为当前监测图像，进入对当前监测图像进行分析，得到分析结果的步骤，直至分析结果满足预设要求，将分析结果满足预设要求的监测图像作为目标监测图像。
91.其中，同理的，基于调整工作参数后重新对嵌入式设备进行拍摄，得到新的监测图像，对于新的监测图像再次进行分析，分析是否符合预设要求，若依旧不符合，循环调整、获取，直至得到监测图像满足预设要求，则将该监测图像认定为目标监测图像。
92.通过不断的分析获取到的图像，从而确定满足预设要求的目标监测图像，使得用
来检测的图像是准确可靠的，提高了检测准确性。
93.如图5所示，在一个实施例中，将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果，包括：
94.步骤502，获取当前工作数据与标准工作数据的比对差值。
95.其中，在将当前工作数据与标识工作数据进行比对时，具体的是比对两者的差值，进而根据差值来判定其对应的比对结果。
96.步骤504，若比对差值符合第一预设差值或第二预设差值，则判定为比对结果异常，第一预设差值小于第二预设差值；否则判定为比对结果正常。
97.其中，在嵌入式设备的实际工作中，实时的工作数据是在一定范围内动态浮动的，该范围内的浮动不会影响其工作能力，因此在差值没有超过该动态浮动范围时，将其判定为比对结果正常；在差值超过前述的动态浮动范围时，将其判定为异常。具体的，第一预设差值和第二预设差值分别指一个范围内的多个数值，且第一预设差值表示的最大数值小于第二预设差值的最小数值，将超过部分分为两个阶段，其一是超过动态浮动范围至第一预设差值，其二是超过动态浮动范围至第二预设差值，第一预设差值和第二预设差值分别表示嵌入式设备异常的程度，从而根据异常程度采取不同的调整方案。
98.通过具体的分析比对结果，从而得出异常或正常结果，并且基于异常情况进一步细化，根据比对差值的大小判断其异常的程度，便于根据异常程度采取不同的调整方案，使得检测结果清楚具体，便于采取进一步措施。
99.如图6所示，在一个实施例中，根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果，包括：
100.步骤602，若检测到比对差值符合第一预设差值，并且检测到目标监测图像中嵌入式设备结构无异常现象，则判定检测结果为可调整。
101.其中，若检测到的比对差值是符合第一预设差值时，说明此时根据比对差值判断，该异常是可以进行调整的，但还需要考虑外部的结构情况，因为若异常是由于外部的结构问题导致的，则无法通过内部调整恢复，因此则进一步检测目标监测图像中是否存在异常现象，异常现象包括结构损坏、脱落、卡住等等，若检测到外部结构无异常现象，则说明此时嵌入式设备的异常可通过内部调整恢复。
102.步骤604，否则判定检测结果为不可调整。
103.其中，若检测到的比对差值是符合第二预设差值或者检测到目标监测图像中存在异常现象时，判定为不可调整。
104.通过根据比对差值的大小和目标监测图像中是否存在异常情况综合判断，针对不同结果采取不同的方案，使得异常情况能够及时得到解决。
105.在一个实施例中，在根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果的步骤之后，还包括：若对嵌入式设备的检测结果为可调整，则对嵌入式设备进行参数调整或重启；若对嵌入式设备的检测结果为不可调整，则发出故障警报。
106.其中，当检测结果为可调整时，此时虽超过正常的动态浮动范围，但仍然可以通过调整参数或重启等操作进行恢复；当检测结果为不可调整时，说明此时偏离过大，不能通过调整参数或重启等操作进行恢复，或者是结构损伤，同样不能通过内部调整解决，因此需发出故障警报，告知维护人员及时维修。
107.根据异常程度，将程度较小的异常情况自行进行调整解决，将程度较大的异常情况基于不能自行调整解决及时告知维护人员，使得检测出的异常情况能够快速得到解决。
108.在一个实施例中，方法还包括：将整个检测过程中获取到的相关数据生成工作日志并保存。
109.通过生成工作日志并保存，使得后续维护人员可以调取工作日志进行分析和回溯，基于分析结果来解决异常情况。
110.在一个实施例中，方法还包括：将异常情况通过显示部件进行分类显示和推送，使得检测结果可视化，维护人员及时且准确的知晓异常情况。
111.如图7所示，在一个实施例中，方法还包括：
112.步骤702，接收维护人员的控制指令。
113.其中，针对于不可调整的异常情况，维护人员收到警报后，可人工通过软件控制检测设备进行相关操作。
114.步骤704，根据控制指令调整摄像头的工作参数，获取调整参数后的监测图像。
115.其中，维护人员可以根据需求控制摄像头的参数，并基于调整的参数获取图像。
116.步骤706，根据控制指令导出工作日志，使得维护人员根据调整参数后的监测图像和导出的工作日志的内容进行分析及维护。
117.其中，维护人员可以导出实时记录的工作日志，并根据工作日志以及监测图像进行回溯分析，得到异常的原因，从而解决。
118.通过警报通知维护人员，并提供异常情况的相关数据信息，使得维护人员根据可以针对异常情况精准分析及解决。
119.如图8所示，在一个实施例中，提供了本发明具体实施流程，首先针对嵌入式设备的整个生命周期分为三个阶段，分别是调试阶段(又具体分为试运行阶段和开发调试阶段)、压力测试阶段、正式运行阶段。在调试阶段，主要是通过不断调整嵌入式设备的工作参数，并记录对应的工作数据，得到标准工作数据；以及调整检测设备的相关参数，以满足检测需求。其次，在压力测试阶段主要是测试嵌入式设备在不同环境情况下的工作状态，并且分析判断，从而根据分析结果进行改进、优化，以达到模拟真实运行时可能遇到的相关问题。最后在正式运行阶段，则是实时监控检测，实时调整和汇报，并记录相关的数据信息。
120.其中：
121.试运行阶段：设置初始工作参数，启动嵌入式设备；
122.开发调试阶段：在多个观测点采集工作数据，记录运行日志，形成标准工作数据；
123.压力测试阶段：实际运行中，控制程序要实时记录和比对工作数据和标准工作数据的差异。针对异常情况，通过调整、优化监控摄像头的工作参数，批量采集观测点工作图像，据此分析异常原因，调整目标机设备的结构、电路、嵌入式固件程序及控制软件算法，形成最佳的软硬件工作环境；
124.正式运行阶段：在异常现场，不拆解破坏现场和工作状态，通过使用控制软件，采集观测点的图像，捕获真实的异常现状，记录异常信息和现场信息，生成报告，退出系统。维护人员通过对运行日志的分析，能够快速、准确地定位错误，解决问题。
125.如图9所示，在一个实施例中，本发明提供一种嵌入式设备检测装置，该装置包括：
126.第一获取模块902，用于获取嵌入式设备的当前工作数据；
127.数据比对模块904，用于将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果；
128.第二获取模块906，用于若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像；
129.检测模块908，用于根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。
130.在一个实施例中，嵌入式设备检测装置还包括：
131.标准工作数据确定模块，用于获取嵌入式设备设置的初始工作参数对应的第一工作数据；若第一工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数进行调整，获取嵌入式设备调整后的工作参数对应的第二工作数据；若第二工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数再次进行调整，获取嵌入式设备再次调整后的工作参数对应的工作数据，直至得到的工作数据符合预设范围，将最后得到的工作数据确定为标准工作数据。
132.在一个实施例中，第二获取模块还用于获取摄像头拍摄嵌入式设备得到的当前监测图像，对当前监测图像进行分析，得到分析结果；当分析结果不满足预设要求时，则获取分析结果中的缺陷类型；根据缺陷类型调整摄像头的工作参数；基于调整后的工作参数重新对嵌入式设备进行拍摄，得到新的监测图像，将新的监测图像作为当前监测图像，进入对当前监测图像进行分析，得到分析结果的步骤，直至分析结果满足预设要求，将分析结果满足预设要求的监测图像作为目标监测图像。
133.在一个实施例中，数据比对模块还用于，获取当前工作数据与标准工作数据的比对差值；若比对差值符合第一预设差值或第二预设差值，则判定为比对结果异常，第一预设差值小于第二预设差值；否则判定为比对结果正常。
134.在一个实施例中，检测模块还用于若检测到比对差值符合第一预设差值，并且检测到目标监测图像中嵌入式设备结构无异常现象，则判定检测结果为可调整；否则判定检测结果为不可调整。
135.在一个实施例中，嵌入式设备检测装置还包括：
136.处理模块，用于若对嵌入式设备的检测结果为可调整，则对嵌入式设备进行参数调整或重启；若对嵌入式设备的检测结果为不可调整，则发出故障警报。
137.在一个实施例中，嵌入式设备检测装置还包括：
138.控制模块，用于接收维护人员的控制指令，控制调整摄像头的工作参数，获取调整参数后的监测图像，导出工作日志，使得维护人员根据调整参数后的监测图像和导出的工作日志的内容进行分析及维护。
139.在一个实施例中，本发明提供一种嵌入式设备检测设备，该嵌入式设备检测设备的内部结构图如图10所示。该嵌入式设备检测设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和通讯接口。通讯接口包括：i2c通讯接口、usb接口、can接口等。其中，存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该嵌入式设备检测设备的非易失性存储介质存储有操作系统，还可存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器实现嵌入式设备检测方法。该内存储器中也可储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行嵌入式设备检测方法。本领域技术人员可以理解，图10中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的嵌入式设备检测设备的限定，具体的嵌入式设备检测设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某
些部件，或者具有不同的部件布置。
140.在一个实施例中，提供的一种嵌入式设备检测方法可以实现为一种计算机程序的形式，计算机程序可在如图10所示的嵌入式设备检测设备上运行。嵌入式设备检测设备的存储器中可存储组成一种嵌入式设备检测装置的各个程序模块。比如，第一获取模块902、数据比对模块904、第二获取模块906、检测模块908。
141.一种嵌入式设备检测设备，包括存储器、处理器和摄像头组件，存储器中储存有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行以下步骤：获取嵌入式设备的当前工作数据；将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果；若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像；根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。
142.在一个实施例中，在获取嵌入式设备的当前工作数据的步骤之前，计算机程序被处理器执行时，使得处理器还执行以下步骤：获取嵌入式设备设置的初始工作参数对应的第一工作数据；若第一工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数进行调整，获取嵌入式设备调整后的工作参数对应的第二工作数据；若第二工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数再次进行调整，获取嵌入式设备再次调整后的工作参数对应的工作数据，直至得到的工作数据符合预设范围，将最后得到的工作数据确定为标准工作数据。
143.在一个实施例中，获取嵌入式设备的目标监测图像，包括：获取摄像头拍摄嵌入式设备得到的当前监测图像，对当前监测图像进行分析，得到分析结果；当分析结果不满足预设要求时，则获取分析结果中的缺陷类型；根据缺陷类型调整摄像头的工作参数；基于调整后的工作参数重新对嵌入式设备进行拍摄，得到新的监测图像，将新的监测图像作为当前监测图像，进入对当前监测图像进行分析，得到分析结果的步骤，直至分析结果满足预设要求，将分析结果满足预设要求的监测图像作为目标监测图像。
144.在一个实施例中，将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果，包括：获取当前工作数据与标准工作数据的比对差值；若比对差值符合第一预设差值或第二预设差值，则判定为比对结果异常，第一预设差值小于第二预设差值；否则判定为比对结果正常。
145.在一个实施例中，根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果，包括：若检测到比对差值符合第一预设差值，并且检测到目标监测图像中嵌入式设备结构无异常现象，则判定检测结果为可调整；否则判定检测结果为不可调整。
146.在一个实施例中，在根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果的步骤之后，计算机程序被处理器执行时，使得处理器还执行以下步骤：若对嵌入式设备的检测结果为可调整，则对嵌入式设备进行参数调整或重启；若对嵌入式设备的检测结果为不可调整，则发出故障警报。
147.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时，使得处理器还执行以下步骤：接收维护人员的控制指令；根据控制指令调整摄像头的工作参数，获取调整参数后的监测图像；根据控制指令导出工作日志，使得维护人员根据调整参数后的监测图像和导出的工作日志的内容进行分析及维护。
148.在一个实施例中，本发明提供一种存储介质，储存有计算机程序，计算机程序被处
理器执行时，使得处理器执行以下步骤：获取嵌入式设备的当前工作数据；将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果；若比对结果异常，获取嵌入式设备的目标监测图像；根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果。
149.在一个实施例中，在获取嵌入式设备的当前工作数据的步骤之前，计算机程序被处理器执行时，使得处理器还执行以下步骤：获取嵌入式设备设置的初始工作参数对应的第一工作数据；若第一工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数进行调整，获取嵌入式设备调整后的工作参数对应的第二工作数据；若第二工作数据不符合预设范围，则对嵌入式设备的工作参数再次进行调整，获取嵌入式设备再次调整后的工作参数对应的工作数据，直至得到的工作数据符合预设范围，将最后得到的工作数据确定为标准工作数据。
150.在一个实施例中，获取嵌入式设备的目标监测图像，包括：获取摄像头拍摄嵌入式设备得到的当前监测图像，对当前监测图像进行分析，得到分析结果；当分析结果不满足预设要求时，则获取分析结果中的缺陷类型；根据缺陷类型调整摄像头的工作参数；基于调整后的工作参数重新对嵌入式设备进行拍摄，得到新的监测图像，将新的监测图像作为当前监测图像，进入对当前监测图像进行分析，得到分析结果的步骤，直至分析结果满足预设要求，将分析结果满足预设要求的监测图像作为目标监测图像。
151.在一个实施例中，将当前工作数据与标准工作数据进行比对，得到比对结果，包括：获取当前工作数据与标准工作数据的比对差值；若比对差值符合第一预设差值或第二预设差值，则判定为比对结果异常，第一预设差值小于第二预设差值；否则判定为比对结果正常。
152.在一个实施例中，根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果，包括：若检测到比对差值符合第一预设差值，并且检测到目标监测图像中嵌入式设备结构无异常现象，则判定检测结果为可调整；否则判定检测结果为不可调整。
153.在一个实施例中，在根据比对结果和目标监测图像对嵌入式设备进行检测，得到检测结果的步骤之后，计算机程序被处理器执行时，使得处理器还执行以下步骤：若对嵌入式设备的检测结果为可调整，则对嵌入式设备进行参数调整或重启；若对嵌入式设备的检测结果为不可调整，则发出故障警报。
154.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时，使得处理器还执行以下步骤：接收维护人员的控制指令；根据控制指令调整摄像头的工作参数，获取调整参数后的监测图像；根据控制指令导出工作日志，使得维护人员根据调整参数后的监测图像和导出的工作日志的内容进行分析及维护。
155.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram
(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。
156.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
157.以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。请输入具体实施内容部分。